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＜前へ 1 2 .... 274 275 276 277 278 279 280 281 282 .... 288 289 次へ＞- The blood clinical testing device is mainly constituted of both a transferring means (1) to transfer a large number of reaction containers (C) housing blood or blood components as specimens and reagents in a predetermined direction, and optical equipment (2) to measure the state of reaction between the specimens and reagents in the reaction containers (C) by the change of light.
血液の臨床検査装置は、検体としての血液または血液成分ならびに試薬が収容された多数の反応容器（Ｃ）を所定方向へ搬送する搬送手段（１）と、反応容器（Ｃ）内の検体と試薬の反応状態を光の変化によって測定する光学機器（２）とから主として構成される。 - 特許庁 - A fluidity testing device 1 comprises a molten metal port 11 through which a molten metal is injected, a flowing pathway 12 through which the injected molten metal flows, a standard pressure port 13 provided in the flowing pathway 12, and at least one pressure port for measurement 14 provided in the flowing pathway 12 downstream from the standard pressure port 13.
流動性試験器１は、溶融金属を注入するための湯口１１と、注入された溶融金属が流れる流路１２と、流路１２に設けられた基準圧力ポート１３と、流路１２の基準圧力ポート１３よりも下流側に少なくとも一つ設けられた測定用圧力ポート１４とを有する。 - 特許庁 - This connection strength testing device is equipped with a stage 6, where a semiconductor or semiconductor device 1 equipped with a bump electrode 100 is fixed, a heater 2 which heats the semiconductor or the semiconductor device 1, a probe 8 which is adhered to the bump electrode 100, and a push-pull gauge 9 which measures the tension strength of the bump electrode 100.
バンプ電極１００を備えた半導体または半導体装置１を固定するステージ６と、前記半導体または半導体装置１を加熱するヒータ２と、前記バンプ電極１００に接着されるプローブ８と、前記バンプ電極１００の引張り強度を測定するプッシュプルゲージ９とを備えた構成。 - 特許庁 - To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.
テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁 - In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.
ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁 - To enable a test signal generating device and a testing method of a video apparatus to detect even an abnormal state at a black level side in a luminance signal processing circuit, a color signal processing circuit or the like when applied to the distortion detection of color signal and the level adjustment of a color signal or the like by visual inspection.
本発明は、テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法に関し、目視による色信号の歪み検出、色信号のレベル調整等に適用して、輝度信号処理回路、色信号処理回路等における黒レベル側の異常についても検出することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.
複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁 - This method for testing short-circuiting in the battery consisting of a positive electrode, a negative electrode, a separator arranged so as to separate both the electrodes and electrolyte enables to determine short-circuiting by a resistance by making the electrolyte solid state and measuring alternating current impedance between the positive electrode and the negative electrode.
本発明は、正極と負極とこの両者を隔離するように配したセパレータと電解液からなる電池の短絡の有無の検査方法であって、前記電解液を固体状態とし、前記正極と前記負極の間で交流インピーダンスを測定し、その抵抗値によって短絡の有無を判定することができる。 - 特許庁 - To provide a tensile testing method for a strand which can accurately grasping the tensile property of a reinforced fiber strand employed in the case of designing a reinforced fiber sheet by making it possible to strictly discriminate the drop of tensile strength due to the width expansion or convergence of fiber spaces of the strand and the drop of a tensile strength due to the structure of the fiber.
補強繊維シートの設計を行うにあたってストランドの開繊拡幅や収束による引張強さの低減と織物構造による引張強さの低下を峻別が可能なことから使用する補強繊維ストランドの正確な引張特性を把握することができるストランドの引張試験方法を提供する。 - 特許庁 - The nuclear magnetic resonance testing apparatus 10 is also provided with: an input device 330 for designating a reference area of the cross section image of a reference body 200 and the concerned area of the object to be tested in the image; and a CPU 300 for calculating the ratio of the MRI signal intensity of the concerned area to the MRI signal intensity of the reference area.
又、核磁気共鳴検査装置１０は画像の中で、基準体２００の断面画像の基準領域と、前記検査対象の関心領域を指定する入力装置３３０と、基準領域のＭＲＩ信号強度に対する関心領域のＭＲＩ信号強度の比を演算するＣＰＵ３００を備える。 - 特許庁 - This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.
ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁 - To provide a suitability testing apparatus of a tire slip preventing apparatus for simplifying a work process, reducing a workload of a worker, ensuring safety when the worker works, reducing a noise due to work, and precisely inspecting the suitability between a tire slip preventing member and a tire.
作業工程を簡易にして、作業者の作業労力を軽減し、作業者の作業時における安全性を確保するとともに、作業に伴う騒音を低減し、高い精度をもって、タイヤ滑り止め部材とタイヤとの適合性を検査することができるタイヤ滑り止め装置の適合性試験装置を提供する。 - 特許庁 - The semiconductor testing device 10 tests each D/A conversion circuit and A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, based on digital signals outputted from each A/D conversion circuit of the semiconductor integrated circuits to be measured 20, 30, 40, 50, to thereby discriminated between a quality product and a defective product.
半導体試験装置１０は、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＡ／Ｄ変換回路から出力されたデジタル信号に基づき、被測定半導体集積回路２０，３０，４０，５０それぞれのＤ／Ａ変換回路とＡ／Ｄ変換回路とをテストし、良品、不良品を判定する。 - 特許庁 - Separately, an accelerated deterioration test is performed in an accelerated deterioration testing chamber indoor simulating the corrosion factor in the periphery of the aerial strip held on the support with respect to the same sample strip as the aerial strip being the deterioration diagnosing target to form a master curve of a line deterioration degree formed by measuring the capacity deterioration degree.
別途に、支持物に保持された架空条体の周辺の腐食因子を室内で模擬させた加速劣化試験室で、劣化診断対象の架空条体と同様なサンプル条体に対し加速劣化試験を行って性能劣化度を測定し作成した条体劣化度のマスターカーブを作成する。 - 特許庁 - In the case of forming oriented films 24, 32 on a TFT array substrate 10 and a counterposed substrate 20, the oriented film forming device 700 forms an oriented film on a testing substrate by a spin coater 300, and then measures the film thickness of the oriented film by a film thickness measuring device 50.
ＴＦＴアレイ基板１０および対向基板２０に対して配向膜２４、３２を形成するにあたって、配向膜形成装置７００において、スピンコート装置３００で試験用基板に配向膜を形成した後、焼成装置４００で焼成し、しかる後に、配向膜の膜厚を膜厚測定装置５００で計測する。 - 特許庁 - The testing power converter includes a power rectifying circuit section converting a commercial AC power into a DC; a system impedance simulation section simulating a system impedance arranged on a latter stage of the power rectification circuit section; and a plurality of upper and lower switching arms arranged on a latter stage of the system impedance-simulating section.
また、前記試験用電力変換器は、商用交流電源を直流に変換する順変換回路部と、該順変換回路部の後段に設けられた系統インピーダンスを模擬する系統インピーダンス模擬部と、該系統インピーダンス模擬部の後段に設けられた複数の上下スイッチングアームと、を備える。 - 特許庁 - This fatigue tester for testing fatigue of a test body includes an X-ray residual stress measuring device capable of measuring a residual stress of a portion to be measured in the test body, and a stress concentration gage for measuring a stress amplitude of the portion to be measured in the test body.
試験体の疲労を試験する疲労試験装置であって、試験体における被測定部位の残留応力を測定するＸ線残留応力測定装置と、試験体における被測定部位の応力振幅を測定する応力集中ゲージを備えることを特徴とする、疲労試験機が提供される。 - 特許庁 - The ion conductive polymer composition whose value of scorching T5 (min) at 130.0°C±0.5°C is 1.5 to 20 in a Mooney scorch test in an unvulcanized rubber physical testing method mentioned in JIS K6300, and also, whose Mooney viscosity ML(1+4) at 100°C is 5 to 95 is extruded from an extrusion machine and continuously vulcanized.
