「Testing」を含む例文一覧(14414)

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  • To provide a semiconductor testing device which applies test pattern data to many DUTs without complicating a layer constitution of a printed board.
    プリント基板の層構成を複雑化させることなく、多数のＤＵＴに対して試験パターンデータを印加することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To ensure through testing that all the connection ports of an endoscope are properly connected to connecting points on an endoscope processor.
    試験を行うことにより、内視鏡の全ての接続ポートが、内視鏡処理装置にある接続箇所に正しく接続されていることを保証する。 - 特許庁
  • The TPU compositions exhibit excellent flame retardant capabilities as measured by Limited Oxygen Index testing and/or UL 94 Vertical Burn tests.
    このＴＰＵ組成物は、限界酸素指数試験および／またはＵＬ ９４垂直燃焼試験によって測定した場合、優れた難燃性能を示す。 - 特許庁
  • At this time, the PLL counter copy uses a resistor incorporated into a test route including test facilitating means for testing the LSI by a scan path method.
    このとき、ＰＬＬカウンタコピーは、ＬＳＩをスキャンパス法により試験するための試験容易化手段を含む試験経路に組み込まれたレジスタを用いる。 - 特許庁
  • To provide a device for testing an opto-electric device or an optical device, capable of periodically carrying out complete calibration without performing light measurement.
    光測定を一切行うことなく完全な校正を定期的に行える光学電気デバイス又は光デバイスを試験するためのデバイスを提供する。 - 特許庁
  • At the time of testing, the signal SA is retained by the FF33 through the selectors 31, 32, and therefore the signal path between the circuit blocks 10A, 10B can be tested.
    テスト時に、信号ＳＡはセレクタ３１，３２を介してＦＦ３３に保持されるので、回路ブロック１０Ａ，１０Ｂ間の信号経路がテストできる。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, METHOD FOR TESTING THE SAME, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE THE METHOD RECORDED THEREON
    半導体集積回路、半導体集積回路のテスト方法およびその方法をコンピュータに実行させるプログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • To provide a method for testing a non-volatile memory capable of simplifying a test program and carrying out write and read-out tests as a series of tests.
    試験プログラムが簡素化でき、書込みと読出しの試験を一連の試験として行うことができる不揮発性メモリの試験方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a material testing machine having a control function capable of precisely controlling the connecting timing to the lifting mechanism of a pendulum-type hammer.
    振子式ハンマの持ち上げ機構に対する連結タイミングを高精度に制御することのできる制御機能を備えた材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • To achieve a testing method and IC tester of a semiconductor integrated circuit capable of detecting a short between pins even when it is not a complete short.
    完全なショートでなくとも、ピン間ショートの検出が行える半導体集積回路の試験方法及びＩＣテスタを実現することを目的にする。 - 特許庁
  • These random interference images can electronically be processed so as to provide video animation of stress effect onto the testing object 15.
    この無作為の干渉像は電子的に処理して試験物１５における応力効果のビデオ動画を提供し得るように電子的に処理することができる。 - 特許庁
  • To provide a word line driving device for easily detecting a defective word line, a semiconductor memory device including the same, and a method for testing the semiconductor memory device.
    ワードラインの不良検出を容易にするためのワードライン駆動回路及びこれを備える半導体メモリ装置並びにそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁
  • The scan chain comprises one ring from each of a plurality of devices, and each ring 25 comprises, or inserted, at least one status resistor for testing the scan chain.
    スキャンチェーンは、複数の装置の各々からの1つのリングを備えており、各リング25はスキャンチェーンをテストするための1つ以上の介在するステータスレシ゛スタを有する。 - 特許庁
  • To provide a water flow type fish testing apparatus which can continuously examine the safety of a liquid medicine without using a pump.
    ポンプを利用しないで、連続的に薬液の供試魚に対する安全性の試験を行うことができる流水式魚類試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The reference memory cell 3 for testing includes a reference selection transistor T1r, and a reference cell transistor T2r connected to the reference selection transistor T1r in series.
    試験用基準メモリセル３は、基準選択トランジスタＴ１ｒと、該基準選択トランジスタＴ１ｒに直列接続された基準セルトランジスタＴ２ｒとを有する。 - 特許庁
  • The present invention relates to a test assembly for testing a product circuit of a product die, and a product and a test die are prepared on a semiconductor wafer.
    本発明は、製品ダイの製品回路をテストするためのテストアセンブリに関するもので、製品及びテストダイは別個の半導体ウェハ上に作製される。 - 特許庁
  • To provide a testing method for confirming the compatibility of an ink-jet printer without actually replacing an ink-jet head cartridge and executing a printing test.
    実際にインクジェットヘッドカートリッジを交換して印字検査を行うことなく、インクジェットプリンタの互換性を確認することができる検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a relay switching inspection system capable of shortening time needed for testing even in case the number of relay circuits constituting a channel exchanger is increased.
