「Testing」を含む例文一覧(14405)

＜前へ 1 2 .... 278 279 280 281 282 283 284 285 286 .... 288 289 次へ＞
  • The system for testing hydrogen permeability is equipped with the reference electrode 103 arranged in the hollow structure part 102 of the reinforcing rod 101, the counter electrode 104 arranged in the hollow structure part 102, the electrolyte solution 105 housed in the hollow structure part 102, and an electrolyte solution supply part 106 for supplying the electrolyte solution 105 to the hollow structure part 102.
    鉄筋１０１の中空構造部１０２の内部に配置された参照電極１０３と、中空構造部１０２内に配置された対向電極１０４と、中空構造部１０２に収容された電解質溶液１０５と、中空構造部１０２に電解質溶液１０５を供給する電解質溶液供給部１０６とを備える。 - 特許庁
  • A reference voltage generating circuit 110 for supplying each driver IC 100 with a reference voltage VREF at LED head mounting is prepared previously in the TEG chip 310 formed on a wafer 300 together with a plurality of the driver ICs 100 for driving an LED array in addition to a circuit for testing each driver IC 100.
    ウェハ３００上に、ＬＥＤアレイを駆動するための複数のドライバＩＣ１００と共に形成したＴＥＧチップ３１０内に、各ドライバＩＣ１００を試験するための回路に加えて、ＬＥＤヘッド実装時に各ドライバＩＣ１００に基準電圧ＶＲＥＦを供給するための基準電圧発生回路１１０を作り込んでおく。 - 特許庁
  • A changeover circuit 26 of a load control unit 1 detects open and close of a circuit breaker 7, gives a normal power to a multi-functional protection relay device 5 from a main circuit 3 in a closed-circuit state of the circuit breaker 7, and gives a power for testing to the multi-functional protection relay device 5 in an open-circuit state of the circuit breaker 7.
    負荷制御装置１の切換回路２６は、回路遮断器７の開閉を検出し、その回路遮断器７が閉路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に主回路３から常用電源を与え、回路遮断器７が開路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に試験用電源を与えるように切り換える。 - 特許庁
  • The temperature-sensing resistor washing device (68) for the corrosion testing machine includes: a washing solution supply means (69), having a washing nozzle (70) for jetting a washing solution to the temperature-sensing resistor (57); and a control means (67) for controlling the driving of the washing solution supply means (69) to jet the washing solution from the washing nozzle (70).
    腐食試験機用測温抵抗体洗浄装置（６８）は、測温抵抗体（５７）への洗浄液を噴出する洗浄ノズル（７０）を有する洗浄液供給手段（６９）と、洗浄ノズル（７０）から洗浄液を噴出させるように洗浄液供給手段（６９）を駆動制御する制御手段（６７）とを備えている。 - 特許庁
  • To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.
    高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁
  • The load testing machine 100 includes: a test object support rack 2; a weight frame 3 relatively elevating relative to the test object support rack 2; weights 4a-4e where adjacent weights are engaged each other; a load frame 5 including a weight suspension unit 55 for engaging a pressing unit 54 for pressing the test object and the weight 4a; and a suspension tool 6 including a through-hole 69.
    被試験物支持台２と、被試験物支持台２に対し相対的に昇降する分銅枠３と、隣接する分銅同士が互いに係合する分銅４ａ〜分銅４ｅと、被試験物を押圧する押圧部５４と分銅４ａと係合する分銅吊下部５５とを有する負荷枠５と、貫通孔６９を有する吊下具６と、を備える荷重試験機１００。 - 特許庁
  • To provide a device, method and program for testing a branch prediction circuit of an information processor, in which verification of the branch prediction circuit can be easily and efficiently performed without performing processing for specifying a branch point and substituting a branch instruction by the other instruction.
    分岐ポイントを特定して分岐命令を他の命令で置き換える処理を行うことなく、容易に、かつ効率的に分岐予測回路の検証を可能とする情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラムを提供すること。 - 特許庁
  • In this automatic testing system, since a periodical command execution means 108 periodically executes a debugger command and a fault detection means 110 detects the occurrence of a fault on the basis of the state transition of a real time OS which is received from a debugging monitor 124, surely detect the occurrence of the fault in the exchange application program 121.
