「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 199 200 201 202 203 204 205 206 207 .... 288 289 次へ＞- To provide a vehicle testing device capable of performing easily getting-in, getting-out and passage of right and left wheels, and miniaturizing and compacting the device.
左右車輪の乗込み及び脱出、通過が容易に行えると共に、装置の小型化及びコンパクト化を図ることができる車両試験装置を提供する。 - 特許庁 - In this case, the number of kinds of processing to be performed in parallel is determined in consideration of a difference between hardware performance in the normal operation and that in testing (S30).
その際、通常運用時のハードウェア性能とテスト時のハードウェア性能との差を考慮し、並列に実行する処理の数を決定する（Ｓ３０）。 - 特許庁 - A face surrounded by the two regulation plates and the straightening plates attached under the condition orthogonal to end parts thereof is constituted as an installation face of a testing body.
２枚の規制板と、その端部に直交する状態で取付けた整流板によって包囲した面を、試験体の設置面として構成する。 - 特許庁 - To provide an apparatus for explosion testing of a combustible gas/vapor, having a simple structure and capable of visually confirming an explosion state to safely and easily diffuse explosion energy.
構造が簡易であり、爆発状態を視認できて爆発エネルギーを安全で容易に発散できる、可燃性ガス・蒸気の爆発試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a semiconductor device having non-volatile memory elements with which testing at a high temperature is possible and shortening of the manufacturing process is realized.
高温での試験が可能となり製造工程の短縮を実現する不揮発性記憶素子を有する半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁 - CAVITATION-GENERATING DEVICE UNDER ELECTROMAGNETIC IMPACT FORCE, METHOD FOR EVALUATING/TESTING DAMAGE ON MATERIAL USING THE SAME, AND METHOD FOR REFORMING MATERIAL SURFACE
電磁式衝撃加力によるキャビテーション発生装置、その装置による材料の損傷評価試験方法、及び材料の表面改質方法 - 特許庁 - To provide a substrate for hybridization with nucleic acid chains immobilized thereon with surface coverage and the degree of activity enhanced, and a complementary testing method using this substrate.
表面被覆率及び活性度を高めた核酸鎖を固定化したハイブリダイゼーション用基板、この基板を用いた相補性試験方法の提供。 - 特許庁 - The transporter further moves the identified reagent carriers to a carousel on which the carriers are automatically secured for storage awaiting use in the testing.
トランスポータはさらに、識別された試薬キャリアをカルーセルに移動し、このカルーセルで、キャリアが自動的に固定されて格納され、試験における使用を待つ。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit which can cope with wafer level burn-in tests and can facilitate design of testing circuits.
ウェハーレベルでのバーンインテストに対応可能であって、テスト用の回路の設計容易化が見込める半導体集積回路を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus which stores data in a predetermined address of a memory without preprocessing of calculating each test to shorten a calculating time.
本発明は、各試験の演算の前処理無しに、所定のメモリのアドレスの番地へ格納させて演算時間を短縮した半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe in which a desired contact area with a terminal can be obtained, a tool with the same, and a testing apparatus with the same.
端子との所望の接触面積を得ることができるプローブおよびそれを備えた治工具ならびにそれらを備えた試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide light source equipment and imaging device text equipment having the same capable of testing phase shift characteristics with respect to the incident light of each pixel of a CCD.
ＣＣＤの各画素の入射光に対する位相シフト特性検査を可能にする光源装置とこれを有する撮像素子検査装置を提供すること。 - 特許庁 - Also, by passing wiring from the metal bump 43 to an external electrical testing device between elastic layers, correspondence to a group of pads arranged on a plane can be attained.
また、金属バンプから外部の電気的試験装置までの配線を弾性層の間を通すことにより、平面配列したパッド群に対応することができる。 - 特許庁 - To provide a testing device capable of conducting communication tests in multiple different communication methods, without having to change the existing hardware and rewrite the FPGA program.
既存のハードウェアの変更や、ＦＰＧＡのプログラムの書き換えを行うことなく、複数の異なる通信方式における通信試験を可能とする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor-device testing method for executing high-reliability determination of a non-defective product and a defective product of semiconductor devices.
信頼性の高い半導体デバイスの良品／不良品判定を行うことができる半導体デバイス試験方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - Further more the test device 1 is capable of testing the surface degradation promotion test while heating the sample W by heating with the heating means 5.
さらに、試験装置１は、加熱手段５によって試料Ｗを加熱した状態で表面状態劣化促進試験を実施することができる。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device capable of resuming a sequence for connection of each unit without using information stored in a memory.
