「Testing」を含む例文一覧(14405)
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半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁 - A shutter open/close control section 105 that the thermostatic bath 2 has monitors whether temperature inside the thermostatic bath 2 exceeds the upper limit of allowable temperature for permitting deviation from a temperature for testing an original IC device D, when the fan 100 generates self heat generation by high-speed rotation, and operates a timer 105e, when the temperature exceeds the upper limit.
恒温槽２に備えられたシャッタ開閉制御部１０５は、ファン１００が高速回転することによって自己発熱が発生した場合、恒温槽２の内部の温度が本来ＩＣデバイスＤを試験すべき温度よりも外れることが許容される許容温度の上限よりも超えたか否かを監視し、超えたときには、タイマ１０５ｅを作動させる。 - 特許庁 - This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.
この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省 - Contracting Parties which do not have a nuclear installation in their territory, insofar as they are likely to be affected in the event of a radiological emergency at a nuclear installation in the vicinity, shall take the appropriate steps for the preparation and testing of emergency plans for their territory that cover the activities to be carried out in the event of such an emergency.
自国の領域内に原子力施設を有しない締約国は、近隣の原子力施設における放射線緊急事態の影響を受けるおそれがある限りにおいて、自国の領域に係る緊急事態計画（緊急事態の際に実施される活動を対象とするもの）を準備し及びその試験を行うため、適当な措置をとる。 - 経済産業省 - To provide a semiconductor inspecting device and a semiconductor inspecting method capable of shortening testing time whereby suppressing an increase in inspection cost while preventing destruction of a semiconductor device by preventing spikes from being generated when power supply voltage is changed, even if the semiconductor device to be inspected is a semiconductor device for IEEE 1394.
もし、被検査用半導体装置がＩＥＥＥ１３９４用半導体装置の場合であっても、テスト時間を短縮し、検査コストの増加を抑えることができるとともに、電源電圧切り替え時のスパイクの発生を抑え、半導体装置の破壊を防止することができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁 - Since the Asia Common Skill Standard Initiative for IT technicians proposed by Mr.Takeo Hiranuma, Minister of Economy, Trade and Industry, was adopted at the October 2000 ASEAN Meeting of Economic Ministers and the Ministers of People’s Republic of China, Japan and Republic of Korea, Japan has been practicing mutual accreditation with testing agencies in Asian countries based on standardization of skills tested(Fig.3.2.28).Further expansion of member countries is expected in the future.
2000年10月のASEAN+日中韓経済閣僚会議で、平沼経済産業大臣が提案を行ったアジアITスキル標準化イニシアティブが採択されたことを受け、これまでアジア各国の試験実施機関と試験のスキル標準ベースでの相互認証を行ってきており（第3-2-28表）、今後も締結国の更なる拡大が期待されるところである。 - 経済産業省 - In April 2009, the South Korean government, when they are selling or importing lithium-ion to South Korea, announced that testing and inspection will be required for obtaining certification procedures regarding safety regulation batteries to South Korea. From July, for certification procedures relating to safety regulation, there had not been any trial period planned and it was limited to only a few domestic labs in South Korea, resulting in the possible interference of import products from Japan.
2009年4月、韓国政府は、リチウムイオン電池を販売又は韓国に輸入する際に、試験・検査を行うことを義務づける安全規制に係る認証手続を7 月から課すと公表したが、準備期間がほとんど無い上に、試験・検査機関が韓国国内の少数の機関に限定され、日本からの輸出を妨げる可能性があった。 - 経済産業省 - The method for testing the canceration comprises typically (a) determining the transcription level of the nucleic acid hybridizing to the specific base sequence or its complementary base sequence under the stringent conditions in a biological sample using the nucleic acid and (b) judging whether or not the transcription level of the nucleic acid in the biological sample is significantly below that of a control normal biological sample.
