「diffraction peak」を含む例文一覧(378)
1 2 3 4 5 6 7 8 次へ＞- The X-ray diffraction intensity of the composite material by CuKα is represented by expression (1): I_1/I_2≤2 (1), wherein I_1 is the peak diffraction intensity at 2θ=5.5-6.5°; and I_2 is the peak diffraction intensity at 2θ=5.5-6.5°.
ここで、I_1:２θ＝5.5〜6.5°間のヒ゜ーク回折強度、I_2:２θ＝5.5〜6.5°間のヒ゜ーク回折強度である。 - 特許庁 - The peak intensity ratio of (P101/P100) of (101) diffraction peak to (100) diffraction peak is preferably ≥1.70.
また、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）は１．７０以上であることが好ましい。 - 特許庁 - In the graphite sheet, the peak strength ratio (P100/002) of (100) diffraction peak to (002) diffraction peak and the peat strength ratio (P110/002) of (110) diffraction peak to (002) diffraction peak, both by X-ray diffraction method, are set at 10 or higher.
グラファイトシートにおいて、Ｘ線回折法による、（１００）回折ピーク及び（００２）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１００／００２）と、（１１０）回折ピーク及び（００２）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１１０／００２）とが１０以上に設定されている。 - 特許庁 - The gallium phthalocyanine compound has a diffraction peak at a Bragg angle of 26.4° to X-ray diffraction.
Ｘ線回折に対するブラッグ角２６．４度に回折ピークを有する。 - 特許庁 - It is preferable that the X-ray diffraction peak is the diffraction peak originated from an alkyl chain and developed in the vicinity of 21° of diffraction angle 2θ.
前記Ｘ線回折ピークが、回折角２θの２１°付近に発現するアルキル鎖由来の回折ピークであることが好ましい。 - 特許庁 - The α-Al_2O_3 shows a strong (0006) diffraction peak.
α−Ａｌ_2Ｏ_3は強い（０００６）回折ピークを示す。 - 特許庁 - When calculating them, vector compensation is applied on X-ray diffraction intensity of each diffraction peak.
算出に際しては、各回折ピークのＸ線回折強度についてベクトル補正を行う。 - 特許庁 - The objective receptor is composed of a titanylphthalocyanine crystal having the maximum diffraction peak at least at 27.2° as the diffraction peak (±0.2°) of the Bragg angle 2θ with the characteristic X-ray of CuKα (1.514A wavelength), a peak at 7.3° as the diffraction peak of the smallest diffraction angle and further a peak at 26.3°.
ＣｕＫαの特性Ｘ線（波長１．５１４Å）に対するブラッグ角２θの回折ピーク（±０．２°）として、少なくとも２７．２°に最大回折ピークを有し、且つ最も低角側の回折ピークとして７．３°にピークを有し、且つ２６．３°にもピークを有するチタニルフタロシアニン結晶。 - 特許庁 - When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed.
表層のＸ線回折により、（１１１）結晶面に対応した回折ピークが観察される。 - 特許庁 - When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane and a diffraction peak other than the diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane are observed as diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C.
表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した回折ピークと、（１１１）結晶面に対応した回折ピーク以外の回折ピークとが観察される。 - 特許庁 - In other words, a diffraction peak can not be observed in a X-ray diffraction spectrum of the electric charge blocking layer 105, or a half width of the highest diffraction peak therein is ≥5 degrees.
または、電荷ブロッキング層１０５のＸ線回折スペクトルにおいて回折ピークが現れない、もしくはその中で最大となる回折ピークの半値幅が５°以上とする。 - 特許庁 - The protective film has the X-ray diffraction peak intensity of (110) plane of chromium higher than the X-ray diffraction peak intensity of (200) plane.
保護膜は、Ｘ線回折によるクロムの（１１０）面の回折ピーク強度が、クロムの（２００）面の回折ピーク強度よりも大きい。 - 特許庁 - This layer constitutes its characteristic feature of a strong diffraction peak in (006) measured and a weak diffraction peak in (012), (104), (113), (204), (116) by using XRD.
この層は、ＸＲＤ使用して測定した（００６）の強い回折ピーク、及び（０１２）（１０４）（１１３）（２０４）（１１６）の弱い回折ピークによって特徴付けられる。 - 特許庁 - The transition metal composite oxide has a maximum diffraction peak by a X-ray diffraction using CuKα-ray in 10°<2θ<20° as a single peak and does not have a peak with intensity of not less than 1/10 of the maximum diffraction peak in 20°<2θ<25°.
