「Visual Inspection」を含む例文一覧(1328)
＜前へ 1 2 .... 10 11 12 13 14 15 16 17 18 .... 26 27 次へ＞- The visual inspection type connector includes a female type connector and a male type connector, and two components are thereby connected in the longitudinal direction.
本発明は雌型コネクタと雄型コネクタを具え、これにより縦長方向に二つの部品を接続する。 - 特許庁 - SYSTEM FOR FAULT SENSING PREVENTION IN VISUAL INSPECTION OF FILM OR TAPE SHAPED PRINTED CIRCUIT BOARD, AND ITS PROCESSING METHOD
フィルム、テープ形態の印刷回路基板外観検査における過検出防止用システム及びその処理方法 - 特許庁 - ELECTRIC CHARACTERISTIC TESTING DEVICE OF SEMICONDUCTOR DEVICE, AND COMMON DEVICE FOR ELECTRIC CHARACTERISTIC TEST AND VISUAL INSPECTION OF SEMICONDUCTOR DEVICE
半導体装置の電気特性試験装置、および半導体装置の電気特性試験、外観検査共用装置 - 特許庁 - STORAGE METHOD AND RESTORATION METHOD OF IMAGE FOR VISUAL INSPECTION FOR COMPONENT MOUNT SUBSTRATE, AND IMAGE STORAGE PROCESSING APPARATUS
部品実装基板の外観検査用画像の保存方法および復元方法、ならびに画像保存処理装置 - 特許庁 - To inspect an inspection target by a simple and compact constitution in a visual examination device.
外観検査装置において、簡素かつコンパクトな構成により被検体の検査を行うことができるようにする。 - 特許庁 - In the system for visually inspecting liquid crystal substrates, visual inspection is performed after a film deposition process in the manufacture of liquid crystal substrates 5.
液晶基板５の製造における製膜工程後の目視検査を行う液晶基板検査装置である。 - 特許庁 - To provide a board case allowing a worker to easily find abnormality of a fracture structure part for opening a case by a visual inspection.
ケース開放用の破断構造部の異常を、目視検査で容易に発見し得る基板ケースを提供する。 - 特許庁 - To improve the convenience of the inspection of a game machine without obstructing the visual confirmation of the inside of a board case.
基板ケース内部の目視確認を妨げることなく、遊技機の検査の利便性の向上を図ること。 - 特許庁 - The contour measuring instrument, the visual inspection device and the measuring object holding device are provided with the reference position calibration tool.
外形測定装置、外観検査装置、測定対象物保持装置は、当該基準位置校正治具を備える。 - 特許庁 - METHOD, APPARATUS AND PROGRAM FOR VISUAL INSPECTION OF SUBSTRATE, AND COMPUTER READABLE STORAGE MEDIUM
基板外観検査方法及びその装置、基板外観検査用プログラム、コンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁 - To provide a means for inspecting a response to only an OFF stimulus in an inspection of advancing a visual field defect.
視野欠損の進行の検査において、ＯＦＦ刺激のみに対する応答を検査する手段を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for visually inspecting an optical pickup lens capable of accurately performing visual inspection for a short period of time.
正確かつ短い時間で外観検査できる、光ピックアップレンズの外観検査方法を提供するものである。 - 特許庁 - To establish a sure supporting rigidity of a cleat part and facilitate a visual check operation through a wide inspection window.
クリート部の確実な支持剛性が得られると共に広い点検窓によって目視点検作業を容易にする。 - 特許庁 - After various tests, each semiconductor chip is divided every package (step S8), and visual inspection is performed (step S9).
各種テストの後に、各半導体チップをパッケージ単位に個片化し（ステップＳ８）、外観検査を行う（ステップＳ９）。 - 特許庁 - To provide a visual inspection method capable of suppressing over- detection to detect a flaw with high accuracy.
過検出を抑えて精度の高い欠陥検出を行なうことができる外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - According to this, since the receipt of a coil C1 by the skid 78 can be mechanically confirmed without visual inspection, the visual confirmation work by an operator can be eliminated in the takeout of the coil.
