「control testing」を含む例文一覧(661)

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  • To control and monitor material testing from a remote place.
    離れた場所から材料試験の制御や監視を行なう。 - 特許庁
  • DSP BUS STRUCTURE OF CONTROL DEVICE IN VIBRATION TESTING MACHINE
    振動試験機における制御装置のDSPバス構造 - 特許庁
  • DIGITAL CONTROL SYSTEM, DIGITAL CONTROL DEVICE, AND METHOD OF TESTING TRANSMISSION OF THE DIGITAL CONTROL SYSTEM
    デジタル制御システムおよびデジタル制御装置並びにデジタル制御システムの伝送試験方法 - 特許庁
  • To cooperatively control testing situation information and testing environment information and failure information management in a software testing environment constituted of a software testing work supporting device connected through a network to plural testing sites constituted of a testing server in which the objects to be tested of software are operating and plural testing terminals and a testing control terminal for controlling the objects.
    ソフトウェアの試験対象オブジェクトが動作する試験サーバと複数の試験端末とオブジェクトを管理する試験管理端末から構成される複数の試験サイトとネットワーク接続したソフトウェア試験作業支援装置から構成されるソフトウェア試験環境において、試験状況情報、試験環境情報、障害情報管理を連携して行う。 - 特許庁
  • CONTROL TESTING SYSTEM FOR PRINTER, CONTROL METHOD THEREFOR AND RECORDING MEDIUM
    プリンタ装置の調整試験システムおよびその制御方法ならびにその記録媒体 - 特許庁
  • P2P SYSTEM STABILIZATION TESTING METHOD USING PEER CONTROL TOOL AND PEER CONTROL TOOL
    ピア制御ツールを用いたP2Pシステム安定化試験方法およびピア制御ツール - 特許庁
  • MATERIAL TESTING APPARATUS AND CONTROL METHOD THEREOF
    材料試験装置における制御方法および材料試験装置 - 特許庁
  • FLOW RATE CONTROL MEMBER AND TIP TESTING DEVICE OF SPRINKLER EQUIPMENT
    流量規制部材及びスプリンクラー設備の末端試験装置 - 特許庁
  • To provide a technology for appropriately testing a call origination control apparatus.
    発呼制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
  • To provide a technology for appropriately testing a band control apparatus.
    帯域制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
  • SEQUENCE CONTROL CIRCUIT, PATTERN GENERATING DEVICE, AND SEMICONDUCTOR TESTING DEVICE
    シーケンス制御回路、パターン発生装置、及び半導体試験装置 - 特許庁
  • Yes, sir. i'm testing the circuit board for the attitude control system.
    はい 姿勢制御用基板を 絶縁試験しているところです - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • When all testers are available, a testing control portion 230 controls execution of testing.
    全て使用可能である場合、試験実行制御部230は、試験を実行するための制御を行う。 - 特許庁
  • VOICE OUTPUT METHOD IN TESTING DEVICE, TESTING DEVICE, AND RECORD MEDIUM STORING TEST CONTROL PROGRAM
    試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体 - 特許庁
  • CONTROL TIMING TEST SYSTEM FOR ENCODER, AND CONTROL TIMING TESTING METHOD OF THE ENCODER
    エンコーダ装置の制御タイミング試験システム及びエンコーダ装置の制御タイミング試験方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR TESTING BLADDER CANCER AND CONTROL METHOD OF THE DEVICE
    膀胱癌検査装置および膀胱癌検査装置の制御方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR TESTING SEMICONDUCTOR, AND CONTROL METHOD THEREOF
    半導体試験装置及び半導体試験装置における制御方法 - 特許庁
  • To provide a technology for properly testing a file access control device.
    ファイルアクセス制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
  • BASE STATION SIMULATOR AND TRANSMISSION POWER CONTROL PERFORMANCE TESTING METHOD
    基地局シミュレータ装置及び送信電力制御性能試験方法 - 特許庁
  • In the testing mode, the control circuit turns ON the first switch circuit.