    周期コマンド実行手段１０８により、周期的にデバッガのコマンドを実行して、デバッグモニタ１２４から受信したリアルタイムＯＳの状態遷移により、障害検出手段１１０が障害発生を検出するようにしたので、効率よく確実に交換アプリケーションプログラム１２１の障害発生を検出することができる。 - 特許庁
  • At testing, external input instruction of a plurality of number of times is inputted to a decoder circuit, selected results of each of external input instruction of the plurality of number of times inputted to the decoder circuit are held in a holding circuit, first selection lines to be selected out of a plurality of first selection lines in accordance with holding contents are selected in parallel.
    テスト時において、複数回の外部入力指示をデコーダ回路に入力し、デコーダ回路に対して入力された複数回の外部入力指示それぞれにおける選択結果を保持回路で保持し、保持内容に応じて複数の第１の選択線のうち選択対象とされた第１の選択線を並列に選択する。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.
    テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁
  • A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.
    制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁
  • To obtain an adhesive exhibiting excellent heat resistance after laminating processing especially even when a hardly adhesive resin film such as a polyolefin film is laminated on a steel plate, and keeping the excellent adhesiveness even after a boiling water resistant testing; and to provide a plastic film-laminated steel plate produced by utilizing the adhesive.
    本発明の課題は、特に、ポリオレフィンフィルムなどの難接着性樹脂フィルムを鋼板にラミネートした場合でも、ラミネート加工後に優れた耐熱性を示すと共に、耐沸水性試験後においても優れた接着力が確保される接着剤及びその接着剤を利用して製造するプラスチックフィルムラミネート鋼板を提供することにある。 - 特許庁
  • The integrated circuit 11 is prepared preliminarily with voltage-frequency conversion circuits 15-17 for converting voltages of testing objective points in respective analog circuits 12-14 into alternating current signals of corresponding frequencies, and a mixing circuit 18 for mixing outputs from the respective voltage-frequency conversion circuits 15-17 to be output to a terminal 19, in an inside of the circuit 11.
    予め集積回路１１内に、各アナログ回路１２〜１４の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路１５〜１７と、各電圧−周波数変換回路１５〜１７の出力を混合して端子１９へ出力する混合回路１８とを作成しておく。 - 特許庁
  • The testing circuit 4 has an operation set means 5 for setting an operation of the counter 2 divided into a plurality of counter blocks 3 at each counter block, and an initial value set means 6 for setting a predetermined initial value to each counter block 3 at each operation set by the means 5, thereby inspecting based on the counter output after each operation.
    テスト回路４は、複数のカウンタブロック３に分割されたカウンタ２の動作を、各カウンタブロック毎に、設定する動作設定手段５と、この動作設定手段５により設定された各動作毎に、各カウンタブロック３に対し、所定の初期値を設定する初期値設定手段６と、を具備し、各動作後のカウンタ出力に基づいて検査を行う。 - 特許庁
  • (2) The application for plant variety protection shall contain a request for the grant of plant variety protection, a declaration of novelty of the variety, the definitive description containing the result of the experimental testing relating the conditions laid down in Article 106(3) to (5), the variety denomination, the common name and Latin name of the species and, if necessary, other relevant documents.
    (2) 植物品種保護出願には，植物品種保護の付与に関する願書，品種の新規性の宣言書，第106条(3)から(5)までに定める条件に関する実験的試験の結果を記載した確定説明書，当該種の品種名称，普通名称及びラテン語名称並びに，必要に応じて，他の関連書類を添える。 - 特許庁
  • (2) If the applicant has claimed protection for more than one plant variety in one application, he may divide the application, retaining the date of filing and any earlier priority, if any, until such time as the experimental testing has begun. In any other matters pertaining to division, the provisions of Article 73(2) and (3) shall apply.
    (2) 出願人は，1の出願において1を超える植物品種に関する保護を請求した場合は，実験的試験が開始される時までに，出願日及び(ある場合は)先の優先権を維持したままで，当該出願を分割することができる。分割に関連する他の事項に関しては，第73条(2)及び(3)の規定を適用する。 - 特許庁
  • To provide manufacturing equipment for a semiconductor device which causes no damages on the semiconductor device during the characteristics testing of the device or the subsequent conveyance thereof even when the device has a reduced size such as a milli-size leadless semiconductor element, and which facilitates reversion of the entire semiconductor device when tape packaging.
