「Testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(174ページ目)

「Testing」を含む例文一覧(14414)

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Concerning the method and a system for testing existence of a leakage in the electronic device, the electronic device is not broken in the test.
電子デバイスにおける漏れの有無を試験するための方法及びシステムであり、該試験は、該電子デバイスを破壊しない。 - 特許庁
A third testing circuit 26B compares received data of the receiver 7 with the test data, and this compared result is monitored.
また、第３テスト回路２６Ｂは、そのレシーバ７の受信データを上記テストデータと比較し、この比較結果がモニタされる。 - 特許庁
To provide a sealed article with which leakage test can easily be conducted, its leakage testing method and its manufacturing method.
漏れ検査を容易に行うことのできる密閉品並びにその漏れ検査方法及び製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an apparatus and method for testing a semiconductor which make handling and temperature adjustment more efficient.
ハンドリングと温度調整を効率化する半導体試験装置、及び半導体試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
To perform a highly accurate nondestructive compressive strength testing method or a stress estimating method using a propagation velocity of vibration.
振動の伝播速度を利用して高精度かつ簡単な非破壊圧縮強度試験或いは応力推定を行う。 - 特許庁
AUDIOMETRIC TESTING APPARATUS, HEARING AID SELECTION APPARATUS USING THE SAME, MANAGEMENT SERVER, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
聴力検査装置及びこれを用いた補聴器選定装置並びに管理サーバ及びコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
To realize a semiconductor testing apparatus for securing a region other than a connection region of a DUT substrate.
ＤＵＴ基板の接続領域以外の領域確保が行える半導体試験装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device capable of preventing timing errors due to characteristics of a transmission line to a DUT.
ＤＵＴへの伝送ラインの特性によるタイミングエラーを防止することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
The present invention is a test method for testing the characteristics of a columnar test object by loading compressive or tensile force on the test object.
柱状の試験体の特性を試験するために当該試験体を圧縮・引張する載荷試験方法である。 - 特許庁
To provide an apparatus for producing stress on a surface, and a method of testing the surface with the apparatus.
表面上に応力を生じさせるための機器および当該機器で表面を試験する方法が提供される。 - 特許庁
To provide an electric cell testing apparatus for accurately determining defects in the characteristics of battery cells themselves within a relatively short time period.
比較的短期間内に、電池自体の特性不良を的確に判定できる電池試験装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a generator load testing device capable of easily making adjustment of power factor and adjustment of effective power.
力率の調整と有効電力の調整とを容易に行うことができる発電機負荷試験装置を提供する。 - 特許庁
A plurality of ground pads 19 for testing the wafer electrically connected to the line 15 are formed on the line 15.
グランドライン１５上に、グランドライン１５と電気的に接続された複数のウェハテスト用グランドパッド１９が形成されている。 - 特許庁
To provide a force sensor testing device capable of performing a load test in 6-axis directions on a force sensor which is an object to be tested.
被試験体である力センサに対して６軸方向に加重試験できる力センサ試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a chemical analyzer which minimizes a usage of a testing sample or reagent, while enhancing measurement accuracy.
化学分析装置において、被検試料や試薬の使用量を微量化すると共に、測定精度を向上すること。 - 特許庁
To shorten a time required for testing a semiconductor apparatus comprised of a multi-chip package, a plurality of core chips, an interface chip and the like.
マルチチップパッケージや、複数のコアチップとインターフェースチップからなる半導体装置のテストに要する時間を短縮する。 - 特許庁
To insert and extract a testing board inside the test head in a state where a connection for placing a test device is disposed on the test head.
テストヘッド上に被試験デバイスを載置するための接続部を載置している状態で、内部の試験ボードを挿抜する。 - 特許庁
To provide a method for testing acquired electromagnetic data, which ensures generation of a reliable source reconstruction.
信頼できるソース再構築を生じることができることを保証する、取得された電磁データの試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide novel systems and techniques for lancing tissue either alone or in combination with testing of the resulting bodily fluid.
単独で、あるいは得られた体液の検査と組み合わせて、組織を切開する新規な装置と技法を提供する。 - 特許庁
To provide an optical disk emulation device which is capable of developing game software or the like and testing (debugging) the same efficiently.
光ディスクエミュレーション装置に関し、ゲームソフト等の開発及びテスト（デバッグ）作業を効率よく行えることを課題とする。 - 特許庁
To provide a shear testing machine for an anchor capable of performing a shear test of the anchor simply on an construction site.
アンカーのせん断試験を工事現場で簡便に実施することが可能なアンカー用せん断試験機を提供する。 - 特許庁
To provide the testing circuit of an oscillation circuit, capable of realizing the measurement of jitter using high accuracy by only a logic circuit.
精度の高いジッタ測定をロジック回路のみで実現できる発振回路のテスト回路及びテスト方法を提供する。 - 特許庁
The method and system are used in testing non-equal values in normal rounds for satisfaction of a condition.
この方法及びシステムは、通常のラウンドにおいて不等値を、条件を満足するかどうかテストするのに使用される。 - 特許庁
A testing substrate 100 includes a power supply connector 113, a jumper connector 11, a controller 103 and a display section 107.
試験用基板１００は、電源コネクタ１１３と、ジャンパ・コネクタ１１と制御部１０３と表示部１０７とを備える。 - 特許庁
To provide a method for testing the identification of a user of a first device connected to a second device through a data link.