    テストモードにおいて、制御回路は、第1スイッチ回路をONする。 - 特許庁
  • ALKALI/SILICA REACTIVITY TESTING METHOD OF AGGREGATE AND QUALITY CONTROL METHOD
    骨材のアルカリシリカ反応性試験方法及び品質管理方法 - 特許庁
  • ONLINE DEVICE TESTING BLOCK INTEGRATED INTO PROCESS CONTROL/SAFETY SYSTEM
    プロセス制御/安全システムに統合化されるオンラインデバイス試験ブロック - 特許庁
  • When testing command is received from the testing board, control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.
    テスト基板からテストコマンドを受信すると、RAM122のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT TESTING DEVICE AND METHOD AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM DESCRIBING TESTING METHOD
    集積回路の試験装置、及び試験方法、及び試験方法を記述した制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • When testing command is received from the testing board, the control data for checking data are set on the cue of an RAM 122.
    テスト基板からテストコマンドを受信すると、RAM122のキューにデータチェック用の制御データが設定される。 - 特許庁
  • ATM TESTING DEVICE, ATM TESTING METHOD USED FOR THE SAME AND RECORDING MEDIUM RECORDING CONTROL PROGRAM THEREFOR
    ATM試験装置及びそれに用いるATM試験方法並びにその制御プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
  • To control uneven heating in a semiconductor testing device, a contactor unit for the semiconductor testing device and a method for testing a semiconductor device.
    半導体試験装置、半導体試験装置用コンタクタユニット、及び半導体装置の試験方法において、半導体装置の加熱むらを抑制すること。 - 特許庁
  • Consequently, a device control part 4a receives an instruction for setting the testing call from a maintenance device 6 to set the testing call between the device control part 4a and testing monitor device 7.
    このため、装置制御部4aは保守端末装置6から上記試験用呼の設定の指示を受けて装置制御部4aと試験用監視装置7との間に試験用呼を設定する。 - 特許庁
  • CONTROL-SYSTEM TESTING DEVICE AND METHOD FOR RENEWING FIELD EQUIPMENT USING THE SAME
    制御系試験装置、及び、これを用いたフィールド機器の更新方法 - 特許庁
  • To provide a technology for properly testing a database access control device.
    データベースアクセス制御装置を適切に試験する技術を提供する。 - 特許庁
  • ENVIRONMENTAL TESTING DEVICE HAVING DEW CONDENSATION CONTROL MECHANISM FOR TEST OBJECT SURFACE
    被試験物表面の結露制御機構を備えた環境試験装置 - 特許庁
  • CONTROL DEVICE OF HYDRAULIC SHAKER AND VIBRATION TESTING DEVICE AND ACTIVE SEISMIC CONTROL DEVICE WITH THE SAME
    油圧加振機の制御装置及びそれを備えた振動試験装置およびアクティブ制震装置 - 特許庁
  • CONTROL SEQUENCE GENERATING METHOD IN VoIP SERVICE, TESTING METHOD USING THE SAME, TESTING AND CAPTURING DEVICE USED FOR TESTING METHOD AND COMPUTER PROGRAM FOR IMPLEMENTING TESTING AND CAPTURING DEVICE
    VoIPサービスにおける制御シーケンス生成方法、該方法を用いる試験方法、該試験方法に用いる試験装置及びキャプチャ装置、及び該試験装置及びキャプチャ装置を実現するためのコンピュータプログラム - 特許庁
  • MATERIAL TESTING MACHINE WITH BOTH WEIGHTING CHANGEOVER FUNCTION AND CONSTANT-RATE LOADING CONTROL FUNCTION
    秤量切換と定速載荷制御の両機能を有する材料試験機 - 特許庁
  • TESTING METHOD FOR CHECKING FUNCTION FOR PROGRAMMABLE CONTROLLER AND PLANT MONITOR AND CONTROL DEVICE
    プログラマブルコントローラの機能確認試験方法およびプラント監視制御装置 - 特許庁
  • To provide a testing device capable of conducting low-load testing operating only the control circuits and subsequent high-load testing, with no temporary blackout, and without the use of no high-capacity program power supply.
    試験装置において、大容量のプログラム電源を用いることなく、制御回路だけを動作させる低負荷試験と、それに続く高負荷試験とを瞬断なく行う。 - 特許庁
  • On the occasion of testing, besides, the delay control circuit 9 for testing increases the delay time for testing for one side and decreases it for the other, while the total delay time is left fixed.
