「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • To provide a method for rapidly and simply carrying out quantitative measurements related to the proliferation and activities of various microorganisms without breaking the microorganisms, and to provide a susceptibility-testing method which employs the measurement method and can rapidly and simply evaluate the sterilizing powers of various antibacterial agents against various bacteria.
    多様な微生物の増殖や活性に関する定量的測定を微生物を破壊せずかつ迅速簡便に行える方法、及びこの測定方法を用いて、種々の細菌に対する各種抗菌剤の抗菌力を迅速簡便に評価することができる感受性試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.
    曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁
  • In the twist angle adjusting means 7 provided to the twist-testing machine 10, the detected twist angle and the load torque value are collected, and the histeresis of the twist angle and the load torque value at the time of reversible rotation of a servomotor 1 is calculated to find the base point of the reversible rotation of a motor rotary shaft on the basis of the histeresis.
    ねじり試験装置１０が備えたねじり角度調整手段７において、検出されたねじり角度および負荷トルク値を収集し、サーボモータ１が正逆回転する際のねじり角度と負荷トルクのヒステリシスを演算し、ヒステリシスに基づいてモータ回転軸の正逆回転の基点を求めることができる。 - 特許庁
  • In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.
    この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁
  • To conduct various kinds of testing for characteristic of optical semiconductor in a state with the wavelength locked, in a wavelength locker module having a function to lock the wavelength and a wavelength variable laser module utilizing the wavelength locking function, by feedback of wavelength of an output light detected by a wavelength monitor and by conroling the temperature of the module.
    波長モニターにより検知した出力光の波長をフィードバックして温度制御をおこなうことにより波長をロックする機能を有する波長ロッカーモジュールや、この波長のロック機能を利用した波長可変レーザモジュールに対して、波長をロックした状態で光半導体としての各種特性の試験をおこなうこと。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.
    複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁
  • An electrode terminal 12 testing a semiconductor integrated circuit is disposed on a scribe lane 13 provided for dividing the semiconductor integrated circuit, and the electrode terminal 12 on this scribe lane 13 is connected to electrode terminals 11a, 11b of the opposing semiconductor integrated circuit by a front layer wiring 15a.
    半導体集積回路を分割するために設けられているスクライブレーン１３上に、半導体集積回路を検査するための電極端子１２を配置し、このスクライブレーン１３上の電極端子１２に、相対する半導体集積回路の電極端子１１ａ，１１ｂを表層配線１５ａにより接続する。 - 特許庁
  • To operationally verify whether or not a digital/analog converter built in a semiconductor integrated circuit can execute a normal digital/analog conversion action when using the digital/analog converter as a test signal generator for testing an analog/digital converter built in the semiconductor integrated circuit.
    半導体集積回路に内蔵されたアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト信号発生器として半導体集積回路に内蔵されたデジタル／アナログ変換器を使用する際に、デジタル／アナログ変換器が正常なデジタル／アナログ変換動作を実行可能であるか否か動作検証することを可能とすること。 - 特許庁
  • To materialize composite cycle testing equipment provided with a solution supplying and recovering mechanism of an atomizing solution capable of preventing not only the variation of the pH and concentration of the atomizing solution used in an atomizing test but also the freezing of the atomizing solution even at a low temperature without bringing about an increase in cost and the leak of the atomizing solution.
    この発明は、コストの上昇や溶液漏れを招くことなく、噴霧試験に使用される噴霧溶液のｐＨ、濃度の変動を防止すること、および低温でも噴霧溶液の凍結を防止することができる噴霧溶液の溶液補給回収機構を設けた複合サイクル試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁
  • The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.
    リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁
  • The ultrasonic diagnostic equipment easily and rapidly acquires an MPR image corresponding to an ideal MPR position by setting on volume data, the MPR position corresponding to the desired reference cross-section position of the heart, while referring to a three-dimensional image to be obtained by three-dimensional ultrasonic scanning in cardiac testing.
    心臓検査において、三次元超音波走査によって得られる三次元画像を参照しながら、所望する心臓の基準断面位置に対応するＭＰＲ位置をボリュームデータ上に設定し、理想的なＭＰＲ位置に対応するＭＰＲ画像を容易且つ迅速に取得することができる。 - 特許庁
  • To provide a method and apparatus for inferring the test time of an integrated circuit device, capable of accurately inferring the test time necessary for testing the quality of the integrated circuit device.
