「Testing」を含む例文一覧(14405)

<前へ 1 2 .... 268 269 270 271 272 273 274 275 276 .... 288 289 次へ>
  • The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.
    材料試験機は、破断させた試験片100の破断面100aを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁
  • In the method for testing the surface state of the measuring object, a nib-shaped chip 11 formed of a circular cone or pyramid disposed at the tip of a hammer 12 is collided with the measuring object 16, and the surface state of the measuring object 16 is evaluated based on the repulsion constant of the hammer 12 after the collision.
    測定物の表面状態試験方法は、ハンマ12の先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ11を、測定物16に衝突させ、衝突後のハンマ12の反発定数によって、測定物16の表面状況を評価する。 - 特許庁
  • The lead wire 1 for measuring and testing circuit breakers is provided with a cable part 2; a first connector 3 for connecting the cable part 2 to a switch gear 10; a second connector 4 for connecting the cable part 2 to a circuit breaker 20; and a connection means for connecting the cable part 2 to a circuit breaker measuring device 40.
    遮断器測定試験リード線1は、ケーブル部2と、ケーブル部2をスイッチギヤ10に接続するための第1のコネクタ3と、ケーブル部2を遮断器20に接続するための第2のコネクタ4と、ケーブル部2を遮断器測定器40に接続するための接続手段とを具備する。 - 特許庁
  • In a drive circuit IC3 of an FET3 which becomes an output switch for testing, a voltage is detected by means of a Zener diode ZD and a resistor R1, and when insufficient voltage is detected from the voltage detection by means of a comparison circuit COM, the FET3 is forcibly turned off by dropping the voltage across the gate and source of the FET3 to zero volt.
    試験用出力スイッチとなるFET3のドライブ回路IC3において、ツェナーダイオードZDと抵抗R_1で電圧を検出し、この電圧検出で比較回路COMで電圧不足を検出したときにFET3のゲートソース間を0ボルトにしてその強制オフを行う。 - 特許庁
  • In the testing system for radios for inspecting the performance of radios by using a tester for radios, a baseband signal generator for inspecting at least interfering waves and radio reception functions, including television reception function and GPS reception function have been incorporated into the tester for radios.
    無線機用テスタを用いて無線装置の性能を検査する無線機用テストシステムにおいて、前記無線機用テスタに、少なくとも妨害波、テレビ受信機能およびGPS受信機能を含む無線受信機能の検査を行うためのベースバンド信号発生器を組み込んだ。 - 特許庁
  • To provide a method for testing the durability of concrete capable of accurately grasping the durability of the concrete by determining the relation of strength between an unaltered section and an altered section in concrete specimens, the size of the altered section, and the degree of its alteration.
    コンクリート供試体における非変質部位と変質部位の強度の関係及び変質部位の大きさとその変質程度を求めることで、コンクリートの耐久性を正確に把握することができるコンクリートの耐久性試験方法を提供することを課題としている。 - 特許庁
  • A reference pellet marking prober 1 is provided independently of the wafer-testing device, a reference pellet that becomes the position reference of each pellet is arranged at the wafer by a reference pellet marking prober 1, and the position coordinates of each pellet are successively set in reference with the reference pellet to create a common wafer map.
    ウェハテスト装置に独立して基準ペレットマ−キングプロ−バ1を設け、基準ペレットマ−キングプロ−バ1により各ペレットの位置基準となる基準ペレットをウェハに配置させ、基準ペレットを基準にし各ペレットの位置座標を順次設定し共通のウェハマップを作成する。 - 特許庁
  • To provide a non-adhesive bond type package adapter, capable of interrupting air infiltration from a join part by adhesive bond between a test vessel orifice and a package adapter, without the use of adhesive bond, and making possible testing, in gas barrier tests for PET bottles and pouches with stopper (pouched container).
    ペットボトルや口栓付きパウチ(袋状容器)に対するガスバリア性試験において、試験容器口とパッケージアダプター間の接着剤による接合箇所からの大気侵入を、接着剤を使用することなく遮断させ、試験できるようにするため、無接着剤式のパッケージアダプターを提供する。 - 特許庁
  • The electric double-layer capacitor polarized electrode is manufactured by using a carbonaceous material in which a raw material is for example activated with non-baked coke originating from coal or oil, in which the thermal coefficient of expansion measured by an artificial graphite electrode testing method is adjusted within 0.8-2 as the raw material.