これにより、目視しなくてもスキッド７８がコイルＣ１を受け取ったことが機械的に確認できるので、コイル取出し時に、オペレータの目視作業がなくなる。 - 特許庁 - To provide a simple visual inspection device of satisfactory processing efficiency, capable of lighting the flat display panel of a large screen and of being made tiltable for the purpose of visual examination.
大画面のフラット表示パネルを点灯可能に保持し、目視検査するために傾動させることのできる簡単かつ処理効率のよい装置が求められている。 - 特許庁 - To provide a visual inspection supporting system for printed circuit board that makes visual inspections be performed efficiently on parts mounted on a printed circuit board by preparing an accurate and appropriate visually- inspected parts specifying drawing in a short time.
短時間で正確かつ適切な目視検査部品指定図を作成して、目視検査を効率的に行うためのプリント回路板目視検査支援システムを提供する。 - 特許庁 - The canister visual inspection device for inspecting the appearance of a canister 3 by introducing flexible visual inspection equipment 1 such as a fiberscope in a cask 20 in which the soundness of a canister 30 stored should be inspected provides a guide means 2 for guiding the visual inspection equipment 1 along the surface of the canister 30 stored in the inside wall of the cask 20.
キャスク２０内に貯蔵されたキャニスタ３０の健全性を検査すべく、キャスク２０内にファイバースコープ等のフレキシブルな視認機器１を導入してキャニスタ３０の外観を検査するキャニスタ外観検査装置において、キャスク２０の内壁に、貯蔵されたキャニスタ３０の表面に沿って視認機器１を案内するガイド手段２を設けたものである。 - 特許庁 - This inspection device is equipped with plural simple visual inspection means 2, 3 equipped with magnifying lenses having different imaging powers, according to the size of loaded parts on the board 4 to be inspected, and a general control means for selecting and controlling the optimum visual inspection means for imaging the size of the loaded parts on the board to be inspected.
被検査基板４の搭載部品のサイズに合わせて、異なる撮像倍率の拡大レンズを具備した複数台のシンプルな目視検査手段２、３と、被検査基板の搭載部品のサイズの撮像に最適な目視検査手段を選択制御する統括制御手段１とを備えた。 - 特許庁 - To provide a tire master image generation method and a tire master image generation device for creating a master image from a tire to be an inspection target in each visual inspection so as not to make image processing means store master images of all tires to be a specimen in visual inspection of a tire.
タイヤの外観検査において被検体となるタイヤ全てのマスター画像を画像処理手段に記憶させることがないように、外観検査毎に被検査対象となるタイヤからマスター画像を作成するタイヤのマスター画像生成方法及びマスター画像生成装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus capable of efficiently inspecting a wafer by effectively putting the standby time of another wafer to practical use during a period when the visual inspection of one of a plurality of wafers set at the same time is performed.
複数枚同時にセットされるウエハのうちの１枚が外観検査を行っている間の他のウエハの待ち時間を有効に活用して、効率の良いウエハ検査を行うことが可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method capable of easily and inexpensively checking a soldering failure occurring in a soldered joint between a chip electronic part and a circuit board without producing detection errors that occur in a visual inspection method and without using an expensive visual inspection device.
チップ型の電子部品の回路基板とのはんだ接合不良を、目視外観検査のような検出バタツキなし、また高価な外観検査装置を使用せずに、比較的安価に簡易的に検査する方法を提供することである。 - 特許庁 - To provide a means capable of easily recognizing where the region is on the monitor screen in observing a defect region on a large substrate using a monitor device for visual inspection, and to provide a visual inspection system including the means.
目視観察用のモニター装置を用いて、大型基板上の欠陥部位を観察するに当たり、当該部位が該モニター画面上のどこにあるのか容易に認識できる手段及びこの手段を備える目視検査システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection apparatus capable of coping with a large specimen without enlarging the device, and capable of replacing easily an imaging part or a light projection part even when it is troubled, and a visual inspection method using the same.
