「Testing」を含む例文一覧(14414)
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さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁 - In the semiconductor testing circuit 101, the comparators 141 and 142 compare a response signal with the reference signal by offsetting the test signal included in a synthetic signal and the test signal included in the comparison signal, by inputting the comparison signal and the synthetic signal of synthesizing the test signal and the response signal outputted from the test object device 20.
半導体試験回路１０１では、コンパレータ１４１，１４２は、試験信号と試験対象装置２０から出力された応答信号とを合成した合成信号と、比較信号とを入力され、合成信号に含まれる試験信号と比較信号に含まれる試験信号とを相殺し応答信号と基準信号とを比較する。 - 特許庁 - This material testing machine includes a shaft 12 of nonmagnetic material, a plurality of magnets 15 of a substantially cylindrical shape that are inserted and stacked in a part in the longitudinal direction of the shaft 12, a fixture 16 for fixing the magnets 15 to the shaft 12, a coil 19 arranged around the magnets 15, and bearings 13 and 14 for linearly movably supporting the shaft 12 to the coil 19.
非磁性体のシャフト１２と、シャフト１２の長手方向一部に挿入して積層される略円筒形状の複数の磁石１５と、磁石１５をシャフト１２に固定する固定具１６と、磁石１５の周囲に配設されたコイル１９と、コイル１９に対しシャフト１２を直線方向に移動可能に支持する軸受け１３，１４とを備える。 - 特許庁 - The remote maintenance system of dental chair unit is constituted such that the dental chair unit of a user, the testing device and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center are connected to each other by computer network, and the maintenance test conducting device of the remote maintenance center and a maintenance technical expert conduct or support maintaining work of the chair unit to be maintained of the user site through the network.
ユーザーの歯科用チェアユニット及びテスト装置と、遠隔保守センタの保守テスト処理装置との間をコンピュータネットワークで結び、ユーザサイトの保守対象チェアユニットの保守作業を、遠隔保守センタの保守テスト処理装置及び保守専門技術者が、ネットワークを介して実施あるいは支援する歯科用チェアユニットの遠隔保守システム。 - 特許庁 - The molding method for the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is characterized in using the injection molding machine made of a material showing a contact angle of 77 to 87 degrees with water, and peeling strength of not more than 127 N when 10 to 30 mg of the alicyclic structure-containing thermoplastic resin is melted for 30 minutes at 350°C and peeled by a compression testing machine.
水との接触角が７７〜８７度の範囲にあり、且つ、脂環式構造含有熱可塑性樹脂１０〜３０ｍｇを３５０℃、３０分間溶融し、圧縮試験機によって剥離した時の剥離強度が１２７Ｎ以下の材質を有する射出成形機を用いた該脂環式構造含有熱可塑性樹脂の成形方法。 - 特許庁 - The semiconductor testing device comprises the probe needle 20 for obliquely pressing the terminal for external connection of the semiconductor device, a hollow storage section 30 for storing the probe needle 20 appearably, a rotating mechanism for rotating the probe needle 20 pressed to the terminal, and a high friction section 22a disposed in a part of a side surface of the tip 22 of the probe needle 20.
本発明に係る半導体試験装置は、半導体装置の外部接続用の端子に斜めに押圧するプローブ針２０と、プローブ針２０を出没可能に収容する、中空の収容部３０と、端子に押圧したプローブ針２０を回転させる回転機構と、プローブ針２０の先端部２２の側面の一部に設けられた高摩擦部２２ａとを具備する。 - 特許庁 - In the method for testing a function of an electrical circuit which has a sensor module 2 having a switch circuit and a diagnostic device 3, where the sensor module 2 has one output terminal and power supply terminals 12a, 12b connected to the diagnostic device 3, drive voltage is applied to the power supply terminals 12a, 12b via lead wires 13a, 13b.
切替え回路を有するセンサモジュール２と診断装置３とを有し、センサモジュール２が診断装置３と接続された１つの出力端子と電力供給端子１２ａ，１２ｂを有した電気回路の機能を検査する方法において、リード線１３ａ，１３ｂを介して駆動電圧が電力供給端子１２ａ，１２ｂへ印加される。 - 特許庁 - To enable a prescribed movement of the seal breaker of a lid part even if any region of the seal breaker is pushed down, in a testing appliance constituted so that the seal member of the liquid container housed in a case main body is ruptured by the breaking projection provided to the seal breaker by pushing the seal breaker and a developing solution in the liquid container is developed up to a detection part.
