「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • Nondestructively testing includes a step (108) of generating an eddy current in the coated article; a step (110) of measuring the eddy current in the coated article; and a step (112) of evaluating a near-bond section region of the coated article located adjacent to the bond section using the measured eddy current.
    非破壊検査する段階は、被覆物品内に渦電流を発生させる段階（１０８）と、被覆物品内の渦電流を測定する段階（１１０）と、測定渦電流を使用してボンド部に隣接して位置する被覆物品のボンド部近傍領域を評価する段階（１１２）とを含む。 - 特許庁
  • In the package of a semiconductor device, in which the external wiring terminals 2 of the semiconductor chip are arranged into a lattice form, terminals 7 which do not form solder bump for testing are arranged between the external wiring terminals 2 arranged in a lattice form, and all the conventional terminals forming a solder bump are used for actual operation.
    半導体チップの外部配線端子２を格子状に配列した半導体装置のパッケージにおいて、格子状に配列した外部配線端子２の間に半田バンプを形成しない検査用の端子７を配列し、半田バンプを形成する従来の端子はすべて実動作用に使用する。 - 特許庁
  • The collision testing device of a claim 1 includes a jig frame on which a cab is placed, a truck on which the jig frame is placed, a projection barrier arranged in front of the cab, and a collision means which moves the truck so that the cab collides with the projection barrier.
    請求項１に係る衝突試験装置は、キャブを載置する治具フレームと、前記治具フレームを載置する台車と、前記キャブの前方に配置される突起バリアと、前記台車を移動して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる衝突手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a method capable of quantitatively measuring concentration of an object to be analyzed in a sample which is difficult to be quantified by using conventional methods, and a kit and a device capable of being used for the method, and to provide a method which controls quality by testing the performances of the kit and the device.
    従来定量化が困難であった試料中の被分析物濃度を定量的に測定する方法及び前記方法に使用し得るキット及び装置を提供し、また、前記キット及び装置の性能を検査することにより品質を管理する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • A sensitivity testing device (1000) includes a body (1100) enabling ultrasonic propagation, a first gel layer (1010) provided on a first plane (1002) of the body and a second gel layer (1020) provided on a second plane (1004), and the first gel layer is protected by a protective sheet (1030).
    感度試験装置（１０００）は、超音波伝播可能な本体（１１００）と、本体の第１平面（１００２）に設けられた第１ゲル層（１０１０）と、第２平面（１００４）に設けられた第２ゲル層（１０２０）とを備え、第１ゲル層は、保護シート（１０３０）によって保護されている。 - 特許庁
  • In a fine adjustment process after performing a wafer testing process, either the fuse T13 or the fuse T14 is disconnected, the output terminal 3 is connected to the node N1 or N2, and either or both of the fuses T11, T12 are disconnected to carry out fine adjustment of the voltage of the output terminal 3.
    ウエハテスト工程を行なった後、微調整工程においてヒューズＴ１３，Ｔ１４のいずれか一方を切断して出力端子３を端子Ｎ１又はＮ２に接続し、さらにヒューズＴ１１，Ｔ１２のいずれか一方又は両方を切断して出力端子３の電圧を微調整する。 - 特許庁
  • That is, the collision testing device 1 enables the vehicle structural members to collide against the dummy DM not only by simply moving the vehicle structural members (for example as shown in Figure 10) but also by moving the vehicle structural members in a state that the vehicle structural member at different position has the different driving speed.
    すなわち、衝突試験装置１は、単に車両構造部材を移動させてダミーに衝突させる（例えば、図１０参照）のみならず、位置によって異なる速度で移動させた状態にて車両構造部材をダミーＤＭに衝突させることが可能となる。 - 特許庁
  • To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.
    時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.
    メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a test method not causing a security hole for a random number generating circuit in the case of testing/verifying the circuit with a constant initial value in a specific mode where the circuit using an initial value has not a constant value at application of power and after reset for the encryption and authentication processing.