大きな被検体に対しても装置を大型化することなく対応でき、撮像部や投光部に不具合が生じた場合においても容易に交換可能な外観検査装置及びこれを用いた外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual examination method which enables the detection of a local flaw with high inspection precision while permitting the size irregularity of an inspection target such as an electrode pattern or the like in the visual examination of a semiconductor emission element or the like.
半導体発光素子などの外観検査において、電極パターンなどの被検査対象の大きさのばらつきなどを許容しつつ、局所的な欠陥を高い検査精度で検出できる外観検査方法を提供する。 - 特許庁 - Then, the contaminations are carried to a measurement section 6 for visual inspection, and a semiconductor package sorted to be conforming is stored in a storage tray 7, and is carried out to a next process outside the visual inspection apparatus 1 via a storage tray elevator 9.
その後に測定部６に搬送されて外観検査が行われ、良品と選別された半導体パッケージが収容トレイ７に収容され、収容トレイエレベータ８を介して外観検査装置１の外へ、次工程へと搬出される。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device for semiconductor wafer automatically and efficiently distinguishing non-defective items from defective items of semiconductor wafer without relying on a visual inspection for measuring number of occurrences and size of separations.
膜剥がれの発生数および大きさの計測を目視に頼ることなく、半導体ウエハの良品と不良品との選別を自動的に効率よく、かつ正確に行うことができる半導体ウエハの外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - Then reinspection is performed by the visual observation of the operator based on the inspection result data displayed on this display 15, and the inspection result data is corrected to be inputted with a data correction inputting means when the inspection result data of the inspection device 2 has an error.
そして、このディスプレイ１５に表示された検査結果データに基づいてオペレータが目視で再検査を行い、検査装置２の検査結果データに誤りがあったときに、該検査結果データをデータ修正入力手段により修正入力する。 - 特許庁 - To provide a control board assembly for the game machines which achieves an easier and sufficient visual inspection of the control board to be housed in a board case having an inspection sheet.
検査シートを有する基板ケースに収容される制御基板の目視検査を容易に、また充分に行えるようにした遊技機用制御基板アッセンブリを提供する。 - 特許庁 - To provide a review station and a visual inspection device, wherein the increase in size of the entire inspection device that follows increase in diameter of a wafer is prevented, while the drop in staging accuracy is prevented.
ウェハの大径化に伴う検査装置全体のサイズの巨大化を防ぐと共にステージ精度の低下を防ぐレビューステーション及び外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection method for a substrate and an inspection tool reducing determination variation when visually determining fine holes, such as flaws, pits on the substrate surface.
基板表面のキズ、ピット等の微細穴を目視判定する際に、判定バラツキを低減できるようにした基板の外観検査法及び検査具を提供すること。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device, and an ultraviolet light lighting system capable of irradiating ultraviolet light on a surface of an inspection target object such that there are no shadows thereon.
検査対象物の表面に影が生じないように紫外光を照射することができる外観検査装置及び紫外光照明装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a technology for detecting defects with high accuracy, or a technology for supporting defect detection, regardless of a surface shape of an inspection object to be subjected to visual inspection.
外観検査を行う検査対象の表面形状によらず、高い精度で欠陥を検出する技術または欠陥の検出を支援する技術を提供する。 - 特許庁 - To automate inspection and determination, to avoid a bias in visual determination, to input color reaction inspection by a CCD image, and to display and record a determined result through image processing.
検査と判定を自動化し、目視判定のバイアスを回避し、呈色反応検査をＣＣＤ画像で入力し、画像処理を経て、判定結果を表示・記録する。 - 特許庁 - As a result, the joined state can be confirmed according with a conducting state with the solder bumps 30a, 30b, and the inspection time can be shortened compared with visual inspection.
この結果、半田バンプ３０ａ，３０ｂとの導通状態により接合状態を確認することができ、目視検査を行なうより検査時間を短縮することができる。 - 特許庁 - To provide a vehicle inspection system which materializes easy visual inspection of an object to be inspected in a vehicle having a complex engine room structure and a traveling vehicle.