ケース本体に収容された液体容器のシール部材が、蓋部のシールブレイカーを押すことによりこれに設けられた破断突起で押し破られ、液体容器内の展開液が検出部まで展開されるようにした試験用具において、シールブレイカーのいずれの部位を押し下げた場合でも、シールブレイカーが規定された動きを行うこと可能にする。 - 特許庁 - As a result of clinical testing, a temperature rise of ≥1°C is not admitted in the segments of organisms irradiated with ultrasonic waves when output of ultrasonic vibrations is smaller than 10 mW/cm^2 and the dental plaque is sufficiently not removed and conversely, the temperature rise of ≥1°C is confirmed in the segments irradiated with the ultrasonic waves when the output is greater than 100 mW/cm^2.
臨床実験の結果、超音波振動の出力が10mW/cm^2より小さい場合には、生体に対して超音波が照射された部分に１℃以上の温度上昇が見られなかったものの、歯垢が充分に除去されず、これと逆に100mW/cm^2より大きい場合には、超音波の照射部分に１℃以上の温度上昇が確認された。 - 特許庁 - The semiconductor device includes two or more bonding pads 11, made up of a bonding unit 11a formed on a semiconductor chip and each as an electrode for bonding of an external connection wire or a bump, and a projection unit 11b formed in a projected state from the bonding unit 11a to the inner part of the face and having a probe contact unit, to which a testing probe is made to contact.
半導体装置は、半導体チップ１０の上に形成され、それぞれが外部接続用のワイヤ又はバンプをボンディングする電極であるボンディング部１１ａと、該ボンディング部１１ａから面内に突き出して形成され、検査用プローブが接触されるプローブ接触部を含む突き出し部１１ｂとを有する複数のボンディング用パッド１１を備えている。 - 特許庁 - A shutter open/close control section 105 that the thermostatic bath 2 has monitors whether temperature inside the thermostatic bath 2 exceeds the upper limit of allowable temperature for permitting deviation from a temperature for testing an original IC device D, when the fan 100 generates self heat generation by high-speed rotation, and operates a timer 105e, when the temperature exceeds the upper limit.
恒温槽２に備えられたシャッタ開閉制御部１０５は、ファン１００が高速回転することによって自己発熱が発生した場合、恒温槽２の内部の温度が本来ＩＣデバイスＤを試験すべき温度よりも外れることが許容される許容温度の上限よりも超えたか否かを監視し、超えたときには、タイマ１０５ｅを作動させる。 - 特許庁 - This center provides the training facilities for BWR operation simulators (PC simulators), non-destructive test training equipment,eddy current test (ECT) equipments for steam generator tubing, 3-Dimentional cut models of NPP major components, electrical and instrumentation training facilities, the e-learning system (to study the PWR system), loop test devices (incident simulating loop and process instrumentation loop), condition monitoring testing facility and classrooms for lecture.
この研修センターには、研修設備として、BWR運転シミュレータ（PCシミュレータ）、非破壊検査実習機器、蒸気発生器伝熱管体積検査（ECT）装置、主要機器モデル、電気設備モデル、e-ラーニング（PWR系統の学習）、ループ試験装置（異常事象模擬ロープ、プロセス計装ループ）、状態監視試験設備及び座学用教室が設けられている。 - 経済産業省 - Contracting Parties which do not have a nuclear installation in their territory, insofar as they are likely to be affected in the event of a radiological emergency at a nuclear installation in the vicinity, shall take the appropriate steps for the preparation and testing of emergency plans for their territory that cover the activities to be carried out in the event of such an emergency.
自国の領域内に原子力施設を有しない締約国は、近隣の原子力施設における放射線緊急事態の影響を受けるおそれがある限りにおいて、自国の領域に係る緊急事態計画（緊急事態の際に実施される活動を対象とするもの）を準備し及びその試験を行うため、適当な措置をとる。 - 経済産業省 - To provide a semiconductor inspecting device and a semiconductor inspecting method capable of shortening testing time whereby suppressing an increase in inspection cost while preventing destruction of a semiconductor device by preventing spikes from being generated when power supply voltage is changed, even if the semiconductor device to be inspected is a semiconductor device for IEEE 1394.