    暗号、認証処理を行うため、電源投入やリセット後の初期値が一定でない値を使った乱数発生の回路において、特別なモードを設けて、初期値を一定にして回路のテスト/検証を行う際に、セキュリティホールにならないようなテスト方法を実現する。 - 特許庁
  • To provide a simple assay method capable of simply and rapidly specifying a substance to be detected showing positive reaction by testing a plurality of substances to be detected by one assay device in an examination method of a specimen using a flow-through type membrane enzyme immunoassay method and having good user's convenience and high reliability.
    フロースルー式メンブランエンザイムイムノアッセイ法を用いた検体の検査方法において、一つのアッセイ装置で複数の被検出物質種を同時に試験して陽性反応を示す被検出物質を簡便・迅速に特定でき、使い勝手のよい信頼性の高いアッセイ方法の提供。 - 特許庁
  • A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.
    洗車機本体１に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁
  • In a temperature range lower than a combustion temperature of an actual machine, CO_2 having a change in a ratio of specific heat proximate to a change in a ratio of specific heat of steam as working fluid of a rocket motor is used as a testing gas, and is passed to a nozzle model 1 at a temperature lower than the combustion temperature of the actual machine.
    実機の燃焼温度よりも低い温度範囲において、ロケットモータの作動流体である水蒸気の比熱比変化と近似する比熱比変化を持つＣＯ_２を試験用気体として使用し、実機の燃焼温度よりも低い温度でノズルモデル１に通過させる。 - 特許庁
  • To provide an environmental testing apparatus in which, even if adhesion between a dew condensation sensor and an object to be tested is slightly deteriorated, a change of a dew condensation amount on the surface of a tested object is hardly caused before and after the deterioration of adhesion, that is, the dew condensation state of the surface of the tested object can be stabilized.
    結露量センサと被試験物との間の密着性がある程度悪化しても、密着性悪化前と悪化後とで被試験物表面の結露量の変化が生じにくい、すなわち被試験物表面の結露状態を安定させることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.
    曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In a method for dividing the semiconductor integrated circuit device (corresponding to S1 and S2) into a plurality of groups and testing them simultaneously, in at least one group, the semiconductor integrated circuit device is made to operate by a clock signal (corresponding to CLK1 and CLK2) of a frequency that differs from those of the other groups.
    半導体集積回路装置（Ｓ１とＳ２に対応）を複数のグループに分けて同時に試験する方法であって、少なくとも１つのグループにおいて、他のグループとは異なる周波数のクロック信号（ＣＬＫ１とＣＬＫ２に対応）で半導体集積回路装置を動作させる。 - 特許庁
  • To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.
    マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • The electronic component mounting apparatus (10) images a reference mark (16) arranged on an electronic component mounting apparatus body for recognizing a component mounting position (31) by a first imaging means (40), and images an electronic component (20) for testing, absorbed by a nozzle (12) by a second imaging means (50).
    本発明にかかる電子部品実装装置（１０）が、部品搭載位置（３１）を認識するため電子部品実装装置本体に配設される基準マーク（１６）を第１撮像手段（４０）により撮像し、ノズル（１２）が吸着したテスト用電子部品（２０）を第２撮像手段（５０）により撮像する。 - 特許庁
  • When a hold switch is in an on-state, a play key 11 is turned on, a power source Vdd of a microcomputer is turned on by linking, after an initial setting period elapses, as it is confirmed that the play key is turned off by testing the play key 11, after the prescribed period Tw, a control output 1A of the microcomputer is about to be started.
    ホールドスイッチがオンである場合、プレイキー１１がオンになると、連動してマイコン電源Ｖｄｄがオンし、初期設定期間経過後にはプレイキー検査をすると、すでにプレイキー１１はオフとなっているので、所定期間Ｔｗ待って、マイコン制御出力１Ａを立ち上げようとする。 - 特許庁
  • To provide a fiber/urethane resin laminate which has such excellent durability as to exert sufficient flame-retardancy without halogen type flame retardants and retain the flame-retardancy after washing, accelerated testing, etc., and is good in appearance and touch and a manufacturing method of the laminate.