    経路交換器を構成するリレー回路の個数が増加した場合でも、テストに要する時間を短縮することが可能なリレー切替検査システムを提供する。 - 特許庁
  • To reduce noise caused by the rotation of a drive wheel and roller of vehicles during testing vehicles using a chassis dynamometer, to the level not burdening an operator.
    シャシダイナモメータで車両試験する際、車両の駆動輪とローラの回転により生じる騒音を、作業者に負担がかからないレベルに低減する。 - 特許庁
  • To increase the number of chips, which are in parallel, and to efficiently test semiconductor chips on a wafer by testing wafer levels at the same time without using a CS signal.
    ＣＳ信号を用いずにウェハレベルのテストを同時に行うことを可能とし、チップの並列数を増やして効率よくウェハ上の半導体チップをテストする。 - 特許庁
  • This method and device are used when testing an electronic device having source synchronizing signal output by use of an automatic test equipment(ATE).
    源同期信号出力を有する電子デバイスを自動試験装置（ＡＴＥ）を用いて試験するための方法および関連の装置を記載している。 - 特許庁
  • For the testing purpose of the relay, the safety relay comprises a key member 12 which is disposed at the housing cover and operates on the lever 38 mounted rotatably inside the housing.
    リレーの試験のため、安全リレーは、ハウジングカバーに配置され、ハウジング内部に回転可能に実装されたレバー３８上で作動するキー部材１２を有する。 - 特許庁
  • To provide a signal output device and a semiconductor testing device using the same, which can reduce power consumption, size, and cost.
    消費電力を低減させると共に小型化およびコスト低減が可能な信号出力装置およびこれを用いた半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • To provide a genetic testing method capable of accurately predicting a risk of occurrence of a cancer cell mass or the effect of a therapy in an early stage or after prognosis.
    精度良く、早期に、又は予後における癌細胞集団の存在リスクや、治療効果を予測することが可能な遺伝子検査方法を提供する。 - 特許庁
  • Embodiments of objectively judging a bent edge of a metal band and testing a wear of the metal band are described.
    金属バンドの曲げエッジを客観的に判定する場合および金属バンドの摩耗テストを行なう場合の方法の実施態様が詳細に説明されることとする。 - 特許庁
  • To provide an automatic nonstop charge reception system testing device capable of confirming the operation of a lane controller without performing actual vehicle traveling.
    実際の車両走行を行わずに車線制御装置の動作を確認することが可能なノンストップ自動料金収受システム試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing system for conducing a test in a short time while the accuracy for detecting defects in a semiconductor device is maintained.
    半導体装置に関する不良の検出精度を維持しつつも短時間で試験を実施することができる半導体試験システムを提供することができる。 - 特許庁
  • A testing pad 105 and an impurity measurement TEG 104 are provided on the scribe region 102 together with patterns for mask alignment and dimension measurement.
    スクライブ領域１０２上にはマスク合わせや寸法測定を行うためのパターンとともに、試験動作用パッド１０５、不純物測定ＴＥＧ１０４を配置する。 - 特許庁
  • To provide a device and method for testing a system between data communication equipment for performing an operation confirmation test of the entire system without arranging a person at the opposite party side.
    対向側に人員を配置することなく、システム全体の動作確認試験を行うデータ通信装置間システム試験装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of easily changing the speed of a pattern to be applied to a DUT by an inexpensive configuration without using on-the-fly timing control.
    安価な構成でオンザフライタイミング制御によらずにＤＵＴに与えるパターンの速度を容易に変えることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • A workstation is provided with a regression test program 62 for testing an application program developed by a workstation by using a stored test script 66.
    ワークステーションが、格納された試験スクリプト（６６）を利用して、ワークステーションで開発されたアプリケーション・プログラムを試験する回帰試験プログラム（６２）を備える。 - 特許庁
  • To provide an IC tester and a contact check method conducting contact check despite AC coupling by a testing object and a capacitor.
    被試験対象とキャパシタによりＡＣカップリングされていても、コンタクトチェックが行えるＩＣテスタ及びコンタクトチェック方法を実現することを目的にする。 - 特許庁
  • (a) Centrifugal balancing machines designed to be capable of testing elastic rotors with a length of 600 millimeters or more that fall under all of the following 1. through 3.
    イ　長さが六〇〇ミリメートル以上の弾性ロータを試験することができるように設計したものであって、次の（一）から（三）までのすべてに該当するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (xxxi) Vibration test equipment, wind tunnels, environmental test equipment or components thereof that can be used for the development or testing of rockets or aircrafts
    三十一　ロケット若しくは航空機の開発若しくは試験に用いることができる振動試験装置、風洞、環境試験装置又はこれらの部分品 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 18 (1) The registration in paragraph (1) of the preceding Article (hereinafter in this Section referred to as "Registration") shall be carried out following an application from a person who wishes to undertake Testing of Organisms.
    第十八条　前条第一項の登録（以下この節において「登録」という。）は、生物検査を行おうとする者の申請により行う。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (8) A Registered Inspection Body may not, without permission from the competent minister, suspend or discontinue all or part of its work of Testing of Organisms.
