「Testing」を含む例文一覧(14405)

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  • A testing device 100 includes a rotating shaft 23 for fixing a sealing liner 7, such that the center of the sealing liner 7 corresponds to the rotation center C; a movable member 28 having a movable opening 64 through which the rotating shaft 23 passes, and a sealing ring 8 fixed to the inner circumference of the movable opening 64; and a static member 27 rotatably holding the movable member 28.
    本発明に係る試験装置１００は、シールライナ７の中心が回転中心Ｃに一致するようシールライナ７を固定する回転軸２３と、回転軸２３が貫通する可動開口部６４が形成され、可動開口部６４の内周にシールリング８が固定される可動部材２８と、可動部材２８を回転可能に保持する静止部材２７と、を備えている。 - 特許庁
  • A method for producing a probe test head for testing a semiconductor integrated circuit includes a step in which a plurality of probes 81 are defined for one or a plurality of masks, a step in which a plurality of probes are produced by using the masks, and a step in which a plurality of probes 81 are arranged by inserting them into the corresponding holes of a first die 42 and a second die 44.
    半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、１つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ８１の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第１のダイ４２と第２のダイ４４内の対応するホールを通して複数のプローブ８１を配置するステップとを含んでいる。 - 特許庁
  • The washing-unrequired rice producing device for testing includes: processing containers 6, 7 which are removably mounted in a body and accommodate grains to be treated, water and adsorbents; a stirring part 14 which stirs the contents accommodated in the processing containers; a stirring-controlling part 10 which controls the operation of the stirring part 14; and an adsorbent-recovering container 5 which recovers the adsorbents accommodated in the processing containers 6,7.
    本体内に取り外し可能に装着され、被処理穀粒、水及び吸着材を収容する加工容器６，７と、加工容器内に収容された内容物を撹拌する撹拌部１４と、撹拌部１４の動作を制御する撹拌制御部１０と、加工容器６，７に収容された吸着材を回収する吸着材回収容器５と、を備えたテスト用無洗米製造装置。 - 特許庁
  • In the method, the presence of mixing with expansive material or shrinkage-reducing admixture can be determined, by checking that a circumferential strain amount obtained from a strain gauge attached to the central position height-wise on the lateral surface of a disposable form, such as a thin/thick steel plate mold, namely, a thin cylindrical form used for concrete strength testing, indicates a transition in values for a certain trend.
    コンクリート強度試験用に用いられる薄肉円柱型枠である薄厚鋼板製モールド等の使い捨て型枠の外側面の高さ方向の中央位置に貼付したひずみゲージによって得られた円周方向ひずみ量が所定傾向の値の推移を示すことを確認することで、膨張材または収縮低減剤の混入の有無を判定することができる。 - 特許庁
  • To provide an electrified filter medium, which is obtained by combining a polyester fiber with a polyolefin fiber and exhibits high particle collecting efficiency at a low pressure loss, the combustive classification of which is self-extinguishing according to JIS D 1201(1977): a combustibility testing method of organic materials in a cabin of an automobile and which does not generate dioxins when incinerated.
    ポリエステル系繊維とポリオレフィン系繊維との組合せで、低圧力損失で高い粒子捕集効率を発現できる帯電濾材を提供するものであり、さらには、「ＪＩＳ Ｄ １２０１（１９７７）自動車車室内用有機資材の燃焼性試験方法」による燃焼性区分が自消性であり、かつ焼却処分時にダイオキシン類を発生しない帯電濾材をも提供する。 - 特許庁
  • This deterioration testing device is equipped with a laser light output part 11 for outputting laser light, a specimen support part 19 for supporting a liquid crystal panel (specimen) 15 irradiated with the laser light, and a temperature control means 16 for adjusting the temperature of the liquid crystal panel 15 in the abutting state on the liquid crystal panel 15 supported by the specimen support part 19.