ＪＩＳ Ｋ６３００記載の未加硫ゴム物理試験方法中のムーニースコーチ試験において１３０．０℃±０．５℃におけるスコーチＴ５（分）の値が１．５以上２０以下であり、かつ、１００℃におけるムーニー粘度ＭＬ（１＋４）が５以上９５以下であるイオン導電性ポリマー組成物を、押出機から押し出しながら連続加硫する。 - 特許庁 - In testing the RAM, by not performing the failure detection about an address other than the focused address or an expected value other than the focused expected value, occurrence of the failure to the focused address or the focused expected value defined in advance is easily determined when the failure is detected.
本発明は、ＲＡＭ試験において着目アドレス以外のアドレス又は着目期待値以外の期待値については故障検出を行わないことにより、故障が検出された場合には予め決められた着目アドレス又は着目期待値について故障が発生したことを容易に判別することを目的とする。 - 特許庁 - When at least one out of a sensor holding portion and a load portion is moved with means of movement of the load testing device, a speed up to a separated upper side portion and a load sensor approaching is made faster than a speed up to the upper side portion having approached and the load sensor coming in touch and the load portion being supported by the load sensor.
荷重試験装置の移動手段によってセンサ保持部と負荷部との少なくとも一方を移動させる際に、離間した上側部と荷重センサとが近接するまでの速度が、近接した上側部と荷重センサが当接し負荷部が荷重センサに支持されるまでの速度よりも大きくなるようにする。 - 特許庁 - A DRAM chip 1 includes an input/output terminal 1c for testing which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; an input/output terminal 1b for connecting a support substrate, which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; and an input/output terminal 1a without having the measure circuit for electrostatic discharge breakdown other than the input/output terminals 1b and 1c.
ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁 - This modified device for equilibrium dialytic treatment is of such a construction that it uses a dialytic membrane which is present in all of an arbitrary number of test wells included in dialytic blocks and also inserted into at least a gap for dividing the wells to the donating side and the receiving side which be accessed and operated from the top the device during testing.
透析ブロックに含まれる任意の数の試験ウェルの全ての中にあり、それらウェルを試験中いつでも装置の上部からアクセス及び操作できる授与側と受領側に少なくとも分離する間隙内に挿入された透析膜を利用する平衡透析処置用改良型装置。 - 特許庁 - In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.
信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁 - Therefore, it is possible to determine whether the four memory cells are correct or not and four output buffers 4 corresponding to the data input/output terminals DQ0 to DQ3 are correct or not, only by connecting the data input/output terminal DQ0 to a tester, thereby reducing the testing cost.
したがって、データ入出力端子ＤＱ０のみをテスタに接続した状態で、４つのメモリセルが正常か否かを判定するとともに、データ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱ３に対応する４つの出力バッファ４が正常か否かを判定することができ、テストコストの低減化を図ることができる。 - 特許庁 - This performance board 10 of a semiconductor testing device (image sensor tester) 1a includes the buffers 11-1 to 11-n for cable driving, and switches 12-1 to 12-n for conducting switching between an input of a measured signal output from a measured device and an input of a reference signal output from a reference signal generator 40.
半導体試験装置（イメージセンサテスタ）１ａのパフォーマンスボード１０は、ケーブル駆動用のバッファ１１−１〜１１−ｎと、被測定デバイスから出力された計測信号又は基準信号発生器４０から出力された基準信号の入力の切り替えを行う切替器１２−１〜１２−ｎとを備えている。 - 特許庁 - To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.
試料径が１ｍｍ程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁 - The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.
あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁 - This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.
不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁 - When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.
チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁 - The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.
また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁 - One point or several points on the curve are pointed by a finger, a mouse or other pointing device to display not only the testing force of the points on a display part 30b but also a displacement value on a display part 30d and these numerical values are stored in a measuring control unit 20 by pushing an OK button 30e.
そして、この曲線上の１点あるいは数点を指あるいはマウスその他のポインティングデバイスでポイントすることにより、その点の試験力が表示部３０ｂに、変位値が表示部３０ｄに表示され、ＯＫボタン３０ｅを押すことによりこれらの数値が計測制御装置２０に記憶される。 - 特許庁 - The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.
本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁 - Also provided is a method for testing an agent for its ability to inhibit binding between fibroblast growth factor (FGF) and heparanase substrate, comprising the steps of: interacting in solution immobilized FGF on a solid support with the agent and labeled heparanase substrate, and detecting the presence or absence of label in the solution remote from the solid support.
