「Visual Inspection」を含む例文一覧(1328)
＜前へ 1 2 .... 6 7 8 9 10 11 12 13 14 .... 26 27 次へ＞- The visual inspection system performing a plurality of types of visual inspection comprises a plurality of inspection parameter setting programs 1 corresponding to the plurality of types of visual inspection, respectively, a section 2 for generating table data based on parameters set by the plurality of inspection parameter setting programs 1, and an inspection program 3 for performing visual inspection corresponding to each type using a data table generated at the data generating section 2.
本発明は、複数種類の外観検査を行う装置において、複数種類の外観検査に各々対応して設けられる複数の検査パラメータ設定プログラム１と、複数の検査パラメータ設定プログラム１で設定されたパラメータに基づき共通フォーマットから成るテーブルデータを生成するデータ生成部２と、データ生成部２で生成されたテーブルデータを用いて各種類に対応した外観検査を行う検査プログラム３とを備えている。 - 特許庁 - To provide a visual inspection method and a visual inspection apparatus, capable of speedily classifying defects into types of defect according to the form of objects to be inspected, without having to raise the apparatus cost.
装置コストが増大することなく、検査対象の形態に応じた欠陥種別に迅速に分類可能な外観検査方法および外観検査装置の提供。 - 特許庁 - The first display chips 14, 11 on the left and right are not hidden and visual inspection is easily performed from upward.
左・右第１表示片１４，１１は隠れず、上方から視認し易い。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus capable of controlling manufacturing cost, performing a visual inspection in a short period of time and with high precision, and reducing a load on a driving motor.
製造コストを抑えることや、短時間で高精度に外観検査を行うこと、駆動モータに掛かる負荷を低くすることが可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To speed up the visual inspection of cylindrical works to improve their productivity.
円筒状ワークに対する外観検査の高速化を図り、生産性を向上する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus for cylindrical works that can speed up visual inspection for the cylindrical work, reduce cost, improve accuracy, and further improve productivity.
円筒状ワークに対する外観検査の高速化、低コスト化、高精度化を図り、さらに生産性を向上することができる円筒状ワークの外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection method and a visual inspection device for inspecting an appearance of a tire by pattern matching without preparing a master image.
タイヤの外観検査において、マスター画像を用意することなくパターンマッチングによりタイヤの外観を検査する外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection method and a visual inspection device for a tire that accurately determines the defective area without being affected by a coating film adhering to the tire surface.
タイヤ表面に付着した塗膜の影響を受けることなく精度良く不良個所を判定するタイヤの外観検査方法及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a remote visual inspection method and a self-travel type imaging device capable of facilitating visual inspection in a place difficult to be approached, such as an under part of a nuclear reactor pressure vessel.
原子炉圧力容器下部などの接近が難しい場所での目視検査が容易にできる遠隔目視検査方法と自走式撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical film with a protective film which can facilitate visual inspection.
外観検査を容易にすることのできる保護フィルム付き光学フィルムを提供する。 - 特許庁 - EXTRACTION METHOD FOR INFORMATION ON COLOR AND SHAPE FEATURE IN VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR OBJECT, OBJECT DISCRIMINATION METHOD BASED ON COLOR AND SHAPE FEATURE AND VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR OBJECT
物品の外観検査システムにおける色形状特徴情報の抽出方法、色形状特徴に基づく物品弁別方法、物品の外観検査システム - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus that eliminates inspection errors due to deformations of printed wiring boards and feed speed variations.
プリント配線基板の変形や搬送速度変動に起因する検査の誤りが無い外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of carrying out efficiently and surely visual inspection for a product surface by an inspection person.
検査員による製品表面の外観検査を効率よく、かつ、確実に行うことのできる方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device that can reduce cost, simplify device structure and shorten an inspection cycle time.
コストを低く抑え、装置の構成を簡素化し、検査サイクルタイムを短縮することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device capable of displaying an image of a defect imaged under a condition near to a visual observation.
目視観察状態に近い状態で撮像された欠陥の画像を表示することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device and a visual inspection method for enabling even an operator who is not familiar with image processing or the like to easily and accurately inspect the property of the inspection surface of an inspection object while reducing costs.