    本発明に係る劣化試験装置は、レーザ光を出力するレーザ光出力部１１と、前記レーザ光を照射される液晶パネル（被検物）１５を支持する被検物支持部１９と、前記被検物支持部１９に支持された前記液晶パネル１５と当接して当該液晶パネル１５の温度を調整する温度制御手段１６とを備えている。 - 特許庁
  • (2) Claims to a remuneration for the use of an invention as well as claims for the reimbursement of reasonable costs related to the preparation of drawings, models or prototypes, remuneration for initiative participation in the preparation, testing or introduction of the invention and claims for remuneration for pointing out the possibility of using an invention which originated before this Act has come into force, shall be settled pursuant to the prior regulations.
    (2) 発明実施の対価についての請求，発明に関する図面，ひな形又は原型の作成に係る合理的な費用の補償請求，発明の創作，テスト又は導入への主導的参加に対する報酬，及び発明実施の可能性の指摘に対する報酬の請求で本法の施行前に生じているものは，従前の規則に従って決定される。 - 特許庁
  • With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1), the court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight of the goods, shall, by order in writing, determine the number of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected.
    (1)により現に効力を有する規則にもその規定が定められていない見本の選択及び検査のための商品に関して，裁判所又は場合に応じて税関吏は，その商品の数，量，寸法，容量，又は重量を確認する場合は，書面による命令により，選択し，かつ，検査すべき見本の数及び見本を選択する方法について，決定する。 - 特許庁
  • (5) Vocational ability tests shall be carried out in such a manner as to develop objective and fair standards for evaluating vocational abilities and enhance testing methods and other evaluation methods, and to conduct an appropriate evaluation of the trade skills workers need for their jobs that they have acquired through vocational training, educational training on the job and work experience and of their knowledge thereon.
    ５　職業能力検定は、職業能力の評価に係る客観的かつ公正な基準の整備及び試験その他の評価方法の充実が図られ、並びに職業訓練、職業に関する教育訓練及び実務の経験を通じて習得された職業に必要な技能及びこれに関する知識についての評価が適正になされるように行われなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.
    本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁
  • This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.
    ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁
  • This method for identifying potential herbicides comprises testing a compound in an AMP (adenosine monophosphate) deaminase inhibition assay and, if a measurable reduction of AMP deaminase is observed, subsequently subjecting the compound to conventional test(s) to confirm the in vivo herbicidal activity, wherein the measurable reduction is at least 25% reduction of AMP deaminase when tested against an enzyme preparation at 100 μM or less.
    AMPデアミナーゼ阻害試験で化合物を試験し、AMPデアミナーゼの測定可能な減少が観察される場合、次にそれを慣用の試験（複数可）に付して生体内の除草活性を確認することからなり、この測定可能な減少は100μM以下で酵素試料に対して試験した時のAMPデアミナーゼの少なくとも25％の減少である、潜在的な除草剤を識別する方法である。 - 特許庁
  • The testing device 100 stops the application of an input signal pattern 12 to the semiconductor devices having active state signals indicating their states among a plurality of semiconductor devices 200, releases the stop to resume the application of the input signal pattern, and stops the application of the input signal pattern 12 to the semiconductor devices other than the semiconductor devices to which the application of the input signal pattern is resumed.
    複数の半導体デバイス２００のそれぞれの状態を示す状態信号がアクティブとなった半導体デバイスへの入力信号パターン１２の印加を停止し、停止を解除させて入力信号パターン１２の印加を再開し、入力信号パターン１２の印加を再開させる半導体デバイス以外の半導体デバイスへの入力信号パターン１２の印加を停止させる。 - 特許庁
  • The semiconductor testing device comprises N-phase assembling means for multiplexing and assembling input phase splitting signals input by N-phase interleaving, as predetermined, and outputting them as one-phase time sharing multiplex signals and a N-phase disassembling means for outputting disassembled phase splitting signals disassembled and restored into parallel N-phases after receiving the time sharing multiplex signals from the N-phase assembling means.
