「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 177 178 179 180 181 182 183 184 185 .... 288 289 次へ＞- To provide a pre-winder device capable of dispensing with mounting, disassembling, reassembling, and testing of a spacer or a shim.
スペーサまたはシムの装着、分解、再組立て、および試験の反復を不要にできるプリワインダ装置を提供することにある。 - 特許庁 - To obtain a circuit testing device which tests a logic circuit without stopping a system using the logic circuit, with a simple configuration.
簡易な構成で論理回路を用いたシステムを停止させることなく論理回路の試験を行なう回路試験装置を得ること。 - 特許庁 - To provide a semiconductor laser device capable of suppressing the variation of dither effects, and a method of testing the semiconductor laser device.
ディザ効果のばらつきを抑制することができる半導体レーザ装置および半導体レーザの試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a material testing machine capable of preventing influence of interference even when a plurality of AC amplifiers are used.
複数の交流アンプを使用する場合においても、干渉の影響を防止することが可能な材料試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a bending fatigue testing device that is miniaturized by giving bending stress with a simple configuration.
簡素な構成で曲げ応力を与えるようにすることにより、小型化を図ることができる曲げ疲労試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a tire testing device suppressing deviation and meandering of a metal belt by raising a friction force between the metal belt and a metal pulley.
金属ベルトと金属プーリの摩擦力を高めて金属ベルトのズレや蛇行を抑制するタイヤ試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a measurement probe capable of performing a non-destructive testing on a plurality of coatings on an object in a simple and certain method.
物体上の複数のコーティングを簡単および確実な方法で非破壊で検査できる測定プローブを提供すること。 - 特許庁 - To provide a skin test sheet for surface measurement for testing the amount of moisture evaporation and/or secretory components, etc. on a broad area of skin.
皮膚の広い範囲の水分蒸発量やと分泌成分等を検査する面測定用皮膚検査シートを提供する。 - 特許庁 - To provide a game machine which can facilitate the testing of a game device which causes changes in operation state associated with the variable probability state.
確変状態に付随して作動状態が変化する遊技装置の試験を容易にすることが可能な遊技機を提供する。 - 特許庁 - To provide a sampler for testing bacteria designed to assay the bacteria from a liquid specimen with a simple manipulation.
簡便な操作で液体の検体から細菌を測定するための細菌検査用サンプルを収集し得る装置を提供する。 - 特許庁 - The memory cell 1 is connected to a current comparison circuit 2 and a reference memory cell 3 for testing is connected to the current comparison circuit 2.
メモリセル１は電流比較回路２に接続され、該電流比較回路２には試験用基準メモリセル３が接続されている。 - 特許庁 - To provide a method for testing the activity of a material which may be effective for inhibiting enzyme activity of phospholipase A2.
ホスホリパーゼＡ２の酵素活性を阻害するのに有効である可能性がある物質の活性の試験方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a stroke controller for a tensile-testing machine for limiting the displacement (stroke) of a cylinder rod to a fixed range.
シリンダロッドの変位（ストローク）を一定範囲内に制限することができる引張試験機のストローク制御装置を提供する。 - 特許庁 - WC value (compression energy value) of the wavy processing region part measured by means of a KES compression testing machine is 0.25-1.5 gf.cm/cm^2.
前記波状加工領域部分のＫＥＳ圧縮試験機によるＷＣ値（圧縮エネルギー値）が０．２５〜１．５gf・cm/cm^2である。 - 特許庁 - A sampling cycle and the threshold of data change quantity are set by a data processor 200 and are transmitted to a testing machine body 100.
データ処理装置２００でサンプリング周期とデータ変化量のしきい値を設定し、試験機本体１００へ送信する。 - 特許庁 - To lower a failure rate of a semiconductor testing device by reducing the number of central processing units necessary for control of a test.
試験の制御に必要な中央処理装置の数を減少させることで、半導体試験装置の故障率を低下させる。 - 特許庁 - To provide a compliant electrical contact which has a low self-inductance in a high frequency for connecting an IC on an IC testing unit.