    集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を推定する集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置に関し、集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を正確に推定できる集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁
  • An apparatus for testing an array includes a guide member for movably supporting the plurality of supporting plates and a driver for moving the plurality of support plates to adjust an interval between the supporting plates, and includes a plate moving unit for moving at least one of the plurality of support plates.
    複数の支持プレート間の間隔を調節するために、それら支持プレートを移動可能に支持するガイド部材及び複数の上記支持プレートを移動させる駆動装置を備えて、複数の上記支持プレートのうち少なくとも一つの該支持プレートを移動させるプレート移動ユニットを備えて、アレイテスト装置を構成する。 - 特許庁
  • To provide an elution testing method for measuring an elution amount of a component eluted from a steel making slag with a reduced elution time, and for obtaining a measurement result of the elusion amount sufficient to primary decision for a use of a slag product with respect to correlation with an elution test result by an official method and to reproducibility of the measurement result.
    製鋼スラグから溶出する成分の溶出量を測定する溶出試験方法において、溶出時間を短縮し、かつ、公定法による溶出試験結果との相関及び測定結果の再現性がスラグ製品の用途の一次決定に利用するのに十分な程度である溶出量の測定結果を得る。 - 特許庁
  • The force line FL and the sense line SL are not connected on the testing board, the sense line SL is connected to the power source terminal BP4 (power source terminal for detecting voltage) through the socket pin 511, and the force line FL is connected to the power source terminals BP1-BP3 (power source terminal for supplying voltage) through the socket pins 511.
    フォースラインＦＬとセンスラインＳＬは試験用ボード上では接続されず、センスラインＳＬは電源端子ＢＰ４（電圧検出用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続され、フォースラインＦＬは電源端子ＢＰ１〜３（電圧供給用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続される。 - 特許庁
  • To provide a radiation detection apparatus in which a radiation source is stabilized, highly accurate measurement is achieved by correcting the measurement error due to radiation dosage change from the measurement result of a transit dose, the cost of the testing instrument is reduced, the measurement sensitivity is improved and the longer operating life of the radiation source is aimed by lowering the output of the X-ray source.
    線源の安定化をはかり、透過線量の測定結果から線量変動による測定誤差補正することで高精度な測定を実現し、検査装置の低価格化、計測感度向上、Ｘ線源の低出力化を図ることにより線源の長寿命化を図った放射線検出装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a seal mechanism which makes seal mechanisms at both ends of a fuel cladding tube have wide gaps so as to be remotely controlled when attaching the fuel cladding tube to a testing machine by remote control, and capable of closing the gaps and allows the slide of the fuel cladding tube on a sealing surface at the time of a high-temperature and a high-pressure test.
    燃料被覆管を遠隔操作により試験機に装着する際は、燃料被覆管の両端部のシール機構は遠隔操作が可能なように広い間隙を有し、高温高圧試験時には当該間隙が閉じるとともにシール面での燃料被覆管の摺動を許容するシール機構を提供する。 - 特許庁
  • To provide a testing device of cable runs in a distribution board which can accurately detect the existence of short-circuit in the cable runs at a low-voltage side, when starting the use of an apparatus, after the end of the construction and inspection thereof in the distribution board equipment (a low-voltage distribution board for feeding a low AC voltage), installed in a substation or a distributing substation.
    変電所や配電所に設置された配電盤設備（低圧の交流電圧を供給する低圧配電盤）において、工事や検査を終えて使用開始する際に、低圧側の電路における短絡の有無を精度よく検知することができる配電盤内電路試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The testing device 101 includes a stage 120 on which the force sensor 113, the object to be tested, can be placed, a driving part 130 capable of moving the force sensor 113 via the stage 120 to 6 directions of each axis rotation of X, Y, Z axes, and a loading part 140 capable of loading the force sensor 113 placed on the stage 120.
    試験装置１０１は、被試験体である力センサ１１３を載置可能なステージ１２０と、ステージ１２０を介して力センサ１１３をＸ・Ｙ・Ｚ軸の各軸回転の６方向に移動可能な駆動部１３０と、ステージ１２０上に載置された力センサ１１３に加重可能な加重部１４０と、を備えている。 - 特許庁
  • The tire testing device includes a tire motor 18 connected to a rotary shaft of a tire 50, a tire shaft torque meter 15 detecting a torque acting on the rotary shaft of the tire, a roller 2 on to which the tire is pressed to contact with, a roller motor 8 connected to a rotary shaft of the roller 2, and a roller shaft torque meter 5 detecting a torque acting on the rotary shaft of the roller 2.