データ・リンクを介して第２装置に接続された第１装置のユーザの識別を検査する方法を提供する。 - 特許庁
To stabilize power supply voltage V_DD, when testing a DUT changing an operation state without depending on a test pattern.
動作状態がテストパターンに依存せずに変化しうるＤＵＴを試験する際に、電源電圧Ｖ_ＤＤを安定化する。 - 特許庁
METHOD, PROGRAM AND DEVICE FOR TESTING CHARGE AND DISCHARGE OF SECONDARY BATTERY, AND RECORDING MEDIUM RECORDING THE SAME PROGRAM
二次電池の充放電試験方法、充放電試験プログラム、これを記録した記録媒体及び充放電試験装置 - 特許庁
To provide a testing device capable of preventing the test of a tested device using a false output data signal.
誤った出力データ信号を用いて被試験デバイスを試験することを防ぐことができる試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide an equipment simulation device for testing a system and an application program without requiring actual plant environment.
実プラント環境を必要とせずに、システムやアプリケーションプログラムのテストを実行できる機器シミュレーション装置を実現する。 - 特許庁
To provide a device for simultaneously testing or burning, in a very plurality of integrated circuit chips on a product wafer.
プロダクト・ウエハ上の非常に多数の集積回路チップを同時にテストまたはバーンインするための装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of testing a pattern which can improve simulation accuracy of a layout pattern for an actual product.
実製品に対するレイアウトパターンのシミュレーション精度を向上させることができるパターン検証方法を提供する。 - 特許庁
To provide a device for generating stresses on a surface and a method for testing the surface of the device.
表面上に応力を生じさせるための機器および当該機器で表面を試験する方法が提供される。 - 特許庁
To provide a semiconductor chip test socket, in particular, suitable for testing a bare chip, in the semiconductor chip test socket easy to be handled and operated surely.
扱いやすく動作確実な半導体チップテストソケットであって、特にベアチップのテストに好適なものを提供する。 - 特許庁
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, TESTING METHOD FOR THE SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, AND PROBE CARD USED FOR BURN-IN STRESS AND D/S
半導体集積回路装置、半導体集積回路装置のテスト方法、バーインストレス＆Ｄ／Ｓに用いられるプローブカード - 特許庁
Thus, the cell 1 for testing the microbeads normally picks up respective images of the microbeads 7 and keeps a high analysis accuracy.
したがって、本発明のマイクロビーズ検査用セル１は、各マイクロビーズ７の撮像が正常に行われ、解析精度が高い。 - 特許庁
To provide a semiconductor testing device that can hold the data stored in a test pattern memory even when power supply is shut off.
電源が遮断された際にも、テストパターンメモリのデータを保持することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
The arrangement reduces the amount of test-only hardware on a chip and reduces the need to write complex testing software.
この配置は、チップ上のテスト・オンリーのハードウェアの量を低減し、複雑なテスト用ソフトウェアを書く必要性を低減する。 - 特許庁
To avoid a malfunction caused by an IR drop when scan-testing a semiconductor integrated circuit, and to provide an efficient scan test.
半導体集積回路をスキャンテスト時のＩＲドロップによる誤動作を回避し、効率の良いスキャンテストを実現する。 - 特許庁
Similarly to an opening 32 for contact plug, the contact testing opening 34 extends from the diffusion layer 12 to a wiring layer 20.
コンタクト試験用開口３４は、コンタクトプラグ用開口３２と同様に、拡散層１２から配線層２０まで延びている。 - 特許庁
Therefore, the redundancy selection circuit 300 can program freely an address required for testing a redundant memory cell.
したがって、リダンダンシ選択回路３００は、リダンダントメモリセルをテストするために必要なアドレスも自由にプログラムすることができる。 - 特許庁
To provide a package having a ball minimizing contact resistance, a testing device, and a method of manufacturing the package.
コンタクト抵抗を最小化するボールを有するパッケージ及びテスト装置、並びにそのパッケージの製造方法を提供する。 - 特許庁
In this invention, the IC tester for testing a test object having a plurality of output pins is improved.
本発明は、複数の出力ピンを有する被試験対象を試験するＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁
The multiple head laser projector may also be utilized for diagnostic testing of the laser heads during start-up, for example.
複数ヘッドレーザ投影機は、例えば、立ち上げ時などにおいて、レーザヘッドの診断テストに活用することが可能である。 - 特許庁
To obtain a volatile component testing apparatus by which a volatile component is analyzed and evaluated carefully and with high accuracy.
揮発成分に対するきめ細かな分析、評価を高精度で行うことができる揮発成分試験装置を得る。 - 特許庁
The host, Oii, was taken aback and hastily intervened to prevent a tragedy. Yoshitomo sheathed his sword, saying, 'I was just testing this lad's mettle.'
驚いた大炊と延寿があわてて止めに入り、義朝は「こやつの性根を試してやっただけだ」と太刀を納めた。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
METHOD FOR RESTORING THE STATE OF THE ALGORITHM CONTROL WHEN ERROR OCCURS DURING TESTING DEVICE TO BE TESTED
被試験デバイスの試験中にエラーが生じた場合にテストプログラムのアルゴリズム制御のその時点の状態を回復する方法 - 特許庁
To provide a game machine for which the manufacturer and testing organization, and the like, of the game machine can easily testify the discharge balls.
遊技機の製造メーカーや試験機関等が、その出玉の試験を容易に行うことができる遊技機を提供する。 - 特許庁
To enable the unmanned control of a shooter in the testing of a Pachinko game machine while achieving an intentional intermittent shooting.
パチンコ遊技機の試験を行う際の発射装置の制御を、止め打ちを再現しつつ、無人で行えるようにする。 - 特許庁
To generate a power supply waveform of a complicated pattern, as a power supply voltage for testing a semiconductor device, in a short time and with high accuracy.
半導体装置のテスト用電源電圧として、複雑なパターンの電源波形を短時間で、高精度に生成する。 - 特許庁
To provide an automatic testing system capable of evaluating automatically performance of a receiver accurately.
受信機の性能を自動的に正確に評価することができる自動試験システムを提供することを提供すること。 - 特許庁

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