もし、被検査用半導体装置がＩＥＥＥ１３９４用半導体装置の場合であっても、テスト時間を短縮し、検査コストの増加を抑えることができるとともに、電源電圧切り替え時のスパイクの発生を抑え、半導体装置の破壊を防止することができる半導体検査装置および半導体検査方法を提供する。 - 特許庁 - Since the Asia Common Skill Standard Initiative for IT technicians proposed by Mr.Takeo Hiranuma, Minister of Economy, Trade and Industry, was adopted at the October 2000 ASEAN Meeting of Economic Ministers and the Ministers of People’s Republic of China, Japan and Republic of Korea, Japan has been practicing mutual accreditation with testing agencies in Asian countries based on standardization of skills tested(Fig.3.2.28).Further expansion of member countries is expected in the future.
2000年10月のASEAN+日中韓経済閣僚会議で、平沼経済産業大臣が提案を行ったアジアITスキル標準化イニシアティブが採択されたことを受け、これまでアジア各国の試験実施機関と試験のスキル標準ベースでの相互認証を行ってきており（第3-2-28表）、今後も締結国の更なる拡大が期待されるところである。 - 経済産業省 - In April 2009, the South Korean government, when they are selling or importing lithium-ion to South Korea, announced that testing and inspection will be required for obtaining certification procedures regarding safety regulation batteries to South Korea. From July, for certification procedures relating to safety regulation, there had not been any trial period planned and it was limited to only a few domestic labs in South Korea, resulting in the possible interference of import products from Japan.
2009年4月、韓国政府は、リチウムイオン電池を販売又は韓国に輸入する際に、試験・検査を行うことを義務づける安全規制に係る認証手続を7 月から課すと公表したが、準備期間がほとんど無い上に、試験・検査機関が韓国国内の少数の機関に限定され、日本からの輸出を妨げる可能性があった。 - 経済産業省 - The method for testing the canceration comprises typically (a) determining the transcription level of the nucleic acid hybridizing to the specific base sequence or its complementary base sequence under the stringent conditions in a biological sample using the nucleic acid and (b) judging whether or not the transcription level of the nucleic acid in the biological sample is significantly below that of a control normal biological sample.
また、本発明の癌化検定方法は、典型的には、（ａ）特定の塩基配列又はその相補的な塩基配列にストリンジェントな条件下でハイブリダイズする核酸を使用して、生物試料中の該核酸の転写レベルを測定し；そして（ｂ）該生物試料中の該核酸の転写レベルが、対照の健常生物試料のそれを有意に下回るかを判断することを含む。 - 特許庁 - A session tracking application includes monitoring means for monitoring activity on the associated interactive session, testing means for determining whether monitored activity includes an unload event, termination means for terminating the associated interactive session upon a determination of a selected unload event and notification means for notifying the associated web server to close out the interactive session.
セッション・トラッキング・アプリケーションは、関連する対話セッション上でのアクティビティをモニタするモニタ手段と、前記モニタされたアクティビティがアンロード・イベントを有するかどうかを判定するテスト手段と、選択されたアンロード・イベントの判定に応じて前記関連する対話セッションを終了する終了手段と、前記対話セッションを終了するよう関連するウェブ・サーバに通知する通知手段とを有している。 - 特許庁 - The synchronization control means 2 is constituted of an external circuit which distributes/outputs a clock signal CLK from a testing apparatus body 1 to the plurality of semiconductor integrated circuits, receives respective test result outputs from the plurality of semiconductor integrated circuits, and suspends outputting of the distributed clock signal CLK, from respective test result output timings to the slowest timing.
同期化制御手段２は、テスト装置本体１からのクロック信号ＣＬＫを複数の半導体集積回路に分配して出力するとともに、複数の半導体集積回路から夫々テスト結果の出力を受け付けて、分配したクロック信号ＣＬＫの出力を各テスト結果の出力タイミングから最も遅いタイミングまで停止する外付け回路で構成されている。 - 特許庁 - The method for testing a memory by writing and reading test date in and from the memory comprises a comparing step of comparing one of two data continuously read of data sequentially read in synchronization with a clock with another as expected data, and a decision step of deciding a fault of the memory based on a comparison result obtained by the comparison step.
