「Testing」を含む例文一覧(14414)

<前へ 1 2 .... 173 174 175 176 177 178 179 180 181 .... 288 289 次へ>
  • To provide a technology for testing connectability of bidirectional pads in a component or a chip of an integrated circuit.
    集積回路のコンポーネントまたはチップにおける双方向性パッドの接続性をテストするための技術を提供すること。 - 特許庁
  • A plurality of logic comparators is provided in this instrument for testing the semiconductor circuit for receiving the output data from the tested semiconductor circuit.
    被試験半導体回路からの出力データを受ける半導体回路試験装置に複数の論理比較器を設ける。 - 特許庁
  • To provide a surface pressure durability tester for solar battery panels which can maintain uniform surface pressure, while shortening the testing time.
    試験時間の短縮と共に均一な面圧の維持できる太陽電池パネルの面圧耐久試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a method and structure for testing a semiconductor wafer prior to the execution of flip chip bumping process.
    フリップ・チップ・バンピング・プロセスの実行に先立って半導体ウェハを試験するための方法および構造を提供すること。 - 特許庁
  • Thereafter, the alignment of a proper electrode pattern part with the probe head 12 of the testing device is executed, and alignment information is obtained.
    その後、適宜の電極パターン部と検査装置のプローブヘッド12とのアライメントが実施され、アライメント情報が得られる。 - 特許庁
  • To provide a head slider for accurately testing glide height even when ruggedness is present on an air bearing surface.
    エアベアリング面に凹凸がある場合であっても、グライドハイトを正確に検査することの可能なヘッドスライダを提供する。 - 特許庁
  • A game machine testing device is a device for carrying a pachinko machine 10 and making a functional test for the pachinko machine 10.
    遊技機検査装置は、パチンコ機10を搬送するとともに、パチンコ機10の機能検査を行うための装置である。 - 特許庁
  • To provide an elution testing method of an oral agent containing (1-hydroyethylidene)bis-phosphonate or its salt as an effective component.
    (1−ヒドロキシエチリデン)ビス−フォスフォネートまたはその塩を有効成分とする経口剤の溶出試験法の提供。 - 特許庁
  • To provide a further accurate and simple method or the like for testing carbon tetrachloride-like toxicity that a chemical substance has.
    化学物質が有する四塩化炭素様の毒性のより正確かつ簡便な検定方法等を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a diagnostic medicine for testing rheumatism, capable of accurately and clearly discriminating normal persons from rheumatism cases.
    正常者とリウマチ患者を正確且つ明確に判別することが可能なリウマチ検査診断薬を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a method and an apparatus for testing an adsorbent which can measure adsorption performance of the adsorbent.
    吸着剤の吸着性能を測定することができる吸着剤試験方法および装置を提供すること。 - 特許庁
  • The output impedance of the semiconductor device at the terminal for test is matched to the impedance of a transmission system at testing time.
    試験用端子における半導体デバイスの出力インピーダンスを、試験時の伝送系のインピーダンスにマッチングさせる。 - 特許庁
  • To provide a substrate mounting apparatus for securely mounting a circuit substrate on a mother board of an electronic component testing apparatus.
    電子部品試験装置のマザーボードに診断用の回路基板を確実に装着する基板装着装置を提供する。 - 特許庁
  • BULK CURRENT INJECTION TRANSFORMER, BULK CURRENT INJECTION TEST METHOD, CONDUCTOR EXCITATION MODE MEASURING METHOD, AND TRANSFORMER TESTING DEVICE
    バルク電流注入トランス、バルク電流注入試験方法、導体励起モード測定方法、およびトランス試験装置 - 特許庁
  • An estimating means of the kinematics parameter uses marker position information on a testing body measured by motion capture.
    モーションキャプチャにより計測された被験体上のマーカ位置情報を用いた運動学パラメータの推定手段である。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit facilitating timing adjustment in testing operation and reducible in the number of external terminals.
    試験動作時のタイミング調整が容易で、外部端子数を削減することができる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
  • Since the fixing tool uses a soft material such as a timber, the shell of the ampoule does not break during testing.