エンジンルーム内の構造が複雑な車両や走行中の車両において、点検対象を容易に目視することが可能な車両点検システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device capable of improving the production speed by simulating quality determination based on a new inspection condition without stopping production.
生産を停止することなく新たな検査条件に基づいた良否判定のシミュレートを行うことで、生産速度を向上させることが可能な外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection device using an optical cutting method, which is capable of achieving precise inspection by increasing a shutter speed of an area sensor camera.
光切断法を用いた外観検査装置において、エリアセンサカメラのシャッタ速度を速め、高精度な検査を実現することができる外観検査装置を提供する。 - 特許庁 - This can prevent damages to the harness in the loading or unloading of the reel assembly and poses no disturbance in the visual inspection of the internal state from outside, thereby securing the inspection accuracy.
これにより、リールアセンブリを着脱する際のハーネスの損傷を防止し、また外から内部状態を目視検査する際に障害とならず検査精度が確保される。 - 特許庁 - To provide a system for cleaning, inspection, and defect history management of a stud bolt hole capable of performing cleaning, visual inspection, and defect history management of the bolt hole in a lump.
ボルト穴の洗浄と目視検査と損傷履歴の管理とを一括して行うことができるスタッドボルト穴の洗浄、検査及び損傷履歴管理システムを提供する。 - 特許庁 - A visual inspection device 10 projects a first stripe pattern whose brightness periodically changes onto an inspection object in multiple different phases and images multiple first projection images.
外観検査装置１０は、周期的に明るさが変化する第１縞パターンを異なる複数の位相で被検査体に投射して複数の第１投影画像を撮像する。 - 特許庁 - To provide a visual inspection work management system capable of inhibiting the effluence of inferior goods accompanying operator's inspection mistake.
作業者が行う目視検査作業において、作業者の検査ミスに伴う不良品の流出を防止することのできる目視検査作業管理システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a visual examination method of an electronic part capable of inspecting a plurality of inspection items in the chip-like electronic part by one inspection camera.
チップ形電子部品などにおける複数の検査項目を、１台の検査用カメラで検査できる電子部品の外観検査方法を提供することを目的とするものである。 - 特許庁 - To reduce the size of a visual examination device as a whole and to inspect the inside and outside of an inspection target in a short time in the case that the inside and outside of the inspection target are inspected.
外部検査装置全体を小さくするとともに、検査対象物の表裏を検査する場合に、短時間で検査対象物の表裏検査ができるようにする。 - 特許庁 - To provide a control board assembly for the game machines which enables the easier and sufficient visual inspection of the control board housed in the board case having an inspection seal.
検査シールを有する基板ケースに収容される制御基板の目視検査を容易に、また充分に行えるようにした遊技機用制御基板アッセンブリを提供する。 - 特許庁 - Local positional deviation or size dispersion carried by the prescribed LED chip 10 to be inspected is reflected to the inspection pattern, to thereby heighten visual inspection accuracy.
検査パターンは、検査すべき所定のＬＥＤチップ１０が有する局所的な位置ずれや大きさのばらつきが反映されたものとなり、外観検査精度が高められる。 - 特許庁 - The visual inspection apparatus 10 takes images by scanning a substrate face of an object to be inspected, compares the images with a predetermined criterion and judges for every inspection item whether or not the substrate face is good.
外観検査装置１０は、被検査物の基板面を走査して画像を取り込み、所定の合否判断基準に照らし、検査項目ごとに合否を判定する。 - 特許庁 - To provide a control board assembly for a game machine by which an visual inspection for a control board being housed in a board case having an inspection seal can easily and sufficiently be performed.
検査シールを有する基板ケースに収容される制御基板の目視検査を容易に、また充分に行えるようにした遊技機用制御基板アッセンブリを提供する。 - 特許庁 - In the practical fabric inspection, the inspector carries out the visual inspection of the fabric and orally pronounces the words relating to fabric defects and the voices are input through a microphone.
実際の検反に際し、検反作業者Ａは、目視による検反を行うと共に、その検反結果についての単語Ｗ_? をマイクを介して音声入力する。 - 特許庁
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