    Ｎ相インターリーブで入力される各入力分相信号を所定に多重化合成して、１相の時分割多重信号として出力するＮ相合成手段を具備し、Ｎ相合成手段からの時分割多重信号を受けて、Ｎ相のパラレルに分解復元した分解分相信号を出力するＮ相分解手段を具備する半導体試験装置。 - 特許庁
  • A method of testing an integrated circuit device includes a step of applying a magnetic field to the integrated circuit device during application of one or more of test signals wherein the applied magnetic field induces magnetostriction effect in one or more materials including the integrated circuit device and a step of determining the existence of inconvenience caused by the applied magnetic field in the integrated circuit device.
    集積回路デバイスを試験するための方法は、１つ以上の試験信号の印加中に前記集積回路デバイスに印加磁界を与えるステップであって、印加磁界が集積回路デバイスを含む１つ以上の材料において磁気ひずみ効果を誘発する、ステップと、集積回路デバイス内において印加磁界に起因する不具合の存在を判定するステップと、を含む。 - 特許庁
  • This device is a semiconductor memory which has a test mode decoder 12 decoding plural input signals setting an operation mode for a test dedicated and generating a signal specifying an operation mode for a specific test dedicated and which can set operation modes for various tests, further the device has a pad 13 for testing a probe making the test mode decoder effective at the time of applying voltage.
    テスト専用の動作モードを設定する複数の入力信号をデコードし、特定のテスト専用の動作モードを指定する信号を発生するテストモードデコーダ１２を有して、各種テスト専用の動作モードを設定できるようにした半導体記憶装置であって、電圧が印加された時にテストモードデコーダ１２を有効にするプローブテスト用パッド１３を有している。 - 特許庁
  • This method is also a method for testing a substance for its ability to inhibit binding between a fibroblast growth factor (FGF) and a heparanase substrate, comprising the steps of interacting in a solution the FGF immobilized on a solid support with the substance and a labeled heparanase substrate, and detecting the presence or absence of a label in the solution remote from the solid support.
    また、線維芽細胞成長因子（FGF）とへパラナーゼ基質との結合を阻害する能力に関して物質を試験する方法であって、固体支持体上に固定化したFGFを物質および標識ヘパラナーゼ基質と溶液中で相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む方法も提供する。 - 特許庁
  • A semiconductor testing apparatus comprises: a plurality of waveform shapers that shapes a driver waveform on the basis of a pattern signal and an edge signal; a driver timing generator that outputs the edge signal to each of the waveform shapers at specified timing; and a formatter that instructs the driver timing generator on the output timing of the edge signal and outputs the pattern signal independently to the plurality of waveform shapers.
    パタン信号とエッジ信号とに基づいてドライバ波形を整形する複数個の波形整形器と、指定されたタイミングでエッジ信号を各波形整形器に出力するドライバタイミング発生器と、ドライバタイミング発生器にエッジ信号の出力タイミングを指示するとともに、複数個の波形整形器に独立にパタン信号を出力するフォーマッタとを備えた半導体試験装置。 - 特許庁
  • Disclosed is the performance testing method for the HGA having a magnetic head and a microactuator precisely positioning the magnetic head over a magnetic medium, wherein the microactuator is driven in a previously set positive direction using DC voltage driving and driven in a previously set minus direction using DC voltage driving, and lastly, three track center values are calculated.
    磁気ヘッドと、磁気媒体に対して精密に磁気ヘッドの位置決めを行うマイクロアクチュエータと、を備えたＨＧＡの性能試験方法であって、直流電圧駆動を用いて予め設定された正方向にマイクロアクチュエータを駆動し、また、直流電圧駆動を用いて予め設定された負方向にマイクロアクチュエータを駆動し、最後に、３つのトラック中心値の算出を行う。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus having a delaying constitution capable of producing a delayed clock which is delayed as prescribed by application of both the front and rear edges of a reference block, without being affected by changes, if any, in the positions of the front and rear edges of the reference clock.
