「Testing」を含む例文一覧(14414)
＜前へ 1 2 .... 50 51 52 53 54 55 56 57 58 .... 288 289 次へ＞- SEMICONDUCTOR WAFER AND ITS TESTING METHOD
半導体ウエハ及びその試験方法 - 特許庁 - TEMPERATURE TESTING DEVICE FOR PIEZOELECTRIC OSCILLATION DEVICE
圧電振動デバイスの温度試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR WAFER AND ITS TESTING METHOD
半導体ウェハ及びその試験方法 - 特許庁 - TESTING CIRCUIT FOR SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路の試験回路 - 特許庁 - APPARATUS FOR TESTING SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT
半導体集積回路の試験装置 - 特許庁 - ELECTROMAGNETIC ACTUATOR AND MATERIAL TESTING MACHINE
電磁アクチュエータおよび材料試験機 - 特許庁 - And then we do 12 months extensive testing.
そして12ヶ月 徹底的にテストして - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - Methods such as tensile testing, which is
張力テストなどの測定方法で - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - Testing people like me?
私みたいな者の テストばかりしてるの? - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - Are hiring programmers, hiring testing people
プログラマやテスタを雇い プログラムをテストし - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書 - It is still in the testing stage.
それはまだ実験段階にあります。 - Tanaka Corpus - It is still in the testing stage.
それはまだ実験段階にあります。 - Tatoeba例文 - an act of forbidding all nuclear testing
すべての核実験を禁止すること - EDR日英対訳辞書 - DISPLAY DEVICE AND METHOD FOR TESTING THE SAME
表示装置及びその検査方法 - 特許庁 - LENS ASSEMBLY FOR BIOLOGICAL TESTING
生物学的試験のためのレンズアセンブリ - 特許庁 - POWER SOURCE CONTROL PROCESS ACCELERATION TESTING DEVICE
電源制御プロセス加速試験装置 - 特許庁 - DEVICE AND METHOD FOR TESTING MEMORY
メモリの試験装置および試験方法 - 特許庁 - FIELD-WINDING INTERLAYER SHORT TESTING DEVICE
界磁巻線層間短絡試験装置 - 特許庁 - METHOD OF TESTING WHISKER IN TINNING FILM
錫めっき皮膜のウイスカ検査方法 - 特許庁 - METHOD FOR TESTING MINUTE QUANTITY OF AGGREGATE
骨材の微量分量試験方法 - 特許庁 - ELECTROHYDRAULIC SERVO-TYPE MATERIAL TESTING APPARATUS
電気−油圧サーボ式材料試験機 - 特許庁 - COHERENCE MEASURING DEVICE AND TESTING DEVICE
コヒーレンス測定装置、及び試験装置 - 特許庁 - TESTING METHOD AND TESTING DEVICE FOR INSERTED TERMINAL IN AUTOMATIC TERMINAL INSERTOR
自動端子挿入機における挿入端子の検査方法及びその検査装置 - 特許庁 - METHOD FOR CREATING MAP TO BE USED FOR ENGINE-TESTING DEVICE OR VEHICLE-TESTING DEVICE
エンジン試験装置または車両試験装置に用いるマップの作成方法 - 特許庁 - TESTING DEVICE FOR TESTING DEVICE UNDER TEST, HAVING SWITCH FOR SELECTING DIFFERENT PATHS
異なるパスを選択するスイッチを備える、被試験デバイスを試験する試験デバイス - 特許庁 - TESTING MACHINE FOR FILM, AND METHOD FOR VACUUM FILM FORMATION BASED ON MEASUREMENT DATA PROVIDED BY TESTING MACHINE
フィルム試験機及び試験機測定データに基づいた真空成膜方法 - 特許庁 - ELECTRIC FURNACE FOR FRP MOVING BLADE STRENGTH TESTING, AND STRENGTH TESTING MACHINE COMPRISING THE SAME
ＦＲＰ動翼強度試験用電気炉及びこれを備えた強度試験機 - 特許庁 - AUXILIARY DEVICE FOR TESTING CHARACTERISTIC OF RELAY, AND METHOD OF TESTING CHARACTERISTIC OF RELAY
継電器の特性試験用補助装置及び継電器の特性試験方法 - 特許庁 - LOAD CELL CORRECTION JIG, HIGH-SPEED TENSION TESTING MACHINE AND HIGH-SPEED TENSION TESTING METHOD
ロードセル矯正治具、高速引張り試験機および高速引張り試験方法 - 特許庁 - To provide a semiconductor testing circuit for simultaneously testing many DUTs.
