「diffraction」を含む例文一覧(7687)
＜前へ 1 2 .... 95 96 97 98 99 100 101 102 103 .... 153 154 次へ＞- In this spectrometer, parallel light from a collimator lens 16 is diffracted by a holographic grating 18, and the diffracted light (first diffraction light) is incident on an echellette grating 19.
コリメートレンズ１６からの平行光はホログラフィックグレーティング１８によって回折され、この回折された回折光（第１の回折光）はエシェルグレーティング１９に入射する。 - 特許庁 - To provide a positioning device and method correcting effects from multipath and/or diffraction and allowing positioning with a high degree of accuracy, while maintaining possibility rate of positioning.
本発明は測位装置に関し、マルチパスや回折による影響を補正し、測位可能率を保ったまま高精度な測位を可能にする装置及び方法を提供する。 - 特許庁 - The specified information for the mechanical read-out is composed of a cell consisting of a computer-generated hologram and arranged inside the pattern together with a cell consisting of the diffraction grating composing the decorative picture.
計算機ホログラムから成るセルによって機械読み取り用の特定情報を構成し、装飾画像を構成する回折格子から成るセルと共に、パターン内に配置する。 - 特許庁 - These spots are formed from a single light source 101 and the objective lens by using a diffraction grating 110, etc., and formed on a track and at the off-tracked position.
上記スポットは、回折格子１１０などを用いて単一の光源１０１および対物レンズから形成され、トラック上およびオフトラックした位置に形成される。 - 特許庁 - This crystal is, for example, characterized by an X-ray powder diffraction pattern given by copper radiant rays which are passed through a monochromator and have a λ of 1.5418Å.
本発明の結晶は、例えば、モノクロメーターを通したλ＝１．５４１８Åの銅放射線で得られるＸ線粉末回折パターンにおいて特徴づけられる。 - 特許庁 - The mirror layer 60 is an optical film aiming at only light reflection and diffraction and is formed in an area opposed to the lower electrode 54 out of the upper electrode 58.
ミラー層６０は、光の反射及び回折のみを目的とする光学膜であって、上部電極５８のうち下部電極５４に対向する領域に設けられている。 - 特許庁 - The combination of the first periodic structure and the second periodic structure forms a diffraction structure which is composed to be illuminated by a radiation having the second wavelength.
さらに、第１の周期構造と第２の周期構造との組合せが第２の波長を有する放射によって照明されるように構成された回折構造を形成する。 - 特許庁 - To provide a concave diffraction mirror which has excellent slit imaging performance for all wavelengths in the visible range and is suitably mass-produced, and a spectral device using the same.
可視領域の全ての波長において良好なスリットの結像性能を有し且つ大量生産に向く凹面回折ミラー及びこれを用いた分光装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a method and device for preventing a water-containing crystal from drying to appropriately freeze a sample during diffraction measurement by X-rays etc.
本発明は、X線等による回折測定時の含水結晶の乾燥を防ぎ、適切な試料凍結を行う方法及びそのための装置の提供を目的とする。 - 特許庁 - The grating means 4 is switched for its diffraction state by a servo control circuit 109 to emit optical beams different in number between reproduction and recording.
グレーティング手段４は、サーボ制御回路１０９によってその回折状態が切り替えられることにより、再生時と記録時とで異なる本数の光ビームを出射する。 - 特許庁 - The authenticity display body is provided with a reflecting layer 12, including a reflecting region 12a which reflects a specific light and a diffraction layer 15 which diffracts a specific light.
真正性表示体は、特定の光を反射する反射領域１２ａを含む反射層１２と、特定の光を反射する回折層１５と、を備えている。 - 特許庁 - To provide a lightweight, compact and inexpensive sensor for easily, simply and quickly detecting a color and an absorption on the surface of an object without using a diffraction grating and a spectroscope.
回折格子や分光器を用いないで、対象物の表面の色、吸収などを簡易迅速に検出するための軽量、小型、低コストのセンサを与えること。 - 特許庁 - This repose angle calculation device 1 of the present invention receives inputs of the repose angle by the injection method, a sieved particle size average, and a laser diffraction particle size average.
本発明の安息角計算装置１は、粉体の注入法による安息角、篩い分け粒径平均、及びレーザー回折粒径平均の入力を受け付ける。 - 特許庁 - Diffraction lens structure 24 on the 2nd lens 22 correcting lateral chromatic aberration is formed only in an area Re through which the beam reaching the plotting range Rd passes.
倍率色収差を補正する第２レンズ２２上の回折レンズ構造２４は、描画範囲Ｒｄに達する光束が通る領域Ｒｃにのみ形成されている。 - 特許庁 - To provide a hologram recording material and a hologram recording medium having high diffraction efficiency and high transparency, and to provide a method for manufacturing the hologram recording material.
高い回折効率を備え、かつ透明性の高いホログラム用記録材料及びホログラム用記録媒体と、ホログラム用記録材料の製造方法とを提供する。 - 特許庁 - To provide a projection type color display using a single-plate spatial modulating element with high efficiency and good color reproducibility by using one diffraction grating formed of a volume hologram.
体積ホログラムからなる回折格子を１枚用いることにより、高効率で色再現性の良い単板の空間変調素子を用いた投影型カラー表示装置。 - 特許庁 - Here, diffraction of light generated between transparent electrodes is prevented by connecting the transparent electrodes with the transparent resistance films to obtain an excellent optical signal.
透明電極を透明抵抗膜によって接続することによって、透明電極間で発生する光の回折を防止して良好な光信号を得られるように構成した。 - 特許庁 - By forming the diffraction grating of GaInAsP having λ_g of approximately 1,510 nm, absorption hardly takes place at the oscillation wavelength close to 1,550 nm.