    固定具2は木材など軟質の材料を使用しているので試験途中でアンプルの胴体部が破損することがない。 - 特許庁
  • To shorten testing time of semiconductor devices, while preventing mistakes in setting and altering test conditions, within a test program.
    試験プログラム内での試験条件の設定ミスや変更ミスを防止しながら、半導体デバイスの試験時間を短縮する。 - 特許庁
  • To realize an IC tester and testing modules capable of performing failure analysis and repair work rapidly.
    迅速に、故障解析ができ、修理作業が行えるICテスタ及び試験モジュールを実現することを目的にする。 - 特許庁
  • To provide an electrostatic charge testing device for clarifying the relation between the voltage value applied from the outside, and the amount of electrostatic charge.
    外部から印加した電圧値と静電気帯電量との関係を明確にする静電気帯電試験装置を得る。 - 特許庁
  • To enhance measurement accuracy of radio waves transmitted/received to/from a transmitter/receiver, at testing in a microwave darkroom.
    電波暗室における試験に際し、送受波機器において送受される電波の測定精度を向上することができる。 - 特許庁
  • The test pattern editing section 23 edits the test patter output to the test pattern testing section 1 based on the evaluating conditions.
    テストパターン評価装置23は、評価条件に基づき、テストパターン試験部1に出力されるテストパターンを編集する。 - 特許庁
  • To provide a test system and heater structure capable of testing respective integrated circuits at respective different temperatures.
    それぞれの集積回路をそれぞれ異なるテスト温度によって、テスト可能に処置するテストシステムとヒータ構造を提供する。 - 特許庁
  • SYSTEM FOR TESTING TIRE USING ALGORITHM FOR COMPARING AVERAGE GRADIENT OF FLUCTUATION OF ONE PARAMETER AS FUNCTION OF ANOTHER PARAMETER
    一パラメータの変動の平均勾配を別のパラメータの関数として比較するアルゴリズムを用いてタイヤを試験するシステム - 特許庁
  • When the system is advanced through various testing programs, the programs temporarily update the records according to the result.
    システムが様々な試験プログラムを通して進行すると、試験プログラムは、試験結果によって、一時的なレコードを更新する。 - 特許庁
  • Once the user testing is completed, individualized compensation coefficients are created to optimize the listening experience for the user.
    テスト動作が完了すると、個々の補償係数はユーザに対するリスニング体験を最適化するために作成される。 - 特許庁
  • To easily and inexpensively construct a voice conduction testing apparatus by avoiding a plurality of voice identification devices from being used.
    複数の音声識別装置を用いることを回避して、音声導通試験装置を容易に安価に構築すること。 - 特許庁
  • The semiconductor integrated circuit device 1 is simulated by a computer by using a test bench TB as the testing program.
    半導体集積回路装置1は、テスト用プログラムであるテストベンチTBを用いてコンピュータによるシミュレーションが行われる。 - 特許庁
  • A testing apparatus 900 tests a communication controller 10 functioning as the mail filtering device for filtering a spam mail.
    試験装置900は、スパムメールをフィルタリングするメールフィルタリング装置として機能する通信制御装置10を試験する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor memory of which the miniaturization can be attained by decreasing the number of pads, and its testing method.
    パッドの少数化により小型化を可能とすることができる半導体装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an automatic fertilized egg testing apparatus having improved judgment accuracy of unfertilized eggs, abnormally grown eggs and internal dead eggs.
    無精卵、発育不良卵、中死卵の判断精度をより向上させた有精卵自動研卵装置の提供。 - 特許庁
  • To provide a radio testing method for a mobile station which automatically tests the entire transmitter-receiver and antenna.
    送受信機及びアンテナの全体にわたって自動的に試験を行なう移動局の無線試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • The user is prompted to listen to various signals thereby testing the frequency response of each ear and headphone combination.
    ユーザは各種の信号を聞くためにプロンプトされることにより各耳およびヘッドホン組合せの周波数応答をテストする。 - 特許庁
  • To provide a method and a system for examining colonography and computer tomographic data obtained from a lung testing.
    コロノグラフィ及び肺検査から得られるようなコンピュータ断層撮影データの検討のための方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a network testing device capable of performing an integrated network test to a mobile communication network.