各ユニットを接続するシーケンスを再開するときに、メモリに記憶された情報を使用することなく、シーケンスを再開できる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - To realize a semiconductor device in which a plurality of electronic components can be mounted in lower height with higher density after the testing without reduction of the manufacturing yield.
製造歩留まりを低下せずにテスト終了後の複数の電子部品を高密度に薄く実装することができる半導体装置を実現する。 - 特許庁 - To provide a method and a system for testing conductivity of Ethernet in an arbitrary test section from a terminal.
イーサネットワークにおいて、端末機器から任意の試験区間に対して、容易に実施可能な導通性試験方法および導通性試験システムを提供する。 - 特許庁 - To re-execute a series of stored transactions by changing a processing timing for testing whether or not a program is performing a desired operation.
プログラムが所望の動作をするかどうかというプログラムの検査のために、保存された一連のトランザクションを処理タイミングを変更して再実行できるようにする。 - 特許庁 - To provide a nondestructive testing method for inspecting a piezoelectric ceramic element, capable of surely detect internal flaws, and is incapable of being detected at normal temperatures.
常温では検出することができない内部欠陥を、非破壊で確実に検出することができる圧電セラミック素子の検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an egg testing apparatus capable of dealing with a plurality of customers having different levels for abnormal eggs.
異常卵とするレベルが異なる複数の出荷先に係る卵を検査する場合であっても、１台で対応することができる検卵装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an auxiliary test device for an electrical installation capable of simply switching the connection structure of wiring when testing the electrical installation including a plurality of relay elements.
複数のリレー要素を含む電気設備の試験において、配線の接続構成を簡単に切り換えられる電気設備の試験補助装置を得る。 - 特許庁 - To provide an inspection device and a burn-in testing device for a semiconductor device capable of specifying a defective mode and a fault mode, performing analysis and predicting market defects further.
不良モード，故障モードの特定、解析さらには市場不良予測が可能な半導体装置の検査装置およびバーンイン試験装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a semiconductor device, in which the optimal drive performance can be selected at testing and at normal usage time, to realize low power consumption at normal usage time.
テスト時と通常使用時で最適なドライブ能力を選択でき、通常使用時に低消費電力化を図る半導体装置を得ることである。 - 特許庁 - To provide a secondary battery pack capable of testing normal operation of protection function of a protection circuit by loading a test circuit for protection function diagnosis on a protection circuit substrate.
保護回路基板上に、保護機能診断用の試験回路を搭載し、保護回路の保護機能が正常に働くことを試験することを可能にする。 - 特許庁 - To provide an endoscope capable of testing the water quality or water leak in any desired position of a water-supply pipe and capable of removing rust aggregates deposited in the water-supply pipe.
配水管の任意箇所の水質検査又は漏水検査が可能で、配水管内に溜まった錆こぶ除去も可能な内視鏡の提供。 - 特許庁 - To provide an indoor tire durability testing method capable of reproducing and accurately evaluating tire failures on the market, using an indoor tire durability machine.
室内タイヤ耐久試験機を用いて市場でのタイヤ故障を精度良く再現して評価することを可能にした室内タイヤ耐久試験方法を提供する。 - 特許庁 - CONTROL ROD DRIVE, TESTING METHOD AND DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, INSPECTION DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, STORAGE METHOD AND APPARATUS OF CONTROL ROD DRIVE, AND TORQUE TRANSPORT UNIT
制御棒駆動装置、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置、並びにトルク伝達装置 - 特許庁 - Then, the test directory tree 68 is used for selecting a test script to be used at the time of testing a newly compiled application program.
そして、試験ディレクトリ・ツリー（６８）は、新しくコンパイルされたアプリケーション・プログラムを試験する際に使われる試験スクリプトを選択するために使用される。 - 特許庁 - To provide a scratch resistance evaluation method for a coating film capable of obtaining an evaluation result of high reliability, without having to perform actual testing of car washing machine.
実際の洗車機試験を行わずに、信頼性の高い評価結果を得ることのできる塗膜の耐擦り傷性評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide semiconductor wafer reduced in the manufacturing cost thereof and the testing method of a ferroelectric memory device which is capable of reducing the manufacturing cost of the same.
製造コストが低減された半導体ウエハ、ならびに製造コストを低減することができる強誘電体メモリ装置の試験方法を提供する。 - 特許庁 - To perform motivation of study to a learner S by allowing the leaner to play a game after completing the testing distributed by a computer capable of carrying out a game play.
ゲーム遊戯が実行可能なコンピュータにより配信されたテストを終了してからゲームを行い学習者Ｓに学習の動機付けを行う。 - 特許庁 - The second substrate 2 has on a second surface 22 a second semiconductor chip 30 and a second test point 25 for testing the second semiconductor chip 30.