画像処理等に精通したオペレータを必要とすることなく、検査対象物の検査面の性状を簡単且つ正確に検査することができ、コスト低減を図ることができる外観検査装置および外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - The inspector inputs all 'normal' or 'abnormal' state data regarding the inspection results of the individual visual inspection items regarding the facility device to the open inspection result managing device 50 together when the visual inspection of the facility equipment is completed.
点検員は、設備機器の目視点検完了時に一括して設備機器に関する個々の目視点検項目の点検結果に関する「正常」あるいは「異常」の全ての状況データを開放点検結果管理装置５０に入力する。 - 特許庁 - To perform a visual inspection that is robust with respect to changes in lighting conditions and photographing conditions.
照明条件や撮影条件の変化に対して頑健な外観検査を行う。 - 特許庁 - STATIC ELECTRICITY ELIMINATING METHOD OF ATOMIC FUEL ROD AND ATOMIC FUEL ROD VISUAL INSPECTION DEVICE
原子燃料棒の静電気除去方法および原子燃料棒外観検査装置 - 特許庁 - To quickly and surely inspect a view angle expanding film for a liquid crystal without any visual inspection.
液晶用視野角拡大フィルムの検査を目視によらずに迅速かつ確実に行う。 - 特許庁 - Thus the quality of the solder zone can be determined by the general visual inspection method.
これにより、一般的な外観検査方法ではんだ接合部の良否判定ができる。 - 特許庁 - A visual inspection apparatus 10 is primarily composed of a main unit 12 and a test unit 14.
外観検査装置１０は、主にメインユニット１２と試験ユニット１４とから構成される。 - 特許庁 - This visual inspection apparatus 10 is chiefly constituted of both a main unit 12 and a test unit 14.
外観検査装置１０は、主にメインユニット１２と試験ユニット１４とから構成される。 - 特許庁 - The visual inspection device includes: an illumination device 1; an imaging device 2; and a display device 3.
外観検査装置は、照明装置１と、撮像装置２と、表示装置３とを有する。 - 特許庁 - The body includes a window element for allowing visual inspection of dental floss remaining in the reservoir.
本体は、リザーバ内に残っているデンタルフロスを目視できるようにする窓要素を含む。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus for detecting defects, according to the accuracy requested.
要求される精度に応じた欠陥の検出が可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device and a visual inspection method, capable of confirming the propriety of a production process of forming a pattern appearing on the surface of a semiconductor wafer or the like, at the same time as with the visual inspection of a defect appearing on a wafer surface.
半導体ウエハなどの表面に現れるパターンを形成した製造プロセスが適切であるか否かを、このウエハ表面に現れる欠陥の外観検査と同時に確認することが可能な外観検査装置及び外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - To confirm a rotary shift and longitudinal shift of the visual field of a camera for surface inspection apparatus.
表面検査装置のカメラの視野の回転ズレ及び長手方向ズレを確認する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus which is suitable for inspecting a semiconductor package in an in-tray state.
イントレー状態の半導体パッケージの検査に好適な外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - DEVICE, METHOD, PROGRAM FOR VISUAL INSPECTION OF CYLINDRICAL WORK AND RECORDING MEDIUM
円筒状ワークの外観検査装置、外観検査方法、外観検査プログラム、および記録媒体 - 特許庁 - To provide a technology that enables improvement in the efficiency in the visual inspection of an semiconductor device.
半導体装置の外観検査工程での作業性が悪い（外観検査効率が低い）。 - 特許庁 - To provide an automatic visual inspection device capable of certainly performing the automatic visual inspection in the chip invalid region of a semiconductor wafer and capable of preventing the probe of a probe device from being damaged by the foreign matter adhered to the chip invalid region when inspecting the probe, and an automatic visual inspection method.
半導体ウェーハのチップ無効領域における自動外観検査を確実にし、プローブ検査時にチップ無効領域に付着した異物によりプローブ装置における探針が破損するのを防止することのできる外観検査装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an inspection device that produces visual changes, accompanying the operation of a tester.
試験者の操作に伴い視覚的な変化を生じる検査デバイスを提供すること。 - 特許庁 - To perform a precise shading inspection and correction further matched to human visual characteristics.