    タイヤ５０の回転軸に連結したタイヤモータ１８、タイヤの回転軸に加わるトルクを検出するタイヤ軸トルク計１５、タイヤ５０が圧接されるローラ２、ローラ２の回転軸に連結したローラモータ８、ローラ２の回転軸に加わるトルクを検出するローラ軸トルク計５を設ける。 - 特許庁
  • To evaluate reliability in a semiconductor light-emitting element for an external resonator-type laser with higher precision than that by a conventional method for testing reliability without composing an external resonator-type semiconductor laser by incorporating the semiconductor light-emitting element.
    半導体発光素子を組み込んで外部共振器型半導体レーザを構成することなく、従来の信頼性試験方法よりも高い精度で外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性を評価することができる外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • When a transmission source MAC address of the test frame (a) in each of learning tables T1 to T4 of respective MAC bridging apparatuses is learned by a port which is not a port direction nearest to the testing apparatus 6 logically from a MAC bridging apparatus, the loop generating direction judgment apparatus judges the loop exists in the direction.
    該ループ発生方向判定装置は、各MACブリッジング装置の学習テーブルＴ１〜Ｔ４における試験フレームの送信元MACアドレスが、そのMACブリッジング装置から見て論理的に試験装置６に最も近いポート方向ではないポートに学習されている場合に、その方向にループがあると判定する。 - 特許庁
  • To provide a high-frequency low-power circuit technique which achieves with low consuming powers the necessary performances for respective circuit modules, and deals with the contractions of their design terms and testing times and the variations of their manufacturing processes, in an integrated circuit apparatus formed out of a plurality of CMOS circuit modules.
    複数のＣＭＯＳ回路モジュールで構成される半導体集積回路装置において、各回路モジュールが必要な性能を低消費電力で達成し、設計期間の短縮、テスト時間の短縮およびプロセス製造ばらつきへの対応を可能とする高性能低電力回路技術を提供する。 - 特許庁
  • An apparatus has a memory operable with a virtualized RAID controller to determine an optimum I/O configuration by testing performance characteristics of a plurality of I/O operations, wherein the I/O operations include respectively writing a data block in the RAID controller, and the I/O configuration includes data length and data adjustment.
    複数のＩ／Ｏ操作の性能特性をテストすることによって最適なＩ／Ｏ構成を決定する仮想ＲＡＩＤコントローラとともに動作可能なメモリを有する装置であり、Ｉ／Ｏ操作がそれぞれＲＡＩＤコントローラにデータ・ブロックを書き込むことを含み、Ｉ／Ｏ構成がデータ長およびデータ調整を含む。 - 特許庁
  • To provide a method and an analytical system for determining which protein or nucleic acid is up-regulated or down-regulated in a patient, a method and a system for testing a latent diagnostic or therapeutic composition, and a method of diagnosing or treating the patient.
    どのタンパク質または核酸が疾患においてアップレギュレーションまたはダウンレギュレーションされるかを決定するための方法および解析システム、ならびに潜在的な診断もしくは治療組成物を試験するための方法およびシステム、およびこのような疾患を診断または処置するための方法を提供すること。 - 特許庁
  • In this combined degradation accelerator 1, a holding table 30 for a testing body and a salt spray device 40 are provided in a test chamber 11 with temperature and humidity controllable while a light source unit 33 is installed outside a partition board 32 attached to one surface of the test chamber 11 so as to right confront a surface of the holding table 30.
    複合劣化促進装置１は、温湿度の制御可能な試験室１１内に、試験体の保持台３０と塩水噴霧装置４０とが設けられるととともに、この試験室１１の一面に取り付けられた仕切り板３２の外側に、保持台３０の表面に正対するようにして光源ユニット３３が設置される。 - 特許庁
  • The communication testing means 18 tests whether it is possible to execute the communication function by utilizing the other pattern of the communication setting data stored in the storing means 14 while maintaining a state where it is possible for the communication means 16 to execute the communication function by utilizing the one pattern of the communication setting data.
    通信テスト手段１８は、上記の一方のパターンの通信設定データを利用して通信手段１６が通信機能を実行することができる状態を維持しながら、記憶手段１４に記憶されている他方のパターンの通信設定データを利用して通信機能を実行することができるのか否かをテストする。 - 特許庁
  • To provide a power generation testing device for a cell of a solid oxide fuel battery capable of surely sealing between an air chamber as well as a fuel chamber and the cell of the solid oxide fuel battery and repetitively using the air chamber and the fuel chamber.