ＩＣ試験装置にＩＣを接続するための高周波で低い自己インダクタンスを有する柔軟電気接点の提供。 - 特許庁 - To reduce an effect of an edge of a wafer during testing in a system to test a semiconductor wafer or the like by means of an electron beam.
電子ビームを用いて半導体ウエハ等を検査するシステムにおいて、検査中にウエハのエッジの影響を低減すること。 - 特許庁 - To provide a step testing method and its device capable of shortening measurement time without lowering reliability and accuracy.
信頼性や精度を落とすことなく、測定時間を短縮することができるステップテスト方法及びその装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of detecting instantly abnormality occurrence of a power source, corresponding to various states at a test time.
試験時の様々な状況に対応して電源の異常発生を即時に検出できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a falling weight testing apparatus which is capable of accurately measuring the displacement when a wheel is caused to collide with a target.
車輪を対象物に衝突させたときの変位を正確に計測することが可能な落錘試験装置を提供する。 - 特許庁 - To solve such a problem that an automatic inspection device suitable for point of care testing does not support an inspection other than a general biochemistry item in general.
ポイント・オブ・ケア・テスティングに適した自動検査装置は、一般に、一般生化学項目以外の検査に対応していない。 - 特許庁 - To provide a testing blood container which has a simple structure and can retain a predetermined volume of blood and a blood collecting instrument.
簡単な構造で一定量の血液を貯留することができる検査用血液容器および採血器具を提供すること。 - 特許庁 - To provide an electronic component handling device for testing an electronic component to be tested having input/output terminals provided on both sides.
両面に入出力端子が配置された被試験電子部品を試験するための電子部品ハンドリング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a horizontal load testing method of a pile measuring a horizontal resistance of many piles by one-time static horizontal load test.
１回の静的水平載荷試験により多数の杭の水平抵抗を求める杭の水平載荷試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a long preservable kit used as a reference for a diagnostic test, and to provide a kit for testing a nucleic acid hybridization.
長期保存の利く診断検定法で対照として使用するキットおよび核酸ハイブリッド形成検定用キットを製造する。 - 特許庁 - CONTACTOR, FRAME WITH THIS TYPE OF CONTACTOR, ELECTRICAL MEASUREMENT AND TESTING DEVICE AND CONTACTING METHOD USING THIS TYPE OF CONTACTOR
接触器、この種の接触器を備えたフレーム、電気的測定および試験装置およびこの種の接触器による接触方法 - 特許庁 - Additionally, methods for inducing immunoprotection to HCV in a primate, and methods for testing a compound for inhibiting HCV replication are disclosed.
加えて、霊長類においてHCVに対する免疫防御を誘導する方法、HCV複製を阻害する化合物を試験する方法。 - 特許庁 - To provide a testing device for sealing devices capable of performing a performance test, in matching with the actual usage conditions of a sealing device.
シール装置の実際の使用条件に合わせて性能試験を行うことができるシール装置用の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a TCP handling device suitable for testing a TCP provided with contact portions for tests (test pads) at desired positions of leads.
リードの所望の位置に試験用接触部（テストパッド）を設けたＴＣＰの試験に好適なＴＣＰハンドリング装置を提供する。 - 特許庁 - To process a network testing system at high speed with a rate near the maximum data transfer rate of a network path or a network device.
ネットワーク検査システムにおいて、ネットワーク経路またはネットワーク装置の最大転送速度に近い速度で処理できるようにする。 - 特許庁 - To provide a technique for enabling error verification of a disk device from an upper level device without using a dedicated testing device.
専用の試験機を用いずに，上位装置からディスク装置のエラー検証を行うことを可能とする技術を提供する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor device capable of shortening a testing time for a plurality of memory circuits having different configurations.
構成が異なる複数のメモリ回路に対する試験時間の短縮を図ることのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁 - In this compression fatigue testing method, the non-contact state of an indenter and a sample is provided one or more times during measurement.
