「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 47 48 49 50 51 52 53 54 55 .... 288 289 次へ＞- ABRASION TESTING METHOD AND ABRASION TESTING APPARATUS FOR CAGE OF ROLLER BEARING
転がり軸受の保持器摩耗試験方法及びその保持器摩耗試験装置 - 特許庁 - IMMUNOCHROMATOGRAPHIC TESTING METHOD AND DEVICE
イムノクロマトグラフ検査方法および装置 - 特許庁 - DESIGN SUPPORTING DEVICE AND TESTING DEVICE
設計支援装置および検査装置 - 特許庁 - APPARATUS AND METHOD FOR TESTING CODE CLONE
コードクローンのテスト装置および方法 - 特許庁 - Material testing machine, gas concentration measuring instrument, air-flow resistance testing device, dust capturing rate measuring device, dead space testing device, and exhaust air valve airtightness testing device
材料試験機、ガス濃度計測器、通気抵抗試験装置、粉じん捕集効率測定装置、死積試験装置及び排気弁気密試験装置 - 日本法令外国語訳データベースシステム - OPERATION TESTING DEVICE FOR ELEVATOR GOVERNOR
エレベータ調速機の動作試験装置 - 特許庁 - TESTING JIG FOR OPENING FORCE OF PORTION PACK
ポーションパックの開封力試験治具 - 特許庁 - TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR ROTARY SHAFT AXIAL LOAD MEASURING DEVICE
回転軸用アキシアル荷重測定装置の検定方法及び検定装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING WEATHER AND LIGHT RESISTANCE
耐候光試験装置及び方法 - 特許庁 - CORROSION ACCELERATING SIMPLE SPRAY TESTING MACHINE
腐食促進用簡易噴霧試験機 - 特許庁 - TESTING SYSTEM, PROGRAM, AND RECORDING MEDIUM
試験装置、プログラム、及び記録媒体 - 特許庁 - CONTROL UNIT AND TESTING METHOD FOR IT
制御ユニット及びその検査方法 - 特許庁 - GAUGING APPARATUS OF MOTIVE ENERGY TESTING APPARATUS
動力試験装置の検量装置 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR TESTING TRANSMISSION LINE
伝送路の試験方法及び装置 - 特許庁 - CAPILLARY TYPE LEAKAGE TESTING PIECE, TESTING METHOD THEREFOR, AND METHOD OF DETECTING BLINDING
キャピラリー型漏れ試験片とその試験方法及び目詰まり検出方法 - 特許庁 - TESTING CARRIER AND BOARD ASSEMBLY
試験用キャリアおよび基板組立体 - 特許庁 - PROTOCOL TESTER AND PROTOCOL TESTING METHOD
プロトコル・テスタ及びプロトコル試験方法 - 特許庁 - CONTINUOUS REGENERATION TESTING DEVICE FOR FILTER, AND CONTINUOUS REGENERATION TESTING METHOD OF FILTER
フィルタ用連続再生試験装置及びフィルタの連続再生試験方法 - 特許庁 - PHOTORECEPTOR DEGRADING ACCELERATION TESTING DEVICE AND PHOTORECEPTOR DEGRADING ACCELERATION TESTING METHOD
感光体劣化加速試験装置及び感光体劣化加速試験方法 - 特許庁 - COMMUNICATION RECOVERING METHOD FOR MATERIAL TESTING DEVICE AND MATERIAL TESTING DEVICE
材料試験装置における通信復帰方法および材料試験装置 - 特許庁 - TESTING SYSTEM AND BACK ANNOTATION METHOD
試験システム及びバックアノテーション方法 - 特許庁 - DRIVING CIRCUIT AND METHOD FOR TESTING THE SAME
駆動回路およびそのテスト方法 - 特許庁 - MEDIUM TESTING METHOD, MEDIUM TESTER, MEDIUM TESTING PROGRAM AND RECORDING MEDIUM
媒体検査方法、媒体検査装置、媒体検査プログラムおよび記憶媒体 - 特許庁 - TESTING SYSTEM AND CONTROL METHOD THEREFOR
試験システムおよびその制御方法 - 特許庁 - MATCH PLATE FOR ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE
電子部品試験装置用マッチプレ—ト - 特許庁 - TEST LIQUID COATING APPARATUS FOR TESTING TRACKING RESISTANCE AND TRACKING RESISTANCE TESTING METHOD
耐トラッキング性試験用試験液塗布装置及び耐トラッキング性試験方法 - 特許庁 - ELECTRODE PATTERN TESTING SHORT BAR OF PANEL
パネルの電極パターンテスト用ショートバー - 特許庁 - CLEAN ROOM AIRTIGHTNESS PERFORMANCE TESTING METHOD