    人造黒鉛電極試験法によって測定される熱膨張係数を0.8〜2の範囲内に調整した石炭または石油由来の未か焼コークスを原料として、この原料を例えば賦活処理した炭素材を用いて電気二重層キャパシタ分極性電極を製造する。 - 特許庁
  • The terminal that is used in a test set and attachable to a load substrate of a testing device has a first end part for forming a large number of contact positions, and connects at least one lead of a tested device electrically to a corresponding metal conductive wire on the load substrate.
    テストセットにおいて使用され、試験装置のロード基盤に取付け可能な端子は、多数の接触位置を形成する第1の端部を有し、試験される装置の少なくとも1つのリードを、ロード基板上の対応する金属製の導電線に電気的に接続する。 - 特許庁
  • To provide a capacitor circuit equipped with a test circuit that can reduce a test time without capacitance test, when an abnormal connection is found, a variable capacitance circuit which uses the capacitor circuit, a resonance circuit which uses the variable capacitance circuit, and a testing method for the capacitor circuit.
    接続不良を見つけた場合は、容量検査を行わないようにして検査時間を短縮させることができる検査回路を備えたコンデンサ回路、そのコンデンサ回路を使用した可変容量回路、その可変容量回路を使用した発振回路及びコンデンサ回路の検査方法を得る。 - 特許庁
  • To provide a component testing device for improving a throughput on a test of an electronic component by shortening a time required for replacement into a test socket of the electronic component, even when a plurality of test sockets having the same function are arrayed along a moving direction of a conveyance hand.
    同一機能のテストソケットが搬送ハンドの移動方向に沿って複数配列される場合であれ、電子部品のテストソケットへの入れ替えに伴う時間の短縮化によって電子部品の試験にかかるスループットの向上を図ることのできる部品試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To obtain a method by which an operation test of radio parts is enabled, without measuring instruments by improving problem of the conventional technology that a large number of measuring instruments are required in the case of mass production in a method for testing the radio parts of a master station device or a slave station device, in a radio data communication system.
    無線データ通信システムにおける親局装置または子局装置の無線部テスト方法において、大量生産時に、大量の測定器が必要となるという従来技術の課題を改善し、測定器無しで無線部の動作テストが可能となる方法を提供する。 - 特許庁
  • Then each component that is taken out of the tray Tr is subjected to image recognition based on the imaging of the component, recognition camera 34, and the control means of a component-testing apparatus 1 is composed so that the operation of a head 23 and the like are controlled for transferring the component to a fixed position of the table 32 based on the recognition result.
    そして、トレイTrから取出した各部品を部品認識カメラ34の撮像に基づき画像認識し、この認識結果に基づいてテーブル32の定められた位置に部品を移載すべくヘッド23等の動作を制御するように部品試験装置1の制御手段を構成した。 - 特許庁
  • To realize cost reduction, application to various kinds of LSI testing devices, facilitation of application to various kinds of LSIs to be measured, facilitation of device quality control, improvement of LSI design quality, inexpensive LSI design evaluation, facilitation of development to an analytical system, and standardization of a test analytical system.
    コストの低廉化、多種LSI試験装置ヘの適用化、被測定LSI多品種への適用の容易化、装置品質管理の容易化、LSI設計品質の向上、安価なLSI設計評価、解析システムヘの展開の容易化、テスト解析システムの標準化を図る。 - 特許庁
  • Then, by allocating test items for testing the function of the program to be released to the respective determined test periods on the basis of the function indicated by a function ID included in test item information read from a test item information storage device 20, the test plan is prepared.
    次に、リリースされるプログラムの機能をテストするテスト項目を、テスト項目情報記憶装置20から読み出したテスト項目情報に含まれる機能IDが示す機能に基づいて、前記決定された各テスト期間に割り当てることによって、テスト計画を作成する。 - 特許庁
  • This penetration testing machine is provided with the sound detecting means 10 capable of detecting a sound which is propagated via a penetration rod 7 along with the penetration of the penetration rod 7 into ground; and the acoustic signal detected by the means 10 is transmitted to a signal processing part 12.