    ハロゲン系防炎剤を含まなくても充分な防炎性を有し、しかも、洗たく処理後、促進試験後などにおいてもその防炎性が維持される優れた耐久性を有し、かつ外観・触感も良好な繊維・ウレタン樹脂積層物およびその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a rate fraction type timing signal generator capable of synchronizing with a frequency and a phase of a clock signal fed from another signal generator having different frequency resolution and to provide a semiconductor integrated circuit testing device having the timing signal generator.
    異なる周波数分解能を有する他の信号発生装置から供給されるクロック信号の周波数や位相に同期可能な、レート端数方式のタイミング信号発生装置、及び当該タイミング信号発生装置を備えた半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The probe card for testing a plurality of semiconductor integrated circuits formed on a semiconductor wafer comprises a plurality of probes 3 for making connection to each electrode for inspection of the semiconductor wafer, and a wiring board 1 having a pad 3 for jointing to the probe 3.
    半導体ウェハ上に形成された複数の半導体集積回路を試験するためのプローブカードであって、半導体ウェハの各検査用電極と接続するための複数のプローブ３と、前記プローブ３と接合するためのパッド２を有する配線基板１とを備える。 - 特許庁
  • This invention provides an immunoassay method using an antibody against the NS1 protein of the influenza A type viruses, especially a sandwich type immunoassay method using a first antibody and a second antibody against the NS1 protein, in particular, the invention provides an immunochromatography method and a testing split for immunochromatography.
    かくして、インフルエンザＡ型ウイルスのＮＳ１蛋白に対する抗体を用いる免疫測定法、特に該ＮＳ１蛋白に対する第一の抗体と第二の抗体とを用いたサンドイッチ式免疫測定法、とりわけイムノクロマトグラフィー測定法およびイムノクロマト法テストストリップが提供される。 - 特許庁
  • To provide a testing device, method and program for an exchange controller that can adapt to TCP/IP, decrease the amount of operations for adaptation to different kind of exchanges, adapt to use of a redundancy system and a file transfer protocol, and reduce generating operations for data etc.
    ＴＣＰ／ＩＰに対応することができること、異機種交換機への対応作業の作業量を削減することができること、冗長化システム及びファイル転送プロトコルの利用に対応することができること、データ類の作成作業を削減できることを実現できるようにする。 - 特許庁
  • An inspection device comprises: at least one socket for mounting an object to be inspected; a plurality of circuit boards each including the at least one socket, for testing the object to be inspected; and a tester head connected electrically to the plurality of circuit boards, for supplying a signal to the object to be inspected.
    検査装置は、被検査対象を搭載するための少なくとも１つのソケットと、ソケットを有し、被検査対象を試験するための複数の回路基板と、複数の回路基板と電気的に接続され、被検査対象に信号を供給するためのテスタヘッドと、を備える。 - 特許庁
  • To provide a terminal resistance circuit capable of stabilizing the level of an input-output terminal at the input mode time, even when the input/output terminal unconnected to a testing terminal of an LSI tester exists, and reducing the through-current at the output mode time.
    ＬＳＩテスターのテスト用端子に接続されていない入出力端子が存在する場合であっても、入力モード時における、その入出力端子のレベルが安定し、出力モード時の貫通電流を低減させることができる終端抵抗回路を提供する。 - 特許庁
  • In this evaluation method of the anion-exchange resin for testing an ion exchange capacity relative to the anion-exchange resin taken out from ion exchange equipment, after polystyrene sulfonic acid having a molecular weight below 3,000 is adsorbed onto the anion-exchange resin taken out from the ion exchange equipment, the ion exchange capacity is tested.
    イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂についてイオン交換能を試験するアニオン交換樹脂の評価方法において、イオン交換装置から取り出されたアニオン交換樹脂に分子量３０００以下のポリスチレンスルホン酸を吸着させた後、イオン交換能を試験する。 - 特許庁
  • To provide a tester for brake characteristics of tires for making the dynamic characteristics of a vehicle reflect, while the vehicle is braked when a brake characteristic of the tires is evaluated, and moreover easily changing and testing conditions of the vehicle affecting the brake characteristic of the tires.