    また、テストの際、テスト用遅延制御回路9は、合計遅延時間を一定にしたまま、テスト用遅延時間の一方を増加させ他方を減少させてゆく。 - 特許庁
  • To provide a testing method of a centralized supervisory and control equipment capable of efficiently and accurately testing centralized supervisory and control equipment only in a centralized supervisory and control station.
    集中監視制御所内だけで能率的にかつ正確に集中監視制御装置の試験を行うことができる集中監視制御装置の試験方法を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a vibration isolation control circuit capable of testing a step responsiveness about a servo control system.
    サーボ制御系についてステップ応答性のテストを行うことが可能な防振制御回路を提供する。 - 特許庁
  • Then, the simulator for the control apparatus of itself is activated, bringing the control apparatus of itself into simulation testing state.
    そして、自己の制御装置のシミュレータを起動して自己の制御装置をシミュレーション試験状態とする。 - 特許庁
  • AUTOMATIC TESTING DEVICE, AUTOMATICALLY TESTING METHOD AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM WITH CONTROL PROGRAM FOR AUTOMATIC TEST RECORDED THEREON
    自動テスト装置、自動テスト方法及び自動テスト用制御プログラムが記録されたコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁
  • To provide a testing system, a control method therefor and a testing device, capable of easily connecting or separating a tested part.
    容易に試験部の接続や試験部の離脱が可能な試験システムおよびその制御方法並びに試験装置を提供すること。 - 特許庁
  • CONTROL VOLTAGE DETERMINING METHOD OF INTEGRATED CIRCUIT, GATE VOLTAGE DETERMINING METHOD OF TEG CIRCUIT, TEG CIRCUIT TESTING METHOD AND TESTING DEVICE
    集積回路の制御電圧決定方法、TEG回路のゲート電圧決定方法、TEG回路試験方法及び試験装置 - 特許庁
  • This environment testing device 1 cools or heats the testing object 3 placed on a work placing surface 4a controlled in the prescribed temperature by a work placing surface temperature control mechanism 5, and transfers the testing object to a prescribed testing temperature.
    環境試験装置1ではワーク載置面温度制御機構5によって所定温度に制御されているワーク載置面4aに載せた被試験品3が冷却あるいは加熱されて所定の試験温度に移行する。 - 特許庁
  • SWEEP SYNCHRONIZATION TESTING DEVICE, AND METHOD OF SIMULATING OPTIMUM CONTROL SET VALUE THEREFOR
    掃引同調試験装置及びその最適制御設定値シミュレーション方法。 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE TESTING METHOD, TEST CONTROL DEVICE, AND SEMICONDUCTOR STORAGE DEVICE
    半導体記憶装置のテスト方法、テスト制御装置および半導体記憶装置 - 特許庁
  • When the testing data A are returned to a testing unit 14 through the intermediary of an optional external device or a transmission line, the test data control unit 145 compares the testing data A previously stored in a testing data storing unit 1451 when external data are written with the returned testing data A, and informs the control unit 15 of a comparison result.
    任意の外部装置や伝送路を経由して試験部14に試験データが戻ってくると、試験データ制御部145は外部からのデータ書込み時に試験データ記憶部1451に予め記憶しておいた試験データAと、戻ってきた試験データとを比較し、比較結果を制御部15に通知する。 - 特許庁
  • In an apparatus for testing a function of network equipment, a control section 21 performing overall control performs control of packet generation and control of disconnection simulation in accordance with set contents from a man-machine section 26.
    全体制御を行う制御部21は、マンマシン部26からの設定内容に従い、パケット生成の制御と断線模擬の制御を行う。 - 特許庁
  • CONTROL ROD DRIVE, TESTING METHOD AND DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, INSPECTION DEVICE OF CONTROL ROD DRIVE, STORAGE METHOD AND APPARATUS OF CONTROL ROD DRIVE, AND TORQUE TRANSPORT UNIT
    制御棒駆動装置、その試験方法及びその試験装置、その点検装置、その保管方法及びその保管装置、並びにトルク伝達装置 - 特許庁
  • To provide a transformation automation client control service testing device, and a method of the same.
    変電自動化クライアント制御サービス試験装置及びその方法を提供する。 - 特許庁
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