また、第２基板の第２表面２２には、第２半導体チップ３０と、この第２半導体チップ３０をテストするための第２テストポイント２５とが形成されている。 - 特許庁 - To accurately test area deviation that partially takes place in a pattern in testing the area deviation of a periodic pattern on the basis of an area image.
面積画像に基づいて周期性パターンの面積ズレを検査する際、パターン内に部分的に生じている面積ズレをも正確に検査できるようにする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing apparatus, capable of reducing the cost of the logical comparator for logical comparison of an LCD driver IC having a large number of driver outputs.
本発明は、ドライバ出力数の多いＬＣＤドライバＩＣの論理比較する論理比較器のコストを低くできる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁 - The method also has a characteristic capable of testing the presence or absence of plural activities of the physiologically active substance by performing plural assays in parallel.
また、生理活性物質が有する複数の活性の有無を、複数のアッセイを並列的に実施することにより検定できるという特徴を有している。 - 特許庁 - To use a storage device in good quality without increasing testing time for the storage device having a storage area of large capacity.
大容量の記憶領域を有する記憶装置に対して試験時間を増大させることなく、良好な品質状態の記憶装置を使用できるようにする。 - 特許庁 - The testing device is also configured such that an irradiation position for the laser beam within a predetermined, three-dimensional area within the semiconductor device 15 can be scanned.
また、半導体装置１５内部の３次元的な所定の領域内においてレーザ光の照射位置が走査可能となるように構成される。 - 特許庁 - A device equipped with a distributed testing system including: a logical agent; a server communicating with the logical agent; and a graphical user interface (GUI) communicating with the server is provided.
論理エージェント、論理エージェントと通信するサーバ、サーバと通信するグラフィカルユーザインタフェース（ＧＵＩ）を備える分散テストシステムを備える装置を提供する。 - 特許庁 - Data tested in the testing machine body 10 are stored in the storage part of a data processing device 30 via a measurement control device 20 at normal measurements.
通常の測定時には、試験機本体１０で試験されたデータは計測制御装置２０を介してデータ処理装置３０の記憶部に保存される。 - 特許庁 - Then, the image processing means 9 executes image processing by a unit of the visual field in parallel and testing by a unit of the visual field in parallel.
すると、画像処理手段９によって、検査視野単位の画像処理が並行して実行され、検査視野単位の検査が並行して実行される。 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing device and a semiconductor test method capable of measuring fluctuation of a withstand voltage of a semiconductor device caused by an external electric field.
外部電界による半導体素子の耐圧の変動を測定することができる半導体試験装置および半導体試験方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a testing machine which prevents a pressure of a hydraulic cylinder from getting excessive, even when pressurized oil is supplied by a leakage of the pressurized oil from a servo valve.
サーボ弁からの圧油の漏れにより油圧シリンダに圧油が供給された場合でも、油圧シリンダの圧力が過大とならないような試験機を提供する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor device, a testing method for the semiconductor device and tester for the semiconductor device, capable of realizing a high speed timing test at a low cost.
低コストで高速なタイミングテストを実現できる半導体装置、半導体装置の試験方法及び半導体装置の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of determining pressure suitable for testing the propriety of a mask fitting state, and a method of determining correct mask fitting.
マスクの装着状態が適正であるかどうかを試験するのに適した圧力の決定方法、及び適正なマスク装着の決定方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a test program creation device creating a test program for testing a program receiving a structure group having a hierarchical structure and operating, for example.
例えば、階層構造を持つ構造体群を受け取って動作するプログラムをテストするためのテストプログラムを作成するテストプログラム作成装置を提供する。 - 特許庁 - In the switch-durability testing apparatus 1, under the control of a controller 5, a force motor 11 connected to a drive mechanism 7 gives a test load to the switch 13 to be inspected.
スイッチ耐久試験装置１は、制御装置５の制御下で、駆動機構７に接続されたフォースモータ１１が被検スイッチ１３に試験負荷を与える。 - 特許庁 - To provide a movable part test apparatus for testing the operability and durability of movable parts provided for a closed room by moving the movable parts.
閉鎖室内に設けられた可動部位を動かすことにより前記可動部位の操作性や耐久性を試験する可動部位の試験装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a force application testing device capable of reducing facility cost, and measuring accurately a characteristic value of a flexible member.
設備コストの低減を図ることが可能であり、且つ精度よく可撓性部材の特性値を計測することが可能な加力試験装置を提供する。 - 特許庁
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