    タイヤの制動特性を評価するに際し車両の制動時の動的特性を反映させることができ、しかも、タイヤの制動特性に影響を与える車両の条件を容易に変更して試験を行うことができるタイヤの制動特性試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A static electricity eliminating device 29 is mounted to eliminate static electricity of a disc-shaped rubber specimen G in a rubber abrasion testing machine for abrading the rubber specimen G by pressing the rubber specimen G to an outer peripheral face of a rotating disc-shaped grinding wheel 4, while being rotated.
    回転する円盤状の砥石４の外周面に円盤状のゴム試験片Ｇを回転させながら押し当てることによりゴム試験片Ｇを摩耗させるようにしたゴム摩耗試験機において、ゴム試験片Ｇに対して静電気を除去する静電気除去装置２９を設置する。 - 特許庁
  • To disclose a technology for accurately testing the characteristics of a memory array by rechanging reference voltage and timing to be adjusted for a test of memory cells in particular in a software manner without requiring a different process regarding a test mode controller that utilizes a nonvolatile ferroelectric memory.
    本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用したテストモード制御装置に関し、特にメモリセルのテストのため調整されるレファレンス電圧及びタイミングを別途のプロセスなくソフトウェア的に再変更し、メモリセルアレイの特性を正確にテストするようにする技術を開示する。 - 特許庁
  • The method of testing the weld crack of the aluminum alloy extruded profile comprises fillet welding the section of the aluminum alloy extruded profile 1A having a hollow shape or semi-hollow shape to an aluminum alloy sheet 2 of ≥5 mm in thickness and visually deciding the weld crack of the weld zone.
    アルミニウム合金押出形材の溶接割れ試験方法として、中空形状または半中空形状を有するアルミニウム合金押出形材１Ａの断面を、厚さ５ｍｍ以上のアルミニウム合金板２にすみ肉溶接し、該溶接部の溶接割れを目視判定するようにした。 - 特許庁
  • The gain Kact of the material testing machine 12 becomes very large under test conditions and in this case, an amplification factor for an analog sensor signal SSa inputted to an A/D converter 32 of the digital signal processor 16 is adjusted to adjust a loop gain Klp to an optimum value.
    試験条件によって材料試験機１２のゲインＫact が非常に大きくなることがあり、その場合に、ディジタル信号処理装置１６のＡ／Ｄコンバータ３２へ入力するアナログセンサ信号ＳＳａの増幅率を調節することで、ループゲインＫlpを最適値に調整する。 - 特許庁
  • This method for testing the therapeutic or prophylactic agent comprises culturing cultured cells in the presence or absence of a specimen, and comparing amounts of expressed genes having specific nucleotide sequences in the cultured cells between the cells cultured in the absence of the specimen and in the presence of the specimen.
    培養細胞を被検物質の存在下または非存在下で培養し、次いで、該培養細胞における、特定なヌクレオチド配列を有する遺伝子の発現量を、被検物質非存在下で培養した細胞と、被検物質存在下で培養した細胞との間で比較する。 - 特許庁
  • To provide an induction noise bench testing device between two circuits capable of performing an induction noise test by reproducing simulatively a cabling environment so that detection of the optimum design condition of a cable wherein the influence of a crosstalk between mutual signal wires is suppressed to the utmost can be performed easily.
    信号線相互間のクロストークの影響を極力抑制したケーブルの最適化設計条件の探知が容易に行えるよう、ケーブリング環境を模擬的に再現して誘導ノイズ試験を行うことができる２回路間の誘導ノイズベンチ試験装置を提供する。 - 特許庁
  • A test order setting part 62 provided in the tester 36 calculates a failure rate for each test item based on a plurality of tested results obtained by testing a plurality of solid-state imaging devices, and rearranges a test order of each test item in order of a high failure rate to reset the test pattern.
    テスタ３６に設けられた検査順序設定部６２は、複数の固体撮像素子を検査することによって得られた複数の検査結果を基に、検査項目毎の不良率を算出して、この不良率の高い順に各検査項目の検査順序を並べ替え、テストパターンを再設定する。 - 特許庁
  • The urine testing device comprises a urine-storing cell 8 for storing urine, an emission section 91 for emitting light to urine in the urine- storing cell 8, and a light reception section 71 for receiving light, that has passed the urine and comes from the emission section 91.