より人の視覚特性に合致した精度の高いシェーディング検査および補正を可能とする。 - 特許庁 - REMOTE VISUAL INSPECTION SYSTEM FOR NUCLEAR FUEL TRANSPORT APPARATUS INCLUDING NUCLEAR FUEL AND TRANSPORT CONTAINER
原子燃料および輸送容器を含む原子燃料輸送機器の遠隔外観検査システム - 特許庁 - The visual inspection apparatus 10 is connected to a server 60 which can communicate with a user terminal 80.
ユーザ端末８０と通信できるサーバ６０に外観検査装置１０を接続した。 - 特許庁 - To provide an inspection device for acquiring images the extent of which exceeds the visual field of an imaging part.
撮像部の視野を越える範囲の画像を取得する検査装置を提供する。 - 特許庁 - The semiconductor manufacturing device 1 has a semiconductor visual inspection means 20.
半導体外観検査装置、外観検査方法及び半導体製造装置を提供する。 - 特許庁 - To easily obtain a monochrome image so as to facilitate feature extraction and visual inspection.
特徴抽出や外観検査が容易になるような単色画像を得やすくする。 - 特許庁 - The visual inspection is performed by comparing wiring patterns between neighboring cells.
外観検査は、隣接するセル間で配線パターンの比較をすることによって行なわれる。 - 特許庁 - To provide a method enabling visual inspection of the existence of an antiplatelet antibody.
抗血小板抗体の存在を目視で検査することが可能な方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inexpensive and safe visual inspection device determining the quality of a specimen, based on a linear image, by imaging the linear image on a face to be inspected of the specimen, and also to provide a visual inspection method executed using the visual inspection device.
安価で安全であり、被検査物の被検査面に線状の像を映出し当該線状の像により被検査物の良否の判断を行うことができる外観検査装置、及び当該外観検査装置を用いて行う外観検査方法の提供。 - 特許庁 - This visual inspection apparatus uses images to be inspected acquired from objects to be inspected such as substrates.
外観検査装置は、基板等の被検査対象から得られる被検査画像を用いる。 - 特許庁 - IMAGE GENERATION METHOD FOR MEASUREMENT PROCESSING, AND SUBSTRATE VISUAL INSPECTION DEVICE USING THE METHOD
計測処理用の画像生成方法およびこの方法を用いた基板外観検査装置 - 特許庁 - As a result, the soldering failure visual inspection can be carried out from the side face.
この結果、側面から目視による半田付け不良の検査を行なうことができる。 - 特許庁 - The change operation is equivalent to an operation (an operation for diversely changing the visual recognition direction to an end face 2a of the metal ring 2) in visual inspection, so that an empirical rule of visual inspection is applied (luster marks on the end face 2a can be found easily by visual inspection while changing the angle of the metal ring 2).
この変更操作は、目視検査における操作（金属リング２の端面２ａに対する視認方向を様々に変える操作）に相当するため、目視検査の経験則（金属リング２の角度を変えながら目視検査を行えば、端面２ａの光沢痕を見つけやすい。）を応用して、本発明の課題を達成できる。 - 特許庁 - To provide a method and apparatus for visual inspection of electronic components whereby the visual inspection can be automatically carried out with high efficiency through little operational effort without requiring manual operation such as inversion of samples for inspection.
被検査試料の反転等の手作業を必要とせず、作業手間を殆ど掛けることなく自動的にかつ高能率をもって遂行できる、電子部品の外観検査方法及び装置を提供することにある。 - 特許庁 - This inspection system is characterized by containing an electron shutter 10 having a visual image transmission part for successively transmitting the visual images projected on the visual image surface and an imaging device 15 for successively imaging the visual images transmitted by a visual image transmission part 11.
本検査システムは、可視映像面に投影された可視像が順次に透過される可視像透過部を有する電子シャッタ１０と、可視像透過部１１を透過した可視像を順次に撮像する撮像装置１５と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁 - To efficiently move a specimen so as to enhance the inspection efficiency, in an visual inspection device.
外観検査装置において、被検体を効率よく移動することができて検査効率を向上することができるようにする。 - 特許庁 - An inspection part 150 uses the imaging data D1 and the reference image data D2 to perform a visual inspection of the printed wiring board 202.
検査部１５０は、撮像データＤ１と基準画像データＤ２とを用いて、プリント配線基板２０２の外観検査を行う。 - 特許庁
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