測定中に圧子と試料が非接触である状態を１回以上設けることを特徴とする圧縮疲労試験方法。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device capable of shortening the time for testing, to two or more memory circuits with few misjudgment.
判定誤りが少なく、複数のメモリ回路に対する試験時間を短縮することのできる半導体装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a magnetic storage device having a test mode for testing a memory cell and a spare memory cell itself for saving the reference cell.
リファレンスセルおよびリファレンスセルを救済するスペアメモリセル自体を試験するテストモードを備えた磁気記憶装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a data transmitter-receiver and its testing method for carrying out a test while miniaturizing a circuit scale.
本発明は、回路規模を小型化しながらテストを実行することができるデータ送受信装置及びそのテスト方法を提供する。 - 特許庁 - To make the securing of a level setting precision of an optical input signal near to a gain switching level compatible with the reduction of a testing time.
利得切替レベルの近傍への光入力信号のレベル設定精度確保、試験時間の削減の両立を図る。 - 特許庁 - To provide an error testing device with which an error test of required accuracy can be performed in a short time and directly with satisfactory efficiency, on the basis of a metered value.
本発明は、計量値から直接、必要な精度の誤差試験を短時間で効率良く行うことを目的とする。 - 特許庁 - A substrate which is the same as the testing substrate is patterned, by using the dosage of radiation calculated for each of different locations on the substrate.
基板上の異なるロケーション毎に計算された放射線量を使用して、試験基板と同一基板をパターニングする。 - 特許庁 - To mechanically develop a task schedule for a packaging or testing from design information of a system such as a class view of UML without manpower.
ＵＭＬのクラス図のようなシステムの設計情報から実装やテストのタスクスケジュールを、人手を介さず機械的に作成する。 - 特許庁 - To execute high-speed testing of an LSI at low cost by preparation in a short time without using an expensive high-speed LSI tester or measuring jig.
高価な高速ＬＳＩテスタや測定冶具を用いず且つ、短時間の準備で安価にＬＳＩの高速テストを実施すること。 - 特許庁 - To perform testing by simulating operation of a motor, instead of connecting a motor which is an actual load to an inverter.
インバータに実際の負荷であるモータを接続することなく、モータの運転を模擬的に行いながら試験を行えるようにする。 - 特許庁 - To make a load of a wide range act precisely on a sample in a load loading mechanism for a material testing machine.
材料試験機における荷重負荷機構において、より広いレンジの荷重を精度よく試料に作用させることを可能にする。 - 特許庁 - To provide a method for testing hormone action of a substance, capable of simply and rapidly determining the action with excellent reliability and sensitivity at a low cost.
物質のホルモン作用に関し、信頼性、感度に優れ、簡単で廉価かつ迅速に判断可能な方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a fretting corrosion testing apparatus capable of accurately reproducing the state of progression of fine sliding wear (fretting corrosion).
微摺動摩耗（フレッチング腐食）が進行した状態を正確に再現することができるフレッチング腐食試験装置を提供する。 - 特許庁 - To facilitate the fitting of the spline section between a torque converter and a testing device, to increase the number of torque converters to be tested, and to improve productivity.
トルクコンバータと試験装置とのスプライン部の嵌合を容易にし、トルクコンバータの試験台数を増加し、生産性を高める。 - 特許庁 - To provide an eye testing instrument which can easily provide the result of a visual acuity test without confusion in different target presentation conditions.
異なる視標呈示条件での各視力検査結果を、混乱なく、容易に知ることができる検眼装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vacuum environmental testing apparatus which reduces the consumption amount of liquid nitrogen in a vacuum apparatus equipped with a contamination panel.
コンタミネーションパネルを供えた真空装置の液体窒素消費量を削減できる真空環境装置を提供することにある。 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE, CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING SAME, AND METHOD FOR FORMING TEST PATTERN
半導体集積回路装置および半導体集積回路装置の検査回路および検査方法および検査パターンの生成方法 - 特許庁
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