    本発明の目的は、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーと固体酸化物形燃料電池用セルとの間のシールをより確実に行うと共に、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーの繰り返し使用を可能とする固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置を提供することにある。 - 特許庁
  • To provide work conveying housing equipment which prevents breakage of a work and shutdown of it by completely storing the work to be tested in a testing work housing and can check quickly the status that the work was stored completely, and provide grinding equipment provided with it.
    検査対象となるワークを検査用ワーク収納部内に完全に収めることによりワークの破損およびワーク搬送収納装置の停止を防止すると共に，ワークを完全に収めた状態を迅速に確認することが可能なワーク搬送収納装置，およびそのワーク搬送収納装置を備えた切削装置を提供する。 - 特許庁
  • The drive part 10 and follower part 20 constituting a gear testing apparatus are provided on a common stand 2 and the gear A mounted on the drive shaft 11 of the drive part 10 is meshed with the gear B mounted on the follower shaft 21 of the follower part 20 to drive the drive shaft 11 to test the meshing behavior of the gears.
    歯車試験装置１を構成する駆動部１０及び従動部２０は、共通の架台２上に設けられており、駆動部１０の駆動軸１１に装着された歯車Ａと、従動部２０の従動軸２１に装着された歯車Ｂとを互いに噛み合わせ、駆動軸１１を駆動して歯車の噛み合い挙動を試験する。 - 特許庁
  • This bearing testing device 1 comprises the rotating shaft 2, a pair of test bearings 4, 5 for supporting rotatably the middle part 3 in the axial direction S of the rotating shaft 2, and first and second support bearings 8, 9 for supporting rotatably first and second parts 6, 7 in the axial direction S of the rotating shaft 2 respectively.
    軸受試験装置１は、回転軸２と、回転軸２の軸方向Ｓの中間部３を回転自在に支持する一対の供試軸受４，５と、回転軸２の軸方向Ｓの第１および第２の部分６，７をそれぞれ回転自在に支持する第１および第２の支持軸受８，９とを備えている。 - 特許庁
  • The sealability testing device 2 is constituted of a first flange support base 3 for supporting a first flange member F1 on the right-end side of a bonded hard vinyl chloride pipe 1, a second flange support base 4 for supporting a second flange member F2 on the left-end side, and a pipe support base 5 for supporting the bonded hard vinyl chloride pipe 1.
    密封性試験装置２は、接合硬質塩化ビニル配管１の右端側の第１のフランジ部材Ｆ１を支持する第１のフランジ支持台３と、左端側の第２のフランジ部材Ｆ２を支持する第２のフランジ支持台４と、接合硬質塩化ビニル配管１を支持する配管支持台５とから構成されている。 - 特許庁
  • In a fine leak testing part 1, a test body is heated by a heating furnace 3 of a He bombing device 5, cooled spontaneously in a helium atmosphere pressurized in a pressure chamber 4, and is subjected to He bombing; and then He gas which leaked into a measuring chamber by heating is measured by a He leak detector 6, to thereby detect the fine leak.
    ファインリーク試験部１において、被試験体をＨｅボンビング装置５の加熱炉３で加熱した後、加圧チャンバ４で加圧下のヘリウム雰囲気内で自然冷却してＨｅボンビングした後、Ｈｅリーク検出器６で加熱により測定チャンバに漏出したＨｅガスを測定し、ファインリークを検出する。 - 特許庁
  • A semiconductor chip mounts an analog circuit 160 and a voltage generator circuit 610 which is connected to an analog input terminal of the analog circuit 160 and capable of generating a testing input voltage or a voltage measuring circuit which is connected to an analog output terminal capable of measuring the output voltage.
    半導体チップ上に、少なくともアナログ回路（１６０，２６０）と、該アナログ回路のアナログ入力端子に接続され検査用の入力電圧を発生可能な電圧発生回路（６１０）もしくはアナログ出力端子に接続され出力電圧を測定可能な電圧測定回路（６２０）とを搭載するようにした。 - 特許庁
  • The customs or other competent authorities may allow the right holder, importer or exporter to examine the goods, the clearance of which has been suspended in accordance with Article 39, and to remove samples for examination, testing and analysis, to determine whether the goods are counterfeit.