    地中に貫入ロッド7を貫入するのにともなって当該貫入ロッド7を伝播されてくる音を検出可能な音検出手段10が設けられ、この音検出手段10によって検出された音響信号は信号処理部12に送られる。 - 特許庁
  • Series connection between the first winding 13a and the third winding 13c in diagonal positions, and series connection between the second winding 13b and the fourth winding 13d in diagonal positions are electrified alternately, or electrified with alternating currents different in phases by π/2 to magnetize the testing body.
    対角位置の第1の巻線13aと第3の巻線13cとの直列接続と、第2の巻線13bと第4の巻線13dとの直列接続とに、交互に通電したり、π/2位相が異なる交流電流を通電したりして、試験体の磁化を行う。 - 特許庁
  • In the dispenser wherein the liquid in a reservoir 12 is sucked by a dispensing head to be discharged to a testing plate, a liquid supply part 18 equipped with a liquid supply stage on which only one reservoir 12 can be placed is arranged at a position separated from a reservoir stage on which a plurality of the reservoirs 12 are placed.
    リザーバ12内の液体を分注ヘッドによって吸引して試験用のプレートに吐出する分注装置において、複数のリザーバ12を載置するリザーバステージから離れた位置にリザーバ12を1つだけ載置できる液体供給ステージを備えた液体供給部18を配置する。 - 特許庁
  • To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.
    半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁
  • When the film is loaded by aligning the perforation of the film with the index of the frame 15a, the offset amount of the picture of the film with respect to the window of the stereoscopic slide mount is fixed at the position relatively equal to the offset amount of the picture projected with respect to the focusing screens tested by the testing device.
    べースフレーム51aの指標とフィルムのパーフォレーションを位置合わせしてフィルムを装着すれば、ステレオスライドマウントの窓に対するフィルムの画面のオフセット量が、検定装置により検定した焦点板に対する投影画面のオフセット量と相対的に等しい位置に固定される。 - 特許庁
  • The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.
    ISPの検査装置は、ISPがテストのために載置される載置ユニットと、ISPの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ISPの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁
  • To provide a durability testing apparatus for a vehicle seat and a seat attachment, which can attain automatic durability test of a movable part of the vehicle seat without depending on manual operation of an operator, save energy, shorten test time and obtain appropriate test results.
    車両用のシートにおける可動部の耐久試験を、作業者の手作業によることなく自動的に行うことができて、省力化、試験時間の短縮及び試験結果の適正化を図ることができる車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置を提供する。 - 特許庁
  • When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.
    電源投入時に取得したコマンド(スイッチSW1〜4のポジション)が1110であるとテストモードになり(S101:YES)、テスト開始のコマンド(S102:YES)の後、スイッチSW1〜4がオンにされると(S103:YES)、それに対応する音階の発音を開始する(S104)。 - 特許庁
  • To allow easy eddy current examination of high senstivity as to the presence of a defect generated on a surface of a testing body having a circular cross section, in a hot condition, and reduce the possibility of damage of a flaw detection coil in the eddy current examination to a small extent.
    円形断面を有する試験体の表面に発生した欠陥の有無を、熱間において、高感度かつ簡便に渦流探傷することができ、しかも、渦流探傷の際に探傷コイルが破損するおそれの少ない熱間渦流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁
  • The ink-jet recording method includes the image recording process for recording an image by giving a pigment-containing ink to a recording medium and the fixing process in which a pressure-sticking giving means is pressure-contacted with the image part to fix the image part when the tackiness of the image part by a ball tack testing method is at least 20 mm.
    記録媒体に顔料を含むインクを付与して画像を記録する画像記録工程と、画像部のタック性がボールタック試験法にて20mm以上となったときに、圧着付与手段を前記画像部に圧接して画像部を固定化する固定化工程と、を有している。 - 特許庁
  • To provide an apparatus for determining an optimal operating condition in order that focused operation related values can satisfy predetermined conditions while focusing on the operation related values such as Power saving and Low noise in an electro-dynamic vibration testing apparatus, and considering the operation limit of a vibration generator.
