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例文
「X diffraction」を含む例文一覧(1072)
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X-RAY
DIFFRACTION
METHOD
X線回折法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
EQUIPMENT
X線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS
X線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS AND
DIFFRACTION
METHOD
X線回折装置および方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
METHOD AND X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS
X線回折方法及びX線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE AND X-RAY
DIFFRACTION
SYSTEM
X線回折装置及びX線回折システム
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE AND X-RAY
DIFFRACTION
METHOD
X線回折装置およびX線回折方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
METHOD AND X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS
X線回折方法およびX線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
OPTICAL ELEMENT
X線回折光学素子
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
JIG, X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE, AND MEASURING METHOD OF X-RAY
DIFFRACTION
X線回折用治具、X線回折装置およびX線回折の測定方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT DEVICE
X線回折測定装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT METHOD AND X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE
X線回折測定方法及びX線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS AND X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT METHOD
X線回折装置及びX線回折測定方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE AND MEASUREMENT METHOD BY X-RAY
DIFFRACTION
X線回折装置及びX線回折の測定方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
DETERMINATION APPARATUS
X線回折定量装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT METHOD
X線回折測定方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
MEASURING METHOD
X線回折測定方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
QUANTIFYING DEVICE
X線回折定量装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS FOR X-RAY SCATTERING
X線散乱用のX線回折機器
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
ANALYZER AND X-RAY
DIFFRACTION
ANALYZING METHOD
X線回折分析装置およびX線回折分析方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
ANALYZING METHOD AND X-RAY
DIFFRACTION
ANALYZER
X線回折分析方法およびX線回折分析装置
- 特許庁
COMBINATORIAL X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE
コンビナトリアルX線回折装置
- 特許庁
MINUTE PART X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS
微小部X線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS AND MEASURING METHOD OF X-RAY
DIFFRACTION
PATTERN
X線回折装置およびX線回折パターンの測定方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
ANALYSIS SYSTEM AND X-RAY
DIFFRACTION
ANALYSIS METHOD
X線回折分析システム、および、X線回折分析方法
- 特許庁
X-Ray Powder
Diffraction
Method
粉末X線回折測定法
- 厚生労働省
SINGLE-CRYSTAL X-RAY
DIFFRACTION
SYSTEM
単結晶X線回折システム
- 特許庁
GONIOMETER FOR X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE
X線回折装置用ゴニオメータ
- 特許庁
IMAGING PLATE X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE
イメージングプレートX線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
METHOD AND NEUTRON BEAM
DIFFRACTION
METHOD
X線回折方法および中性子線回折方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
METHOD AND PORTABLE X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS USING THE SAME
X線回折方法及びそれを用いた可搬型X線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS AND X-RAY ADJUSTING METHOD
X線回折装置及びX線調整方法
- 特許庁
SAMPLE CONTAINER FOR X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT
X線回折測定用試料容器
- 特許庁
SILICON SUBSTRATE FOR X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT
X線回折測定用シリコン基板
- 特許庁
WAVELENGTH DISCRIMINATION X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE
波長分別型X線回折装置
- 特許庁
ANGLE CORRECTION METHOD IN X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT AND X-RAY
DIFFRACTION
SYSTEM
X線回折測定における角度補正方法及びX線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS FOR MEMBRANE SAMPLE
薄膜試料用X線回折装置
- 特許庁
X-RAY POWDER
DIFFRACTION
PATTERN SCREENING METHOD
X線粉末回折パターンスクリーニング法
- 特許庁
STRESS MEASURING METHOD BY X-RAY
DIFFRACTION
X線回折による応力測定法
- 特許庁
X-RAY DIFFRACTOMETER AND METHOD FOR X-RAY
DIFFRACTION
MEASUREMENT
X線回折装置及びX線回折測定方法
- 特許庁
METHOD OF MEASURING X-RAY
DIFFRACTION
AND X-RAY DIFFRACTOMETER
X線回折測定方法及びX線回折装置
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTING AND MEASURING METHOD
X線回折装置及びX線回折測定方法
- 特許庁
The X-ray
diffraction
chart is shown by figure 1.
このX線回折図は図1に示す。
- 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR X-RAY
DIFFRACTION
ANALYSIS
X線回折分析方法及び装置
- 特許庁
METHOD FOR PREPARING X-RAY
DIFFRACTION
SAMPLE
X線回折用試料の調製方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
ANALYZER AND METHOD FOR CORRECTING MEASUREMENT POSITION OF X-RAY
DIFFRACTION
ANALYZER
X線回折分析器およびこのX線回折分析器の測定位置補正方法
- 特許庁
X-RAY
DIFFRACTION
DEVICE AND MEASURING METHOD OF X-RAY LOCKING CURVE
X線回折装置及びX線ロッキングカーブの測定方法
- 特許庁
X-RAY DETECTOR AND POWDER X-RAY
DIFFRACTION
MEASURING METHOD
X線検出装置及び粉末X線回折測定方法
- 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING X-RAY TALBOT
DIFFRACTION
GRATING, X-RAY TALBOT
DIFFRACTION
GRATING, X-RAY TALBOT INTERFEROMETERS AND X-RAY PHASE IMAGING APPARATUS
X線タルボ回折格子の製造方法、X線タルボ回折格子、X線タルボ干渉計及びX線位相イメージング装置
- 特許庁
In X-ray
diffraction
, the Ewald sphere is drawn with a small radius.
X線回折においては、エワルド球は小さな半径で描かれる。
- 科学技術論文動詞集
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特許庁
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