「capacitance method」を含む例文一覧(1159)

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  • DISPLAY INSPECTING APPARATUS, DISPLAY INSPECTING METHOD AND PARASITIC CAPACITANCE INSPECTING METHOD
    ディスプレイ検査装置、ディスプレイの検査方法、寄生容量の検査方法 - 特許庁
  • To provide a capacitance extraction method capable of highly accurately extract a capacitance and shortening the time required for the capacitance extraction.
    高精度な容量抽出が可能となり、容量抽出に必要な時間も短縮できる容量抽出方法を提供する。 - 特許庁
  • SILICON OXIDE FILM FROMING METHOD, CAPACITANCE ELEMENT MANUFACTURING METHOD PROCESS AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE
    シリコン酸化膜形成法、容量素子の製法及び半導体装置の製法 - 特許庁
  • HIGH CAPACITANCE FILM CAPACITOR SYSTEM, AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME
    高静電容量フィルムコンデンサシステムおよびその製造方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR REDUCING AMOUNT OF CAPACITANCE CONSUMED
    キャパシタンスの使用量を低減する方法及びその装置 - 特許庁
  • CAPACITANCE VALUE MEASURING CIRCUIT AND METHOD OF EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE
    容量値測定回路及び半導体装置の評価方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE DISPLACEMENT DETECTOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR
    静電容量式変位検出装置及びその製造方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE-TYPE OBJECT DETECTION SENSOR AND OBJECT DETECTION METHOD
    静電容量式物体検知センサ及び物体検知方法 - 特許庁
  • INSPECTION JIG AND ELECTROSTATIC CAPACITANCE MEASURING METHOD USING IT
    検査冶具及びそれを使用した静電容量測定方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING CAPACITANCE
    静電容量測定装置および静電容量測定方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE DYNAMIC QUANTITY SENSOR, AND ITS MANUFACTURING METHOD
    静電容量型力学量センサおよびその製造方法 - 特許庁
  • ELECTROSTATIC CAPACITANCE MEASURING METHOD AND APPARATUS
    静電容量測定方法及び静電容量測定装置 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE INPUT DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME
    静電容量型入力装置及びその製造方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE MULTIPOINT THICKNESS MEASUREMENT METHOD AND DEVICE
    静電容量式厚み多点測定方法及びその装置 - 特許庁
  • METHOD OF DETERMINING OUTPUT CAPACITANCE OF VOLTAGE FEEDER
    電圧供給装置の出力キャパシタンスを決定する方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE INCLINATION ANGLE SENSOR AND ITS MANUFACTURING METHOD
    静電容量式傾斜角度センサ及びその製造方法 - 特許庁
  • AUTOMATIC CALIBRATION METHOD IN ELECTROSTATIC CAPACITANCE TYPE PROXIMITY SENSOR
    静電容量型近接センサにおける自動校正方法 - 特許庁
  • METHOD OF LINEARITY ADJUSTMENT, MANUFACTURING METHOD OF PN JUNCTION TYPE VARIABLE-CAPACITANCE DIODE, AND PN JUNCTION TYPE VARIABLE-CAPACITANCE DIODE
    直線性調整方法、PN接合型可変容量ダイオードの製造方法、およびPN接合型可変容量ダイオード - 特許庁
  • IMPEDANCE DETECTION METHOD, AND CAPACITANCE DETECTION METHOD AND APPARATUS
    インピーダンス検出方法、静電容量検出方法及びそのための装置 - 特許庁
  • To provide a method for manufacturing a multilayer ceramic capacitor of low capacitance wherein dispersion of capacitance is restrained.
    静電容量のバラツキを抑えた、低静電容量の積層セラミックコンデンサの製造方法を提供する。 - 特許庁
  • CAPACITANCE VOLTAGE CONVERSION CIRCUIT, INPUT DEVICE EMPLOYING SAME, ELECTRONIC APPARATUS AND CAPACITANCE VOLTAGE CONVERSION METHOD
    容量電圧変換回路、それを用いた入力装置、電子機器、ならびに容量電圧変換方法 - 特許庁
  • NONCONTACT DATA TRANSMITTING AND RECEIVING BODY, AND CAPACITANCE ADJUSTMENT METHOD AND CAPACITANCE ADJUSTMENT DEVICE THEREFOR
    非接触型データ受送信体並びにそのキャパシタンス調整方法及びそのキャパシタンス調整装置 - 特許庁
  • ELECTROSTATIC CAPACITANCE TYPE PRESSURE SENSOR, PRESSURE MEASURING DEVICE AND METHOD FOR MANUFACTURING ELECTROSTATIC CAPACITANCE TYPE PRESSURE SENSOR
    静電容量型圧力センサ、圧力測定装置、及び、静電容量型圧力センサの製造方法 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING CAPACITANCE TYPE SEMICONDUCTOR PHYSICAL QUANTITY SENSOR AND CAPACITANCE-TYPE SEMICONDUCTOR PHYSICAL QUANTITY SENSOR
    静電容量型半導体物理量センサの製造方法及び静電容量型半導体物理量センサ - 特許庁
  • MEASURING SYSTEM AND MEASURING METHOD FOR CAPACITANCE TYPE GAP SENSOR
    静電容量ギャップセンサの測定装置及びその測定方法 - 特許庁
  • To provide an article detection method for an electrostatic capacitance type touch panel.