    動電式振動試験装置における省電力、静音などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を決定する装置を提供する。 - 特許庁
  • This device surely can perform endurance testing for any crack initiation on face material or inner filler of a side section 3 even if an occupant forcedly gets into a car from a door opening only a little to take a seat, because a loader 11 shifts lengthwise while pressing the top of the side section 3.
    負荷子11がサイド部3の頂部を押しながら長手方向に移動するため、乗員が少ししか開かないドアから無理に乗り込んでシートに腰を下ろす場合においても、サイド部3の表皮材や内部充填材の亀裂発生に関する耐久試験を確実に行うことができる。 - 特許庁
  • To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.
    過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁
  • The roll of newsprint paper is produced by winding the newsprint paper having a basis weight of 46 to 38 g/m^2 and the hardness (R) of the rolled paper is 40 to 60 according to JAPAN TAPPI paper pulp testing method No. 37.
    米坪が46〜38g/m^2の新聞用紙を巻き取ってロール状にした新聞印刷用巻取紙であって、JAPAN TAPPI紙パルプ試験方法No.37に基づいて測定された巻取紙の硬さ(R)が40〜60である新聞印刷用巻取紙により解決される。 - 特許庁
  • To provide a means by which wiring channel regions relating to signal distribution, quantity of buffers, FF, or the like, and the number of LSI pins can be reduced, and mounting to a chip can be facilitated, in a built-in type self test circuit (BIST) for testing a CAM-macro.
    CAMマクロをテストするための組み込み型自己テスト回路(BIST)回路において、信号分配にかかわる配線チャネル領域、バッファ、FFなどの物量およびLSIピン数の削減を可能とし、チップへの実装を容易化する手段を提供するものである。 - 特許庁
  • In the configuration where an input buffer section 111 and an output buffer section 121 of interest are sandwiched by FFs 133, 143 of testing common circuit sections 131, 141 and FFs 103, 104 of the local clock section 101, diagnoses/tests are performed using an RAGR 161 and an MISR 162.
    テスト用共通回路部131,141のFF133,143と、ローカルクロック部101の内部のFF103,104とにより、対象となる入力バッファ部111や出力バッファ部121を挟み込んだ構成において、RAGR161及びMISR162を用いて、診断・テストを実施する。 - 特許庁
  • In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.
    4ビットのカウンタを2個縦列接続して構成したカウンタ3,4をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部2は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ3,4のロードパルスを生成する。 - 特許庁
  • This testing device comprises a timing generation part 3 for generating a timing of outputting a chap signal and a Doppler generation part 4 for changing the frequency on the basis of the Doppler frequency change, so that a signal is imitated as a relative movement is generated between a platform 12 and a target 13.
    チャープ信号を出力するタイミングを生成するタイミング生成部3及びドップラ周波数変化にもとづき周波数を変化させるドップラ生成部4を設けることにより、プラットフォーム12と目標13との間に相対運動が生じているように信号を模擬する。 - 特許庁
  • This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.
    所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ201を有する制御棒駆動機構用位置指示装置100を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置100の動作確認試験時に、位置指示装置100を設置する位置指示装置設置架台300を備える。 - 特許庁
  • To provide a health management support system and a health management support method, capable of facilitating support of health management and a medical examination at home, exhaustively testing health condition of a person taking a test over a lot of items without exception, and performing it at low cost.
    在宅での健康管理、健康診断の支援を容易ならしめ、テストを受ける者の健康状態を網羅的に多数の項目にわたってもれなくテストし、しかもこれを低廉な費用で行うことのできる健康管理支援システム及び健康管理支援方法を提供する。 - 特許庁
  • The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).
    本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁
  • Local magnetic characteristics of a core in the rotary machine are calculated based on material property and design specification of a predetermined core, and the local magnetic characteristics of the core in a testing rotary machine manufactured by the core material and design specification as the material characteristics are measured.
    予め決めた鉄心の材料特性及び設計仕様に基づき回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を計算すると共に、上記材料特性とされる鉄心材料及び設計仕様にて作製した試験回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を測定する。 - 特許庁
  • The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.
    試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁
  • To provide a probe card for electrically testing a semiconductor integrated circuit in a wafer state that enables a probe card terminal for a pad on a wafer to be manufactured collectively, can correspond with a plane arrangement, can be suspended independently, and can cope with a test under high- temperature conditions as the probe card.