    税関又は他の管轄当局は，権利所有者，輸入業者又は輸出業者に対して，第39条に従い通関が差し止められた商品を検査することを許可すること，及び商品が偽造であるか否か決定するために検査，試験，分析用の見本を採取することを許可することができる。 - 特許庁
  • In particular, a TFT 30 is an N channel transistor that easily generates unpaired coupling hand and carrier trapping than a P channel transistor, and a predetermined treatment such as annealing or the like effectively suppresses the degradation of operational characteristic or reliability after BT testing caused by the unpaired coupling hand or carrier trapping.
    特に、ＴＦＴ３０は、Ｐチャネル型トランジスタより不対結合手及びキャリアトラップが発生し易いＮチャネル型トランジスタであり、アニール処理等の所定の処理によって、不対結合手及びキャリアトラップに起因して生じるＢＴ試験後のおける動作特性及び信頼性の低下が効果的に抑制されている。 - 特許庁
  • This semiconductor device and its testing method are equipped with an N-channel type MOSFET 11 and its protection diode 12, and have a switching circuit SW-1 for validating the protection diode 12 by being switched on by fusing of a fuse 2 between the N-channel type MOSFET 11 and the protection diode 12.
    本発明の半導体装置およびそのテスト方法は、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１とその保護ダイオード１２とを備え、Ｎチャネル型ＭＯＳＦＥＴ１１と保護ダイオード１２との間に、ヒューズ２の溶断によってスイッチをオンさせて保護ダイオード１２を有効にするスイッチ回路ＳＷ−１を有する。 - 特許庁
  • For a semiconductor device having a plurality of analog input terminals AIN0 and AIN1, which have internal analog switches 11 and 12, characteristic testing of each analog input terminal switched by the analog switches 11 and 12 is conducted by simultaneously switching on the analog switches 11 and 12.
    複数のアナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１を持つ半導体装置において、アナログ入力端子ＡＩＮ０、ＡＩＮ１は内部アナログスイッチ１１，１２を有し、前記アナログスイッチ１１，１２により切り替えられている各アナログ入力端子の特性テストを、そのアナログスイッチ１１，１２を２個同時にオンさせて行う。 - 特許庁
  • The total intelligent test procedure management system is provided with a document management database 2 having an electronic manual 71 showing a procedure for testing a test target, and a terminal machine 15 reading the electronic manual 71 inside the document management database 2 to display it and allowing input of the test result on the test target.
    本発明の総合インテリジェント試験進行管理システムは、試験対象を試験する手順を示した電子要領書７１を有するドキュメント管理データベース２と、ドキュメント管理データベース２内の電子要領書７１を読み出して表示するとともに、試験対象の試験結果を入力できる端末機１５とを備えている。 - 特許庁
  • In the method of testing a droplet ejecting head, droplet ejecting performance of the droplet ejecting head is preferably evaluated by ejecting ink from a plurality of nozzle of the droplet ejecting head toward an ink landing body which faces the nozzle forming surface side of the droplet ejecting head and is movable relative to the droplet ejecting head.
    本発明の液滴吐出ヘッドの試験方法は、液滴吐出ヘッドのノズル形成面側に対向するとともに当該液滴吐出ヘッドに対して相対的に移動可能なインク着弾体へ向けて、液滴吐出ヘッドの複数のノズルからインクを吐出することにより、液滴吐出性能を評価することが好ましい。 - 特許庁
  • The semiconductor testing device 1 includes a prober 2, the measuring device 3 and an electronic control device 4, and can perform gate leakage current measurement of a semiconductor element 10, reverse withstand voltage measurement between a gate and a drain, and between the gate and a source, breakdown voltage measurement between the gate and the source, and gate threshold voltage measurement.
    本発明に係る半導体試験装置１は、プローバ２、測定装置３、電子制御装置４を備えており、半導体素子１０のゲート漏れ電流測定、ゲート・ドレイン間およびゲート・ソース間の逆耐圧測定、ゲート・ソース間の降伏電圧測定、およびゲート閾値電圧測定が可能である。 - 特許庁
  • To provide an indoor-outdoor dual purpose load moving testing device capable of being conveyed to a measurement field by being equipped with only a necessary minimum mechanism and being miniaturized, and executing also an outdoor test by being equipped with a temperature providing means for setting and keeping a sample piece part at a desired temperature.