テストデータをメモリに書き込んで読み出すことでメモリを試験するメモリ試験方法において、クロックに同期して順次読み出されるデータのうち、連続して読み出される２つのデータのうち一方を期待データとして他方と比較する比較ステップと、比較ステップで得られる比較結果に基づいてメモリの不良を判定する判定ステップとを含むように構成する。 - 特許庁 - To provide a semiconductor module and its tester facilitating high-density mounting of electronic components, structural designing, testing, and failure analysis of semiconductor modules and to provide a small semiconductor module having a high frequency circuit capable of preventing or reducing deterioration of high frequency characteristics due to influence of internal wiring and excelling in test convenience.
電子部品の高密度実装や半導体モジュールの構造設計、検査および故障解析などが容易である半導体モジュールとその検査装置を提供し、さらには、高周波回路を有する小型の半導体モジュールにおいて、内部配線の影響による高周波特性の劣化が防止あるいはより低減され且つ検査の利便性に優れた半導体モジュールを提供すること。 - 特許庁 - The testing device includes a test signal supply circuit 20, a comparison circuit 30 for comparing an output signal output from the output terminal with a reference voltage, a reference voltage setting part 40 for setting the reference voltage at a voltage of a high level side or a low level side, and a load voltage supply circuit 50 for supplying a load voltage to the output signal when the control signal is applied.
試験装置は、テスト信号供給回路２０と、出力端子から出力された出力信号と基準電圧とを比較する比較回路３０と、基準電圧をハイレベル側またはローレベル側の電圧に設定する基準電圧設定部４０と、制御信号が印加されたとき、出力信号に負荷電圧を供給する負荷電圧供給回路５０とを有する。 - 特許庁 - To provide a very epoch-making film evaluation tester and a film evaluation testing method capable of evaluating the characteristics of a thin film as much as several ten μm or less, measuring the wear resistance in a short time by a very simple operating procedure without scattering of a propellant injected on a subject, lessening a measurement error, attaining good reproducibility and miniaturizing the tester.
数十μｍ以下の薄い皮膜の特性でも評価することができ、被験体に噴射された噴射材が飛散したりせず、極めて簡易な操作手順で短時間に摩耗性を測定することができ、測定誤差が小さくて再現性に秀れ、しかも、装置を小型化し得ることもできる極めて画期的な皮膜評価試験機及び皮膜評価試験方法を提供すること。 - 特許庁 - This penetration endurance evaluating testing device for evaluating the penetration endurance of the sheet-like material by freely dropping the sharp cutting tool in the vertical direction, comprises a mechanism part for freely dropping the cutting tool from an arbitrary height, and the penetration profile of a multilayer structure is measured by continuously measuring the damping energy from the collision of the cutting tool with the sample to its stop.
鋭利な刃物を鉛直方向に自由落下させて、シート状材料の耐貫通性を評価するための装置において、刃物を任意の高さから自由落下させる機構部と、刃物が試料に衝突してから停止するまでの減衰エネルギーを連続的に測定することにより多層構造物の貫通プロファイルを測定することを可能とした耐貫通性評価装置とする。 - 特許庁 - This vehicle collision testing device 10 has a first rail 20, a first towing tool 22 moved while being guided by the first rail 20 to tow a first vehicle 50, a second rail 30 arranged in parallel with the first rail 20 separated by a prescribed distance, and a second towing tool 32 moved while being guided by the second rail 30 to tow a second vehicle 60.
本発明に係る車両衝突試験装置１０は、第１レール２０と、第１レール２０に案内されて移動して第１車両５０を牽引する第１牽引ツール２２と、第１レール２０と所定距離隔てて平行に配置されている第２レール３０と、第２レール３０に案内されて移動して第２車両６０を牽引する第２牽引ツール３２とを有する。 - 特許庁 - Conducting an electrical test as a job lot by arranging contact pins 102 of the contact-fixing board 103 of a semiconductor testing device 106 corresponding to the all electrodes of solder bumps 108 of a plurality of semiconductor devices 107 on a wafer level CSP body 101 makes possible the use of the same board 103 to the other smiconductor devices.