また、本発明の癌化検定方法は、典型的には、（ａ）特定の塩基配列又はその相補的な塩基配列にストリンジェントな条件下でハイブリダイズする核酸を使用して、生物試料中の該核酸の転写レベルを測定し；そして（ｂ）該生物試料中の該核酸の転写レベルが、対照の健常生物試料のそれを有意に下回るかを判断することを含む。 - 特許庁 - To dispense with a troublesome operation for inserting a pair of electrodes into sample liquid stored in each storage recessed part, to prevent the pair of electrodes from being brought into contact with each other in the sample liquid, and to test many sample liquids efficiently and stably, in a testing device using a test plate where many storage recessed parts for storing the sample liquid are provided.
サンプル液を収容させる収容凹部が多数設けられた試験用プレートを用いた試験用装置において、各収容凹部内に収容されたサンプル液中に一対の電極を挿入させるという面倒な操作を行う必要がなく、またサンプル液中において一対の電極が接触するのを防止し、多数のサンプル液の試験が効率よく安定して行えるようにする。 - 特許庁 - The method for testing an electronic circuit 16 comprises selection of an input signal using a first multiplexer 208, selection of an signal to be input to the first multiplexer 208 using at least one of other multiplexers 202, 204, 206, and control of at least one of other multiplexers 202, 204, 206, using a selection signal output from a control circuit 222.
電子回路１６をテストするための方法は、第１のマルチプレクサ２０８を用いる入力信号の選択、少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６を用いる第１のマルチプレクサ２０８に入力されるべき信号の選択、および制御回路２２２から出力される選択信号を用いる少なくとも１つの他のマルチプレクサ２０２，２０４，２０６の制御を含む。 - 特許庁 - Test sample mounting devices 13a and 13b for use in a bending testing apparatus for measuring the durability of a test sample by bending the test sample by applying load to the test sample includes shaft sections 22a and 22b turning holding sections 21a and 21b with the bending and enabling the pair of holding sections 21a and 21b to move close to or away from each other.
荷重を加えることにより試験試料を屈曲させ当該試験試料の耐久性を測定する曲げ強さ試験装置に用いられる試験試料装着装置１３ａ及び１３ｂは、前記屈曲に伴い、把持部２１ａ及び２１ｂを回動し、一対の把持部２１ａ及び２１ｂを近接又は離反するように移動可能とする軸部２２ａ及び２２ｂと、を備える - 特許庁 - To reduce time required for reading data from devices to be controlled, and to return correct data when a read request to the devices to be controlled occurs from a control section during write in a semiconductor-testing device including the control sections having a fast data transfer speed and the devices to be controlled having a slow data transfer speed while having a register or a memory in the inside.
データ転送速度の速い制御部と内部にレジスタもしくはメモリを有しデータ転送速度の遅い被制御デバイスとを備えた半導体試験装置において、被制御デバイスからのデータの読み出しに要する時間を短縮できるとともに、書込み中に制御部から被制御デバイスに対するリード要求が発生した場合にも正しいデータを返送することができるようにする。 - 特許庁 - Also, a medium 62 for test being the same as the slave 2 is supplied and adhered closely for the master carrier 3 held at the prescribed position, magnetic transfer is performed for the medium 62 for test, and a supply position of the slave 2 is verified by testing a transfer position of a transfer pattern in a magnetically transferred medium 62' by the transfer position test means 66.
また、所定位置に保持されたマスター担体３に対してスレーブ媒体２と同一の検査用媒体６２を供給密着させて、該検査用媒体６２に磁気転写を行い、磁気転写がなされた検査用媒体６２’における転写パターンの転写位置を転写位置検査手段６６により検査することによりスレーブ媒体２の供給位置を検証する。 - 特許庁 - The testing method of semiconductor device comprises a steps of forming an electrode 10 on the main surface of a semiconductor test sample, cutting out a semiconductor test sample, exposing the cross-section of the semiconductor test sample, and obtaining carrier distribution within the cross-section by scanning the cross-section with a probe 14 of the scanning probe microscope while the predetermined potential is applied to the electrode 10.
