「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • To provide a game machine testing system which allows a performance test to be performed in a suitable form.
    好適な形で性能試験を行うことが可能な遊技機用試験システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device using a sequence control circuit, capable of heightening operation speed.
    動作速度を高速化できるシーケンス制御回路を用いた半導体試験装置を実現すること。 - 特許庁
  • To ameliorate time coordination between bolus infusion and the start of measurement by using a radiation testing apparatus.
    ボーラス注入と放射線検査装置による測定の開始との時間的協調を改善する。 - 特許庁
  • Sampling is performed on load data and displacement data at low speeds and at high speeds on a testing machine body 100 side.
    試験機本体１００側で低速および高速で荷重データと変位データをサンプリングする。 - 特許庁
  • The system involves the apparatus for on-site testing and inspecting metal structures and their deterioration.
    本発明は、金属構造及びその劣化を現場で検査及び検査するための装置に関わる。 - 特許庁
  • The fatigue testing device includes an external waveform generating part 11, a control part 12 and a drive part 13.
    疲労試験装置は、外部波形発生部１１と、制御部１２と、駆動部１３とを具備する。 - 特許庁
  • To perform hardness tests using different evaluating and measuring methods in a hardness testing machine.
    硬さ試験機において、評価・測定方法の異なる硬さ試験を行うことを可能にする。 - 特許庁
  • To provide a curve testing apparatus that can easily perform the curve test of a railway vehicle.
    鉄道車両のカーブ試験を簡単に行うことができるカーブ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a circuit board module automatic testing system capable of preventing surely damage of a circuit board module.
    確実に回路板モジュールの損傷を防ぐ回路板モジュール自動試験システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide an electronic part testing device easy to put in and take out a tray storage cassette.
    トレイ収納用カセットの投入および取り出しが容易な電子部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • FUEL CELL TESTING SYSTEM AND CONTROL METHOD OF CONTROLLING CONTROLLABLE CONDITION OF FUEL CELL
    燃料電池を試験するシステムおよび燃料電池の制御可能な条件を制御する方法 - 特許庁
  • METHOD OF PERFORMING TILTED FOCUS TESTING, EXPOSURE APPARATUS, AND DEVICE MANUFACTURED ACCORDINGLY
    傾斜焦点試験を行う方法及び露光装置、並びにそれに応じて製造されたデバイス - 特許庁
  • REINFORCING MEANS OF WIRING BOARD, SUPPORTING TOOL OF WIRING BOARD, AND METHOD FOR TESTING RELIABILITY OF ELECTRONIC DEVICE
    配線基板の補強手段及び、配線基板の支持具、電子装置の信頼性試験方法 - 特許庁
  • To provide a wire testing structure that determines open circuit and short circuit, in a semiconductor device.
    半導体デバイス中の開路および短絡を決定する配線試験構造を提供すること。 - 特許庁
  • In this state, the device for testing an elevator governor 6 is mounted on the main body of the governor 1.
    この状態で、調速機１の本体に、エレベータ調速機試験装置６を取り付ける。 - 特許庁
  • 2. Machines capable of testing rotors with speed exceeding 12,500 rotations per minute
    （二）　一分につき一二、五〇〇回転を超える回転数でロータを試験することができるもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Most drive vendors provide testing software for their drives, so test your drive, and, if necessary, back up your data and replace it.
    私たちは商用ソフトウェアベンダに、ここで製品を宣伝してもらうことを望んでいます。 - FreeBSD
  • Note: To build a file which contains all available options, as normally done for testing purposes, run the following command as root:
    もし、ある行の目的や必要性に疑 問を持ったら最初に LINT をチェックしてください。 - FreeBSD
  • Note: The PAE support in FreeBSD is only available for Intel IA-32 processors. It should also be noted, that the PAE support in FreeBSD has not received wide testing, and should be considered beta quality compared to other stable features of FreeBSD.
    これにしたがって、/devディレクトリに acd0 で始まるエントリをさがしてください。 - FreeBSD
  • Under glibc, programs can check for the availability of the fields not defined in POSIX.1 by testing whether the macros _DIRENT_HAVE_D_NAMLEN ,
    glibc では、プログラムが POSIX.1 で定義されていないフィールドが利用できるかをチェックすることができる。 - JM
  • The project includes WSDL and Schema files, a deployment descriptor, and input files for testing.
    このプロジェクトには、WSDL ファイル、スキーマファイル、配備記述子、およびテスト用の入力ファイルが含まれます。 - NetBeans
  • Redeploy the web service and test it as described in Deploying and Testing an Axis2 Web Service.
    Web サービスを再配備し、それを「Axis2 Web サービスの配備およびテスト」で説明されているようにテストします。 - NetBeans
  • Sun Developer Network Mobile Device Technology Center - Information about Creating, testing and certifying mobile applications.
    Sun Developer Network モバイルデバイステクノロジセンター - モバイルアプリケーションを作成、テスト、および証明する方法についての情報。 - NetBeans
  • The project includes WSDL and XML schema files, a deployment descriptor, and input files for testing.
    このプロジェクトには、WSDL ファイル、XML スキーマファイル、配備記述子、およびテスト用の入力ファイルが含まれます。 - NetBeans
  • This version of the BPEL Designer contains features to make testing a point-and-click experience.