クリーンルームの気密性能試験方法 - 特許庁 - METHOD OF TESTING ABRASION OF WIRING MEMBER FOR AUTOMOBILE AND ITS ABRASION TESTING APPARATUS
自動車用配線部材の摩耗試験方法及びその摩耗試験装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT, AND PROGRAM FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT
集積回路試験装置及び方法、並びに集積回路試験用プログラム - 特許庁 - TESTING DEVICE AND WAVEFORM DISPLAY METHOD
試験装置及び波形表示方法 - 特許庁 - COMBUSTION TESTING APPARATUS OF METALLIC MATERIAL
金属材料の燃焼試験装置 - 特許庁 - ULTRASONIC TORSION FATIGUE TESTING SYSTEM AND ULTRASONIC TORSION FATIGUE TESTING METHOD
超音波ねじり疲労試験システム及び超音波ねじり疲労試験方法 - 特許庁 - IC-TESTING APPARATUS, CONTROL METHOD AND MEMORY MEDIUM IN IC-TESTING APPARATUS
ＩＣ試験装置、ＩＣ試験装置における制御方法及び記憶媒体 - 特許庁 - COAXIAL CABLE AND TESTING METHOD THEREOF
同軸ケーブルおよびその試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE, METHOD OF TESTING THE SAME, AND BONDING WIRE CONNECTION DEGREE TESTING CIRCUIT
半導体装置、その検査方法及びボンディングワイヤ接続度試験回路 - 特許庁 - SMOKE EXPOSURE TESTING MODULE, AND SMOKE EXPOSURE TESTING METHOD USING THE MODULE
煙曝露試験用モジュール、及びこのモジュールを用いた煙曝露試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER TESTING SYSTEM AND METHOD
半導体ウエハー試験システムと方法 - 特許庁 - EMERGENCY GOVERNOR TESTING DEVICE FOR TURBINE
タービンの非常調速機試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING APPARATUS AND SEMICONDUCTOR DEVICE TESTING METHOD USING THE SAME
半導体素子試験装置およびこれを用いた半導体素子試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING JIG, AND METHOD AND DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR
半導体試験用治具、半導体試験装置および半導体試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE, CALIBRATION BOARD, AND CALIBRATION METHOD OF SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
半導体試験装置、校正用ボード、半導体試験装置の校正方法 - 特許庁 - SAMPLING AND TESTING METHOD FOR MICROORGANISM
微生物の捕集及び試験方法 - 特許庁 - CONTROL UNIT, CONTROL METHOD, TESTING METHOD FOR INTERLOCK CONTROL AND MODULE FOR TESTING
制御装置，制御方法，インターロック制御の試験方法，試験用モジュール - 特許庁 - FUSE CLIP WITH VARIABLE RESISTOR, AND TESTING SYSTEM AND TESTING METHOD USING THE FUSE CLIP
可変抵抗付きヒューズクリップ，それを用いた試験システムおよび試験方法 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND TEST SYSTEM
半導体試験装置及びテストシステム - 特許庁 - To provide a semiconductor testing circuit capable of testing the operation of a semiconductor testing circuit (BIST circuit) itself and also testing the operation of a circuit to be tested directly.
外部端子数を増やすことなく、半導体テスト回路（ＢＩＳＴ回路）自体の動作テストと、被テスト回路に対してダイレクトに動作テストを可能にする。 - 特許庁 - DISC-SHAPED RUBBER TEST PIECE FOR RUBBER TESTING MACHINE AND RUBBER TESTING MACHINE USING SAME
ゴム試験機用円盤状ゴム試験片およびそれを用いたゴム試験機 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR A/T TESTING APPARATUS
Ａ／Ｔ試験装置の計測方法 - 特許庁 - Figure-1 The Water Quality Testing Location and Result
図 5-1 水質検査位置及び結果 - 厚生労働省
- 特許庁
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- ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。
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