    必要最低限の機構のみを備え、装置を小型化することにより測定現場への搬送を可能にし、且つ、供試体部分を所望の温度に設定、保持するための温度供給手段を備えることにより屋外での試験も実行可能な、屋内外兼用の荷重移動試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Article 14 No person shall use a Class I Specified Chemical Substance for any usages other than those specified by a Cabinet Order for each Class I Specified Chemical Substance as being compliant with the following requirements; provided, however, that this shall not apply to the case where a person uses a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes:
    第十四条　何人も、次に掲げる要件に適合するものとして第一種特定化学物質ごとに政令で定める用途以外の用途に第一種特定化学物質を使用してはならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を使用するときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • (3) The competent ministers may, to the extent necessary for enforcing this Act, have their officials enter the offices or any other places of business of a person prescribed in Article 22, inspect the books, documents and any other articles, ask questions of the relevant persons, or sample the smallest quantity of chemical substances necessary for testing.
    ３　主務大臣は、この法律の施行に必要な限度において、その職員に、第二十二条に規定する者の事務所その他の事業所に立ち入り、帳簿、書類その他の物件を検査させ、関係者に質問させ、又は試験のために必要な最小限度の分量に限り化学物質を収去させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • In order to shorten the time required for testing overcharge detecting operation of an IC 1 for protecting a secondary battery test by shortening the delay time for overcharge detection by increasing the frequency of an oscillation circuit 7, a test control circuit 20 for increasing the level of a constant current determining the oscillation frequency of the oscillation circuit 7 is provided.
    ２次電池保護用ＩＣ１の過充電検出動作のテスト時に、発振回路７の周波数を高くして過充電検出のための遅延時間を短縮し、テストに要する時間を短縮するために、発振回路７の発振周波数を決めている定電流の値を増加させるテスト用制御回路２０を設ける。 - 特許庁
  • This semiconductor tester for performing quality determination with the output signals from the plurality of devices which are testing objects input into the same pin, is equipped with a plurality of determination parts performing quality determination, and a pattern generation part for selecting one from among the plurality of determination parts for each of the devices to exercise control so that it turns into an operational state.
    被試験対象である複数のデバイスからの出力信号を同一ピンに入力して良否判定する半導体試験装置において、良否判定する複数の判定部と、デバイス毎に複数の判定部のうちの１つを選択して動作可能状態に制御するパターン発生部とを備える。 - 特許庁
  • The resinous phase has a covalently bonded halogen content based on total weight of resin solids present in the resinous phase, such that when the composition is electrodeposited and cured, the cured film passes flame resistance testing in accordance with IPC-TM-650, and has a dielectric constant of equal to or less than 3.50.
    樹脂相は、組成物が電着され、かつ硬化される場合に、硬化フィルムがＩＰＣ−ＴＭ−６５０に従った燃焼耐性試験に合格し、かつ３．５０以下の誘電定数を有するように、樹脂相中に存在する樹脂固体の総量に基いて共有結合性ハロゲン成分を有する。 - 特許庁
  • To provide a liquid crystal display device for testing wiring defects in a panel, capable of detecting a disconnection and a short circuit of wiring when applying a signal, by connecting data lines or gate lines or a common line in the panel with each pad through wiring of a zigzag form arranged outside of the panel.
    パネル内のデータラインまたはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結することによって、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置を提供する。 - 特許庁
  • The particle abrasion testing machine of the dust collection filter cloth is constituted of means 1 and 2 for fixing fibers T constituting the dust collection filter cloth under a predetermined tension state and a means 3 for allowing a dust-containing stream to collide with the fibers T under the same condition as an environment using the dust collection filter cloth, thereby measuring the particle abrasion of the fiber T.
    集塵用濾布を構成する繊維Ｔを所定の緊張度で緊張固定させる手段１、２と、この繊維Ｔに対して、集塵用濾布を使用する環境と同じ条件となるよう含塵気流を衝突させる手段３とより構成し、繊維Ｔの粒子摩耗を測定する。 - 特許庁
  • This method for bonding the resins with the dope cement is provided by keeping the viscosity of the dope cement at a correct value by using a testing means for the viscosity of the dope cement, and also applying the above dope cement having the correct viscosity on the resins to be bonded or filling the dope cement in a gap of the resins by using a constant amount- ejecting means 1.
    ドープセメントの粘度検査手段を使用することによってドープセメントの粘度を適正な値に保ち、前記適正な粘度のドープセメントを定量吐出手段１を使用して接着すべき樹脂に塗布する或いは、樹脂の隙間に充填するドープセメントによる樹脂の接着方法である。 - 特許庁
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