半導体テスト装置１０６のコンタクト固定基板１０３におけるコンタクトピン１０２を、ウエハレベルＣＳＰ本体１０１上の複数の半導体デバイス１０７における半田バンプ１０８の全電極に対応して配置することにより、一括して電気的試験を行うことにより、同じコンタクト固定基板１０３を他の半導体デバイスに対しても使用可能にする。 - 特許庁 - To provide a heat characteristic testing method of a temperature regulating material capable of simply and rapidly evaluating the temperature characteristics or heat quantity moving characteristics of the temperature regulating material especially useful for the temperature regulating material for relaxing the temperature change of a material due to the temperature change of an outside environment by utilizing a phase changing substance, and a heat characteristic tester of the temperature regulating material.
相変化物質を利用して外部環境の温度変化による材料の温度変化を緩和するための温度調節材料を評価するのに特に適した、温度調節材料の温度特性または熱量移動特性の評価を、簡便、迅速かつ再現性良く評価することができる温度調節材料の熱特性試験方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electrified filter medium, which is obtained by combining a polyester fiber with a polyolefin fiber and exhibits high particle collecting efficiency at a low pressure loss, the combustive classification of which is self-extinguishing according to JIS D 1201(1977): a combustibility testing method of organic materials in a cabin of an automobile and which does not generate dioxins when incinerated.
ポリエステル系繊維とポリオレフィン系繊維との組合せで、低圧力損失で高い粒子捕集効率を発現できる帯電濾材を提供するものであり、さらには、「ＪＩＳ Ｄ １２０１（１９７７）自動車車室内用有機資材の燃焼性試験方法」による燃焼性区分が自消性であり、かつ焼却処分時にダイオキシン類を発生しない帯電濾材をも提供する。 - 特許庁 - This deterioration testing device is equipped with a laser light output part 11 for outputting laser light, a specimen support part 19 for supporting a liquid crystal panel (specimen) 15 irradiated with the laser light, and a temperature control means 16 for adjusting the temperature of the liquid crystal panel 15 in the abutting state on the liquid crystal panel 15 supported by the specimen support part 19.
本発明に係る劣化試験装置は、レーザ光を出力するレーザ光出力部１１と、前記レーザ光を照射される液晶パネル（被検物）１５を支持する被検物支持部１９と、前記被検物支持部１９に支持された前記液晶パネル１５と当接して当該液晶パネル１５の温度を調整する温度制御手段１６とを備えている。 - 特許庁 - This semiconductor testing device for performing a test by giving a test signal generated based on pattern data to a test object includes a pattern editor means for describing the pattern data on the spread sheet constituted by using the rectangular region partitioned by rows and columns as the minimum unit, creating the pattern file of a spread sheet form, and editing the pattern file.
本発明は、パターンデータに基づいて生成した試験信号を被試験対象に与えて試験を行う半導体試験装置において、行および列によって区切られた矩形領域を最小単位として構成したスプレッドシートに前記パターンデータを記述し、スプレッドシート形式のパターンファイルを作成するとともに、前記パターンファイルを編集するパターンエディタ手段を備えたことを特徴とする。 - 特許庁 - The semiconductor testing device 1 includes a plurality of contactors 11 contacting the semiconductor device 20 of an measuring object, heating elements 31 thermally connected to each of the plurality of contactors 11, and a driving part 8 for giving each of the contactors the difference of height fitting to the irregularity of the surface of the semiconductor device 20 by vertically driving each of the plurality of contactors 11.
測定対象の半導体装置２０に当接する複数のコンタクタ（当接体）１１と、複数のコンタクタ１１の各々に熱的に接続された発熱体３１と、複数のコンタクタ１１の各々を上下に駆動することにより、コンタクタ１１の各々に半導体装置２０の表面の凹凸に合った高低差を付与する駆動部８とを有する半導体試験装置１による。 - 特許庁 - The discharge lamp lighting device 5 is provided with a startup means 54 impressing startup voltage on a pair of electrodes 311A, voltage impressing means 52, 53 impressing testing voltage on the pair of electrodes 311A, a state detection means 57 detecting a discharge state between the pair of electrodes 311A, and a control means 58 controlling the startup means 54 and the voltage impressing means 52, 53.
