DELAY CIRCUIT AND TESTING DEVICE 遅延回路、及び試験装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR PRESSURE TESTING 加圧試験方法及び装置 - 特許庁
When a testing circuit 21 generates a testing signal by a testing mode signal, this testing signal is supplied to a sequencer 15. テストモード信号により、テスト回路21がテスト信号を発生すると、このテスト信号がシーケンサ15に供給される。 - 特許庁
METHOD OF TESTING SiC SUBSTRATE SiC基板の検査方法 - 特許庁
TESTING APPARATUS OF HARD DISK DRIVE ハードディスクドライブの試験装置 - 特許庁
DROP TESTING APPARATUS FOR DRY ICE ドライアイスの落下試験装置 - 特許庁