「control testing」を含む例文一覧(661)

＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 13 14 次へ＞
  • The delay control circuit 1 includes a reference variable delay circuit 3 which delays a reference clock signal, a strobe variable delay circuit 17 which delays the strobe signal, and the delay control circuit 9 for testing which sets a delay time for testing on the variable delay circuits 3 and 17 having the same constitution.
    遅延制御回路１は、基準クロック信号を遅延させる基準可変遅延回路３と、ストローブ信号を遅延させるストローブ可変遅延回路１７と、同一構成である上記可変遅延回路３，１７にテスト用遅延時間を設定するテスト用遅延制御回路９と、を備える。 - 特許庁
  • In this vibration control device for controlling vibration of this vibration testing machine by outputting a vibration control signal, a vibration analog signal of the vibration testing machine is converted digitally, and then a signal having the same frequency as the vibration control signal is extracted from the digital vibration signal by using a digital filter, and the second vibration control signal is generated based on the extracted digital vibration signal.
    振動制御信号を出力して振動試験機の振動を制御する振動制御装置において、振動試験機の振動アナログ信号をデジタル変換した後、当該デジタル振動信号から前記振動制御信号と同一の周波数の信号をデジタルフィルタを用いて抽出し、抽出したデジタル振動信号にもとづいて第２の振動制御信号を生成する。 - 特許庁
  • To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.
    更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁
  • To support the examination of an examiner by controlling an information required for efficient testing and the improvement of testing capacity, in a manner of facilitating the examiner, concerning a testing information control device for controlling an information on characteristic test for a plurality of kinds of semiconductor products.
    複数種の半導体製品の特性試験に関する情報を管理する試験情報管理装置に関し、上記事情に鑑み、試験の効率化や試験能力の増強の検討の際に必要な情報を、検討を行う者が利用しやすいように管理することで、その者が行う検討を支援することができる。 - 特許庁
  • To provide a method for preventing wrong control due to a wrong output from a programmable controller by means of a testing circuit.
    検定回路によりプログラマブルコントローラー（以下、ＰＣと略す）の出力ユニットからの誤出力による誤制御を防ぐ方法を提供する。 - 特許庁
  • To realize a high speed operation without using any memory whose access time is fast or any high speed element in the sequence control circuit of a semiconductor testing device.
    半導体試験装置のシーケンス制御回路において、アクセス時間の速いメモリや高速素子を用いることなく高速動作を可能にする。 - 特許庁
  • The control/processing device 13 specifies the value of the parameter by analyzing the changed waveform, and outputs it to an IC testing device 14.
    制御／処理装置１３は、上記変更後の波形を解析することにより、パラメータの値を特定し、ＩＣ試験装置１４へ出力する。 - 特許庁
  • To obtain a test burn-in board(TBIB) control method and a burn-in testing system which dissolves the overflow problem of the production numbers of TBIBs.
    テストバーンインボード（ＴＢＩＢ）の製造番号のオーバーフロー問題を解決したＴＢＩＢ管理方法及びバーンイン試験システムを提供する。 - 特許庁
  • If a changing content is permitted, a testing function part 34 confirms that a control system 22 operates properly after a change in the stored contents.
    変更内容が許可されれば、記憶内容の変更後に、制御システム２２が正常に動作することをテスト機能部３４を使って確認する。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing apparatus capable of preventing hang-ups of both a control device and a processing device in the event of an occurrence of an instantaneous interruption.
    瞬低が生じた場合に制御装置と処理装置との双方のハングアップを回避することができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁
  • This siloxane endurance testing machine 1 comprises a siloxane gas generator 10, a test room 20, a siloxane concentration measurement section 30, and a control section 40.
    シロキサン耐久試験機１は、シロキサンガス発生装置１０と、テスト室２０と、シロキサン濃度計測部３０と、制御部４０とを有している。 - 特許庁
  • A testing apparatus 900 tests a communication control device 10 functioning as a bot detection device for detecting a bot which performs illegal communication.
    試験装置９００は、不正な通信を行うボットを検出するボット検出装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁
  • A testing device 900 tests a communication control device 10 which functions as the accounting management device for filtering communication data about transaction.
    試験装置９００は、取引に関する通信データをフィルタリングする会計管理装置として機能する通信制御装置１０を試験する。 - 特許庁
  • TEST CLOCK CONTROL STRUCTURE TO GENERATE CONFIGURABLE TEST CLOCK FOR SCAN-BASED TESTING OF ELECTRONIC CIRCUITS USING PROGRAMMABLE TEST CLOCK CONTROLLER
    プログラム可能テストクロックコントローラを使用した電子回路のスキャンベーステスト用に構成可能なテストクロックを生成するためのテストクロック制御構造 - 特許庁
  • To effect timely and safe operation of online testing routines within field devices, such as valves, used in a process control system or a safety system.
    プロセス制御システムまたは安全システムで用いられるバルブの如きフィールドデバイス内でオンライン試験ルーチンを適時にかつ安全に動作させる。 - 特許庁
  • The load testing device 9 performs a call processing sequence corresponding to each bearer with a radio control part 4a of the node B device 4.
    負荷試験装置９はノードＢ装置４の無線制御部４ａとの間での各ベアラに応じた呼処理シーケンスを任意タイミングで実行する。 - 特許庁
  • Furthermore, the MHLW will consider testing methods for residual agricultural chemicals, etc. in processed foods in order to facilitate verification of control on raw materials in exporting countries.
    加えて、輸出国段階での原材料管理の検証に資するため、加工食品の残留農薬等に係る試験法を検討する。 - 厚生労働省
  • To provide a testing device using interactive communication, enabling simultaneous control of a plurality of testing devices from an interactive communication system in which the plurality of devices can participate, and an auxiliary device therefor.
    双方向通信を利用した試験用装置とその補助装置に関し、特に複数参加可能な双方向通信システムから、複数の装置に対して同時制御可能とする試験用装置及びその補助装置を提供する。 - 特許庁
  • To provide a degrading acceleration testing device and a degrading acceleration testing method for photoreceptors for electronic photography that allow control, as desired, of a voltage applied to an electrifying means and the concentration of a discharge product independently of each other in a degrading test.
    劣化試験時の帯電手段への印加電圧と放電生成物の濃度とを独立して任意に制御することが可能な電子写真用感光体の劣化加速試験装置及び劣化加速試験方法を提供する。 - 特許庁
  • Between corresponding control terminals CON and between address terminals ADDR of a testing equipment 2 and a flash memory 1 are connected to each other and the input/output terminals IO 1 to 7 of the testing equipment 2 are connected to data terminals DQ 1 to 7 of the flash memory 1.
    試験装置２とフラッシュメモリ１の対応する制御端子ＣＯＮ間及びアドレス端子ＡＤＤＲ間を接続し、この試験装置２の入出力端子ＩＯ１〜７をフラッシュメモリ１のデータ端子ＤＱ１〜７に接続する。 - 特許庁
  • i. Components designed for use in controlling the vibration test equipment falling under 1 and that use a program for vibration testing and digitally control vibration testing in real time in a bandwidth exceeding 5 kilohertz
    １　（一）に該当する振動試験装置の制御に使用するように設計した部分品であって、振動試験用のプログラムを用いたものであり、かつ、五キロヘルツを超える帯域幅で実時間での振動試験をデジタル制御するもの - 日本法令外国語訳データベースシステム
  • A signal delay part 24 is arranged on a communication passage of the CPU 10 and the trial shoot testing terminal 22 for transferring a control data signal outputted from the CPU 10 to the trial shoot testing terminal 22 by delaying by a prescribed time.
    ＣＰＵ１０と試射試験用端子２２との通信経路上には、ＣＰＵ１０から出力される制御データ信号を所定時間遅延させて試射試験用端子２２に転送する信号遅延部２４が設けられている。 - 特許庁
  • To provide a testing device for a control device capable of easily performing rearranging work of a needed test circuit in the case of performing a confirmation test for a control device housed in a control panel and appropriately performing test data collection and decision work.
    制御盤に収納された制御機器の確認試験を行う際に必要な試験回路の組替え作業を容易に行え、試験データの採集や判定作業を適切に行える制御機器試験装置を得ることである。 - 特許庁
  • The control response signal 7 of a testing body is detected, the deviation ek from r' calculated by the intended model item K is calculated, and a first control signal u1 is calculated in a feedback control item K on the basis of the deviation ek.
    試験体の制御応答信号ｙを検出して、目標モデル項Ｋが算出したｒ’とｙの偏差ｅ_ｋを算出し、その偏差ｅ_ｋをもとにフィードバック制御項Ｋにおいて第１の制御信号ｕ１を算出する。 - 特許庁
  • To provide a testing device for accurately and efficiently achieving a test accompanied by the extension of the terminal of a monitoring control system.
    監視制御システムの端末を増設する場合に、その増設に伴う試験を確実かつ高い効率で行なうことができる試験装置を提供することにある。 - 特許庁
  • In this game machine, a main control board C is connected to a testing machine 19 through first and second connectors 16, 17 so as to perform an analysis test of a game state.
    主制御基板Ｃは、遊技状態の分析試験のために、第１および第２コネクタ１６，１７を介して試験機１９と接続される。 - 特許庁
  • A discharge characteristic testing apparatus 1 comprises a capacitor C1, a charge/discharge switch 3, a resistance circuit 4, a device connection part 5, a comparator 6, and a control decision part 7.
    放電特性テスト装置１は、コンデンサＣ１と、充放電スイッチ３と、抵抗回路４と、デバイス接続部５と、コンパレータ６と、制御判定部７とを備える。 - 特許庁
  • A load testing device 202 is configured of: a pseudo agent group 208 composed of one pseudo agent 203 or a plurality of pseudo agents; and a control function part 207.
    負荷試験装置２０２は、１つの疑似エージェント２０３または複数の疑似エージェントから成る疑似エージェント群２０８、制御機能部２０７で構成する。 - 特許庁
  • A pattern control board 80 is mounted with connectors 121 to 126 for externally outputting the test signal from the testing CPU 161.
    そして、図柄制御基板８０には、試験用ＣＰＵ１６１からの試験信号を外部に出力するためのコネクタ１２１〜１２６が搭載されている。 - 特許庁
  • In the switch-durability testing apparatus 1, under the control of a controller 5, a force motor 11 connected to a drive mechanism 7 gives a test load to the switch 13 to be inspected.
    スイッチ耐久試験装置１は、制御装置５の制御下で、駆動機構７に接続されたフォースモータ１１が被検スイッチ１３に試験負荷を与える。 - 特許庁
  • To provide a testing device and a test method of a semiconductor integrated circuit capable of facilitating control of a BOST device, and improving versatility.
    ＢＯＳＴ装置の制御の容易化を図ると共に、汎用性を向上することができる半導体集積回路の試験装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁
  • This motor testing device 1 is provided with an analytical control part 2, and a dynamometer 4 for applying load 21 to the motor 8 through a rotating shaft 9.
    本発明によるモータ試験装置１は、解析制御部２と、回転軸９を介してモータ８に負荷２１を与える動力計４とを具備している。 - 特許庁
  • A testing control circuit operates during a test in which DC voltages are supplied to the first and second terminals so as to generate signals for allowing the inner circuit to operate.
    テスト制御回路は、第１および第２端子に直流電圧が供給されるテストモード中に動作し、内部回路を動作させる信号を生成する。 - 特許庁
  • To provide a low-temperature engine testing apparatus capable of achieving the maintenance of the inner environment of a low-temperature test room and control of the wall deterioration at the same time.
    低温試験室の内部環境の維持と壁の劣化の抑制を同時に達成することができるエンジンの低温試験装置を提供する。 - 特許庁
  • The control circuit (140) controls signals selected by the selection circuits (131-134) during path delay fault testing for detecting path delay faults.
    制御回路（１４０）は、経路遅延故障を検出する経路遅延故障テストのときに、選択回路（１３１〜１３４）が選択する信号を制御する。 - 特許庁
  • To perform operation control in a simple program configuration when pattern data different in a plurality of sequencers are generated to perform testing.
    複数のシーケンサに対して異なるパターンデータを生成して試験を行わせる場合において、簡単なプログラム構成で動作制御を行うことを目的とする。 - 特許庁
  • Data tested in the testing machine body 10 are stored in the storage part of a data processing device 30 via a measurement control device 20 at normal measurements.
    通常の測定時には、試験機本体１０で試験されたデータは計測制御装置２０を介してデータ処理装置３０の記憶部に保存される。 - 特許庁
  • To provide a material testing machine having a control function capable of precisely controlling the connecting timing to the lifting mechanism of a pendulum-type hammer.
    振子式ハンマの持ち上げ機構に対する連結タイミングを高精度に制御することのできる制御機能を備えた材料試験機を提供する。 - 特許庁
  • In the mechanocardiogram testing apparatus 1, a measurement data output control part 18 acquires the measurement data of cardiac sound and the measurement data of biological information different from the cardiac sound.
    心機図検査装置１において、測定データ出力制御部１８は、心音の測定データと、心音と異なる生体情報の測定データとを取得する。 - 特許庁
  • A computer implemented method, a data processing system and the processor are provided for thermal throttling control for testing of real-time software.
    リアルタイム・ソフトウェアを試験するためのサーマル・スロットリング制御のための、コンピュータによって実施される方法、データ処理システム、およびプロセッサを提供する。 - 特許庁
  • To provide a ferroelectric memory, in which the control by an external testing device is easily performed, and in which a redundancy relief test can be performed with high reliability.
    外部試験装置による制御が簡単で信頼性の高い冗長救済試験を行うことができる強誘電体メモリを提供する。 - 特許庁
  • 16.1.4. take part and control in the working of technical documentation, testing and putting into production the invention, industrial design or utility model and evaluate his intellectual product;
    16.1.4. 発明、意匠又は実用新案の技術書類作成、試験及び製品化における作業に参加しこれを監督し、自己の知的産物を評価する。 - 特許庁
  • To provide a material testing apparatus enabling a load to be easily applied to a material test piece at a desired rate of change by operation of a remote control device.
    リモートコントロール装置を操作して簡単に、材料試験片に負荷を所望の変化速度で加えることができる材料試験装置を提供する。 - 特許庁
  • To dispense with a preparatory work for making the control value coincide with the detected value in an actual test, and to dispense with the re-adjustment caused by temperature drift during testing.
    実試験には制御値と検出値を一致させる準備作業を必要とするし、試験途中に温度ドリフト等で再調整を必要とする。 - 特許庁
  • The testing function part 34, after confirming the normal operation of the automotive control system 22, permits the changing content to be stored in storage devices 11c to 11n.
    テスト機能部３４は、自動車制御システム２２が正常に動作していることを確認すると、変更内容を記憶装置１１ｃ・・・１１ｎに記憶させる。 - 特許庁
  • To provide an error testing device in a TCM (time division direction control) interface which directly inserts an error bit into a main signal and can optionally set an error occurrence rate.
    主信号に直接エラービットを挿入し、エラー発生率を任意に設定できるＴＣＭインタフェースにおけるエラー試験装置を提供する。 - 特許庁
  • Friction test is performed by using a Suzuki-type frictional and abrasive testing machine, under the conditions of a surface pressure of 0.48 MPa, a peripheral velocity of 135 m/min, and without temperature control.
    摩擦試験は鈴木式摩擦摩耗試験機を用い、面圧０．４８ＭＰａ、周速１３５ｍ／ｍｉｎ、温度調節なし、の条件下で評価した。 - 特許庁
  • To provide a semiconductor testing device capable of easily changing the speed of a pattern to be applied to a DUT by an inexpensive configuration without using on-the-fly timing control.
    安価な構成でオンザフライタイミング制御によらずにＤＵＴに与えるパターンの速度を容易に変えることが可能な半導体試験装置を実現する。 - 特許庁
  • A cable is inserted into a connector 120 of a game control board 102 from a testing board (used only in an inspection prior to shipment).
    演出制御基板１０２のコネクタ１２０には、遊技制御基板１０１またはテスト基板（出荷前の検査でのみ使用）からのケーブルが挿入される。 - 特許庁
  • To separately control and test semiconductor devices under test in a semiconductor device tester for testing the semiconductor devices.
    複数の半導体デバイスの試験を行う半導体デバイス試験装置において、試験の対象となる半導体デバイスを個々に制御し、試験できるようにする。 - 特許庁
＜前へ 1 2 3 4 5 6 7 8 9 10 11 .... 13 14 次へ＞

例文データの著作権について