遷移金属複合酸化物は、ＣｕＫα線を用いたＸ線回折での最大回折ピークが１０°＜２θ＜２０°に単一ピークとして存在し、且つ２０°＜２θ＜２５°に最大回折ピークの１／１０以上の強度のピークが存在しない。 - 特許庁 - The positive electrode active material has a diffraction peak at 8.4-10.4° of a diffraction angle 2θ in X-ray diffraction by a CuKα ray.
該正極活物質は、ＣｕＫα線によるＸ線回折において、回折角２θの８．４〜１０．４度の位置に回折ピークを有する。 - 特許庁 - For the ferrite with cadmium chloride structure (LiFeO_2 with CdCl_2 structure), the integrated intensity ratio of the diffraction peak of (003) against the diffraction peak of (104), obtained by the powder method of X ray diffraction, is 2.5 or more, or the half value width of the diffraction peak of (003) is 0.45 of less.
この塩化カドミウム型フェライト（ＣｄＣｌ_2 型ＬｉＦｅＯ_2 ）は、粉末Ｘ線回折法により得られる、（１０４）の回折ピークに対する（００３）の回折ピークの積分強度比が２．５以上、または（００３）の回折ピークの半値幅が０．４５以下となっている。 - 特許庁 - The graphitized carbon fibers have a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak to the (100) diffraction peak of ≥1.15.
黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満で、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上である。 - 特許庁 - (3) an intensity peak ratio I_003/I_110 of the diffraction peak intensity I_003 of the (003) planes determined in the X-ray diffraction image and diffraction peak intensity I_110 in the (110) planes in the vicinity of 2θ=66° is 4 to 10.
（３）前記Ｘ線回折像において測定される前記（００３）面回折ピーク強度Ｉ_００３と２θ＝６６°付近の（１１０）面回折ピーク強度Ｉ_１１０との強度比Ｉ_００３／Ｉ_１１０が、４以上１０以下であること。 - 特許庁 - To provide a diffraction grating device whose reflection factor peak has small wavelength dependence.
反射率ピークの波長依存性が小さい回折格子デバイスを提供する。 - 特許庁 - In an X-ray diffraction of cerium oxide, the relative intensity of a (200) plane peak and that of a (311) plane peak to a (111) plane peak are 0.45-0.5 and 0.35-0.4 respectively.
Ｘ線回折における酸化セリウムの（１１１）面ピークに対する（２００）面ピーク、（３１１）面ピークの相対強度が、各々０．４５〜０．５、０．３５〜０．４である。 - 特許庁 - Furthermore, a ratio of an X-ray diffraction peak on the surface (001) of fluorocarbon with respect to the X-ray diffraction peak of a surface (002) of the non-fluoride carbon component is 30 or larger and 50 or smaller.
かつ、フッ化炭素の（００１）面のＸ線回折ピークの、未フッ化の炭素成分の（００２）面のＸ線回折ピークに対する比が３０以上、５０以下である。 - 特許庁 - This composite oxide has an X-ray diffraction peak that corresponds to the fluorite type structure.
この複合酸化物は、蛍石型構造に対応するＸ線回折ピークを有する。 - 特許庁 - The crystal of compound A is one in which the characteristic diffraction peak at a diffraction angle 2θ(°) as measured by powder X-ray diffraction has a specified powder X-ray pattern.
化合物Ａの結晶であって、粉末Ｘ線回折で測定した回折角２θ（°）の特徴的回折ピークが特定の粉末Ｘ線回折パターンを有する結晶。 - 特許庁 - The anode material contains a carbonaceous material having a diffraction peak between 2θ diffraction angles of 30 to 32° in an X-ray (CuKα) powder diffraction pattern.
負極材料は、Ｘ線（ＣｕＫα）粉末回折パターンにおける２θ回折角３０度〜３２度の間に回折ピークを有する炭素質材料を含有する。 - 特許庁 - In the protective film 9, a peak is present at a diffraction angle, between a diffraction angle at which a peak generates when only one oxide of two oxides is analyzed in X-ray diffraction analysis on a specific azimuth surface and a diffraction angle at which a peak generates, when only the other oxide is analyzed.
保護膜９は、特定方位面についてのＸ線回折分析において、２つの酸化物の一方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角と、他方の酸化物単体を分析したときにピークが発生する回折角との間の回折角に、ピークが存在するものである。 - 特許庁 - When the surface layer is subjected to X-ray diffraction, a primary diffraction peak corresponding to a (111) crystal plane is observed as the diffraction peaks corresponding to polycrystalline silicon carbide whose crystal polymorph is 3C, and no other primary diffraction peaks having diffraction intensity of 10% or more that of the primary diffraction peak corresponding to the (111) crystal plane is observed.