    移動体通信ネットワークに対して統括的なネットワーク試験を実施することができるネットワーク試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A semiconductor testing device 1 tests a semiconductor device 3, which is an object to be tested, for predetermined electric characteristics.
    半導体試験装置1は、試験対象物の半導体装置3について所定の電気的特性のテストを行う。 - 特許庁
  • When a hard component is detected in the water for testing water quality, the ion exchange resin R is regenerated with the regeneration unit 2.
    水質検査用水の硬度成分を検出したときに、再生ユニットを用いてイオン交換樹脂Rを再生する。 - 特許庁
  • The outputs of the up counter 12 and the down counter 13 are input into selector 2, sequentially being output in testing of memory 8.
    アップカウンタ12とダウンカウンタ13の出力はセレクタ2に入力し、メモリ8のテストでは、順次出力される。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing system which stabilizes a contact condition of contact points between the device under test and a performance board.
    被試験デバイスとパフォーマンスボードとの接点の接触状態を安定させる半導体試験システムを提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor device testing device which can easily perform fault analysis by using an inexpensive data fail memory.
    コストが安いデータ・フェイルメモリを用いて不良解析を容易に行うことができる半導体デバイス試験装置を提案する。 - 特許庁
  • To realize miniaturization and cost reduction of a semiconductor testing apparatus by reducing remarkably the number of interfaces of a measuring unit and a pattern memory.
    測定ユニットとパターンメモリとのインターフェイス数を大幅に削減し、半導体試験装置を小型化、低コスト化する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for performing an efficient test by preventing writing of an individual pattern unnecessary for a semiconductor memory device.
    半導体メモリデバイスに不要な個別パターンを書き込むことを防ぎ、効率よく試験を行う試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To realize a semiconductor testing device which uses a semiconductor relay for switching signal generators.
    信号発生器の切り換えに、半導体リレーを用いることができる半導体検査装置を実現することを目的にする。 - 特許庁
  • To provide an elution testing machine allowing cleaning with a minimum cleaning number with maintaining measurement precision.
    測定精度を維持しつつ、最小限の洗浄回数で洗浄を行なうことができる溶出試験機を提供する。 - 特許庁
  • GENETIC TESTING METHOD FOR CANCER BY ANALYSIS OF EXPRESSION OF CANCER-RELATING GENE UTILIZING MONOCYTE CONTAINED IN BLOOD SAMPLE
    血液試料に含まれる単核球細胞を用いた癌関連遺伝子の発現解析による癌の遺伝子検査方法 - 特許庁
  • METHOD FOR TESTING ACTIVATED CLOTTING TIME LOW IN SENSITIVITY TO PRESENCE OF APROTININ AND METHOD FOR EVALUATING ADROTININ SENSITIVITY
    アプロチニンの存在に対する感受性の低い活性化クロッティング時間試験方法、およびアプロチニン感受性の評価方法 - 特許庁
  • To minimize as much as possible setting of control procedures for modules provided in a semiconductor testing device.
    半導体試験装置に備えられるモジュールの制御手順の設定をできる限り少なくすることを目的とする。 - 特許庁
  • A digital data signal and a clock signal relevant to this digital signal are transmitted from the tested device to a testing device.
    デジタルデータ信号及びこのデジタル信号に関連するクロック信号を被試験デバイスから試験デバイスに送信する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus for improving the efficiency of the test as a whole by shortening the period of data readout.
    データ読み出しの時間を短縮して、試験全体の効率の向上を実現した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • (8) Chemically Synthesized Drugs: June 3, 2003, PMSB/ELD Notification No. 0603001. Stability Testing of New Drug Substances and Products (ICH Q1A (R2))
    ⑧ 化学合成医薬品:平成15年6月3日 医薬審発第0603001号 安定性試験ガイドラインの改定について(ICH Q1A(R2)ガイドライン) - 厚生労働省
<前へ 1 2 .... 173 174 175 176 177 178 179 180 181 .... 288 289 次へ>

例文データの著作権について

  • 厚生労働省
    Copyright © Ministry of Health, Labour and Welfare, All Right reserved.
  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.