MANUFACTURING METHOD OF ELECTRODE SHEET, AND CAPACITANCE TYPE INPUT DEVICE 電極シートの製造方法および静電容量型入力装置 - 特許庁
STORAGE NODE OF SEMICONDUCTOR MEMORY CAPACITANCE ELEMENT AND ITS MANUFACTURING METHOD 半導体記憶容量素子のストレージノードおよびその製造方法 - 特許庁
METHOD FOR ADJUSTING CAPACITANCE ONSET VOLTAGE OF NON-POROUS CARBON 非多孔性炭素の静電容量発現電圧を調節する方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC CAPACITANCE TYPE ACCELERATION DETECTION APPARATUS AND CALIBRATION METHOD THEREOF 静電容量型加速度検出装置及びそのキャリブレーション方法 - 特許庁
NON-CONTACT DATA TRANSMITTING/RECEIVING BODY AND ITS CAPACITANCE ADJUSTING METHOD 非接触型データ受送信体及びそのキャパシタンス調整方法 - 特許庁
ETCHING METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE AND MANUFACTURING METHOD OF CAPACITANCE TYPE MICRO ELECTROMECHANICAL SYSTEM (MEMS) SENSOR 半導体基板のエッチング方法および静電容量型MEMSセンサの製造方法 - 特許庁
METHOD FOR MANUFACTURING METAL THIN FILM-LAYERED SUBSTRATE AND METHOD FOR MANUFACTURING CAPACITANCE TYPE TOUCH PANEL 金属薄膜積層基板の製造方法及び静電容量型タッチパネルの製造方法 - 特許庁
To provide a semiconductor device containing a variable capacitance element having a large capacitance changing range, and to provide a method of manufacturing the device. 容量変化範囲の大きい可変容量素子を含む半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
TEST STRUCTURE FOR CAPACITANCE OF MOS AND METHOD FOR MEASURING CAPACITANCE CURVE AS FUNCTION OF VOLTAGE IN RELATION TO IT MOS容量テスト構造と、それに関連した、電圧の関数として容量曲線を測定するための方法 - 特許庁
ELECTRODE FOR CAPACITANCE LEVEL INSTRUMENT, ITS MANUFACTURING METHOD, AND CAPACITANCE LEVEL INSTRUMENT EQUIPPED WITH THE ELECTRODE 静電容量式レベル計用電極棒とその製造方法、およびその電極棒を備える静電容量式レベル計 - 特許庁
ELECTRODE FOR FARADAY CAPACITANCE TYPE CAPACITOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME, AND FARADAY CAPACITANCE TYPE CAPACITOR ファラデー容量型キャパシタ用電極、ファラデー容量型キャパシタ用電極の製造方法、及びファラデー容量型キャパシタ - 特許庁
MEASURING DEVICE FOR CAPACITANCE TO GROUND AND MEASURING METHOD THEREOF 対地静電容量測定装置及び対地静電容量測定方法 - 特許庁
HIGH-TEMPERATURE CAPACITANCE TYPE STATIC PRESSURE/DYNAMIC PRESSURE SENSOR AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME 高温用静電容量式静圧/動圧センサおよびその製造方法 - 特許庁
APPARATUS AND METHOD FOR MAKING LOW-CAPACITANCE ARTIFICIAL NANO PORE 低静電容量の人工ナノ孔を作成するための装置及び方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR MEMORY WITH REDUCED PARASITIC CAPACITANCE AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR 寄生キャパシタンスの減少した半導体メモリ素子及びその製造方法 - 特許庁
ELECTRICAL CAPACITANCE PRESSURE SENSOR, SENSOR ELEMENT AND MANUFACTURING METHOD FOR SENSOR ELEMENT 静電容量式圧力センサ、センサ素子およびセンサ素子の製造方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC CAPACITANCE TYPE DEVICE AND METHOD OF MANUFACTURING THE SAME 静電容量式デバイスの製造方法および静電容量式デバイス - 特許庁