    このバージョンの BPEL デザイナーには、テストをポイントしてクリックで行うことができる機能が含まれています。 - NetBeans
  • For more information about developing and testing Java applications in NetBeans IDE, see the following resources:
    NetBeans IDE での Java アプリケーションの開発およびテストついての詳細は、次のリソースを参照してください。 - NetBeans
  • MEMORY DEVICE HAVING OUTPUT CIRCUIT SELECTIVELY ENABLED FOR TEST MODE AND ITS TESTING METHOD
    テストモードのために選択的にイネーブルされる出力回路を有するメモリ装置及びそのテスト方法 - 特許庁
  • METHOD OF TESTING OXYGEN-FREE COPPER WIRE ROD FOR MAGNET WIRE AND METHOD OF MANUFACTURING OXYGEN-FREE COPPER MAGNET WIRE
    マグネットワイヤ用無酸素銅線材の試験方法及び無酸素銅マグネットワイヤの製造方法 - 特許庁
  • ABRASION TESTING MACHINE FOR EVALUATING ABRASION OF BOTH OR EITHER OF PISTON RING OR PISTON RING GROOVE
    ピストンリングとピストンリング溝との双方又はいずれか一方の摩耗を評価する摩耗試験装置 - 特許庁
  • DATABASE FOR FACILITATING SOFTWARE INSTALLATION AND TESTING FOR BUILD-TO-ORDER COMPUTER SYSTEM
    オーダーに対して組立てられたコンピュータシステムのためのソフトウェア設置およびテストを容易にするデータベース - 特許庁
  • NEW MICROORGANISM, AND METHOD FOR TESTING BIODEGRADABILITY OF BIODEGRADABLE PLASTIC BY USING THE MICROORGANISM
    新規微生物、及び該微生物を使用して生分解性プラスチックの生分解性を試験する方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT PACKAGE
    半導体集積回路、半導体集積回路の試験方法、および半導体集積回路パッケージ - 特許庁
  • GROUT HOLE CLOSING STRUCTURE FOR TUBE, AND STRUCTURE AND METHOD FOR TESTING WATER TIGHTNESS OF GROUT HOLE
    管体のグラウトホールの閉塞構造、グラウトホールの水密試験構造、および水密試験方法 - 特許庁
  • A plurality of input signals are combined by the module (200) for intermodulation testing.
    更に、モジュール（２００）によって、複数の入力信号が、相互変調試験のために組み合わされる。 - 特許庁
  • The wire testing structure includes a plurality of wiring traces constituted by an alternately disposed spiral-form pattern.
    配線試験構造は、交互配置螺旋形パターンで構成された複数の配線トレースを含む。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE WITH OUTPUT IMPEDANCE ADJUSTING CIRCUIT AND METHOD OF TESTING OUTPUT IMPEDANCE
    出力インピーダンス調節回路を備えた半導体装置及び出力インピーダンスの試験方法 - 特許庁
  • CASK FOR RADIOACTIVE WASTE STORAGE AND ITS TRANSPORTATION METHOD AND ITS GAS LEAKAGE TESTING DEVICE
    放射性廃棄物貯蔵用キャスクおよびその輸送方法並びにそのガス漏洩試験装置 - 特許庁
  • BIAXIAL STRETCHING MECHANISM, BIAXIAL STRETCHING TESTING MACHINE AND BIAXIAL STRETCHING MACHINE HAVING THE BIAXIAL STRETCHING MECHANISM
    二軸延伸機構及び該二軸延伸機構を備えた二軸延伸試験機並びに二軸延伸機 - 特許庁
  • To obtain a network tester which can conduct a plurality of communication rate communication tests through a single action testing operation.
    複数の通信速度疎通試験をワンタッチ試験操作できるネットワーク試験器を提供する。 - 特許庁
  • VIBRATION TESTING DEVICE FOR STRUCTURE, DIGITAL COMPUTER USED THEREFOR, AND METHOD FOR VIBRATION TEST
    構造物の振動試験装置及びそれに用いるデジタル計算機ならびに振動試験方法 - 特許庁
  • To provide a testing device for detecting properly a delay trouble in a signal propagation route within a circuit.
    回路内の信号伝播経路の遅延故障を適切に検出する試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The comparison score calculating means 11 calculates a comparison score only for the hypothesis under testing.
    比較スコア算出部11は、検定中の状態にある仮説についてのみ比較スコアを算出する。 - 特許庁
  • To accurately form a dent in the surface of a sample by a pressure element in a hardness testing machine.
    硬さ試験機において、試料表面に圧子によるくぼみをより正確に形成すること。 - 特許庁
  • The pin unit for testing comprises a coil spring 12, a movable piece 20, a supporting part 30, and a test pin 40.
    テスト用ピンユニットは、コイルバネ１２と、可動片２０と、保持部３０と、テストピン４０とを備える。 - 特許庁
  • To obtain a semiconductor device capable of attaining time reduction in the number of testing processes, and the resulting cost reduction.
    テスト工程の時間短縮とそれによるコストダウンを図ることができる半導体装置を得る。 - 特許庁
  • To provide an electronic device being tested at high speeds through the use of a conventional testing apparatus.
    従来の試験装置を用いて高速の試験を行うことができる電子デバイスを提供する。 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR MEASURING AMPLITUDE OF PERIODIC SIGNAL AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING MAGNETIC HEAD
    周期信号の振幅測定方法および装置並びに磁気ヘッドの試験方法および装置 - 特許庁
  • To shorten the time for testing of a semiconductor device requiring frequent changes of test conditions.
    試験条件をしばしば変更する必要がある半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁
  • A four-staged load constitution is obtained by means of respective devices by using the testing apparatus A.
    この試験装置Ａにより、自身の持つ各装置により４段階の荷重構成を実現する。 - 特許庁
  • To accurately and quickly place the driving wheel of a vehicle to be tested directly on a roller for accurate testing.
    被試験車両の駆動輪をローラの真上に正確に短時間で載置し、正確な試験を行う。 - 特許庁
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