    基準クロックの前縁と後縁の両エッジを適用して所定に遅延した遅延クロックを発生する遅延構成を備える半導体試験装置において、基準クロックの前縁と後縁の位置の変化が生じても、この変化の影響を受けることが無く所定に遅延した遅延クロックを発生することが可能な遅延構成を備える半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This method for detecting the gene comprises a gene-amplifying step of carrying out a PCR by using an extract of a sample extracted from the testing sample according to a polynucleotide extraction method, and a primer for detecting the gene and for amplifying the target base sequence, and a gene-detecting step for detecting the PCR product obtained at the step by the DNA microarray.
    遺伝子検出方法は、ポリヌクレオチド抽出法に従って検査試料より抽出された試料抽出物及び目的とする塩基配列を増幅するための遺伝子検出用プライマーを用いてＰＣＲ反応を行う遺伝子増幅工程と、その工程で得られたＰＣＲ反応物をＤＮＡマイクロアレイにより検出する遺伝子検出工程とからなる。 - 特許庁
  • The test kit shown in Figure 1, which is a test kit used for the lateral flow type membrane assay method, is equipped with a test container 1 for containing samples; a testing implement 4 for membrane assays which is used by inserting from an end side 4a into the test container 1; and an analyte processing vessel 14 containing analyte processing liquid 15 for preparing measuring sample by blending with analyte.
    図１に示される試験キットは、ラテラルフロー式メンブレンアッセイ法に用いられる試験キットであって、試料を収容するための試験容器１と、一端側４ａから試験容器１に挿入されて用いられるメンブレンアッセイ用試験具４と、検体と混合することによって測定試料を調製するための検体処理液１５を収容した検体処理容器１４とを備える。 - 特許庁
  • This semiconductor testing device is provided with a memory 34 storing failure rate specified value information 38 specifying an upper limit of a failure rate of a test for every kind of test in advance and a CPU 32 which measures a failure rate of a semiconductor integrated circuit for every kind of test, compares the measured failure rate with the failure rate specified value information, and judges whether the test is interrupted or not.
    予め試験の種類毎にその試験の不良率の上限を規定した不良率規定値情報３８を記憶するメモリ３４を備え、更に、試験の種類毎に半導体集積回路の不良率を測定し、測定された不良率と上記不良率規定値情報とを比較し、試験を中断するか否かを判断するＣＰＵ３２とを備える。 - 特許庁
  • To provide an integrated circuit in which winings connecting a digital circuit and an analog circuit are inspected accurately and easily, and to provide a testing method therefor, for an integrated circuit, in which digital circuits are connected via a plurality of wirings and an analog circuit controlled, based on digital values supplied via a plurality of wirings is provided, and to provide a test method therefor.
    ディジタル回路とディジタル回路と複数の配線を介して接続され、複数の配線を介して供給されるディジタル値に基づいて制御されるアナログ回路とを有する集積回路及びその試験方法に関し、ディジタル回路とアナログ回路とを接続する配線の検査を正確、かつ、容易に行える集積回路及びその試験方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • To provide a torque pulsation damping flange-shaped joint having compact and simple construction for actualizing stable and high torque transmission to a driven side over a long period while removing torque pulsation generated on the driving shaft side of a variable speed testing device to be used in a low-high speed range over a wide low-high frequency range corresponding to a variable speed.
    低速から高速度まで使用する可変速試験装置において、駆動軸側が発生するトルク脈動を可変速度に合わせて低周波領域から高周波領域までの広範囲領域に渡り除去し、安定した高トルク伝達が従動側へ長期に渡り可能な、コンパクトで構造が容易なトルク脈動減衰フランジ形継手を提供すること。 - 特許庁
  • A content reproducing apparatus 1 stores an appliance identifier ID for identifying the content reproducing apparatus 1 so as not to be rewritten, and also stores an appliance identifier test value VM corresponding to the appliance identifier ID and a right information test value VR for testing right information INF of acquired content data D so as not to be read out separately.
