「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • The compressor testing device contains a test chamber 10; a gas supply means 20 for supplying nitrogen gas having specified temperature and specified pressure to the test chamber 10; a driving means 30 for driving a specimen T put in the test chamber 10 through a reduction means 40; and a load adjusting means 50 for adjusting a load of the driving means 30.
    テストチャンバー１０と、前記テストチャンバー１０に所定温度および所定圧力の窒素ガスを供給するガス供給手段２０と、前記テストチャンバー１０内に配設された供試体Ｔを、減速手段４０を介して駆動する駆動手段３０と、前記駆動手段３０の負荷を調整する負荷調整手段５０とを備えてなるものである。 - 特許庁
  • This remote operation system is provided with the radio station controllers 102 and 104 for controlling the radio channel of a first radio channel communication system, a mobile station 108 for a test for testing the radio channel controlled by the radio station controllers, and a remote operation device 110 for operating the radio station controllers, on the basis of test results outputted by the mobile station for a test.
    第１の無線回線通信システムの無線回線を制御する無線局制御装置１０２，１０４と、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する試験用移動局１０８と、試験用移動局が出力する試験結果に基づいて無線局制御装置を操作する遠隔操作装置１１０とを備える。 - 特許庁
  • In the device, an image processing circuit 4 performs image processing for the detection of certain testing items other than display unevenness based on image data, a judgment circuit 5 determines defects from processing result of the image processing circuit 4, and an image processing circuit 6 performs image processing based on the image data so that display unevenness may become marked to be output to a display unit 6a.
    画像処理回路４は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路５は画像処理回路４の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路６は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置６ａに出力する。 - 特許庁
  • To solve the problem of a conventional system testing apparatus wherein, when a faulty module has been adjusted, replaced or repaired to remove a fault, the fact that the fault has been removed is not taken into account at all, resulting in low accuracy with which priority is determined next time and a difference with the priority with which faults must be actually dealt with.
    従来のシステム試験装置においては、故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施し故障が解消した場合、その故障が解消したことに対して何ら考慮されないため、次に優先順位を決定する場合の精度が低くなり、実際に対処しなければならない優先順位とでは相違が発生する。 - 特許庁
  • In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.
    不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁
  • The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.
    複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁
  • The apparatus for testing a liquid crystal panel includes: a test board to transmit light to a liquid crystal panel which is placed thereon; a polarizer plate fixing unit rotatably formed on the test board and having a groove where a polarizer is inserted; and a stopper formed at the test board to fix the polarizer fixing unit at a desired position.
    本発明に係る液晶パネル検査装置は、液晶パネルが置かれて前記液晶パネルに光を出力する検査台と、該検査台に回転可能に形成されて偏光板が挿入される溝を有する偏光板固定部と、前記検査台に形成されて前記偏光板固定部を所望の位置に位置させるストッパーとで構成される。 - 特許庁
  • In the electron beam type testing device, the deflection control means 2 to control the electrostatic deflector has a deflection waveform forming means 21 to form a deflection control signal, and a deflection signal output means 20 of applying different voltages to respective stages of the electrostatic deflector by amplifying formed control signals and by branching these amplified control signals.
    電子ビーム式検査装置において、静電偏向器を制御する偏向制御手段２は、偏向制御信号を生成する偏向波形生成手段２１と、生成された制御信号を増幅し、この増幅された制御信号を分岐して静電偏向器の各段に違う電圧を印加する偏向信号出力手段２０とを有する。 - 特許庁
  • The solid pharmaceutical formulation containing ranitidine is characterized in that it has acid-controlling power larger than 200 mL which is determined by the acid-controlling power testing method according to the fifteenth Revision of Japanese Pharmacopoeia and that it contains the ranitidine-supporting particle which supports the ranitidine on an inorganic compound containing magnesium and/or calcium having a magnesium and/or calcium content of 20 mass% or higher.
    第十五改正日本薬局方の制酸力試験法によって求められる制酸力が２００ｍＬを超え、かつマグネシウム及び／又はカルシウム含有量が２０質量％以上であるマグネシウム及び／又はカルシウム含有無機化合物に、ラニチジンを担持させたラニチジン担持粒子を含有することを特徴とするラニチジン含有医薬固形製剤。 - 特許庁
  • The testing system 1 is provided with: an acceleration adding part 12 for adding regularly changing acceleration to a device to be tested 2; a voltage measuring part 13 for measuring a voltage value outputted from the device to be tested 2; and an arithmetic processing part 14 for performing arithmetic processing for computing a characteristic value corresponding to the measured voltage.