半導体試料の主面上に電極１０を形成する工程と、半導体試料を切断し、該半導体試料の断面を露出させる工程と、前記電極１０に所定電位を与えながら、走査型プローブ顕微鏡のプローブ１４で上記断面を走査することにより、該断面内におけるキャリア分布を得ることを特徴とする半導体装置の検査方法。 - 特許庁 - A method for inspecting the precision of the tire testing machine has a rotating radius different from a drum 42 and higher circularity than a tire T in place of the tire T, mounts a dummy tire 60 having rigidity capable of maintaining circularity on a spindle shaft 11 even when receiving load in a radial direction, and measure variation load generated by rotating the dummy tire 60 while giving load from the drum 42.
タイヤＴに代えて、ドラム４２とは異なる回転半径とタイヤＴよりも高い真円度とを有すると共に、荷重を径方向に受ける場合にも真円度を維持可能な剛性を有するダミータイヤ６０をスピンドル軸１１に装着し、ダミータイヤ６０をドラム４２からの荷重を与えた状態で回転させることにより生じる変動荷重を計測する。 - 特許庁 - To provide a method for automatically calibrating a detection level in a measuring part of a shutter testing machine, in which manual adjusting operation of an adjusted value VR is eliminated and an output level of a comparator to electric output (voltage) of reflected light is automatically set just by opening the shutter of a camera, whereby the shutter speed of the camera is easily, speedily and accurately detected.
人手による調整値VRの調整操作を無くし、カメラのシャッタを開くだけで自動的に反射光の電気出力（電圧）に対するコンパレータの出力レベルを設定できるようにし、これによってカメラのシャッタスピード検出を簡便かつスピーディに精度よく行うことができるようにしたシャッタ試験機の測定部における検出レベルの自動校正方法を提供すること。 - 特許庁 - Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.
半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁 - To provide a heat characteristic testing method of a temperature regulating material capable of simply and rapidly evaluating the temperature characteristics or heat quantity moving characteristics of the temperature regulating material especially useful for the temperature regulating material for relaxing the temperature change of a material due to the temperature change of an outside environment by utilizing a phase changing substance, and a heat characteristic tester of the temperature regulating material.
相変化物質を利用して外部環境の温度変化による材料の温度変化を緩和するための温度調節材料を評価するのに特に適した、温度調節材料の温度特性または熱量移動特性の評価を、簡便、迅速かつ再現性良く評価することができる温度調節材料の熱特性試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a medical image diagnosis apparatus capable of reducing the burden of an operator and simultaneously improving throughput of the whole imaging (testing) by switching a display screen about a first subject to a display screen for registering the information on the next subject automatically before the imaging of the next subject is started after the imaging of the first subject is finished.
前被検体の撮影が終了し後被検体の撮影が開始される前に、前被検体について表示されていた画面を自動的に後被検体の患者情報を登録するための画面に遷移させることによって、操作者の負担を軽減するとともに撮影（検査）全体のスループットの向上を図ることのできる医用画像診断装置を提供する。 - 特許庁 - The method includes the step of preparing an object file management framework for establishing a standard interface between a vender-supplied pattern compiler and the module type test system, receiving a pattern source file, preparing a pattern object metafile on the basis of the pattern source file by using the object file management framework, and testing the device to be tested, through the test module by using the pattern object metafile.
ベンダ供給パターンコンパイラとモジュール式試験システムとの間に標準インターフェースを確立するためのオブジェクトファイル管理フレームワークを作成すること、パターンソースファイルを受信すること、オブジェクトファイル管理フレームワークを用いて、パターンソースファイルに基づいてパターンオブジェクトメタファイルを作成すること、及びパターンオブジェクトメタファイルを用いて試験モジュールを通して被試験デバイスを試験する。 - 特許庁 - The semiconductor device comprises a reset terminal inputting a reset control signal for resetting an internal circuit; a reset detection part generating, according to the input reset control signal, a reset release signal for releasing reset of the internal circuit; and a mode capture part retaining, based on the signal input to the reset terminal, a test mode for testing operations of the internal circuit.