    尿を貯める貯尿セル８と、前記貯尿セル内８の尿に発光する発光部９１と、尿を通過した発光部９１からの光を受光する受光部７１とを備え、前記貯尿セル内８で尿中の浮遊固形物質を局在化させて旋光性物質の濃度を判定する。 - 特許庁
  • This eddy current examination probe 10 is provided with a coil case 12 of which an angle α of the tip part facing to the testing body 16 is 180° or less, a ceramic shielding body 14 provided in the tip part of the coil case 12, and a coil part 20 stored in the coil case 12.
    熱間渦流探傷プローブ１０は、試験体１６に対向する先端部の角度αが１８０゜以下であるコイルケース１２と、コイルケース１２の先端部に設けられたセラミックス製の遮蔽体１４と、コイルケース１２内に納められたコイル部２０とを備えている。 - 特許庁
  • This capillary type testing piece 1 is provided by penetrating vertically a proper size of cut capillary tube 3 of the silica capillary tube of the existing product through the centers of a base plate 2 and a reinforcement plate 4 to be fixed, and by embedding them and the like by a tapered main body 6 comprising a silicon material.
    キャピラリー型試験片１は既製品のシリカキャピラリーチューブを適寸に切断してなるキャピラリーチューブ３をベース板２や補強板４の中心に直立貫通させて固定しこれ等をシリコン材からなるテーパ状の本体６により埋設したものからなる。 - 特許庁
  • To provide a city water meter testing device, capable of knowing the level of a start-up flow rate in a tested city water meter, and capable of precisely attaching a pilot detecting part for generating a pulse signal, in response to the rotation of a pilot, to an indication part of the tested city water meter.
    被試験水道メータにおける始動流量の大きさを知ることができるとともに、パイロットの回転に応じたパルス信号を発生するパイロット検出部を、被試験水道メータの指示部に精度よく取りつけることのできる水道メータ試験装置を実現する。 - 特許庁
  • The jointed part strength testing machine of the measuring sample jointed to the sample-holding surface of a sample-holding member is equipped with an impact-applying mechanism for applying the impact to the jointed part of the measuring sample from the direction crossing the sample-holding surface at right angles by utilizing the energy when the weight is freely dropped.
    試料保持部材の試料保持面に接合された測定試料の接合部強度試験装置であって、錘を自由落下させる際のエネルギーを利用して前記測定試料の接合部に対して試料保持面と直交する方向から衝撃を加える衝撃印加機構を備えた。 - 特許庁
  • In this material testing machine, a collar 201b for fixing a grip 8 for holding a sample is made rotatable with respect to a body 202, the body 202 is made rotatable with respect to a color 201a having a constant relative position with a cross head 2, and bolts 203a, 203b, 205a, 205b are provided for regulating their rotating angles.
    供試体を把持するグリップ８が固定されるカラー２０１ｂをボディ２０２に対して回転可能とし、かつ、ボディ２０２をクロスヘッド２との相対位置が一定なカラー２０１ａに対して回転可能とするとともに、それらの回転角度調整を行わせるボルト２０３ａ，２０３ｂ，２０５ａ，２０５ｂを設けた。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing apparatus, a row defective-bit storage memory 3 which corresponds to a spare row circuit and a column defective-bit storage memory 5 which corresponds to a space column circuit are installed separately, and defective bits of the defective-bit storage memories are counted respectively by a row defective-bit counter 4 and a column defective-bit counter 6.
    スペア行回路に対応する行不良ビット記憶メモリ（３）およびスペア列回路に対応する列不良ビット記憶メモリ（５）を別々に設け、これらの不良ビット記憶メモリの不良ビットを行不良ビットカウンタ（４）および列不良ビットカウンタ（６）でそれぞれカウントする。 - 特許庁
  • This micrcomputer is provided with a flash memory(memory part) 110, a CPU(logical part) 120, a test ROM 130 for storing a test program for testing at least a logic part and recording means 150 and 112 for storing the test result of at least one of the memory part and the logic part as a flag.