    コンテンツ再生装置１は、このコンテンツ再生装置１を識別するための機器識別子ＩＤを、書き換えられないように記憶すると共に、当該機器識別子ＩＤに対応する機器識別子検査値ＶＭと、取得したコンテンツデータＤの権利情報ＩＮＦを検査するための権利情報検査値ＶＲとを、分離して読み出されないように記憶するようにした。 - 特許庁
  • The testing apparatus has a storage tank for storing a liquid, a liquid sending pump for sending the liquid from the storage tank, a production part for producing chlorine in the liquid, a defoaming part for removing air bubbles, an observation cell can seal the marine organisms, and a removing part for removing chlorine from the liquid passing through the observation cell.
    試験装置は、液体を貯留する貯留タンクと、貯留タンクから液体を送液する送液ポンプと、液体に塩素を発生させる発生部と、気泡を除去する脱泡部と、海生生物を封入できる観察セルと、観察セルを通過した液体から塩素を除去する除去部とを備え、貯留タンクは、除去部において塩素が除去された液体を貯留する。 - 特許庁
  • To enable accurate test data to be generated at the time of testing semiconductors, mutual conversion between simulation data and test data to be easily performed and the accuracy verification of simulation data and of a tester for semiconductors and the verification of indeterminate events and I/O dead band to be carried out.
    半導体装置のテスト時に正確なテストデータの生成及びシュミレーションデータとテストデータとの相互間の変換が容易に可能であり、シュミレーションデータ精度と半導体装置用テスタ精度との検証，不確定イベント及びＩ／Ｏデットバンドの検証を行なうことが可能となる半導体試験用データ処理装置及び方法並びに半導体試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
  • The testing is conducted from the surface side of the impervious sheet utilizing a system that electrostatic coupling occurs between the first electrode and the bottom side, and as a result, an electric current path is formed to thereby turn on electric current when the second electrode is moved to a nonconformity place of the impervious sheet by connecting an alternating current power source 13 via an ammeter 14 between the first electrode and the second electrode.
    第一及び第二電極間に電流計１４を介して交流電源１３を接続することにより、第二電極が移動して遮水シートの不良箇所に来た時、第一電極と遮水シート下側の間に静電結合が生じて電流経路が形成され電流が流れることを利用して遮水シートの表面側から検査を行う。 - 特許庁
  • An element testing device 1 which evaluates the electrical characteristic of a semiconductor element 20 has a support 11 whereon the semiconductor element 20 is laid so that a collector electrode of the element 20 comes into contact with it, an electroconductive resin 30 which comes into contact with an emitter electrode of the element 20, and at least one contact 30g which comes into contact with a gate electrode 20g of the element 20.
    半導体素子２０の電気的特性を評価する素子試験装置１は、半導体素子２０のコレクタ電極が接するように、半導体素子２０を載置する支持台１１と、半導体素子２０のエミッタ電極に接触する導電性樹脂３０と、半導体素子２０のゲート電極２０ｇに接触する、少なくとも一つの接触子３０ｇと、を有することを特徴とする。 - 特許庁
  • In the liquid shaker for shaking the testing liquid housed in a plate 11, the plate 11 is held to a moving table 60 freely movable in a horizontal direction and the moving table 60 is subjected to eccentric rotary motion by a shaking motor 72 to perform shaking operation for mixing more than one kinds of liquids dispensed in wells 11b by the plate 11.
    プレート１１に収容された試験用の液体をシェイキングする液体のシェイキング装置において、プレート１１を水平方向に移動自在な移動テーブル６０に保持させ、シェイク用モーター７２によって移動テーブル６０を偏心回転運動させることによりプレート１１にウェル１１ｂ内に分注された複数種類の液体を混合するシェイク動作を行わせる。 - 特許庁
  • To provide an epoch-making testing method capable of sharply shortening the time from the production of a test piece to the evaluation thereof to enable evaluation using a small amount of a sample, made adaptable even to carbon fibers or a thermoplastic resin composition said to be difficult to handle heretofore and enabling anyone to easily and accurately evaluate the interfacial adhesiveness of the reinforcing fibers and the resin.
    試験片作製から評価に至るまでの時間を大幅に短縮し、少量のサンプルによる評価を可能とするばかりでなく、従来、取り扱いが困難といわれていた炭素繊維や熱可塑性樹脂組成物にも適用可能で容易に、かつ誰にでも正確に強化繊維と樹脂との界面接着性を評価できる画期的な試験方法を提供する。 - 特許庁
  • In a recording medium for an error correction capability test for testing the reading device of a recording medium recorded with an error correction code word, error correction encoded data are generated by applying error correction encoding to original data on the basis of a standard, and then, the error correction encoded data are recorded with an error added to the error correction encoded data.
    誤り訂正符号語が記録された記録媒体の読取装置を試験するための誤り訂正能力試験用記録媒体であって、規格に基づいて元データが誤り訂正符号化されて誤り訂正符号化データが生成された後に、該誤り訂正符号化データに誤りが加えられた状態で記録された、ことを特徴とする誤り訂正能力試験用記録媒体である。 - 特許庁
  • The semiconductor device manufacturing method comprises a test step of performing a predetermined testing by contacting a probe terminal with a bonding pad A of a semiconductor device, and a pad surface treatment step of performing, after the test step, processing of dissolving a surface of the bonding pad by using chemical or processing of solidifying a melted portion of the bonding pad after melted by heating the bonding pad surface using a furnace.
    半導体装置のボンディングパッドＡにプローブ端子を接触させ、所定の試験を行う試験工程と、試験工程の後、薬液を用いてボンディングパッド表面を溶かす処理、または、加熱炉を用いて加熱することでボンディングパッド表面を溶かした後、溶かした部分を固化する処理を行うパッド表面処理工程と、を有する半導体装置の製造方法。 - 特許庁
  • In the testing method for accelerating the deterioration in the electrophotographic photoreceptor in which an electrifying step by an electrifier and an exposure step by an exposure device are simultaneously carried out, a sample presser member is arranged between the photoreceptor and the electrifier and the material of the surface of the sample presser member facing the electrifier is formed of a material having insulation properties.
    電子写真用感光体に、帯電器による帯電工程と露光装置による露光工程とを同時に行う電子写真用感光体劣化加速試験方法において、前記感光体と前記帯電器との間にサンプル押さえ部材が配置され、該サンプル押さえ部材の前記帯電器に対向する面の材質が絶縁性を有する材料で形成されていることを特徴とする。 - 特許庁
  • The system comprises a storing device 4 having a means that classifies the test data 2 of an LSI acquired by a semiconductor testing apparatus 1 into lots/wafer/chips/measurement data/categories and a means that organically connects them to store by setting connection information from among classified items; and a displaying device 5 having a means of searching the stored test data and a means of displaying the searched results.
    半導体試験装置１にて収集されたＬＳＩのテストデータ２を、ロット・ウエハ・チップ・測定データ・カテゴリ単位に分類する手段及び分類した項目の中で連結情報を設定することで有機的に結合させて蓄積する手段を有する蓄積装置４と、蓄積されたテストデータを検索する手段及び検索結果を表示する手段を有する表示装置５とからなる。 - 特許庁
  • In terms of practical training, the companies responded that it would be possible to provide training on facility design, pump performance testing, as well as water purification technologies (water quality management and operation management), stainless steel processing, technologies to prevent leakage and water supply stoppage during construction, effluent processing and management of water storage.However, no companies responded that they would be able to provide practical training on leakage surveys, pipe-laying techniques or water quality inspection.
    実習研修については、施設設計演習、ポンプ性能試験、その他として浄水技術（水質管理、運転管理）、ステンレス鋼の加工、漏水防止・不断水工事技術、排水処理、貯水槽水道等の管理の受け入れが可能であったが漏水調査実習、配管技能実習、水質検査実習については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省
  • In addition, many people fail to fully understand the infection route of the hepatitis virus, and are not fully aware of the need for hepatitis testing. This lack of understanding results in many patients with chronic viral hepatitis (including patients with cirrhosis or liver cancer as a result of viral hepatitis (hereinafter referred to as patients with hepatitis)) experiencing unjustified discrimination.