    ミリサイズのリードレス半導体素子のような小型化された半導体装置を対象とする場合であっても、その特性テスト時にやその後の搬送時において半導体装置を損傷することがなく、しかも、テープ梱包時において半導体装置全体を容易に反転させることのできる半導体装置の製造装置を提供する。 - 特許庁
  • The microbiological testing chip 10 has a substrate and a microorganism detection part 18 attached to the substrate and containing a microorganism detection flow channel 181, the microorganism detection part 18 is formed of a light-transmitting material, and at least 90° of the circumference of the microorganism detection part is exposed in the chip 10.
    基板と、該基板に装着され内部に微生物検出用流路１８１を有する微生物検出部１８とを有する微生物検査チップ１０であって、前記微生物検出部１８は、光透過性の材料によって形成され、前記微生物検出部の周囲の少なくとも９０度の範囲は露出されているチップ１０。 - 特許庁
  • To provide a high pressure gas fatigue testing method and an apparatus which have the advantages of preventing hydrogen gas from leaking from a gasket between a pressure vessel as a specimen and a pull rod, implementing fatigue test of a material in a short cycle time, evaluating the fatigue characteristics and easily controlling the temperature of the specimen, etc.
    被試験体の圧力容器とプルロッド間のパッキン部分からの水素ガスの漏洩を生じることなく、更に短いサイクルタイムで材料の疲労試験を行なって疲労特性を評価することが可能であり、また更に被試験体の温度制御が容易である、等の利点を有する高圧気体疲労試験方法及び装置の提供を目的とする。 - 特許庁
  • In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.
    試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁
  • Article 29 (1) The State and prefectures shall set up the necessary facilities for inspections where inspections under Article 25, paragraph (1) or Article 26, paragraphs (1) to (3) (hereinafter referred to as "product inspections") and affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out.
    第二十九条　国及び都道府県は、第二十五条第一項又は第二十六条第一項から第三項までの検査（以下「製品検査」という。）及び前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.
    ９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.
    製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁
  • There is disclosed method of measuring gear errors where two small gears 1, 3 are engaged with a testing gear 2, a rotational transmission error obtained by measuring the rotational angle of one small gear 3, on the basis of the rotation of the other small gear is subjected to frequency analysis, and then errors including an eccentricity error can be calculated.
    試験歯車２に二つの小歯車１、３をかみ合わせ、一方の小歯車１の回転を基準として他方の小歯車３の回転角度を測定して得られた回転伝達誤差を周波数解析することにより、試験歯車の偏心誤差を含む誤差を演算可能とすることを特徴とする歯車誤差測定方法。 - 特許庁
  • In this method, a conductive liquid material 22 is laid in between rotating electrode 21 and fixed electrode 23 fixed on rotor of the fluid bearing motor to accurately achieve surfacing revolution testing of motor, without the occurrence of reduction in motor revolution or motor rotation stoppage due to load onto the rotor from the fixed electrode 23.
    流体軸受モータの回転子に固定された回転電極２１と固定電極２３との間に導電性液状物質２２を介在させることで、固定電極２３からの回転子への負荷による、モータ回転数の減少やモータの回転停止は発生せず、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことが可能となる。 - 特許庁
  • To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.
    従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁
  • A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.
    非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁
  • To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.
    本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁
  • The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.
    同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁
  • In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).
    試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁
  • To provide a testing apparatus for a vehicle which is capable of improving reliability of test results and ensuring safety by confirming fixed state of a test vehicle set on a chassis dynamometer, detecting it when the preparation of test is incomplete or insufficient, and disturbing the continuation of the improper test due to carelessness of workers.
    シャシダイナモメータ上にセットする試験車両の固定状態を確認して、試験の準備が未完または不十分である場合にはこれを検知して、作業者の不注意による不適切な試験の続行を阻止することにより、試験結果の信頼性を向上させると共に安全性を確保できる車両の試験装置を提供する。 - 特許庁
  • An electromagnetic interference (EMI) shield of a load substrate in an electronic testing system included in an embodiment of the invention is a substantially flat structure (140) which comprises an outer edge trim (145) on a first surface, and at least one opening (141), extending through the flat structure (140) that extends penetrating the structure (140).
    本発明の実施態様に含まれる電子試験システムにおける負荷基板電磁妨害（ＥＭＩ）遮蔽は、実質的に平坦な構造（１４０）であって、第１面上の外縁リム（１４５）と、前記平坦な構造（１４０）を貫通して延長する少なくとも１つの開口（１４１）と、を具備する実質的に平坦な構造（１４０）、を有する。 - 特許庁
  • A function of the broadcaster 208 can program a value stored in the virtual scan control mechanism; the attainable mapping number has no restriction; a conventional sever input restriction condition for broadcasting is mitigated thereby; and an ability for generating a broadcast scan pattern 219 for testing more testable failures is enhanced.