線維芽細胞成長因子（FGF）とへパラナーゼ基質との結合を阻害する能力に関しては、固体支持体上に固定化したFGFを物質および標識基質と溶液中で相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む。 - 特許庁 - To provide a liquid crystal display device for testing wiring defects in a panel, capable of detecting a disconnection and a short circuit of wiring when applying a signal, by connecting data lines or gate lines or a common line in the panel with each pad through wiring of a zigzag form arranged outside of the panel.
パネル内のデータラインまたはゲートライン或いは共通電圧ラインを、パネルの外部に設けたジグザグ形態の配線を介して各パッドに連結することによって、信号の印加時、配線の短絡及びショートを検出できる、パネル内配線の欠陥をテストするための液晶表示装置を提供する。 - 特許庁 - To make checkable the connection state of each input/output terminal of a semiconductor integrated circuit loaded on a substrate without using a dedicated testing device, and to make testable the operation of the semiconductor integrated circuit by inputting a prescribed test pattern into each input/output terminal of the semiconductor integrated circuit loaded on the substrate.
専用のテスト装置を用いずに、基板上に搭載された半導体集積回路の各入出力端子の接続状態をチェックすることができ、基板上に搭載された半導体集積回路の各入力端子に所定のテストパターンを入力し、半導体集積回路の動作をテストすることができるようにする。 - 特許庁 - The cosmetic composition is obtained by containing at least one aqueous dispersion of insoluble particles of a fixing polymer in a cosmetically acceptable aqueous or aqueous-alcoholic medium and, in an adhesion testing, results in <200 microjoule mean adhesion energy of fixing material/keratinous fiber after drying.
化粧用に許容できる水性もしくは水性アルコール性媒体中に、少なくとも一つの、固定用ポリマーの不溶性粒子の水性分散液を含む化粧用組成物であって、粘着テストにおいて、乾燥後の固定物質／ケラチン繊維の平均粘着エネルギーが２００マイクロジュール未満となることを特徴とする化粧用組成物。 - 特許庁 - The present invention utilizes the nonvolatile ferroelectric memory to program a test mode and data pin arrangement and rearranges an address, a control signal and a data pin arrangement state in a software manner according to a programmed code, thereby accurately testing the characteristics of the cell array without requiring another process.
このため、本発明は不揮発性強誘電体メモリを利用してテストモード及びデータピンの配置をプログラムし、プログラムされたコードに従いソフトウェア的にアドレス、制御信号及びデータピンの配置状態を再調整することにより、別途のプロセスなくセルアレイの特性を正確にテストすることができるようになる。 - 特許庁 - This device includes the first electrode 12 and the second electrode 14 installed separately on an insulator which is an object for testing the high conductivity state or the high dielectric constant state, and a high voltage power source for supplying the power to the first electrode and the second electrode with each different potential.
この装置は、高導電性の状態又は高誘電率の状態を試験する対象の絶縁体上に、離れて設置される第１の電極１２及び第２の電極１４と、第１の電極及び第２の電極に異なる電位で電力供給する高電圧電源とを含んでいる。 - 特許庁 - In a test head 18A provided for a test part 12 for testing semiconductor devices D in a state held at a prescribed temperature, semiconductor devices D in even-numbered rows and odd-number1ed columns among the semiconductor devices D mounted to a test board 1 are tested, and the semiconductor devices D in even-numbered rows and even-numbered columns are tested.
半導体装置Ｄを所定温度に保持した状態で試験を行う試験部１２設けられるテストヘッド１８Ａにおいて、テストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち偶数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、偶数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁 - The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.
ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁 - To provide an Ethernet (R) transmission apparatus which can accurately decide the normality of a line quality monitoring function so that the number of pseudo line error codes inserted for a test coincides with an error count value during error count period of the function, and also to provide a method for testing the function of the apparatus.
イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法に関し、試験用に挿入した擬似回線エラーコードの個数と、回線品質監視機能におけるエラーカウント期間のエラーカウント値とが一致するようにし、回線品質監視機能の正常性の正確な判定を可能にする。 - 特許庁 - To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.
熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁 - The coil 12 or the applied electric power generating part 2 is controlled, and then the resonance condition is automatically tracked to be satisfactorily maintained by a resonance controlling part 3, while making the testing conditions during the test period about the test electric power applied to the resonance circuit not to be fixed, when the capacitor 11 is tested.
さらに、コンデンサ１１の試験時に共振回路に印加される試験電力などについての試験条件を試験時間中で一定とせず、共振制御部３によってコイル１２または印加電力生成部２を制御して自動的に共振状態を追尾し、その共振状態を良好に保持する。 - 特許庁 - The test system for testing the radio base station apparatus is equipped with: the pseudo MSes simulating cellular phones; a pseudo RNC simulating a base station controller; a means for controlling the pseudo MSes, the pseudo RNC and the radio base station apparatus and acquiring a prescribed measurement result; and a means for analyzing the measurement result.
無線基地局装置を試験する試験システムにおいて、携帯電話機を模擬した擬似ＭＳと、基地局制御装置を模擬した擬似ＲＮＣと、前記擬似ＭＳ、前記擬似ＲＮＣ、及び前記無線基地局装置を制御し、所定の測定結果を取得する手段と、前記測定結果を解析する手段とを備えた。 - 特許庁 - When the semiconductor testing apparatus 1 is powered on, the tester controller 10 directly transfers a compressed OS 12, i.e., a compressed OS for use at the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n, to the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n via a bus B.
テスタコントローラ１０は、半導体試験装置１の電源投入時に、リダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎで用いられるＯＳを圧縮したＯＳである圧縮ＯＳ１２を、バスＢを介してリダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎに直接転送する。 - 特許庁 - A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.
曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁 - In the twist angle adjusting means 7 provided to the twist-testing machine 10, the detected twist angle and the load torque value are collected, and the histeresis of the twist angle and the load torque value at the time of reversible rotation of a servomotor 1 is calculated to find the base point of the reversible rotation of a motor rotary shaft on the basis of the histeresis.
ねじり試験装置１０が備えたねじり角度調整手段７において、検出されたねじり角度および負荷トルク値を収集し、サーボモータ１が正逆回転する際のねじり角度と負荷トルクのヒステリシスを演算し、ヒステリシスに基づいてモータ回転軸の正逆回転の基点を求めることができる。 - 特許庁 - The drive part 10 and follower part 20 constituting a gear testing apparatus are provided on a common stand 2 and the gear A mounted on the drive shaft 11 of the drive part 10 is meshed with the gear B mounted on the follower shaft 21 of the follower part 20 to drive the drive shaft 11 to test the meshing behavior of the gears.
歯車試験装置１を構成する駆動部１０及び従動部２０は、共通の架台２上に設けられており、駆動部１０の駆動軸１１に装着された歯車Ａと、従動部２０の従動軸２１に装着された歯車Ｂとを互いに噛み合わせ、駆動軸１１を駆動して歯車の噛み合い挙動を試験する。 - 特許庁 - This bearing testing device 1 comprises the rotating shaft 2, a pair of test bearings 4, 5 for supporting rotatably the middle part 3 in the axial direction S of the rotating shaft 2, and first and second support bearings 8, 9 for supporting rotatably first and second parts 6, 7 in the axial direction S of the rotating shaft 2 respectively.
軸受試験装置１は、回転軸２と、回転軸２の軸方向Ｓの中間部３を回転自在に支持する一対の供試軸受４，５と、回転軸２の軸方向Ｓの第１および第２の部分６，７をそれぞれ回転自在に支持する第１および第２の支持軸受８，９とを備えている。 - 特許庁 - The sealability testing device 2 is constituted of a first flange support base 3 for supporting a first flange member F1 on the right-end side of a bonded hard vinyl chloride pipe 1, a second flange support base 4 for supporting a second flange member F2 on the left-end side, and a pipe support base 5 for supporting the bonded hard vinyl chloride pipe 1.
密封性試験装置２は、接合硬質塩化ビニル配管１の右端側の第１のフランジ部材Ｆ１を支持する第１のフランジ支持台３と、左端側の第２のフランジ部材Ｆ２を支持する第２のフランジ支持台４と、接合硬質塩化ビニル配管１を支持する配管支持台５とから構成されている。 - 特許庁
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