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OPERATION PANEL AND TENSILE TESTING MACHINE, COMPRESSION TESTING MACHINE OR TENSILE/COMPRESSION TESTING MACHINE HAVING IT 操作パネル及びこれを有する引張試験機、圧縮試験機又は引張・圧縮試験機 - 特許庁
STANDARD WAFER FOR TESTING SEMICONDUCTOR, METHOD OF TESTING SEMICONDUCTOR, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE 半導体検査用標準ウエハ、半導体の検査方法および半導体検査装置 - 特許庁
STRESS-TESTING CIRCUIT OF SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT, AND STRESS-TESTING METHOD USING THE STRESS-TESTING CIRCUIT 半導体集積回路のストレス試験回路、及びこの回路を用いたストレス試験方法 - 特許庁
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