    ブロードキャスタ２０８の機能は、仮想スキャン制御機構に記憶された値のプログラム可能な機能であり、実現され得るマッピング数には限界がなく、これによって従来のブロードキャストスキャンの厳しい入力制約条件が緩和され、より多くのテスト可能故障をテストするためのブロードキャストスキャンパターン２１９を生成する能力が強化される。 - 特許庁
  • The brake testing device comprises a second amplifying circuit 30 at the rear stage of strain amplifiers 13 and 14 as a first amplifying circuit for amplifying the detected operation pressure of the brake device 25, and a changeover switch 33A for switching the second amplifying circuit 30 between insertion and un-insertion to a line at the rear stage of the strain amplifiers 13 and 14.
    ブレーキ試験装置は、検出されたブレーキ装置２５の操作圧を増幅する第１の増幅回路としてのストレインアンプ１３、１４の後段に、第２の増幅回路３０を備えるとともに、この第２の増幅回路３０を前記ストレインアンプ１３、１４の後段の線路へ介挿・非介挿に切り替える切り替えスイッチ３３Ａを備える。 - 特許庁
  • To provide corrosion resistance to strong acid and strong alkali measurement liquids and wear resistance to a suspension of hard particles, such as an abrasive and to secure highly reliable measurement performance as utilizing both the function of a metal liquid tester as an inertial mass body in an oscillatory-type liquid testing device and the advantage of obtaining highly reliable oscillatory coupling.
    振動形形検液装置における金属製検液子の慣性質量体としての機能並びに溶接等により高信頼の振動結合が得られる利点を享受しながら、強酸や強アルカリの測定液に対する耐食性、並びに研磨材等の硬質粒子の懸濁液に対する耐摩耗性を付与し、高信頼の測定性能を保証する。 - 特許庁
  • To provide a superconducting electromagnet cooling device capable of controlling the circulation flow rate of a supercritical pressure helium (SHe) supplied to a superconducting electromagnet in a wide range in the same facility, capable of testing the circulation flow rate of an exhaust gas compressor in a wide range even when the exhaust gas compressor for the refrigerator is tested, and enabling the availability of data containing operating points.
    同一設備で超電導電磁石に供給する超臨界圧ヘリウム（ＳＨｅ）の循環流量を広範囲に調整でき、かつ、逆に冷凍機の排気圧縮機を試験する場合にも、排気圧縮機の循環流量を広範囲に試験でき、動作点を振ったデータを入手することができる超電導電磁石冷却装置を提供する。 - 特許庁
  • The tester 100 comprises a power consumption measurement part 132 for measuring power consumption of the device 120 in testing the electrical characteristics, a surface temperature measurement element 106 for measuring surface temperature of the device 120, and a surface temperature controller 140 for controlling the temperature of the device 120 based on the surface temperature and the power consumption.
    試験装置１００は、電気的特性試験を行う際の被試験デバイス１２０の消費電力を測定する消費電力測定部１３２と、被試験デバイス１２０の表面温度を測定する表面温度測定素子１０６と、表面温度と消費電力とに基づき、被試験デバイス１２０の温度を制御する表面温度制御装置１４０と、を含む。 - 特許庁
  • In the ink jet recording adhesive sheet obtained by laminating an ink jet recording surface base material, an adhesive layer and a mold release sheet, a ratio of an MD direction tensile strength to a CD direction tensile strength measured according to a paper and cardboard tensile characteristic testing method in accordance with JIS P 8113 is 1.00 to 1.60.
    インクジェット記録用表面基材、粘着剤層、および剥離紙を積層してなるインクジェット記録用粘着シートにおいて、ＪＩＳ−Ｐ−８１１３規定の紙および板紙−引張特性の試験方法で測定した、該剥離紙のＣＤ方向引張強さに対するＭＤ方向引張強さの比率が１．００〜１．６０であるインクジェット記録用粘着シート。 - 特許庁
  • A semiconductor integrated circuit has a memory 41, a BIST main circuit 10 testing the memory 41, and a BIST sub-circuit 20, in the BIST sub-circuit 20, at least either of the row or column address of the memory 41 has a boundary address generating circuit 21 generating alternately the most significant address and the least significant address.