半導体装置は、内部回路をリセットするためのリセット制御信号を入力するリセット端子と、前記入力されたリセット制御信号に応じて、前記内部回路のリセットを解除するリセット解除信号を生成するリセット検出部と、前記リセット端子に入力される信号に基づいて、前記内部回路の動作をテストするテストモードを保持するモードキャプチャ部とを備える。 - 特許庁 - The method for estimating the fundamental frequency of the harmonic signal comprises the steps: - forming a fundamental frequency hypothesis (f0'); - providing a comb filter based on the fundamental frequency hypothesis; - filtering the given harmonic signal using the comb filter; and - testing the fundamental frequency hypothesis for each tooth in the comb filter.
本発明によると、高調波信号の基本周波数を推定する方法は、基本周波数仮定値（ｆ０´）を形成するステップと、基本周波数仮定値に基づいて、くし型フィルタを提供するステップと、くし型フィルタを用いて、与えられた高調波信号のフィルタリングを行うステップと、くし型フィルタにおける各歯毎に、基本周波数仮定値のテストを行うステップと、を備える。 - 特許庁 - In this deterioration testing device 100, which is a device for performing the deterioration test of a specimen by generating deterioration by irradiating a liquid crystal panel (specimen) 15 with laser light outputted from a laser device 10, an optical correction element 26 for uniformizing illuminance of the laser light is provided between the laser device 10 for outputting the laser light and the liquid crystal panel 15.
本発明に係る劣化試験装置１００は、レーザ装置１０から出力されたレーザ光を液晶パネル（被検物）１５に照射して劣化を生じさせ、当該被検物の劣化試験を行う装置であり、レーザ光を出力するレーザ装置１０と前記液晶パネル１５との間に、前記レーザ光の照度を均一化する光学補正素子２６が設けられている。 - 特許庁 - The covalently bound compound is formed and synthesized as a Schiff base or a peptide compound, by reacting a terminal aldehyde or carboxyl radical derived from the polysaccharide compound with an uncombined amino radical of an interleukin, an interferon, a tumoricidal factor, an enzyme, a hemokinetic cell surface acceptor inhibitor against a virus, a fluorescein reagent used in a clinical testing, or the like, which are each the pharmaceutically active compound.
前該多糖化合物から誘導した末端アルデヒド基またはカルボキシル基と医薬活性化合物であるインターロイキン、インターフェロン、腫瘍壊死因子、酵素、ウィルスに対する血流細胞表面受容体の阻害剤、臨床検査において使用するフルオレセイン試薬等の未結合のアミノ基との反応によりシッフ塩基またはペプチド化合物を形成して合成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor memory having a transfer system for transferring data synchronized with both edges of the leading and trailing of an outside clock signal, and yet easily being tested and evaluated by a conventional memory testing device with respect to SDRM for writing/reading data synchronously with the outside clock signal and a method for controlling the SDRAM and to provide a control method for the semiconductor memory.
本発明は、外部クロック信号に同期してデータの書き込み／読み出しを行うＳＤＲＡＭ及びその制御方法に関し、外部クロック信号の立ち上がりと立ち下がりの両エッジに同期してデータを転送する転送方式を有しながら、従来のメモリ試験装置で容易に試験、評価ができる半導体記憶装置及びその制御方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - The setup time of the semiconductor testing device 2 is abridged, and the evaluation time of a microcomputer 1 becomes shorter by providing in the microcomputer 1 having a built-in flash EEPROM 20, and a faulty bit measurement circuit 60 which measures the number of faulty bits corresponding to each verify electric potential of the flash EEPROM 20.