MULTILAYER CHIP CAPACITOR AND CAPACITANCE TUNNING METHOD OF MULTILAYER CHIP CAPACITOR 積層型チップキャパシタ及び積層型チップキャパシタの容量調節方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC CAPACITANCE TYPE SAPPHIRE DIAPHRAGM PRESSURE SENSOR AND MANUFACTURING METHOD THEREFOR 静電容量型のサファイヤダイヤフラム圧力センサおよびその製造方法 - 特許庁
ELECTROSTATIC DETECTION DEVICE WITH DISPLAY DEVICE, AND CAPACITANCE DETECTION METHOD 表示装置付静電検出装置及び静電容量検出方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MEASURING CAPACITANCE OF CAPACITOR AND EQUIVALENT SERIES RESISTANCE キャパシタの容量と等価直列抵抗の測定方法と測定装置 - 特許庁
To provide a variable-capacitance element wherein a desired capacitance value which corresponds to a write voltage can be freely set and a capacitance value which has been set before is maintained even when there is no write voltage, and to provide a method for adjusting the variable-capacitance element, a variable-capacitance device and an electronic apparatus. 書き込み電圧に対応した所望の容量値を自由に設定でき、かつ、一度設定した容量値は書き込み電圧が無くなっても維持される可変容量素子、可変容量素子の調整方法、可変容量デバイス、及び、電子機器を提供する。 - 特許庁
CIRCUIT SUBSTRATE WITH ANTENNA, METHOD FOR MANUFACTURING CIRCUIT SUBSTRATE WITH ANTENNA, CIRCUIT SUBSTRATE WITH CAPACITANCE, METHOD FOR MANUFACTURING CIRCUIT SUBSTRATE WITH CAPACITANCE, CIRCUIT SUBSTRATE WITH ANTENNA AND CAPACITANCE, METHOD FOR MANUFACTURING CIRCUIT SUBSTRATE WITH ANTENNA AND CAPACITANCE AND NON- CONTACT INFORMATION TRANSFER DEVICE アンテナ付き回路基板およびアンテナ付き回路基板の製造方法および容量付き回路基板および容量付き回路基板の製造方法およびアンテナ及び容量付き回路基板およびアンテナ及び容量付き回路基板の製造方法および非接触型情報授受装置 - 特許庁
To provide a capacitance sensor capable of suppressing sticking of a weight section to the periphery, and to provide a method of manufacturing the capacitance sensor. 錘部がその周囲にスティッキングするのを抑制することのできる静電容量式センサおよびその製造方法を得る。 - 特許庁
To provide a test structure for a capacitance of an MOS and a method for measuring a capacitance curve as a function of voltage. MOS容量テスト構造と、それに関連した、電圧の関数として容量曲線を測定する方法を提供する。 - 特許庁
A METHOD FOR MANUFACTURING HIGH-CAPACITANCE STORAGE NODE STRUCTURE IN SUBSTRATE, AND A SUBSTRATE HAVING THE HIGH-CAPACITANCE STORAGE NODE 基板内に高静電容量の記憶ノード構造を製造するための方法、及び高静電容量の記憶ノードを有する基板 - 特許庁
METHOD AND DEVICE OF MEASURING CAPACITANCE OF ELECTRIC DOUBLE LAYER CAPACITOR 電気二重層キャパシタの静電容量の測定方法及び測定装置 - 特許庁
POROSITY VALUATION METHOD OF GRINDING STONE USING CAPACITANCE AND DIELECTRIC CONSTANT 静電容量及び誘電率を利用した砥石の気孔率評価方法 - 特許庁
To provide a method for compensating parasitic capacitance in a touch panel and an apparatus thereof. タッチパネルの寄生キャパシタンス補償方法及びその装置を提供する。 - 特許庁
EXTERNAL LOAD CAPACITANCE DETECTION CIRCUIT AND METHOD FOR GENERATING FEEDBACK SIGNAL THEREOF 外部負荷容量検出回路およびそのフィードバック信号発生方法 - 特許庁
ELECTRONIC APPARATUS AND CAPACITANCE DETECTION METHOD FOR CAPACITOR IN ELECTRONIC APPARATUS 電子機器、及び同電子機器における蓄電器静電容量検出方法 - 特許庁
CALCULATION METHOD FOR INTERCONNECT CAPACITANCE, AND DESIGN SUPPORT DEVICE FOR WIRING PATTERN 配線間容量の算出方法および配線パターンの設計支援装置 - 特許庁