    本発明の試験装置１は、被試験デバイス２に対して規則的に変化する加速度を付与する加速度付与部１２と、被試験デバイス２から出力される電圧値を測定する電圧測定部１３と、測定した電圧値に対応する特性値を算出するための演算処理を行う演算処理部１４とを備えている。 - 特許庁
  • To provide a method and device for testing a grounding device for certainly determining abnormal conditions when an apparatus grounding device and a remote control grounding device in a substation are interconnected by erroneous wiring in a switchboard or when a grounding electrode of the grounding device is electrically connected to another grounding electrode in a erroneous wiring state.
    変電所における機器接地装置と遠制接地装置が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる接地装置の試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The device for automatically testing stored urine 1 is so structured that the patient himself operates to use collected urine for measurement on the basis of an instruction from a device body, and sequentially guides a part in the device body 2 which is necessary to be operated by the patient by a means for appealing to eye such as illumination, lighting, or blinking.
    患者自身がその採取した尿を、装置本体からの指示に基づいて測定に供するための操作を行うように構成された自動蓄尿検査装置１において、前記装置本体２における患者の操作が必要な部位を、照明、点灯または点滅など患者の視覚に訴える手段によって順次案内するようにした。 - 特許庁
  • Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.
    試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁
  • The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.
    本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide wiring for connecting a semiconductor integrated circuit and an external circuit through a socket, and to provide an inspection device of the semiconductor integrated circuit for inspecting the connected state between the external connection terminals of the semiconductor integrated circuit connected to the external circuit in the inspection device of the semiconductor integrated device for executing the testing of an entire system including the external circuit.
    外部回路を含めたシステム全体のテストを実施する半導体集積回路の検査装置であって、ソケットを通して半導体集積回路と外部回路とを接続する配線と外部回路に接続される半導体集積回路の外部接続端子間の接続状態を検査できる半導体集積回路の検査装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a device for testing local load smaller than a conventional apparatus, easily carried, conveniently measuring a strength in a desired depth from an artificial structure or all ground levels, reducing a damage applied to the artificial structure or the ground to the minimum, and overcoming a troublesome operation, and also to provide a test method.
    従来よりも小型で持ち運びに便利で、人工構造物または地盤のあらゆる面から所望の深さ位置での強度を簡便に計測することができ、さらに人工構造物または地盤に与える損傷を最小限にとどめ、また操作の煩雑さを解消することができる局部載荷試験装置および試験方法を提供することである。 - 特許庁
  • The semiconductor device test system includes a test handler testing the semiconductor device being assembled, a reader reading an identification code attached to the respective semiconductor device passed to the test handler as electronic data, and a computer storing test data collected by the test handler as electronic information corresponding to the identification code.
    組立完了の半導体装置をテストするテストハンドラ装置と、そのテストハンドラ装置に投入された上記半導体装置の個々に付された識別記号を電子データとして読み取る手段と、上記テストハンドラ装置の採取したテストデータを、上記識別記号と関連付けた電子情報として蓄えるコンピュータとを備える、半導体装置テストシステムを構築する。 - 特許庁
  • The apparatus for testing the optical head device 106 controls one or more functions out of focusing servo control, tracking servo control and spindle servo control, using control circuits (a PCB mounted thereon a controller, a servo circuit, a digital circuit, etc.), of the optical disk drive apparatus 100 into which the device 106 to be tested is to be incorporated.
    光学ヘッド装置１０６を検査するための検査装置において、検査装置のフォーカスサーボ、トラッキングサーボ、スピンドルサーボのうちいずれか１つ以上の制御機能を、検査対象の光学ヘッド装置１０６が組み込まれる光ディスク駆動装置１００の制御回路（コントローラ、サーボ回路、デジタル回路などを実装したＰＣＢ）を使用して実現するように構成した。 - 特許庁
  • To provide a substrate transfer device and its method with which the falling of a substrate can be prevented for the substrate transfer device and its method to vacuum chuck substrates such as a glass plate, a semiconductor wafer, etc., and cause them to move, in steps for manufacturing, testing, or measuring a semiconductor device or a liquid-crystal indication device, etc.