    また、肝炎ウイルスの感染経路等についての国民の理解が十分でないことや、肝炎ウイルス検査を受検する必要性に関する認識が十分でないことに加え、一部では、肝炎ウイルスに持続感染している者（ウイルス性肝炎から進行した肝硬変又は肝がんの患者を含む。以下「肝炎患者等」という。）に対する不当な差別が存在することが指摘されている。 - 厚生労働省
  • germline genetic testing method targeted to detect a specific mutation (such as a deleterious msh2 mutation previously identified in a family), panel of mutations (such as the 3 brca mutations comprising the founder mutation panel for individuals of ashkenazi jewish ancestry) or type of mutation (such as a large deletions or insertions in the brca1 gene).
    生殖細胞系の遺伝子検査法のひとつで、特定の突然変異（例、ある家系において以前に同定されたmsh2の有害突然変異）、突然変異パネル（例、アシュケナジー系ユダヤ人の子孫に対する創始者突然変異のパネルを構成するbrcaの3種の突然変異）、あるいは突然変異の種類（例、brca1遺伝子における大きな欠失または挿入）の検出を目的とするもの。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • A system for testing a collection of the device chips by temporarily attaching them to a carrier having a plurality of receptacles with microdendritic features; the receptacles matching with and pushed in contact with a matching set of contact pads on the device chips; the carrier additionally having test pads connected to the receptacles through interconnect wiring.
    マイクロ樹枝状フィーチャを有する複数のレセプタクルを有するキャリアに一時的に取り付けることによってデバイス・チップの集合体を試験するためのシステムであって、レセプタクルが、デバイス・チップ上のコンタクト・パッドの合致する組と合致し、接触した状態で押され、前記キャリアがさらに、相互接続配線を介してレセプタクルに接続されたテスト・パッドを有するシステムを提供すること。 - 特許庁
  • The method measures a processing-load rate in an apparatus during testing, compares the measured processing-load rate with a prescribed target processing-load rate range, adjusts a prescribed processing condition so that the measured processing-load rate becomes within the target processing-load rate range and repeats similar procedures while varying the target processing-load rate range in a prescribed manner.
    試験中の装置内の処理負荷率を測定する処理負荷率測定し、測定された処理負荷率を所定の目標処理負荷率範囲と比較し、測定処理負荷率が目標処理負荷率範囲内に入るように前記所定の処理条件を調整し、目標処理負荷率範囲を所定の態様で変化させながら同様の手順を繰り返す構成を有する。 - 特許庁
  • A comparative determining part 6 stores the command data supplied from the main control part 1 to the pattern control part 4, compares the stored command data with command data outputted to the testing terminal 5 from the pattern control part 4, and when both data are discordant, outputs a retransmission request signal for requesting the retransmission of the same command data, to the main control part 1.
    比較判定部６は、主制御部１から図柄制御部４に供給されるコマンドデータを記憶するとともに、この記憶するコマンドデータと、図柄制御部４から試験端子５に出力されるコマンドデータとを比較し、その両者が不一致の場合に、その同一のコマンドデータの再送を要求する再送要求信号を、主制御部１に対して出力する。 - 特許庁
  • To provide a following method for creating a requirement description of an embedded system, namely a method for enabling any user to uniquely recognize what is a concrete requirement being processed according to the requirement description and for creating a requirement description suited for automatically creating a unique test for testing the embedded system from the described requirement.
    本発明の課題は、組み込みシステムの要求記述を作成する次のような方法、すなわち、要求記述によってどのユーザでも、処理されている具体的な要求が何であるかを一義的に認識することができ、かつ、記述された要求から、組み込みシステムをテストするための一義的なテストを自動生成するのに適した要求記述を作成する方法を提供することである。 - 特許庁
  • The tester comprises a section 11 generating a waveform being employed for testing an electric part, a section 20 producing an expected value to be outputted from an electric part applied with a test waveform, and a section 14 for comparing the output value from the electric part applied with a test waveform with the expected value to decide whether the electric part 16 is acceptable or not.