    半導体集積回路は、メモリ４１と、メモリ４１のテストをするＢＩＳＴメイン回路１０、ＢＩＳＴサブ回路２０とを有し、ＢＩＳＴサブ回路２０は、メモリ４１のロウアドレス又はカラムアドレスの少なくとも一方は、当該メモリ４１の最上位アドレスと最下位アドレスを交互に生成する境界アドレス生成回路２１を有する。 - 特許庁
  • To provide a small-sized measuring apparatus capable of providing accurately a timely measured result by reaction control, detection and computation, to a testing tool having a hemocyte separation part, and capable of measuring a specified component in blood quickly, easily, inexpensively and precisely in a medical field, using the blood as a specimen, and a measuring method using the apparatus.
    血液を検体とし、血球分離可能部を有し、血液中の特定成分について、診療の現場で迅速、簡便、安価に精度良く測定ができる試験用具に対して、反応制御、検出、演算によって正確に適時測定結果を提供可能な小型の測定装置及びそれを用いる測定方法を提供する。 - 特許庁
  • In the game machine, the winning probability of a variable display device for ordinary symbols is improved following the variable probability state while the time of opening an ordinary electric role device is extended along with the shortening of the variation time and the frequency of opening is increased and a connector for testing capable of outputting signals outside the game machine is mounted on the game control board.
    確変状態に付随して普通図柄用可変表示器の当り確率が向上されかつその変動時間が短縮されるとともに普通電役の開放時間が延長されかつその開放回数が増加する遊技機において、信号を遊技機外部へ出力可能な試験用コネクタを遊技制御基板に取付ける。 - 特許庁
  • A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.
    ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁
  • An apparatus for testing a liquid sample is combined with a quantitative detection system, disposed properly in a conduit so as to determine the quantity of electromagnetic rays internally radiated from a hollow translucent conduit means suitable for a liquid flow in the apparatus and having a substantially uniform cross section dimension and a part of the conduit means.
    液体サンプルを検定するための装置であって、 その中の液体流のために適合された実質的に均一の断面寸法の中空の光透過性導管手段；および 導管手段の一部の内側から放射する電磁線を定量するように、導管に対して適切に配置された定量性検出システムとを、組み合わせて含む上記装置。 - 特許庁
  • To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.
    半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁
  • The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.
    半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁
  • The vehicle wheel suspension testing arrangement 1 which rotates wheels, includes: a crawler 10 which has strip-like crawler beams 40 arranged side by side in a circulating direction to form a caterpillar; a crawler support table 11 for circularly supporting the crawler 10; and a crawler driving mechanism 20 for circulating the crawler 10 which touches and rolls the wheels.
    車輪を回転させる車両ホイールサスペンション試験装置１であって、帯板状のクローラビーム４０が循環方向に並んで無限軌道を形成するクローラ１０と、クローラ１０を循環可能に支持するクローラ支持台１１と、車輪を転接させるクローラ１０を循環させるクローラ駆動機構２０とを備える構成とした。 - 特許庁
  • A spoon body 11, which is formed out of plural materials to produce a base, subjected to machining to have a fine unevenness on a recessed inside surface 11a, and finished to be slippery on a protruded outside surface 11b, is provided with plural sets of tongue sense testing plates y1-y4 being the same in shape on which a gripping portion 12 is integrally provided.
    床を製作するための複数の材料で製作され、凹状の内側表面１１ａを細かい凹凸を有するように加工を施すとともに、凸状の外側表面１１ｂをツルツルに仕上げ加工したスプーン本体１１に、把持部１２を一体に設けた複数組の同一形状の舌感テストプレートｙ１〜ｙ４を備えている。 - 特許庁
  • In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.
    所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁
  • The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.
    この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁
  • The method, system, and computer program product pertain directly to the enhancement of existing home blood glucose monitoring devices, by introducing an intellectual data interpretation component predicting and alerting the user to periods of increased risk for hyperglycemia, hypoglycemia, increased glucose variability, and ineffective testing, and to the enhancement of emerging self-monitoring blood glucose devices by the same features.
    本方法、システム、コンピュータプログラム製品は直接的には、使用者に、高血糖、低血糖、グルコース変動の増大、無効な検査の期間を予測して警告することができるデータ知的解釈部を導入することによる既存の家庭用血中グルコース監視装置を改善、及び同機能を導入することによる血中グルコース自己監視装置の改善に関する。 - 特許庁
＜前へ 1 2 .... 278 279 280 281 282 283 284 285 286 .... 288 289 次へ＞

例文データの著作権について