    静電容量式タッチパネルの物品検出方法の提供。 - 特許庁
  • MOUNTING METHOD FOR CAPACITANCE INPUT SENSOR AND ELECTRONIC DEVICE
    静電容量式入力センサの実装方法および電子機器 - 特許庁
  • METHOD FOR MEASURING INFINITESIMAL CAPACITANCE AND INFINITESIMAL CAPACITY MEASURING CIRCUIT
    微少容量測定方法及び微少容量測定回路 - 特許庁
  • OXIDATION-REDUCTION ULTRAHIGH-CAPACITANCE CAPACITOR AND ITS MANUFACTURING METHOD
    酸化還元型超高容量キャパシタ及びその製造方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE ENVIRONMENTAL HARMFUL GAS SENSOR AND MANUFACTURING METHOD THEREOF
    静電容量型環境有害ガスセンサ及びその製造方法 - 特許庁
  • METHOD AND DEVICE FOR MEASURING TRANSMISSION LINE CAPACITANCE OF PACKET SWITCHING NETWORK
    パケット交換網の伝送路容量測定方法および装置 - 特許庁
  • DETECTION CIRCUIT AND DETECTION METHOD OF CAPACITANCE TOUCH PANEL
    静電容量式タッチパネルの検出回路及び検出方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE HAVING CAPACITANCE ELEMENT AND METHOD OF MANUFACTURING SAME
    容量素子を有する半導体装置及びその製造方法 - 特許庁
  • INSULATION RESISTANCE MEASURING INSTRUMENT OF DC CIRCUIT, ELECTROSTATIC CAPACITANCE MEASURING INSTRUMENT, INSULATION RESISTANCE MEASURING METHOD AND ELECTROSTATIC CAPACITANCE MEASURING METHOD
    直流回路の絶縁抵抗測定器、静電容量測定器、絶縁抵抗測定方法および静電容量測定方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE-TYPE SEMICONDUCTOR PRESSURE SENSOR AND ITS TEST METHOD
    静電容量式半導体圧力センサ及びその試験方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE PROXIMITY SENSOR AND ITS OUTPUT CALIBRATION METHOD
    静電容量式近接センサ及びその出力較正方法 - 特許庁
  • CAPACITANCE ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR MEMORY AND ITS MANUFACTURING METHOD
    容量素子及びその製造方法、半導体メモリ及びその製造方法 - 特許庁
  • WAFER, WAFER MANUFACTURING METHOD AND CAPACITANCE TYPE ACCELERATION SENSOR MANUFACTURING METHOD
    ウエハ、ウエハの製造方法および静電容量式加速度センサの製造方法 - 特許庁
  • The designing method includes a process of setting an allowable capacitance per via connected to the wiring in consideration of the thickness of a capacitance film composing the capacitance element.
    この設計方法は、容量の容量膜の膜厚を考慮して、配線に接続されたビア1個あたりの許容容量値を設定する工程を含む。 - 特許庁
  • To provide a capacitor which is high in accurate capacitance value and a capacitance value per unit area, and its manufacturing method.
    正確なキャパシタンス値と単位面積あたりキャパシタンス値の高いキャパシタとその製造方法を提供する。 - 特許庁
  • To provide a capacitance diagnosing method for a backup capacitor capable of diagnosing its capacitance accurately.
    バックアップコンデンサの容量を精度よく診断することが可能なバックアップコンデンサ容量診断方法を提供すること。 - 特許庁
  • CAPACITANCE DETECTION DEVICE, FINGERPRINT SENSOR, BIOMETRICS AUTHENTICATION DEVICE, AND SEARCH METHOD FOR CAPACITANCE DETECTION CONDITION
    静電容量検出装置、指紋センサ、バイオメトリクス認証装置、及び静電容量検出条件の探索方法 - 特許庁
  • MEASURING METHOD FOR CAPACITANCE AS WELL AS METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF CIRCUIT BOARD
    静電容量測定方法、回路基板検査方法および回路基板検査装置 - 特許庁
  • CAPACITANCE ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD, SEMICONDUCTOR DEVICE AND ITS MANUFACTURING METHOD
    容量素子及びその製造方法並びに半導体装置及びその製造方法 - 特許庁
  • NON-CONTACT DATA TRANSMITTING-RECEIVING BODY AND ITS CAPACITANCE ADJUSTMENT METHOD
    非接触型データ受送信体及びそのキャパシタンス調整方法 - 特許庁
  • POWER SUPPLY DEVICE, ELECTRONIC DEVICE, AND CAPACITOR CAPACITANCE ESTIMATION METHOD
    電力供給装置、電子装置、及び、コンデンサ容量推定方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR CONTROLLING HEAT TREATMENT FURNACE WITH HIGH CAPACITANCE BURNER
    高容量バーナーによる熱処理炉の制御方法および装置 - 特許庁
  • SYSTEM, METHOD, AND DEVICE FOR MEASURING CAPACITANCE OF STATOR COMPONENT
    ステータ構成要素のキャパシタンスを測定するシステム、方法および装置 - 特許庁
  • CAPACITANCE TYPE MATERIAL MEASURING APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING MATERIAL
    静電容量形物質計測装置および物質計測方法 - 特許庁
  • To provide a method of forming a capacitor having increased capacitance.
    静電容量が増加するキャパシタの形成方法を提供する。 - 特許庁
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