    ８　登録検査機関は、主務大臣の許可を受けなければ、その生物検査の業務の全部又は一部を休止し、又は廃止してはならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 20 (1) The present or former officers or staff of a Registered Inspection Body shall not divulge secrets gleaned concerning the Testing of Organisms.
    第二十条　登録検査機関の役員若しくは職員又はこれらの職にあった者は、その生物検査に関し知り得た秘密を漏らしてはならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Joan's efforts were succeeded among his deciples, ultimately realized as the methodology of herbalism in Japan established by Ranzan ONO, and 'Wayakushu Rokkajo' (Six articles on Japanese medicine) testing methodology and standard established by Shohaku NIWA.
    それは、門弟小野蘭山が築く日本国本草学、丹羽正伯の検査基準「和薬種六ヶ條」に結実していくことになった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス
  • As such, our TODO lists span a very wide range of tasks: from documentation, beta testing and presentation, to the system installer and highly specialized types of kernel development.
    私たちの TODO リストには文書整備、ベータテスト、インストーラや専門化されたタイプのカーネル開発の好例を紹介するなど非常に広い範囲の作業があります。 - FreeBSD
  • This command is useful while you are testing a new printer or filter installation: disable the queue and submit jobs as root.
    このコマンドは、 新しいプリンタやフィルタを設置している間に使用すると有用です。 すなわち、キューを禁止状態にしておくと、 rootによるジョブのみが入力されます。 - FreeBSD
  • User Mode Linux is intended for testing and virtual server support.For more information about this amazing tribute to the stability and scalability of Linux, see http://user-mode-linux.sourceforge.net.
    UserModeLinuxは、テストやバーチャルサーバを対象としています。 Linuxの安定性やスケーラビリティに対する素晴らしいトリビュートの詳細については、http://user-mode-linux.sourceforge.netを見てみましょう。 - Gentoo Linux
  • This tutorial provides an overview of the sample project, AsynchronousSample, and illustrates deploying, executing and testing an asynchronous BPEL process using the NetBeans IDE with all the necessary runtimes.
    このチュートリアルは AsynchronousSample サンプルプロジェクトの概要と、NetBeans IDE 6.1 と必要な実行時環境を用いた非同期 BPEL プロセスの配備と実行、テストについて説明します。 - NetBeans
  • You can also run a single test file rather than testing the entire project.Select the LibClass.java tab in the Source Editor and choose Run Test File.
    プロジェクト全体をテストするのではなく、1 つのテストファイルを実行することもできます。 ソースエディタで「LibClass.java」タブを選択し、「実行」「ファイルをテスト」を選択します。 - NetBeans
  • For more information on working with Composite Application projects, see The BPEL Module Project and Testing and Debugging BPEL Processessections of this guide.
    複合アプリケーションプロジェクトでの作業に関するさらに詳しい情報については、このガイドの「BPEL モジュールプロジェクト」および「BPEL プロセスのデバッグ」を参照してください。 - NetBeans
  • PEPTIDE OR PROTEIN HAVING AFFINITY TO IL-2, AND IL-2 ABSORBENT, IL-2 TESTING REAGENT AND IL-2 NEUTRALIZING AGENT, USING THE PEPTIDE OR PROTEIN
    ＩＬ−２に結合性を有するペプチド又はタンパク質、及び該ペプチド又はタンパク質を用いたＩＬ−２吸着体、ＩＬ−２検査試薬、ＩＬ−２中和剤 - 特許庁
  • Regarding stress testing, stock prices as measured by the Nikkei Average at the end of September was down more than 16% compared with the end of June this year.
    ストレス・テストというお尋ねですが、例えば9月末時点で株価、これは日経平均で捉えてみますと、本年6月末と比べて16％強下落しております。 - 金融庁
  • Concerning other substantive testing procedures, cases were identified at each firm wheresufficient and appropriate audit evidences were not obtained because audit procedures were not sufficient.
    実証手続について、各法人ともに、手続不十分なために十分かつ適切な監査証拠が入手されていない事例が認められる。 - 金融庁
  • To test parts which generate simple signals at high speeds by hardware and parts which generate complicate signals by software in testing asynchronous LSIs.
    非同期ＬＳＩ試験を行う際に、高速で単純な信号を出す部分をハード的な構成で行い、複雑な信号についてはソフト的に行うこと。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing device, the above approximate waveform with high approximate precision is used as a test signal, whereby the quality judgment can be precisely performed.
    半導体試験装置において、上述した近似精度の高い近似波形を試験信号とすることで良否判定が正確に行うことが可能となる。 - 特許庁
  • Aspects include generating a verification configuration having a verification scheme 89 applied to the firmware 14 for testing the integrity of the firmware 14.
    ファームウェア１４の整合性を試験するべく前記ファームウェア１４に適用される照合スキーム８９を備える照合コンフィグレーションを生成することを備える。 - 特許庁
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