放電灯点灯装置５は、一対の電極３１１Ａに始動電圧を印加する始動手段５４と、一対の電極３１１Ａに試験用電圧を印加する電圧印加手段５２，５３と、一対の電極３１１Ａ間の放電状態を検出する状態検出手段５７と、始動手段５４及び電圧印加手段５２，５３を制御する制御手段５８とを備える。 - 特許庁 - An alignment device used in the testing device includes: a first pusher mechanism and a first positioning mechanism arranged on one and the other of a pair of opposing sides of a panel receiving face, at an interval along respective extending directions of the corresponding sides; and a second pusher mechanism and a second positioning mechanism arranged on one and the other of the other pair of opposing sides of the panel receiving face.
試験装置で得用いるアライメント装置は、パネル受け面の対向する一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、対応する辺の延在方向に間隔をおいて配置された第１のプッシャー機構及び第１の位置決め機構と、パネル受け面の対向する他の一対の辺の一方及び他方に、それぞれ、配置された第２のプッシャー機構及び第２の位置決め機構とを含む。 - 特許庁 - To obtain a gaseous corrosion testing device capable of performing a gaseous corrosion test, while performing a hygrothermal cycle test without forming dew on a wall surface of a test tank, capable of improving the gas concentration stability in the test tank and the reproducibility of test results, and capable of performing the hygrothermal cycle test under an atmosphere where gas concentration is controlled at all times.
この発明は、試験槽内の壁面に結露を生じることなく温湿度サイクル試験を行いながらガス腐食試験を行うことができ、試験槽内のガス濃度の安定性および試験結果の再現性を向上することができ、常にガス濃度を管理されているガス雰囲気下で温湿度サイクル試験を行うことができるガス腐食試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁 - The semiconductor testing device including the top plate in contact with a prober, and a test head body for supporting the top plate in the floating state, also includes a fixing means provided between the top plate and the test head body, for fixing the top plate and the test head body after bonding operation between the prober and the top plate.
プローバに接するトッププレ−トと、このトッププレ−トをフローティング支持するテストヘッド本体とを具備する半導体試験装置において、前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体との間に設けられ前記プローバとトッププレ−トとの結合動作後に前記トッププレ−トと前記テストヘッド本体とを固定する固定手段を具備したことを特徴とする半導体試験装置である。 - 特許庁 - An ESD testing apparatus 1 includes an ESD generator 11 for generating electrostatic discharge for a resistance test, ESD waveform measuring device 21, 22 for measuring waveform characteristics of the electrostatic discharge, a counter 23 for counting generation frequency of the electrostatic discharge, and a controller 16 for measuring the waveform characteristics of the electrostatic discharge when the generation frequency reaches a threshold.
本発明に係るＥＳＤ試験装置１は、耐性試験用の静電気放電を発生させるＥＳＤ発生手段１１と、静電気放電の波形特性を測定するＥＳＤ波形測定手段２１，２２と、静電気放電の発生回数をカウントするカウンタ２３と、該発生回数が閾値に達した場合に静電気放電の波形特性の測定を行う制御手段１６とを備える。 - 特許庁 - The gaseous corrosion testing device is such that each set value of temperature, humidity and corrosion gas concentration, at which dew is not formed on the wall surface of the test tank, is set in at least one condition, and the hygrothermal cycle test is performed in which the tests under the set condition are repeated, at each predetermined temperature transition time once or in combination of a plurality of number of times.
この発明は、ガス腐食試験機において、試験槽の壁面に結露を発生させないようにする温度と、湿度と、腐食ガスの濃度との設定値を各々少なくとも１つの条件で設定し、設定した条件の試験を１回または複数回組合せて所定の温度移行時間ごとに繰り返す温湿度サイクル試験を行うことを特徴とする。 - 特許庁 - In the subscriber line testing system, an IP converter 6 provided with a test connection control part 61 for receiving a test request from a subscriber terminal 2 is connected through an IP network to a new test reception board system 1B, and the IP converter 6 includes a test command conversion part 62 for converting control information by the IP network to control signals using a speech channel (B channel).
加入者端末２から試験依頼を受け付ける試験接続制御部６１を備えたＩＰ変換装置６が、ＩＰ網を介して新試験受付台システム１Ｂを接続される加入者線試験システムであって、ＩＰ変換装置６は、さらにＩＰ網による制御情報を通話チャネル（Ｂチャネル）を用いた制御信号に変換する試験コマンド変換部６２を備える。 - 特許庁 - A testing device 100 includes a rotating shaft 23 for fixing a sealing liner 7, such that the center of the sealing liner 7 corresponds to the rotation center C; a movable member 28 having a movable opening 64 through which the rotating shaft 23 passes, and a sealing ring 8 fixed to the inner circumference of the movable opening 64; and a static member 27 rotatably holding the movable member 28.
