「diffraction」を含む例文一覧(7687)

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  • The phase adjuster is controlled so as to apply the preferable optical phase to the first-order diffraction beam.
    位相調整器は、望ましい光位相を1次回折ビームに適用するよう制御される。 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING DIFFRACTION OF OBLIQUELY EMITTED X-RAYS
    斜出射X線回折測定装置及びこれを用いた斜出射X線回折測定方法 - 特許庁
  • To provide an exposure device for reducing a calorific value and the influence of diffraction of light.
    発熱量を低減し、また、光の回折の影響を低減できる露光装置を提供する。 - 特許庁
  • The DVD light is separated to be 3 beams by a diffraction grating 102 and applied onto a DVD.
    DVD光は、回折格子102により3ビームに分離され、DVDに照射される。 - 特許庁
  • The diffraction grating 50 is arranged on the first semiconductor layer 21, a support substrate, and a translucent electrode.
    回折格子50は、第1半導体層21や、支持基板や、透光性電極に設けられる。 - 特許庁
  • To provide an imaging element effectively suppressing occurrence of a ghost due to reflected diffraction light.
    反射回折光によるゴーストの発生を効果的に抑制可能な撮像素子を実現する。 - 特許庁
  • To provide an optical device that can offer two-dimensional resolution beyond diffraction limit.
    本発明は、回折限界を超えた2次元の解像を得ることができる光学装置を提供する。 - 特許庁
  • The peak order is preferably unchanged even when the X-ray diffraction is performed for the powder thereof.
    粉末にしてX線回折を行ってもピークの順番が変わらないことが好ましい。 - 特許庁
  • On the inclined surface 22a, a reflecting film 25 is so formed as to cover the diffraction grating 24.
    また、傾斜面22aには、回折格子24を覆うように反射膜25が形成されている。 - 特許庁
  • DIFFRACTION GRATING, CAPILLARY ARRAY ELECTROPHORESIS APPARATUS, LIQUID CHROMATOGRAPH, SPECTROPHOTOMETER, AND BIOCHEMICAL AUTOANALYZER
    回折格子,キャピラリアレイ電気泳動装置,液体クロマトグラフ,分光光度計,生化学自動分析装置 - 特許庁
  • ARRAY WAVEGUIDE DIFFRACTION GRATING ELEMENT, ITS MANUFACTURING METHOD, ARRAY WAVEGUIDE MODULE AND OPTICAL COMMUNICATION SYSTEM
    アレイ導波路回折格子素子、その製造方法、アレイ導波路モジュールおよび光通信システム - 特許庁
  • To actualize an array waveguide diffraction grating element capable of easily realizing wavelength correction.
    波長補正を簡易に実現することのできるアレイ導波路回折格子素子を実現すること。 - 特許庁
  • The diffraction grating forms an interference pattern in the shape of parallel crosses by diffracting the electromagnetic waves.
    回折格子は電磁波を回折することによって、井桁状の干渉パターンを形成する。 - 特許庁
  • A filler 3 is filled between the line electrodes 6 and reduces diffraction of the line electrodes 6.
    充填材3は、ライン電極6間に充填され、ライン電極6の回折を低減する。 - 特許庁
  • DIFFRACTION GRATING, WAVELENGTH MULTIPLEXER/DEMULTIPLEXER AND WAVELENGTH MULTIPLEX SIGNAL OPTICAL TRANSMISSION MODULE USING THEM
    回折格子、波長合分波器及びこれらを用いた波長多重信号光伝送モジュール - 特許庁
  • The diffraction optical element 16 is placed on a chuck 12, and air is discharged from an exhaust port 17 to fix it.
    回折光学素子をチャック12に載せ、排気口17から空気を排出して固定する。 - 特許庁
  • DETERIORATION DIAGNOSING METHOD OF NI-BASED HARD METAL BY X-RAY DIFFRACTION METHOD AND FUTURE LIFETIME EVALUATION METHOD
    X線回折法によるNi基超合金の劣化診断法および余寿命評価法 - 特許庁
  • Thus, spread of light reflection caused by diffraction is suppressed to improve the light use efficiency.
    これにより、回折による光反射の広がりを抑制し、光利用効率を高めることができる。 - 特許庁
  • To provide a technique for accurately finding characteristics of a substrate while preventing order of diffraction from being overlapped.
    回折次数の重なりを防止しつつ基板の特性を精度良く求める技術を提供する。 - 特許庁
  • OPTICAL HEAD, LD MODULE, OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND DIFFRACTION ELEMENT USED FOR THE DEVICE
    光ヘッド、LDモジュール、光記録再生装置及び光記録再生装置に用いる回折素子 - 特許庁
  • A structure diffraction wave calculation part calculates received electric field intensity on the condition that there is the structure.
    構造物回折波計算部で、構造物がある場合の受信電界強度を算出する。 - 特許庁
  • To detect a defect 3 inside a welded part 2 using a TOFD(Time of Flight Diffraction) method for ultrasonic flaw detection.
    溶接部2内の欠陥3を、超音波探傷のTOFD(Time of FlightDiffraction)法によって検出する。 - 特許庁
  • The diffraction order functions are calculated for the original design rule using the unperturbed condition.
    元の設計ルールの組について、変動がない条件を用いて回折次数関数が計算される。 - 特許庁
  • Or, a diffraction structure is formed in the base material of the reflector.