表層のＸ線回折により、結晶多形が３Ｃである多結晶炭化ケイ素に対応した回折ピークとして、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークが観察され、（１１１）結晶面に対応した１次回折ピークの回折強度の１０％以上の回折強度を有する他の１次回折ピークが観察されない。 - 特許庁 - The first tantalum carbide coating film has a maximum peak value at 80° or more in an orientation angle of the (311) plane of a diffraction peak which corresponds to the tantalum carbide in an X-ray diffraction analysis.
第１炭化タンタル被覆膜は、Ｘ線回折により炭化タンタルに対応した回折ピークの（３１１）面の配向角度において８０°以上に最大のピーク値を有する。 - 特許庁 - The tantalum carbide coating film 42 has a maximum peak value at 80° or more in an orientation angle of the (311) plane of a diffraction peak which corresponds to the tantalum carbide in an X-ray diffraction analysis.
炭化タンタル被覆膜４２は、Ｘ線回折により炭化タンタルに対応した回折ピークの（３１１）面の配向角度において８０°以上に最大のピーク値を有する。 - 特許庁 - Preferably, the maximum peak diffraction angle in the wide angle X-ray diffraction of the polyethylene naphthalate fiber is 25.5-27.0, and the tanδ peak temperature of the fiber is 150-170°C.
さらには、該ポリエチレンナフタレート繊維におけるＸ線広角回折における最大ピーク回折角が２５．５〜２７．０であることや、ｔａｎδのピーク温度が１５０〜１７０℃であることが好ましい。 - 特許庁 - In a powder X-ray diffraction pattern of the lithium composite metal oxide by powder X-ray diffractometry in the diffraction angle 2θ of 10° to 90° using CuKα as the source, a diffraction peak (diffraction peak A) is present in the diffraction angle 2θ of 20° to 23°.
ＣｕＫαを線源とし、かつ回折角２θの測定範囲を１０°以上９０°以下とする粉末Ｘ線回折測定により得られるリチウム複合金属酸化物の粉末Ｘ線回折図形において、２θが２０°以上２３°以下の範囲に回折ピーク（回折ピークＡ）を与えることを特徴とするリチウム複合金属酸化物。 - 特許庁 - The graphitized carbon fiber to be incorporated into a thermally conductive polymeric composition has a spacing (d002) of graphite layers, measured by the X-ray diffraction method, of <0.3370 nm and, at the same time, a peak intensity ratio (P101/P100) of the (101) diffraction peak (101) to the (100) diffraction peak of ≥1.15.
熱伝導性高分子組成物に含有される黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満で、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上である。 - 特許庁 - In summary, for materials with uniform strains, each diffraction peak shifts in proportion to g, but each peak remains sharp.
要約すると、均一な歪みをもつ材料については、各々の回折ピークはgに比例してずれるが、各々のピークは鋭いまま残る。 - 科学技術論文動詞集 - When the GaN compound semiconductor crystal is epitaxially grown, the substrate where a diffraction angle (2θ) at which a diffraction peak by an X-ray diffraction method appears is within a prescribed range, to put it concretely, NdGaO_3 where a position of the diffraction peak is 40.200° to 40.400° is used.
ＧａＮ系化合物半導体結晶をエピタキシャル成長させる際に、Ｘ線回折法による回折ピークの現れる回折角度（２θ）が所定の範囲内にある基板、具体的には、回折ピークの位置が４０．２００°〜４０．４００°であるＮｄＧａＯ_3を用いるようにした。 - 特許庁 - The peak order is preferably unchanged even when the X-ray diffraction is performed for the powder thereof.
粉末にしてＸ線回折を行ってもピークの順番が変わらないことが好ましい。 - 特許庁 - To provide a low price optical mask which can further reduce optical intensity peak resulting from diffraction.
回折に因る光強度ピークを更に低減することができる安価な光学マスクを提供する。 - 特許庁 - That is to say, it is preferable if a diffraction peak can be obtained at diffraction angles 2θ within the range of 42° or more and 44° or less when the Si alloy powder is put under a powder X-ray diffraction measurement.
つまり、このＳｉ合金粉末について粉末Ｘ線回折測定を行うと、回折角度２θが４２°以上４４°以下の範囲内に回折ピークが得られることが好ましい。 - 特許庁 - To provide a structure analysis method of a crystal applicable even to a case where a peak usable as a reference peak cannot be observed near an analysis object peak in an X-ray diffraction method.
Ｘ線回折法において、基準ピークとなるようなピークが解析対象ピークの近傍に観測できないような場合にも適用できる結晶の構造解析方法を提供する。 - 特許庁 - For the ferroelectric BLT film, a peak intensity at an angle of diffraction of about 33.0° (a/b axis component) in an X-ray diffraction image in a direction of a film thickness is greater than a peak intensity at an angle of diffraction of about 30.0° (a component corresponding to a (117) plane).