    本発明は、半導体装置や液晶表示装置等を製造し、検査し、或いは測定等する工程において、ガラスプレートや半導体ウェハ等の基板を真空吸着して移動させる基板搬送装置および方法に関し、基板の落下を防止することのできる基板搬送装置および方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device 100 stores data acquired by executing processing to DUT in preservation registers 135, 145, keeps an open collector output through a monitoring line 121 at a low level in a control module 140 for a fixed period, and removes restriction in the control module 140 when the open collector output is set at the low level in a master control module 130.
    半導体試験装置１００は、ＤＵＴに対して処理を実行させて得られたデータを保存レジスタ１３５、１４５に記憶し、制御モジュール１４０内で監視ライン１２１を介したオープンコレクタ出力を一定期間ローレベルとし、マスタ制御モジュール１３０内でオープンコレクタ出力をローレベルとした時点で制御モジュール１４０内での制限を解除する。 - 特許庁
  • Typical configuration of the method for manufacturing the vertical magnetic recording disk includes a writing process which applies an alternating current with a frequency less than a predetermined value or a direct current while rotating the magnetic disk, and a signal quality testing process after writing.
    上記課題を解決するために、本発明に係る垂直磁気記録方式の磁気ディスクの製造方法の代表的な構成は、磁気ディスクを回転させつつ、所定の周波数以下の交流信号または直流信号を印加して書き込みを行う工程と、書き込みを行った後に信号品質テストを行う工程と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁
  • To provide a premixed gas supply testing device capable of reducing waiting time and improving test efficiency by reducing abrupt expansion of volume of premixed gas in a combustion vessel when supplying gas for stabilizing temperature and pressure of the premixed gas, and capable of stabilizing fuel concentration in the premixed gas immediately after starting to supply gas and temperature of the premixed gas.
    給気時における燃焼容器内での予混合気の急激な体積膨張を軽減して、該予混合気の温度と圧力を安定化し得、又、給気開始直後の予混合気中の燃料濃度並びに予混合気の温度を安定化し得、待ち時間の短縮と試験効率向上を図り得る予混合気供給試験装置を提供する。 - 特許庁
  • In addition, the semiconductor integrated circuit used for the scan testing method has a separation means to isolate each of the plurality of blocks to be tested from other blocks during the scan test, and an input terminal to input the scan clock with deviated phase for each block to be tested.
    更に、このスキャンテスト方法に用いられる半導体集積回路であって、スキャンテスト時に複数の複数のテスト対象ブロックが各々排他的に他のブロックとアイソレーションする分離手段と、上記テスト対象ブロック毎に位相をずらしたスキャンクロックを入力する入力端子とを有することを特徴とする半導体集積回路を提示する。 - 特許庁
  • In this semiconductor testing apparatus constituted so as to perform operation processing of measurement data of a DUT by the DSP, a measuring file storage means for collecting and storing the measurement data of the DUT is provided in the DSP, and debugging of the DSP is carried out, based on the measurement data stored in the measuring file storage means.
    ＤＳＰでＤＵＴの測定データの演算処理を行うように構成された半導体試験装置において、前記ＤＳＰに前記ＤＵＴの測定データを収集格納する測定ファイル格納手段を設け、この測定ファイル格納手段に格納された測定データに基づき前記ＤＳＰのデバッグを行うことを特徴とするもの。 - 特許庁
  • The method and apparatus are for testing wirings in a circuit base mounted with an integrated circuit, and has a circuit having the function of executing embedded-type time domain reflectivity test is incorporated therein, by sending out a test transition signal generated by the integrated circuit (IC) mounted thereon to the wiring 102 and capturing the reflection 502 of the test transition signal.
    集積回路を搭載した回路基盤の配線を試験する方法及び装置であって、搭載された集積回路より発生される試験遷移信号を配線１０２に送出し、その試験遷移信号の反射５０２をキャプチャすることにより、時間領域反射率試験を実施する機能を有する回路が組み込まれたＩＣを含む方法及び装置。 - 特許庁
  • To provide a load cell correction jig capable of correcting bentness of a load cell so as to be not influenced by bentness of the load cell, without generation of noise due to reflection wave, when, for example, high-speed tension test is performed of low strength of resin and thereby to provide a high-speed tension testing machine capable of implementing easy and correct measurement.