    半導体集積回路をウエハ状態で電気的に試験するためのプローブカードにおいて、ウエハ上のパッドに対するプローブカード端子が一括で作製でき、平面配列に対応でき、独立懸架であり、なおかつプローブカードとして高温条件下の試験に対応できるものを提供する。 - 特許庁
  • To provide a surge current discharge method, a discharge testing device, and a discharge monitoring method for inspecting defect in which reinforcement embedded in a foundation part of a building or concrete of each floor is broken and dissolved due to lightning before ready-mixed concrete placing.
    建物の基礎部分や各フロアのコンクリート内に埋設されている鉄筋が落雷により破壊あるいは溶解してしまうような瑕疵を生コンクリート打設前に検査することができるサージ電流放電工法及び放電試験器並びに放電監視方法を提供する。 - 特許庁
  • By an operation PC, condition values of a plurality of testing conditions for evaluation test against the virtual vehicle composed of the simulator and a frame car which is the actual machine are set in the simulator (S200), and the value of the control parameter for controlling actuation of the virtual vehicle is set in an ECU of the frame car (S202).
    オペレーションPCは、シミュレータと実機部であるフレームカーとからなる仮想車両に対する評価試験用の複数の試験条件の条件値をシミュレータに設定し(S200)、仮想車両の作動を制御するための制御パラメータの値をフレームカーのECUに設定する(S202)。 - 特許庁
  • The buildup agent for the model material is composed of a polyol (A), an organic polyisocyanate (B), hollow fine spheres (C) and a dehydrating agent (D) and contains an organic lubricant (W) with a melting point (JIS K0064-1992, 3.2 melting point testing method) of 50-90°C.
    ポリオール(A)、有機ポリイソシアネート(B)、中空微小球(C)及び脱水剤(D)からなる模型素材用盛り付け剤において、融点(JIS K0064−1992,3.2融点試験方法)が50〜90℃の有機滑剤(W)を含有することを特徴とする模型素材用盛り付け剤を用いる。 - 特許庁
  • A key mounting part allowing installation of a weight holding key is arranged in the weight of the shock testing machine, while in the vicinity of the lower end of a guide rail, a key supporting part supporting the weight holding key mounted in the key mounting part of the weigh is arranged in the upper part of a test piece housing box.
    衝撃試験機の重錘に、重錘保持キーを装着可能なキー装着部を設けるとともに、ガイドレールの下端近くで、かつ、試験片収納箱の上部に、重錘のキー装着部に装着した状態の重錘保持キーを支持するキー支持部を設ける。 - 特許庁
  • The testing machine comprises a support section 1 for fixing and supporting at least one end of a specimen, and a vibration generator 5 that is fixed only to the specimen 2 and vibrates the specimen 2 in the direction orthogonal to a predetermined axis based on inertia force generated by rotation about the predetermined axis.
    試験体の少なくとも一端を固定支持する支持部1と、試験体2のみに固定され、所定軸回りに回転することにより発生する慣性力に基づき試験体2を所定軸に直交する方向に振動させる振動発生器5とを備える。 - 特許庁
  • To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.
    不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、IO数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁
  • The monitor/method has: a storage part for storing reflected light intensities from the plurality of terminal devices to light signals emitted from the terminal devices under the condition where the trouble is not generated in the optical path; and a control part for emitting the light signal applied with the first condition from the testing device.
    光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、第1の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁
  • A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.
    内部短絡及び/又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁
  • The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.
    その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁
  • This testing method is carried out for a membrane tank 1, having a tank 3 and a cold-insulation layer 4 isolated from each other by a membrane 5, and comprises the filling of the tank 4 with a pressurized tracer gas, the sampling of a gas filling the layer 4, and the measurement of the concentration of the tracer gas in this gas.
    タンク3と保冷層4とがメンブレン5で隔離されているメンブレンタンク1で実施され、タンク4にトレーサーガスを加圧して充填すること、保冷層4に充填されている気体をサンプリングすること、気体のトレーサーガスの濃度を測定することとを具備する。 - 特許庁
<前へ 1 2 .... 268 269 270 271 272 273 274 275 276 .... 288 289 次へ>

例文データの著作権について

  • 特許庁
    Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.