フラッシュＥＥＰＲＯＭ２０を内蔵したマイクロコンピュータ１内にフラッシュＥＥＰＲＯＭ２０の各ベリファイ電位に対応して不良ビットの個数をそれぞれ計測する不良ビット測定回路６０を備え、これら不良ビットの個数を半導体テスト装置２に送ることにより、半導体テスト装置２のセットアップ時間を短縮しマイクロコンピュータ１の評価時間を短くしたことを特徴とする。 - 特許庁 - This motor function testing apparatus includes: a move sensor 2 including a transmitting coil 106 transmitting a magnetic field and a plurality of receiving coils 101 to 105 receiving the magnetic field generated from the transmitting coil 106; an analyzing means for analyzing the time-series waveform data obtained from the move sensor 2; and a display means for displaying the analysis result from analysis of the analyzing means.
磁場を発信する発信コイル１０６および発信コイル１０６から発生した磁場を受信する複数の受信コイル１０１〜１０５を含む運動センサ２と、運動センサ２から取得された時系列の波形データを解析する解析手段と、解析手段により解析された解析結果を表示する表示手段とを備えた運動機能検査装置である。 - 特許庁 - The method for testing a semiconductor integrated circuit having a novolatile memory element and a peripheral circuit part other than the novolatile memory element comprises a first step for applying a high voltage to all memory cells in the novolatile memory element and a second step for imparting a test pattern to the peripheral circuit part other than the novolatile memory element while applying a high voltage wherein both steps are performed simultaneously.
不揮発性記憶素子と不揮発性記憶素子以外の周辺回路部を備えた半導体集積回路の試験方法において、不揮発性記憶素子の全メモリセルに高々電圧を印加する第１のステップと、不揮発性記憶素子以外の周辺回路部に高電圧を印加しながら試験パターンを付与する第２のステップとを有し、上記両ステップを同時に実施する。 - 特許庁 - The sheet comprises a support having at least one layer of a polymer coating layer on both surfaces of a base paper and at least one layer of a toner image receiving layer on the support, wherein the base paper shows a Z-axis tensile strength of 350 to 650 kN/cm^2 specified in JAPAN TAPPI paper pulp testing method No.18-1.
原紙の両面に少なくとも１層のポリマー被覆層を有してなる支持体と、該支持体上に少なくとも１層のトナー受像層を有してなり、前記原紙のＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ 紙パルプ試験法Ｎｏ．１８−１に規定するＺ軸方向引張強さが３５０〜６５０ｋＮ／ｃｍ^２であることを特徴とする電子写真用受像シートである。 - 特許庁 - The apparatus for testing a data storage apparatus is provided with a storage part for storing original data, a data generation part for generating transfer data of a size larger than that of the original data by repeatedly using the original data in response to one command to the data storage apparatus, and a transfer part for transferring the generated transfer data to the data storage apparatus.
オリジナル・データを格納する格納部と、データ記憶装置への一つのコマンドに対応して、前記オリジナル・データを繰り返し使用することによって、前記オリジナル・データのデータ・サイズよりも大きいデータ・サイズの転送データを生成するデータ生成部と、前記生成された転送データをデータ記憶装置に向けて転送する転送部と、を備えるデータ記憶装置の試験装置。 - 特許庁 - Prior to testing a plurality of integrated circuits 12 formed on the semiconductor wafer 11, a feeder pad 13 and feeder interconnections 14 for electrically connecting the feeder pad 13 and individual feeders of the integrated circuits 12 are formed, in advance, in a region on the semiconductor wafer 11 except for the regions where the integrated circuits 12 are formed.
半導体ウエハ１１上に形成されている複数の集積回路１２を検査するに先立って、同半導体ウエハ１１上の上記複数の集積回路１２が形成される領域を除く領域に、給電パッド１３と、この給電パッド１３および上記複数の集積回路１２の各給電部を電気的に接続する給電配線１４とを予め形成、敷設しておく。 - 特許庁 - The IC tester for inspecting the output resistance value of each output pin of the under testing device equipped with a plurality of output pins is provided with reference resistors, connected to each output pin, a reference voltage impressing means for impressing the prescribed reference voltage via these reference resistors, and a voltage measurement means for measuring the voltage generated at each output pin.