本発明のＢＬＴ系強誘電体膜は、膜厚方向のＸ線回折像において、回折角約３３．０°（ａ・ｂ軸成分）のピーク強度が、回折角約３０．０°（（１１７）面に対応する成分）のピーク強度よりも大きい。 - 特許庁 - As the graphitized carbon fiber, it is preferable to have <3,370 nm surface distance (d002) between graphite layers of the graphitized carbon fiber and ≥1.15 peak intensity ratio (P101/P100) of (101) diffraction peak and (100) diffraction peak.
黒鉛化炭素繊維は、Ｘ線回折法による黒鉛化炭素繊維の黒鉛層間の面間隔（ｄ００２）が０．３３７０ｎｍ未満、かつ、（１０１）回折ピークと（１００）回折ピークのピーク強度比（Ｐ１０１／Ｐ１００）が１．１５以上であることが好ましい。 - 特許庁 - In the lithium manganese multiple oxide, the peak intensity ratio (A/B) of the deffraction peak intensity (A) observed at 15.3±1.0° to the diffraction peak intensity (B) observed at 18.2±1.0° in a powder X-ray diffraction under the following measurement condition is expressed by 0.001<A/B.
下記測定条件での粉末Ｘ線回折で１５．３±１．０°に観測される回折ピーク強度（Ａ）と１８．２±１．０°に観測される回折ピーク強度（Ｂ）とのピーク強度比（Ａ／Ｂ）が ０．００１ ＜ Ａ／Ｂ であるリチウムマンガン複合酸化物。 - 特許庁 - No diffraction rays having strong peak waveform are generated from the amorphous member 30, thus preventing the diffraction rays from the base plate 31 from generating erroneous variations.
非晶質部材３０からは強いピーク波形を持った回折線が出ないので、基底板３１からの回折線に誤差変動が生じることがなくなる。 - 特許庁 - To provide the method for manufacturing a hologram original plate by which the deterioration of diffraction efficiency caused by shifting diffraction peak wavelength due to the shrinkage or the like of a volume hologram photosensitive material is prevented.
体積ホログラム感材の収縮等により回折ピーク波長がシフトして回折効率が低下するのを防止するホログラム原版作製方法。 - 特許庁 - Furthermore, the anode active material is capable of reaction with lithium, and has a reaction phase in which the half width of a diffraction peak obtained by X-ray diffraction is 1° or more.
また、負極活物質は、リチウムと反応可能であり、Ｘ線回折により得られる回折ピークの半値幅が１°以上である反応相を有する。 - 特許庁 - Desirable properties are obtained by causing the position 2θ of the most intense diffraction peak to be at least 30.65° and at most 30.9° in the X-ray diffraction of the phosphor.
また、この蛍光体についてのX線回折で、最も強く現れる回折ピークの位置を2θ=30.65°以上30.9°以下とすることで、望ましい特性を得られる。 - 特許庁 - The average crystallite diameter calculated from the at least one diffraction peak is larger than 700 Å.
少なくとも一つの１次回折ピークから算出される平均結晶子径が、７００Åより大きい。 - 特許庁 - The average crystallite diameter calculated from the at least one primary diffraction peak is smaller than 700 Å.
少なくとも一つの１次回折ピークから算出される平均結晶子径が、７００Å以下である。 - 特許庁 - This oxy-cobalt hydroxide has a half peak width at peak of (003) smaller than 0.6 degrees and a value obtained by dividing the strength of the peak of (003) by the strength of peak of (012) of 10 or less in the X-ray diffraction using Kα rays of copper as a radiation source.
このオキシ水酸化コバルトは、銅のＫα線を線源とするＸ線回折において、（００３）のピークの半価幅が０．６度より小さく、（００３）のピークの強度を（０１２）のピークの強度で除した値が１０以下である。 - 特許庁 - The catalytic fiver exhibits a peak corresponding to a titanium oxide in X-ray diffraction spectra but no peak corresponding to a vanadium oxide, a phosphorus oxide and a zirconium oxide.
Ｘ線回折スペクトルにおいてチタン酸化物に相当するピークを示し、バナジウム酸化物、リン酸化物、ジルコニウム酸化物に相当するピークを示さない。 - 特許庁 - Related to the coat 12, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.
皮膜１２は，Ｘ線回折パターンにおける，（１１１）面のピーク強度をＡ，（２２０）面のピーク強度をＢとした場合，Ａ／Ｂが１以上である。 - 特許庁 - Related to silicon carbide, A/B is 1 or higher for an X-ray diffraction pattern, where A is a peak intensity on (111) surface while B is a peak intensity on (220) surface.
かつ，炭化珪素体は，Ｘ線回折パターンにおける，（１１１）面のピーク強度をＡ，（２２０）面のピーク強度をＢとした場合，Ａ／Ｂが１以上である。 - 特許庁
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