TIMING ADJUSTMENT CIRCUIT, AND TESTING METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING THE SAME タイミング調整回路及びこのタイミング調整回路を用いた半導体集積回路のテスト方法 - 特許庁
ELECTROLYTIC COPPER FOIL, METHOD FOR TESTING ITS PHYSICAL PROPERTY AND COPPER CLAD LAMINATE USING SAME ELECTROLYTIC COPPER FOIL 電解銅箔及びその物性検査方法並びにその電解銅箔を用いた銅張積層板 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WAFER, METHOD OF TESTING IT AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT COMPONENTS 半導体集積回路ウェハ、その試験方法および半導体集積回路部品の製造方法 - 特許庁
TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND TEST METHOD OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT USING DEVICE 半導体集積回路の試験装置およびそれを用いた半導体集積回路の試験方法 - 特許庁
c) The national and local governments shall enhance public relations regarding hepatitis testing. ウ 国及び地方公共団体は、住民に向けた肝炎ウイルス検査に関する広報を強化する。 - 厚生労働省
In some cases, individuals who require treatment after testing positive for hepatitis fail to present for such treatment at medical institutions. 肝炎ウイルス検査の結果、診療が必要と判断された者が医療機関で受診しない、 - 厚生労働省
All the necessary steps were taken to prevent any claims of researcher bias or improper testing methods. 必要なステップは研究員の偏見や − 不適切な実験方法と 思われるのを防ぐために - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
I'm, uh, one of the chief analysts for, uh... medical research and testing of new technology, procedures, drugs, and... そうだな 私はチーフアナリストだった 医学研究や新しい技術のテストや 新薬などの... - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
The modified saturn 5 rocket has undergone rigorous testing... to meet federal aerospace guidelines. 改良型サターン5型ロケットは 連邦航空宇宙ガイドラインを満たすための... 厳しいテストを終えました - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
Case histories are presented below showing the outcome of impairment criteria testing in a variety of situations. 様々な状況での損傷クライテリア検定の結果を示した事例史が下に述べられている。 - 英語論文検索例文集
The following conclusions were established from the process emissions survey and bench-scale testing: 1)....., 2), ..... プロセス排気テストの調査,そしてベンチスケール実験から次の様な結論が確立された。1)…,2),… である。 - 英語論文検索例文集
Case histories are presented below showing the outcome of impairment criteria testing in a variety of situations. 様々な状況での損傷クライテリア検定の結果を示した事例史が下に述べられている。 - 英語論文検索例文集
The following conclusions were established from the process emissions survey and bench-scale testing: 1)..., 2), ..... プロセス排気テストの調査,そしてベンチスケール実験から次の様な結論が確立された。1)…,2),…である。 - 英語論文検索例文集
Case histories are presented below showing the outcome of impairment criteria testing in a variety of situations. 様々な状況での損傷クライテリア検定の結果を示した事例史が下に述べられている。 - 英語論文検索例文集
At the current time, most model testing and validation studies must rely on a limited data base. 現在,たいていのモデルの試験・確証研究は,限定されたデータベースに頼らなくてはならない。 - 英語論文検索例文集
The research director had the department do a thorough job in testing the new product.
研究部長はその部門が新製品のテストをするにあたって、徹底的な仕事をさせた。 - Tanaka Corpus
The research director had the department do a thorough job in testing the new product. 研究部長はその部門が新製品のテストをするにあたって、徹底的な仕事をさせた。 - Tatoeba例文
Hypothesis testing in science is a lot like the criminal court system in the United States.
科学における仮説検定は合衆国における刑事裁判所のシステムに大いに似ている。 - コンピューター用語辞典
it helps bring up a sample of mucus from deep in the lungs and improves the quality of the sample for testing.
肺の深部から粘液サンプルを採取しやすくし、検査用サンプルの質を向上させる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
this type of testing is distinct from complete gene sequencing or mutation scanning.
この種の検査は、完全な遺伝子配列解析や突然変異スキャニングとは異なるものである。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
For more information about editing the JMeter testing scripts, see the JMeter User Manual.
JMeter テストスクリプトの編集についてのより詳細な情報は JMeter ユーザーマニュアル を参照してください。 - NetBeans
Before we can perform the testing, we must create a test case.
この場合では、応答メッセージのことです。 テストを実行する前に、テストケースを作成する必要があります。 - NetBeans
The generated docs are by no means complete, you need to edit them afterwards! Testing documentation
そのままでは不完全な状態なので、後から編集する必要があります!ドキュメントのテスト - PEAR
The order of testing will either be the default order, or that specified with the -order option described above. 調査の順番はデフォルトの設定か、または先に説明した-orderオプションによる指定に従う。 - XFree86
This article also describes about the Yawata City North-South Bus Route established for testing and researching for the substantiative experiment.
本項では八幡市の実証実験路線である八幡市南北線についても記述する。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
The invention relates to the method for testing the skin to predict the state of hair growth or epilation. 本発明は、皮膚の発毛・脱毛状態を予知するための皮膚検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a technique and an apparatus for testing performance of terminals and access points in CDMA data system. CDMAデータシステムにおける端末およびアクセスポイントの性能をテストするための技術。 - 特許庁
The pin assign converter outputs a logical pin number by converting it into a physical pin number of the testing unit. ピンアサインコンバータは、論理ピン番号を、試験ユニットの物理ピン番号に変換して出力する。 - 特許庁
To provide a method, a test chamber and a test setup for leak testing of a closed container. 閉じた容器の漏れ試験をする方法、そのための試験室、および試験構成を提供する。 - 特許庁
The method is the tire crack testing method for performing the crack test for a pneumatic tire 2 by using a drum tester. ドラム試験機を用いて空気入りタイヤ2のクラック試験を行うタイヤクラック試験方法である。 - 特許庁
SAMPLE SUBSTRATE FOR USE IN BIOLOGICAL TESTING, AND METHOD FOR FILLING SAMPLE SUBSTRATE 生物学的試験において使用するためのサンプル物質とサンプル物質を充填するための方法 - 特許庁
To provide a particularly easy-to-use and effective method for testing bus protocol compliance of a device. デバイスのバス・プロトコル準拠性を試験する特に使い易く効率的な方式を提供する。 - 特許庁
To prepare a thin sample for testing internal structure of a manufactured device to form an image. 製造されたデバイスの内部構造をテストするために薄いサンプルを準備して像形成する。 - 特許庁
To achieve a semiconductor circuit testing two kinds of resistors by possessing the small number of outside connection terminals. 外部接続端子数の少ない、2種類の抵抗をテストする半導体回路を実現する。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory capable of sufficiently testing a writing operation margin. 十分に書込動作マージンのテストを行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
METHOD FOR TESTING ANCHOR BODY, METHOD FOR ADJUSTING, AND SUPPORTING TABLE AND LOAD CELL USED IN THESE METHODS アンカー体の試験方法及び調整方法並びにそれら方法に用いる支持台及びロードセル - 特許庁
In the testing of the frequency converter, a plurality of mixed products are displayed in a label. 周波数変換器の試験において、複数の混合生成物についてラベル表示され、る。 - 特許庁
To provide a material testing machine capable of automatically setting a bench mark calculation range. 標線位置計算範囲の設定を自動で行うことが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁
To provide a wiring tester having a simple structure for testing a wiring circuit to a plug socket. コンセントへの配線回路を試験するための簡易な構造の配線試験器を提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR COMPUTING ADJACENT-CHANNEL LEAKING POWER AND TESTING DEVICE 隣接チャネル漏洩電力算出装置、隣接チャネル漏洩電力算出方法、及び試験装置 - 特許庁
To provide a waterproof test device capable of testing the waterproof performance of a waterproof case at low cost. 防水ケースの防水性能試験を低コストで行える防水試験装置を提供する。 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR FAULT TEST AND RECORDING MEDIUM WHERE FAULT TESTING METHOD IS RECORDED 障害試験装置及び障害試験方法及び障害試験方法を記録した記録媒体 - 特許庁
operation, maintenance, inspection and testing of a nuclear installation are conducted in accordance with approved procedures; 原子力施設の運転、保守、検査及び試験が承認された手続に従って行われること。 - 経済産業省
To provide a testing apparatus capable of keeping a power supply voltage constant by a simple configuration. 簡便な構成により電源電圧を一定に保つことが可能な試験装置を提供する。 - 特許庁
MOUNTING METHOD OF EXCRETA TESTING DEVICE, AND SANITARY WASHING DEVICE HAVING EXCRETA MEASUREMENT FUNCTION 排泄物測定装置の取付方法および排泄物測定機能付き衛生洗浄装置 - 特許庁
The company can participate in any development phase from specifications definition to design implementation and prototype testing.
仕様の決定から、設計の実装、プロトタイプのテストまで、あらゆる開発フェーズでの参加が可能。 - Electronic Frontier Foundation『DESのクラック:暗号研究と盗聴政策、チップ設計の秘密』
To provide a testing device for a semiconductor chip, capable of testing correctly an object to be tested, by simple regulation, even when a kind or state of the object to be tested varies, or even when one part of a contact unit develops trouble. 被試験物の状態や種類が変化し、または、コンタクトユニットの一部が故障しても、簡単な調整で、被試験物を正しく試験することができる半導体チップの試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a material testing machine that accurately measures a position of an edge using the entire area of a profile of a test piece edge, and a method for measuring test piece width of a material testing machine. 試験片の端縁のプロファイルの全域を利用して端縁の位置を正確に測定することが可能な材料試験機および材料試験機の試験片の幅測定方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inexpensive chip carrier of high testing efficiency reduced in the number of part items, having a relatively simple mechanism, allowing assembling to be easily automated, and easy to be used commonly with a testing facility for a semiconductor device. 部品点数が少なく、比較的簡単な機構で、低廉で、組立の自動化が容易で、半導体デバイス用のテスト設備との共有化が容易なテスト効率の高いチップキャリアを提供する。 - 特許庁
Further, a junction temperature Tj at the time of testing is obtained by a formula of (Tj (tch)) = Ta + thermal resistance × Power) from the temperature Ta at the time of the real testing and the predetermined power Power. さらに、実試験時の周囲温度Taと一定電圧Powerとから、式(Tj(Tch)=Ta+熱抵抗×Power)より、試験時のジャンクション温度Tjを求める。 - 特許庁