複数の出力ピンを有する被試験デバイスの前記各出力ピンの出力抵抗値を検査するＩＣテスタにおいて、 前記各出力ピンに接続された基準抵抗と、 これらの基準抵抗を介して前記各出力ピンに所定の基準電圧を印加する基準電圧印加手段と、 前記各出力ピンに発生する電圧を測定する電圧測定手段と、を備える。 - 特許庁 - This method for testing the computer system by applying a load includes: receiving of a load specification which identifies at least one resource of the system and specifies the load applied to the resource(s); and applying of the corresponding and specified load to the resource specified by the load specification.
本発明にかかる負荷を適用することによってコンピュータシステムをテストする方法は、負荷仕様を受け取ることであって、当該負荷仕様が、システムの少なくとも１つの資源を特定し、かつ、当該資源に適用される負荷を指定する、負荷仕様を受け取ることと、および負荷仕様で特定された各資源について、対応する指定された負荷を当該資源に適用することとを含む。 - 特許庁 - A session tracking application includes monitoring means for monitoring activity on the associated interactive session, testing means for determining whether monitored activity includes an unload event, termination means for terminating the associated interactive session upon a determination of a selected unload event and notification means for notifying the associated web server to close out the interactive session.
セッション・トラッキング・アプリケーションは、関連する対話セッション上でのアクティビティをモニタするモニタ手段と、前記モニタされたアクティビティがアンロード・イベントを有するかどうかを判定するテスト手段と、選択されたアンロード・イベントの判定に応じて前記関連する対話セッションを終了する終了手段と、前記対話セッションを終了するよう関連するウェブ・サーバに通知する通知手段とを有している。 - 特許庁 - The synchronization control means 2 is constituted of an external circuit which distributes/outputs a clock signal CLK from a testing apparatus body 1 to the plurality of semiconductor integrated circuits, receives respective test result outputs from the plurality of semiconductor integrated circuits, and suspends outputting of the distributed clock signal CLK, from respective test result output timings to the slowest timing.
同期化制御手段２は、テスト装置本体１からのクロック信号ＣＬＫを複数の半導体集積回路に分配して出力するとともに、複数の半導体集積回路から夫々テスト結果の出力を受け付けて、分配したクロック信号ＣＬＫの出力を各テスト結果の出力タイミングから最も遅いタイミングまで停止する外付け回路で構成されている。 - 特許庁 - The method for testing a memory by writing and reading test date in and from the memory comprises a comparing step of comparing one of two data continuously read of data sequentially read in synchronization with a clock with another as expected data, and a decision step of deciding a fault of the memory based on a comparison result obtained by the comparison step.
テストデータをメモリに書き込んで読み出すことでメモリを試験するメモリ試験方法において、クロックに同期して順次読み出されるデータのうち、連続して読み出される２つのデータのうち一方を期待データとして他方と比較する比較ステップと、比較ステップで得られる比較結果に基づいてメモリの不良を判定する判定ステップとを含むように構成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.
電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁 - The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.
試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁 - To provide a very epoch-making film evaluation tester and a film evaluation testing method capable of evaluating the characteristics of a thin film as much as several ten μm or less, measuring the wear resistance in a short time by a very simple operating procedure without scattering of a propellant injected on a subject, lessening a measurement error, attaining good reproducibility and miniaturizing the tester.
数十μｍ以下の薄い皮膜の特性でも評価することができ、被験体に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法を提供すること。 - 特許庁 - This penetration endurance evaluating testing device for evaluating the penetration endurance of the sheet-like material by freely dropping the sharp cutting tool in the vertical direction, comprises a mechanism part for freely dropping the cutting tool from an arbitrary height, and the penetration profile of a multilayer structure is measured by continuously measuring the damping energy from the collision of the cutting tool with the sample to its stop.