本発明に係る試験装置１００は、シールライナ７の中心が回転中心Ｃに一致するようシールライナ７を固定する回転軸２３と、回転軸２３が貫通する可動開口部６４が形成され、可動開口部６４の内周にシールリング８が固定される可動部材２８と、可動部材２８を回転可能に保持する静止部材２７と、を備えている。 - 特許庁 - A method for producing a probe test head for testing a semiconductor integrated circuit includes a step in which a plurality of probes 81 are defined for one or a plurality of masks, a step in which a plurality of probes are produced by using the masks, and a step in which a plurality of probes 81 are arranged by inserting them into the corresponding holes of a first die 42 and a second die 44.
半導体集積回路をテストするためのプローブ・テスト・ヘッドを製造する方法は、１つ又は複数のマスクとして、複数のプローブ８１の形状を画成するステップと、該マスクを使用して、複数のプローブを製造するためのステップと、第１のダイ４２と第２のダイ４４内の対応するホールを通して複数のプローブ８１を配置するステップとを含んでいる。 - 特許庁 - The washing-unrequired rice producing device for testing includes: processing containers 6, 7 which are removably mounted in a body and accommodate grains to be treated, water and adsorbents; a stirring part 14 which stirs the contents accommodated in the processing containers; a stirring-controlling part 10 which controls the operation of the stirring part 14; and an adsorbent-recovering container 5 which recovers the adsorbents accommodated in the processing containers 6,7.
本体内に取り外し可能に装着され、被処理穀粒、水及び吸着材を収容する加工容器６，７と、加工容器内に収容された内容物を撹拌する撹拌部１４と、撹拌部１４の動作を制御する撹拌制御部１０と、加工容器６，７に収容された吸着材を回収する吸着材回収容器５と、を備えたテスト用無洗米製造装置。 - 特許庁 - In the method, the presence of mixing with expansive material or shrinkage-reducing admixture can be determined, by checking that a circumferential strain amount obtained from a strain gauge attached to the central position height-wise on the lateral surface of a disposable form, such as a thin/thick steel plate mold, namely, a thin cylindrical form used for concrete strength testing, indicates a transition in values for a certain trend.
コンクリート強度試験用に用いられる薄肉円柱型枠である薄厚鋼板製モールド等の使い捨て型枠の外側面の高さ方向の中央位置に貼付したひずみゲージによって得られた円周方向ひずみ量が所定傾向の値の推移を示すことを確認することで、膨張材または収縮低減剤の混入の有無を判定することができる。 - 特許庁 - This frame work system and the test method for testing a server having a mixed workload is provided with a workload case constitution utility interface including a function for allowing a frame work to call the workload constitution utility of a third party and a workload interface including a function for the setup and control and monitor of the workload for the purpose of defining a workload case according to various test targets.
本発明は、混合ワークロードを有するサーバをテストするためのフレームワーク・システムおよびそのテスト方法を開示し、これは、様々なテスト目的でワークロード・ケースを定義するために、フレームワークにサード・パーティのワークロード構成ユーティリティを呼び出させる機能を含むワークロード・ケース構成ユーティリティ・インターフェースと、ワークロードのセットアップ、制御、および監視の機能を含むワークロード・インターフェースとを含んでいる。 - 特許庁 - This firmware test automation method includes performing the forced writing of set data to be set in the normal operation time of an edge sensor as object equipment, input data to be input from a sensor head 1 in the normal operation time and internal variables as data to be generated by firmware during the execution of the a program corresponding to the set data and the input data from an external computer 3 in testing the firmware.