    例えば樹脂などの低強度の高速引張り試験を行う際に、反射波によるノイズを発生させることなく、ロードセルの曲がりによる影響を受けないようにロードセルの曲がりを矯正することが可能なロードセル矯正治具およびこれを用いて、簡易に正確な測定が可能な高速引張り試験機等を提供する。 - 特許庁
  • In the testing method where a result value is acquired while changing each level of a plurality of factors, a proper orthogonal table 1 and a reverse orthogonal table 2 which is an orthogonal table of the same type as the proper orthogonal table 1 and in which in each column a level obtained by inverting the level written to a column corresponding to the proper orthogonal table 1 are first created.
    複数の因子の水準をそれぞれ変化させながら結果値を取得する試験方法において、先ず、正直交表１と、正直交表１と同型の直交表であって、各欄に正直交表１の対応する欄に記載された水準を逆転させた水準が記載された逆直交表２を作成する。 - 特許庁
  • To provide a method for accurately testing the ejection state of a recording processing liquid in an ink-jet recording apparatus for continuously ejecting an ink and colorless transparent recording processing liquid, and mixing them on a recording medium for fixing the ink on the recording medium, capable of improving the water resistance of the ink and capable of preventing blurring, and an ejection test film used in the method.
    インクと無色透明な記録処理液とを連続して吐出し、記録媒体上でこれらを混合してインクを記録媒体に定着させ、該インクの耐水性を向上し、にじみを防止するインクジェット記録装置の、該記録処理液の吐出状況を正確に検査する方法と該方法に用いる吐出検査フィルムを提供する。 - 特許庁
  • The defrost detection device includes a detecting section in which an electrode is formed on a substrate with a predetermined pattern, a dielectric constant instrument connected with the electrode of the detecting section to obtain the dielectric constant of the detecting section by means of the TDR (Time Domain Reflectometry) method, and a testing apparatus identifying defrost conditions based on the dielectric constant obtained from the dielectric constant instrument.
    基板上に電極が所定のパターンで形成された検知部と、前記検知部の前記電極に接続されてＴＤＲ（Ｔｉｍｅ Ｄｏｍａｉｎ Ｒｅｆｌｅｃｔｏｍｅｔｒｙ）法によって前記検知部の比誘電率を求める比誘電率測定器と、前記比誘電率測定器で求められた前記比誘電率に基づいて降霜状態を判定する判定装置とを備える。 - 特許庁
  • A rotational speed of a gas blower 9 provided in a gas supply pipe 10B between a radiator 1 and a transformer body 2 is controlled, so that testing, a flow rate of a gas circulated through the radiator 1 and transformer body 2 matches with the flow rate of the gas flowing therethrough in an actual operation mode, under the state in which a temperature increasing test is carried out.
    放熱器１と変圧器本体２との間の送ガス管１０Ｂに介装されたガスブロア９の回転速度を制御することにより、試験時に放熱器１と変圧器本体２とを循環するガスの流速を実際の運転時に流れるガスの流速と一致するように調整した状態で温度上昇試験を行う。 - 特許庁
  • The testing apparatus associates a test item with a code number and stores them in a storing part, acquires a time when data is received from the OLT or the like, transmits the data to a delay buffer A in the case of performing no test, and generates test data obtained by adding a code number to the data in the case of carrying out a test.
    この試験装置は、試験項目とコード番号とを対応付けて記憶部に記憶し、ＯＬＴなどからデータを受信した時刻を取得するとともに、試験を実施しない場合に、当該データをＤｅｌａｙ ｂｕｆｆｅｒＡに送信し、試験を実施する場合に、当該データにコード番号を付加した試験データを生成する。 - 特許庁
  • The operation management server is provided with: a first processing means for performing processing to prepare the site of the portable terminal; a second processing means for executing a test by connecting to a predetermined authority concerned for testing the prepared site; and a third processing means for notifying the application server so as to publicly opening the site matched with a test by the second processing means on the network.