鋭利な刃物を鉛直方向に自由落下させて、シート状材料の耐貫通性を評価するための装置において、刃物を任意の高さから自由落下させる機構部と、刃物が試料に衝突してから停止するまでの減衰エネルギーを連続的に測定することにより多層構造物の貫通プロファイルを測定することを可能とした耐貫通性評価装置とする。 - 特許庁 - This vehicle collision testing device 10 has a first rail 20, a first towing tool 22 moved while being guided by the first rail 20 to tow a first vehicle 50, a second rail 30 arranged in parallel with the first rail 20 separated by a prescribed distance, and a second towing tool 32 moved while being guided by the second rail 30 to tow a second vehicle 60.
本発明に係る車両衝突試験装置１０は、第１レール２０と、第１レール２０に案内されて移動して第１車両５０を牽引する第１牽引ツール２２と、第１レール２０と所定距離隔てて平行に配置されている第２レール３０と、第２レール３０に案内されて移動して第２車両６０を牽引する第２牽引ツール３２とを有する。 - 特許庁 - This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.
本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁 - The semiconductor testing device 1 includes a plurality of contactors 11 contacting the semiconductor device 20 of an measuring object, heating elements 31 thermally connected to each of the plurality of contactors 11, and a driving part 8 for giving each of the contactors the difference of height fitting to the irregularity of the surface of the semiconductor device 20 by vertically driving each of the plurality of contactors 11.
測定対象の半導体装置２０に当接する複数のコンタクタ（当接体）１１と、複数のコンタクタ１１の各々に熱的に接続された発熱体３１と、複数のコンタクタ１１の各々を上下に駆動することにより、コンタクタ１１の各々に半導体装置２０の表面の凹凸に合った高低差を付与する駆動部８とを有する半導体試験装置１による。 - 特許庁 - The discharge lamp lighting device 5 is provided with a startup means 54 impressing startup voltage on a pair of electrodes 311A, voltage impressing means 52, 53 impressing testing voltage on the pair of electrodes 311A, a state detection means 57 detecting a discharge state between the pair of electrodes 311A, and a control means 58 controlling the startup means 54 and the voltage impressing means 52, 53.
放電灯点灯装置５は、一対の電極３１１Ａに始動電圧を印加する始動手段５４と、一対の電極３１１Ａに試験用電圧を印加する電圧印加手段５２，５３と、一対の電極３１１Ａ間の放電状態を検出する状態検出手段５７と、始動手段５４及び電圧印加手段５２，５３を制御する制御手段５８とを備える。 - 特許庁 - An alignment device used in the testing device includes: a first pusher mechanism and a first positioning mechanism arranged on one and the other of a pair of opposing sides of a panel receiving face, at an interval along respective extending directions of the corresponding sides; and a second pusher mechanism and a second positioning mechanism arranged on one and the other of the other pair of opposing sides of the panel receiving face.
試験装置で得用いるアライメント装置は、パネル受け面の対向する一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、対応する辺の延在方向に間隔をおいて配置された第１のプッシャー機構及び第１の位置決め機構と、パネル受け面の対向する他の一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、配置された第２のプッシャー機構及び第２の位置決め機構とを含む。 - 特許庁 - To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.
この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁 - The semiconductor testing device including the top plate in contact with a prober, and a test head body for supporting the top plate in the floating state, also includes a fixing means provided between the top plate and the test head body, for fixing the top plate and the test head body after bonding operation between the prober and the top plate.
プローバに接するトッププレ−トと、このトッププレ−トをフローティング支持するテストヘッド本体とを具備する半導体試験装置において、前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体との間に設けられ前記プローバとトッププレ−トとの結合動作後に前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体とを固定する固定手段を具備したことを特徴とする半導体試験装置である。 - 特許庁 - An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.
本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁 - The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.
この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁 - In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).
加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁
