METHOD FOR DETECTING PERIODIC DEFECT AND PERIODIC DEFECT DETECTING DEVICE 周期性欠陥検出方法および周期性欠陥検出装置 - 特許庁
COLOR FILTER DEFECT CORRECTION METHOD AND COLOR FILTER DEFECT CORRECTION DEVICE カラーフィルタ欠陥修正方法およびカラーフィルタ欠陥修正装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR INSPECTION OF DEFECT 欠陥検査方法及び装置 - 特許庁
STYLUS FOR COLOR FILTER DEFECT CORRECTION, AND COLOR FILTER DEFECT CORRECTING DEVICE カラーフィルタ欠陥修正用針およびカラーフィルタ欠陥修正装置 - 特許庁
When each streak defect emphasized by the streak defect emphasizing means 300 is a nearly linear defect and the formation direction of the streak defect is nearly coincident with the rubbing treatment direction of the panel, the defect distinguishing means 400 distinguishes the streak defect as the rubbing streak defect and distinguishes the defect as the streak defect in the other case. 欠陥分別手段400は、スジ欠陥強調手段300で強調された各スジ欠陥が、ほぼ直線状の欠陥であり、かつ、スジ欠陥の形成方向がそのパネルに対してラビング処理された方向にほぼ一致する場合にはラビングスジ欠陥と判別し、それ以外の場合にはスジ欠陥と判別する。 - 特許庁
The defect list updating unit 122 determines whether an area specified by the defect address registered in the defect list is the defect area or not, and if the area specified by the defect address is determined not to be the defect area, the defect address registered in the defect list is deleted from the defect list. 欠陥リスト更新部122は、欠陥リストに登録された欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域であるか否かを判定し、欠陥アドレスによって指定された領域が欠陥領域でないと判定された場合には、欠陥リストに登録された欠陥アドレスを欠陥リストから削除する。 - 特許庁
GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION DEVICE AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION METHOD AND GLASS SUBSTRATE DEFECT INSPECTION SYSTEM ガラス基板欠陥検査装置及びガラス基板欠陥検査方法並びにガラス基板欠陥検査システム - 特許庁
METHOD OF MANUFACTURING FOR COIL HAVING DEFECT MARKING, METHOD FOR MARKING DEFECT AND METHOD FOR OPERATING COIL HAVING DEFECT MARKING 欠陥マーキングしたコイルの製造方法、欠陥マーキング方法及び欠陥マーキングしたコイルの作業方法 - 特許庁
The defect deciding section 125 and the defect position acquiring section 126 specify the defect positions on a first recording layer. 欠陥判定部125及び欠陥位置取得部126は、第1記録層の欠陥位置を特定する。 - 特許庁
Thus, a color omission defect, a black defect and a projection defect can be corrected by one device. したがって、1台の装置で色抜け欠陥、黒欠陥および突起欠陥を修正することができる。 - 特許庁
Then, the defect position detected by the defect detector 2 is corrected with the use of the defect position correction expression. 続いて、欠陥位置補正式を用いて、欠陥検出装置2で検出した欠陥位置を補正する。 - 特許庁
DEFECT CORRECTION METHOD OF PHOTOMASK, DEFECT CORRECTION SYSTEM OF PHOTOMASK, AND DEFECT CORRECTION PROGRAM OF PHOTOMASK フォトマスクの欠陥修正方法、フォトマスクの欠陥修正システム及びフォトマスクの欠陥修正プログラム - 特許庁
PROCESSING DEFECT DETECTOR FOR FILM フイルムの加工不良検出装置 - 特許庁
DEFECT DETECTION METHOD OF WATERPROOF SHEET 防水シートの欠陥検知方法 - 特許庁
DEFECT REPAIRING AGENT FOR ALUMINUM CASTING アルミニウム鋳物の欠陥補修剤 - 特許庁
DEFECT MANAGEMENT INFORMATION REPRODUCING METHOD 欠陥管理情報再生方法 - 特許庁
DEFECT DETECTING METHOD AND DEVICE THEREOF 欠陥検出方法及び装置 - 特許庁
DEFECT DETECTING METHOD FOR THERMAL HEAD サーマルヘッドの不良検出方法 - 特許庁
EDGE SENSOR AND DEFECT INSPECTION DEVICE エッジセンサおよび欠陥検査装置 - 特許庁