    運用管理サーバは、携帯端末のサイトを作成する処理を行なう第１処理手段と、作成されたサイトをテストするための所定の関係先に接続してテストを実施する第２処理手段と、第２処理手段によるテストに適合したサイトをネットワーク上へ公開するために、アプリケーションサーバに通知する第３処理手段と、を有する。 - 特許庁
  • The supporting means 7 has a pair of rocking bodies 10 which are rockably attached to a testing table 3 in the axial direction of the load shaft 5 at a same height in parallel and supports the load shaft 5 movable in the axial direction by connecting upper ends of the pair of rocking bodies 10 at two positions apart in the axial direction of the load shaft 5.
    支持手段７は、試験台３に荷重軸５の軸方向に揺動可能に取り付けられた同じ高さで平行の一対の揺動体１０を有すると共に、一対の揺動体１０の上端を荷重軸５の軸方向に離れた２箇所に連結することで荷重軸５を軸方向に移動可能に支持するものである。 - 特許庁
  • (2) The provisions of Article 69-27, paragraph (2), Article 69-29, and Article 69-30 shall apply mutatis mutandis to a Designated Training Agency. In this case, the terms "Designated Testing Agency" and "Examination Affairs" in these provisions shall be deemed to be replaced with "Designated Training Agency" and "Training Affairs," respectively.
    ２　第六十九条の二十七第二項、第六十九条の二十九及び第六十九条の三十の規定は、指定研修実施機関について準用する。この場合において、これらの規定中「指定試験実施機関」とあるのは「指定研修実施機関」と、「試験事務」とあるのは「研修事務」と読み替えるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • Article 22 (1) The competent minister may, within the limits necessary to enforce the provisions of this Section, require a Registered Inspection Body to submit reports on its work for Testing of Organisms, or may authorize staff members to enter the office of a Registered Inspection Body, inspect the books, documents or other necessary properties of the Registered Inspection Body, or question relevant persons.
    第二十二条　主務大臣は、この節の規定の施行に必要な限度において、登録検査機関に対し、その生物検査の業務に関し報告を求め、又はその職員に、登録検査機関の事務所に立ち入り、登録検査機関の帳簿、書類その他必要な物件を検査させ、若しくは関係者に質問させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • In terms of practical training, the companies responded that it would be possible to dispatch lecturers for training on facility design, pump performance testing, as well as water purification technologies (water quality management and operation management), stainless steel processing, and technologies to prevent leakage and water supply stoppage during construction.However, no companies responded that they would be able to provide a lecturer for training on leakage surveys, pipe-laying techniques or water quality inspection.
    実習研修については、施設設計演習、ポンプ性能試験、その他として浄水施設（水質管理・運転管理）、ステンレス鋼の加工について、漏水防止・不断水工事技術について派遣が可能であったが、漏水調査実習、配管技能実習、水質検査実習については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省
  • a) All individuals must first understand that it is possible for hepatitis to progress to serious diseases such as cirrhosis and liver cancer, which severely affects their health keeping, if left untreated, and must understand the importance of undergoing hepatitis testing at least once and to be informed regarding their own hepatitis infection status, given the importance of treatment of the disease in the early stages.
    ア 国民一人一人が、肝炎は放置すると肝硬変や肝がんという重篤な病態へと進展する可能性があり、各人の健康保持に重大な影響をもたらし得る疾病であることを理解した上で、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検し、自身の肝炎ウイルス感染の有無について、早期に認識を持つよう努めること。 - 厚生労働省
  • At least either sidewall of a tire manufactured in the mold 2 has a surface having a surface glossiness of more than 10 as measured under a 60° gloss reading per the specular gloss designation D523-89 of American Society for Testing and Materials.
    この金型２を用いて製造されたタイヤの少なくとも１つのサイドウォールは、米国材料試験協会（Ａｍｅｒｉｃａｎ Ｓｏｃｉｅｔｙ ｆｏｒ Ｔｅｓｔｉｎｇ ａｎｄ Ｍａｔｅｒｉａｌｓ）の鏡面光沢度規定Ｄ５２３−８９による６０°光沢度を使用して計測したときの表面光沢度が１０よりも大きい表面を備えている。 - 特許庁
  • This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.
    被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁
  • To provide a circuit board and a manufacturing method of the same circuit board for realizing size reduction and high density of circuit board, accurately testing natural circuit wires for propagating high-frequency signals in the course of the board manufacturing process, assuring higher application efficiency of electronic components to be embedded in the circuit board, removing restrictions on the manufacturing process, and improving the board manufacturing yield.