    電気部品の試験に用いる試験波形を生成する波形生成部１１と、試験波形を印加された電気部品から出力されるべき期待値を試験波形に基づいて出力する期待値出力部２０と、試験信号を印加された電気部品の出力値と、期待値とを比較して電気部品１６の良否を判定する比較部１４とを備える。 - 特許庁
  • To provide a mastication evaluation method capable of simply measuring a state that difference appears in the leaching degree of a component by a degree of mastication if testing food containing the component for judging mastication is used as an element, which is indispensable in the judgment of mastication in a broad sense lack in a conventional mastication evaluation method, without using a special expensive device, and a mastication judging kit.
    従来の咀嚼評価方法に欠けていた広義の咀嚼判定に不可欠な要素として、咀嚼を判定するための成分が含まれた試験用食品を用いると、咀嚼の度合により成分の浸出具合に差が現れ、それを特殊な高価な機器を用いることなく、簡便な方法で測定できるような咀嚼評価方法の構築並びに咀嚼判定キットの提供する。 - 特許庁
  • This testing method comprises a step to irradiate light on surface of the display panel and photograph the above display panel for obtaining the first image, a step to irradiate light on surface of the above display panel with pattern impressed on the display panel for obtaining the second image, and a step to compare the first image with the second image for determining whether the display panel is defective.
    ディスプレーパネルの表面に光を照射し、前記ディスプレーパネルを撮影して第１画像を得る段階と；前記ディスプレーパネルにパターンを印加した状態で前記ディスプレーパネルに光を照射し、前記ディスプレーパネルを撮影して第２画像を得る段階と；前記第１画像と前記第２画像を比較し、前記ディスプレーパネルが不良であるか否かを判断する段階とを含む。 - 特許庁
  • The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.
    半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁
  • The nonvolatile memory card has a NAND type EEPROM 11 having a cell array of electrically rewritable nonvolatile memory cells arranged repeatedly in row and column directions, test information 18 stored in a predetermined address of the NAND type EEPROM 11, and a controller 12 for testing the NAND type EEPROM 11 according to the test information 18.
    本発明の不揮発性メモリカードは、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有するＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１と、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１の所定のアドレスに格納されたテスト情報１８と、テスト情報１８に基づいて、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１をテストするコントローラ１２を有する。 - 特許庁
  • The multifunctional fatigue testing apparatus 1 comprises a test piece holder 3 capable of holding the test piece T in any of a vertical direction and a horizontal direction, and a force applying unit 4 capable of selectively or simultaneously operating a mechanical load of the vertical direction or the horizontal direction to the held test piece T, assembled in a thermostat 2 capable of arbitrarily controlling internal temperature and humidity.
    本発明の疲労試験装置１は、試験体Ｔを垂直方向および水平方向のいずれにも保持しうる試験体保持部３と、保持された前記試験体Ｔに垂直方向または水平方向の力学的負荷を選択的に、または双方同時に作用させうる加力部４とが、内部の温湿度を任意に制御しうる恒温恒湿槽２内に組み込まれて構成される。 - 特許庁
  • The plurality of support columns 4a, 4b provided on the table 1 is integrated with the crosshead 5 thereon, the total height of the testing machine is changed with the elevation of the crosshead 5, by adopting the structure for making the support columns 4a, 4b move vertically with a vertical moving mechanism 7 provided on the table 1, and the required space is thereby reduced at storage or at transportation.
    テーブル１上に設けた複数の支柱４ａ，４ｂとクロスヘッド５とを一体化し、その各支柱４ａ，４ｂを、テーブル１に設けられた上下動機構７によって上下動させる構造を採用することにより、クロスヘッド５を昇降させることによって試験機の全高が変化し、格納時や輸送時における所要スペースを小さくすることを可能とする。 - 特許庁
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