ファームウェアテスト自動化方法は、対象機器であるエッジセンサの通常の動作時に設定される設定データと、通常の動作時にセンサヘッド１から入力される入力データと、この設定データと入力データに応じたプログラムの実行中にファームウェアが生成するデータである内部変数とに対して、ファームウェアのテスト時に外部のコンピュータ３から強制書き込みする。 - 特許庁 - This method for identifying potential herbicides comprises testing a compound in an AMP (adenosine monophosphate) deaminase inhibition assay and, if a measurable reduction of AMP deaminase is observed, subsequently subjecting the compound to conventional test(s) to confirm the in vivo herbicidal activity, wherein the measurable reduction is at least 25% reduction of AMP deaminase when tested against an enzyme preparation at 100 μM or less.
AMPデアミナーゼ阻害試験で化合物を試験し、AMPデアミナーゼの測定可能な減少が観察される場合、次にそれを慣用の試験（複数可）に付して生体内の除草活性を確認することからなり、この測定可能な減少は100μM以下で酵素試料に対して試験した時のAMPデアミナーゼの少なくとも25％の減少である、潜在的な除草剤を識別する方法である。 - 特許庁 - The testing device 100 stops the application of an input signal pattern 12 to the semiconductor devices having active state signals indicating their states among a plurality of semiconductor devices 200, releases the stop to resume the application of the input signal pattern, and stops the application of the input signal pattern 12 to the semiconductor devices other than the semiconductor devices to which the application of the input signal pattern is resumed.
複数の半導体デバイス２００のそれぞれの状態を示す状態信号がアクティブとなった半導体デバイスへの入力信号パターン１２の印加を停止し、停止を解除させて入力信号パターン１２の印加を再開し、入力信号パターン１２の印加を再開させる半導体デバイス以外の半導体デバイスへの入力信号パターン１２の印加を停止させる。 - 特許庁 - Prior to testing a plurality of integrated circuits 12 formed on the semiconductor wafer 11, a feeder pad 13 and feeder interconnections 14 for electrically connecting the feeder pad 13 and individual feeders of the integrated circuits 12 are formed, in advance, in a region on the semiconductor wafer 11 except for the regions where the integrated circuits 12 are formed.
半導体ウエハ１１上に形成されている複数の集積回路１２を検査するに先立って、同半導体ウエハ１１上の上記複数の集積回路１２が形成される領域を除く領域に、給電パッド１３と、この給電パッド１３および上記複数の集積回路１２の各給電部を電気的に接続する給電配線１４とを予め形成、敷設しておく。 - 特許庁 - The IC tester for inspecting the output resistance value of each output pin of the under testing device equipped with a plurality of output pins is provided with reference resistors, connected to each output pin, a reference voltage impressing means for impressing the prescribed reference voltage via these reference resistors, and a voltage measurement means for measuring the voltage generated at each output pin.
複数の出力ピンを有する被試験デバイスの前記各出力ピンの出力抵抗値を検査するＩＣテスタにおいて、 前記各出力ピンに接続された基準抵抗と、 これらの基準抵抗を介して前記各出力ピンに所定の基準電圧を印加する基準電圧印加手段と、 前記各出力ピンに発生する電圧を測定する電圧測定手段と、を備える。 - 特許庁 - The semiconductor testing device comprises N-phase assembling means for multiplexing and assembling input phase splitting signals input by N-phase interleaving, as predetermined, and outputting them as one-phase time sharing multiplex signals and a N-phase disassembling means for outputting disassembled phase splitting signals disassembled and restored into parallel N-phases after receiving the time sharing multiplex signals from the N-phase assembling means.
Ｎ相インターリーブで入力される各入力分相信号を所定に多重化合成して、１相の時分割多重信号として出力するＮ相合成手段を具備し、Ｎ相合成手段からの時分割多重信号を受けて、Ｎ相のパラレルに分解復元した分解分相信号を出力するＮ相分解手段を具備する半導体試験装置。 - 特許庁 - A method of testing an integrated circuit device includes a step of applying a magnetic field to the integrated circuit device during application of one or more of test signals wherein the applied magnetic field induces magnetostriction effect in one or more materials including the integrated circuit device and a step of determining the existence of inconvenience caused by the applied magnetic field in the integrated circuit device.
集積回路デバイスを試験するための方法は、１つ以上の試験信号の印加中に前記集積回路デバイスに印加磁界を与えるステップであって、印加磁界が集積回路デバイスを含む１つ以上の材料において磁気ひずみ効果を誘発する、ステップと、集積回路デバイス内において印加磁界に起因する不具合の存在を判定するステップと、を含む。 - 特許庁