    フラッシュメモリ（メモリ部）１１０と、ＣＰＵ（ロジック部）１２０と、少なくともロジック部をテストするためのテストプログラムを格納したテストＲＯＭ１３０と、メモリ部とロジック部の少なくとも一方のテスト結果をフラグとして格納可能な記録手段１５０，１１２とを備える。 - 特許庁
  • Then, the contrast medium is additionally injected, the bolus for inspection is passed through the peripheral vessel structure 64, the MR data are obtained from each scanning station using the traveling time of the testing bolus while it is known that the bolus for inspection is present in the station, to optimize the image resolution.
    次いで、追加の造影剤を注入して末梢脈管構造に検査用ボーラスを通過させ、テスト用ボーラス走行時間を用いて各走査ステーションから、検査用ボーラスがこのステーションに存在するとわかっている間にＭＲデータを取得して、画像分解能を最適化することができる。 - 特許庁
  • This testing device for the rolling bearing includes a rotating driving means 14 for rotating the outer ring 19 of the rolling bearing 13, and an axial load application unit 16 for applying a load in the axial direction by pressing the axial direction end face of the outer ring 19 of the rolling bearing 13 to the axial direction.
    本発明の転がり軸受用試験装置は、転がり軸受１３の外輪１９を回転させる回転駆動手段１４と、転がり軸受１３の外輪１９の軸方向端面を軸方向に押圧してアキシアル方向の荷重を与えるアキシアル荷重付与ユニット１６とを備える。 - 特許庁
  • (5) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism may have its officers enter the local implementing agency, etc. or the designated testing agency to inspect the conditions of the business or the trade books, documents and other materials or ask questions to the relevant personnel within the limit necessary for the enforcement of this Act.
    ５　国土交通大臣は、この法律の施行に必要な限度において、その職員に、地方実施機関等又は指定試験機関の事務所に立ち入り、業務の状況若しくは帳簿、書類その他の物件を検査させ、又は関係者に質問させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (b) Persons who have graduated from a junior college or vocational high school based on the School Education Act by completing a course in industrial chemistry or biology, or a course equivalent to these, and have experience of engaging in the work of molecular biological testing for three years or more.
    ロ　学校教育法に基づく短期大学又は高等専門学校において工業化学若しくは生物学の課程又はこれらに相当する課程を修めて卒業した後、三年以上分子生物学的検査の業務に従事した経験を有する者であること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (6) A person who wishes to undergo Testing of Organisms or other interested persons may request the matters listed in the following, at any time within the working hours of the Registered Inspection Body, provided, however, that when requesting the matters in item (ii) or item (iv), a fee determined by the Registered Inspection Body must be paid.
    ６　生物検査を受けようとする者その他の利害関係人は、登録検査機関の業務時間内は、いつでも、次に掲げる請求をすることができる。ただし、第二号又は第四号の請求をするには、登録検査機関の定めた費用を支払わなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • The view has emerged that in Japan as well as in the United States, the financial health of regional banks may be threatened if the market turmoil is prolonged. Could you explain your view on the current situation in reference to the implementation status of stress testing, too?
    アメリカにとどまらず我が国でも市場の混乱が長期化すれば、日本の地域金融機関の健全性も脅かされるのではないか、といった見方もでてきておりますが、当局といたしまして、ストレステストの実施状況等も含めて長官のご見解を伺えればと思います。 - 金融庁
  • Although I will not ask you to comment on the stock price level, I understand that the FSA has been conducting stress testing to examine the impact (of stock price drops) on banks' financial conditions. With the Nikkei Average slumping at the current price level, a drop below 10,000 has become conceivable.
    株価の水準そのもののコメントは求めませんが、銀行の財務に与える影響についてですが、金融庁としては従来からストレス・テストをやっていると承知しておりますが、今日の株価水準を見てみると10,000円割れも伺うような状況となってきました。 - 金融庁
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