    また、さらには、基材に回折構造を設けたことを特徴とする前記反射体を提供する。 - 特許庁
  • To provide a microphone capable of obtaining a satisfactory frequency characteristic by eliminating a diffraction effect or the like.
    回析効果などを少なくして、良好な周波数特性が得られるマイクロホンを提供する。 - 特許庁
  • To provide a diffraction interference measuring device capable of measuring optical properties of an object optical system with high accuracy.
    被検光学系の光学特性を高精度に計測可能な回折干渉計を提供する。 - 特許庁
  • A diffraction efficiency of the positive primary diffracted light is higher than that of the negative primary diffracted light.
    +1次回折光の回折効率は−1次回折光の回折効率に比べて高い。 - 特許庁
  • To perform high-density recording which exceeds the diffraction limit, while retaining the convenience of conventional optical memory.
    従来の光メモリの利便性を保持しながら回折限界を越える高密度な記録を行う。 - 特許庁
  • The rule defined beforehand includes an application range relation existing among various diffraction signature groups.
    予め定義された規則は、様々な回折シグネチャグループ間に存在する適用範囲関係を含む。 - 特許庁
  • To record according demand, images on diffraction grating array without using laser beam.
    レーザビームを使用することなしに、回折格子アレイに画像をオンデマンドで記録することを可能とする。 - 特許庁
  • When a diffraction structure is formed in the lens, the form of the present implementation is particularly effective.
    又、レンズに回折構造が形成されているような場合、本実施の形態は特に有効である。 - 特許庁
  • The incident image beam is totally reflected by the second plane 3 to be made incident on a diffraction element 11.
    入射した画像光は第2の平面3で全反射し、回折素子11に入射する。 - 特許庁
  • The two optical elements 104, 105 are arranged, so that the chromatic aberration caused by diffraction can be offset.
    2個の光学素子104,105を設けたことで、回折による色収差を相殺できる。 - 特許庁
  • The diffraction grating has a sine wave shaped groove sectional shape and its groove bottom part is specified to have a flat shape.
    溝断面形状が正弦波状のものであって、その溝底部を平坦な形状とした。 - 特許庁
  • A Bragg diffraction type liquid crystal element is used as a means for adjusting the focal length of a laser beam.
    レーザ光の焦点距離を調整する手段として、Bragg回折型液晶素子を用いる。 - 特許庁
  • To provide an optical system which attains a perfect imaging effect beyond diffraction limit.
    回折限界を超える完全結像効果を実現することができる光学系を提供する。 - 特許庁
  • MICRO-PORTION X-RAY IRRADIATION DEVICE AND MICRO-PORTION X-RAY IRRADIATION METHOD OF X-RAY DIFFRACTION DEVICE
    X線回折装置の微小部X線照射装置及び微小部X線照射方法 - 特許庁
  • To provide a hologram with superior productivity, in which high diffraction efficiency can be obtained on reproducing.
    再生時に高い回折効率を得ることができ、生産性に優れたホログラムを提供する。 - 特許庁
  • The pattern P1 for the diffraction grating includes a periodic structure 37c extending in the direction of axis A_j.
    回折格子のためのパターンP1は軸A_jの方向に伸びる周期構造37cを含む。 - 特許庁
  • INFORMATION RECORDING MEDIUM HAVING DIFFRACTION GRATING AND INFORMATION AUTHENTICATING APPARATUS FOR THE INFORMATION RECORDING MEDIUM
    回折格子を有する情報記録媒体及びその情報記録媒体の情報認証装置 - 特許庁
  • An electron diffraction figure D_xy is photographed by a CCD camera at each observation point on a sample.
    試料上の各観察点において、電子回折図形D_xyをCCDカメラで撮像する。 - 特許庁
  • WAVEGUIDE TYPE DIFFRACTION GRATING, ITS MANUFACTURING METHOD, OPTICAL PICKUP DEVICE, AND OPTICAL COMMUNICATION MODULE DEVICE
    導波路型回折格子及びその製造方法並びに光ピックアップ装置、光通信モジュール装置 - 特許庁
  • The diffraction optical element GC has the function of correcting chromatic aberration caused in the imaging lens.
    回折光学素子GCは、撮像レンズで生じた色収差を補正する機能を有している。 - 特許庁
  • The diffraction grating 20 is formed integrally with the core exposed part 16 of the optical fiber 10.
    回折格子20は、光ファイバ10のコア露出部16に一体的に形成されている。 - 特許庁
  • To induce two photon excitation of an organic photochromic compound in a scale equal to or less than a diffraction limit.
    有機フォトクロミック化合物の2光子励起を回折限界以下のスケールで起こさせること。 - 特許庁
  • To provide a variable wavelength laser which has little diffraction loss and has high reliability and has favorable heat dissipation performance.
    回折損が少なくて、信頼性が高く、放熱が良好な波長可変レーザーを実現する。 - 特許庁
  • The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.
    当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁
  • Especially, scattering anisotropy and change of the diffraction efficiency based on its angle of incidence and wavelength are used.
    特に、その入射角度や波長による散乱異方性、回折効率の変化を利用する。 - 特許庁
  • Then, the electron backscattering diffraction image in the observation domain of the sample is imaged (step S14).
    さらに、試料の観察領域における電子後方散乱回折像を撮像する(ステップS14)。 - 特許庁
  • The 1st light having the wavelength λ1 and the 2nd light having the wavelength λ2 are diffracted by the diffraction element.
    回折素子は、波長λ1の第1の光と、波長λ2の第2の光とを回折させる。 - 特許庁
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