多くのＤＵＴを同時に試験可能な半導体試験回路を提供する。 - 特許庁 - SEALING TESTING DEVICE FOR AIR CONDITIONING PIPE AND SEALING TESTING METHOD OF AIR CONDITIONING PIPE
空調配管用気密試験装置および空調配管の気密試験方法 - 特許庁 - MEMBRANE STRENGTH TESTING METHOD OF OPTICAL DISK AND MEMBRANE STRENGTH TESTING DEVICE OF OPTICAL DISK
光ディスクの膜強度試験方法及び光ディスクの膜強度試験装置 - 特許庁 - COATING FILM FOR TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY AND METHOD OF TESTING ANTIMICROBIAL PROPERTY USING THE SAME
抗菌性試験用被覆フィルムおよびそれを用いた抗菌性試験方法 - 特許庁 - INFORMATION LEAK TESTING DEVICE, COMPUTER PROGRAM, AND METHOD OF TESTING INFORMATION LEAK
情報漏洩検査装置及びコンピュータプログラム及び情報漏洩検査方法 - 特許庁 - PENETRATION ROD, AND PENETRATION TESTING MACHINE AND PENETRATION TESTING METHOD USING THE SAME
貫入ロッド、並びにこれを用いた貫入試験機および貫入試験方法 - 特許庁 - INTERMITTENT ENERGIZATION TESTING DEVICE, INTERMITTENT ENERGIZATION TESTING METHOD, AND HEAT GENERATING ELECTRONIC DEVICE
断続通電試験装置、断続通電試験方法、および発熱電子デバイス - 特許庁 - TESTING METHOD AND TESTING DEVICE OF METAL BELT FOR METAL BELT CONTINUOUSLY VARIABLE TRANSMISSION
金属ベルト式無段変速機用金属ベルトの試験方法及び試験装置 - 特許庁 - ELECTRONIC PART TESTING PRESSING DEVICE, ELECTRONIC PART TESTING DEVICE, AND ITS CONTROL METHOD
電子部品試験用押圧装置、電子部品試験装置およびその制御方法 - 特許庁 - DURABILITY TESTING APPARATUS OF CERAMIC SUBSTRATE AND DURABILITY TESTING METHOD OF THE SAME
窯業系基材の耐久性試験装置及びその耐久性試験方法 - 特許庁 - GAME MACHINE TESTING DEVICE, BALL DISPENSER CONTROLLER, METHOD OF TESTING, AND METHOD OF CONTROL
遊技機試験装置、玉貸し機制御装置、試験方法、並びに制御方法 - 特許庁 - DETERIORATION TESTING METHOD OF TIRE COMPONENT AND DETERIORATION TESTING DEVICE OF TIRE COMPONENT
タイヤ構成部材の劣化試験方法、及びタイヤ構成部材の劣化試験装置 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS AND ELECTROSTATIC PROTECTION METHOD FOR SEMICONDUCTOR TESTING APPARATUS
半導体試験装置および半導体試験装置における静電気保護方法 - 特許庁 - To provide a testing method of a substrate after the planarization process of a testing system.
試験システムの平面化プロセス後に基板を試験する方法を提供する。 - 特許庁 - SIMPLIFIED COMPACTION TESTING MACHINE AND COMPACTION TESTING METHOD BY TAMPING USING THE SAME
簡易締固め試験機及びこれを用いた突固めによる締固め試験方法 - 特許庁 - CONVEYANCE MEDIUM FOR ELECTRONIC COMPONENT TO BE TESTED, ELECTRONIC COMPONENT TESTING DEVICE, AND METHOD OF TESTING
試験用電子部品搬送媒体、電子部品試験装置および試験方法 - 特許庁 - The testing device 40 is a device for testing sorting operation of the sorter 10.
試験装置４０は、分類装置１０の分類動作を試験する装置である。 - 特許庁 - To provide a reliability testing device capable of testing reliability by liquid crystal cells.
液晶セルで信頼性を試験できる信頼性試験装置を提供する。 - 特許庁 - JITTER TESTING CIRCUIT, SEMICONDUCTOR DEVICE MOUNTING THE SAME, AND JITTER TESTING METHOD
ジッタテスト回路、ジッタテスト回路を搭載した半導体装置およびジッタテスト方法 - 特許庁 - PROJECTION RIDE-OVER PERFORMANCE TESTING DEVICE FOR TYRE AND TESTING METHOD USING THE SAME
タイヤの突起乗り越し性能の試験装置及びそれを用いた試験方法 - 特許庁 - To provide an event type semiconductor testing system for testing a device to be tested.
被試験デバイスをテストするための、イベント型半導体テストシステムを提供する。 - 特許庁
- 特許庁
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