    回路基板の小型化や高密度化を実現し、基板製造工程途中で高周波信号の伝搬する本来の回路配線を正確に検査でき、回路基板に埋設する電子部品の利用効率が高くでき、製造工程の制限を除くことができ、基板製造歩留を向上できる回路基板およびその製造方法の提供。 - 特許庁
  • The method of testing further includes: a step of attaching a substrate coated with deposit material to the shaft; a step of immersing the coated substrate in a solution contained in the vessel; a step of using the drive system to rotate the shaft and coated substrate at a predetermined velocity; and a step of determining an amount of deposit material removed from the substrate.
    この試験方法は、さらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁
  • Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.
    さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁
  • In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.
    半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁
  • This material testing machine includes a shaft 12 of nonmagnetic material, a plurality of magnets 15 of a substantially cylindrical shape that are inserted and stacked in a part in the longitudinal direction of the shaft 12, a fixture 16 for fixing the magnets 15 to the shaft 12, a coil 19 arranged around the magnets 15, and bearings 13 and 14 for linearly movably supporting the shaft 12 to the coil 19.
    非磁性体のシャフト１２と、シャフト１２の長手方向一部に挿入して積層される略円筒形状の複数の磁石１５と、磁石１５をシャフト１２に固定する固定具１６と、磁石１５の周囲に配設されたコイル１９と、コイル１９に対しシャフト１２を直線方向に移動可能に支持する軸受け１３，１４とを備える。 - 特許庁
  • The remote maintenance system of dental chair unit is constituted such that the dental chair unit of a user, the testing device and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center are connected to each other by computer network, and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center and a maintenance technical expert conduct or support maintaining work of the chair unit to be maintained of the user site through the network.
    ユーザーの歯科用チェアユニット及びテスト装置と、遠隔保守センタの保守テスト処理装置との間をコンピュータネットワークで結び、ユーザサイトの保守対象チェアユニットの保守作業を、遠隔保守センタの保守テスト処理装置及び保守専門技術者が、ネットワークを介して実施あるいは支援する歯科用チェアユニットの遠隔保守システム。 - 特許庁
  • The molding method for the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is characterized in using the injection molding machine made of a material showing a contact angle of 77 to 87 degrees with water, and peeling strength of not more than 127 N when 10 to 30 mg of the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is melted for 30 minutes at 350°C and peeled by a compression testing machine.
    水との接触角が７７〜８７度の範囲にあり、且つ、脂環式構造含有熱可塑性樹脂１０〜３０ｍｇを３５０℃、３０分間溶融し、圧縮試験機によって剥離した時の剥離強度が１２７Ｎ以下の材質を有する射出成形機を用いた該脂環式構造含有熱可塑性樹脂の成形方法。 - 特許庁
  • The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.
    本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁
  • In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.
    切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁
  • To enable a prescribed movement of the seal breaker of a lid part even if any region of the seal breaker is pushed down, in a testing appliance constituted so that the seal member of the liquid container housed in a case main body is ruptured by the breaking projection provided to the seal breaker by pushing the seal breaker and a developing solution in the liquid container is developed up to a detection part.
    ケース本体に収容された液体容器のシール部材が、蓋部のシールブレイカーを押すことによりこれに設けられた破断突起で押し破られ、液体容器内の展開液が検出部まで展開されるようにした試験用具において、シールブレイカーのいずれの部位を押し下げた場合でも、シールブレイカーが規定された動きを行うこと可能にする。 - 特許庁
  • As a result of clinical testing, a temperature rise of ≥1°C is not admitted in the segments of organisms irradiated with ultrasonic waves when output of ultrasonic vibrations is smaller than 10 mW/cm^2 and the dental plaque is sufficiently not removed and conversely, the temperature rise of ≥1°C is confirmed in the segments irradiated with the ultrasonic waves when the output is greater than 100 mW/cm^2.
    臨床実験の結果、超音波振動の出力が10mW/cm^2より小さい場合には、生体に対して超音波が照射された部分に１℃以上の温度上昇が見られなかったものの、歯垢が充分に除去されず、これと逆に100mW/cm^2より大きい場合には、超音波の照射部分に１℃以上の温度上昇が確認された。 - 特許庁
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