λ_ｇ が約１５１０ｎｍのＧａＩｎＡｓＰで回折格子を形成することにより、発振波長の１５５０ｎｍ付近の波長に対しては、殆ど吸収が起らない。 - 特許庁 - The utilization of the convex diffraction grating 100 enables the spectrometer 110 to provide highly accurate spectral imaging with greatly improved resolving power.
凸面回折格子１００の使用により本発明の分光計１１０を著しく分解能が向上した高精度スペクトルイメージングのものにすることが可能になる。 - 特許庁 - The fiber type optical parts having the sharp band-pass characteristics are realized by integrally building multilayered dielectric film filters and array waveguide type diffraction gratings into the optical parts.
また誘電体多層膜フィルタやアレイ導波路型回折格子を一体に組み込むことでシャープな帯域通過特性を備えるファイバ型光部品を実現する。 - 特許庁 - In that case, noise in reproducing a hologram can be decreased by eliminating one of the positive or negative diffraction image where the positional asymmetry is induced by using a shielding plate.
このような場合に、位置の非対称性が生じた正負の回折像の一方を遮蔽板で除外することで、ホログラムの再生時のノイズを低減することができる。 - 特許庁 - Apertures are formed in a resist film by patterning a resist film and simultaneously the ruggedness is formed on the surface of the resist film, by utilizing diffraction of the light passing the photomask.
レジスト膜をパターニングしてレジスト膜に開口部を形成すると同時に、フォトマスクを通過する光の回折を利用してレジスト膜の表面に凹凸を形成する。 - 特許庁 - To provide an objective lens for optical disk by which plural beams different in wavelength can be condensed on an information recording medium with a good performance within nearly a diffraction limit.
波長の異なる複数のビームを略回折限界内の良好な性能で情報記録媒体上に集光可能な光ディスク用対物レンズを提供する。 - 特許庁 - To improve traditional optical pickups with many components, a large outer shape and having difficulties in making it light that assembly components such as LDs, PDs, dichronic prisms, mirrors, beam splitters, lenses and diffraction gratings.
ＬＤ、ＰＤ、ダイクロイックプリズム、ミラー、ビームスブリツタ、レンズ、回折格子等の部品をアッセンブリする従来の光ピックアップは、部品数が多く外形が大きく、軽量化しにくい。 - 特許庁 - To provide a simple method for quickly synthesizing a heavy atom-substituted protein suitable for the X-ray crystal structural analysis for protein, particularly phase determination by MAD(multiwavelength anomalous diffraction) method.
タンパク質のＸ線結晶構造解析、特にＭＡＤ法による位相決定に適した重原子置換体タンパク質の迅速且つ簡便な合成方法を提供する。 - 特許庁 - A head-mounted display includes a laser group, a driving signal control unit, a vertical scan system, a horizontal scan system, an emission unit, a diffraction grating 60, focus targets 70, and an illumination unit.
ヘッドマウントディスプレイは、レーザ群、駆動信号制御部、垂直走査系、水平走査系、射出部、回折格子６０、ピントターゲット７０、および照明部を備える。 - 特許庁 - A surface 24A of a test specimen 24 is irradiated with X-ray and a strain of the test specimen 24 is measured from a diffraction angle 2θ of the diffracted X-ray transmitting through the test specimen 24.
試験片２４の表面２４ＡにＸ線を照射し、試験片２４を透過した回折Ｘ線の回折角２θから試験片２４のひずみを測定する。 - 特許庁 - An algorithm which can retrieve the phase of a weakly scattered object from coherent nano-diffraction patterns by successive Fourier analysis is described by Bates and Rodenburg.
次々に行われるフーリエ解析によるコヒーレント・ナノ回折図形からの弱く散乱された物体の位相を回復することができるアルゴリズムは、BatesとRodenburgによって記述される。 - 科学技術論文動詞集 - Accurate measurements of the charge-density distribution in crystals using electron diffraction require careful interpretation because the distribution measured depends on temperature.
電子回折を使った結晶中の電荷密度分布の精確な測定は、注意深い解釈を要求する; なぜなら、測定された分布は温度に依存するからである。 - 科学技術論文動詞集 - The problem for powder diffraction is further complicated by the fact that the individual diffractions in a given family (e.g., (220) versus (202)) may interact differently with a particular fault.
粉末回折の問題は、与えられた組の中で個々の回折(例えば、(220)対(202))が特定の欠陥と異なる相互作用をするという事実により、さらに複雑にされる。 - 科学技術論文動詞集 - In TEM and STEM, the diffraction conditions constitute the most important factors in influencing the contrast, whereas in SEM, these factors are generally not important.
TEMとSTEMにおいては、回折条件がコントラストに影響を及ぼす最も重要な要素を構成するのに対して、SEMにおいては、これらの要素は一般的に重要ではない。 - 科学技術論文動詞集 - Most diffraction effects with small precipitate particles, which are coherent to the matrix, are associated with the distortion or displacement of the matrix spots.
母結晶と(結晶格子の)つながった析出微粒子による回折効果の大部分は、母結晶斑点のゆがみまたは移動に関係している(と結びつけて考えられる)。 - 科学技術論文動詞集 - This integrated surface plasmon resonance sensor can sequentially analyze the presence of occurrence of biochemical reactions in plural samples while relatively moving a transparent substrate and a silicon substrate by entering a laser beam emitted from the minute optical element into the transparent substrate through a diffraction grating and by detecting the intensity of reflected light emitted from the transparent substrate through another diffraction grating adjacent to the diffraction grating by the minute optical element.
本発明の集積型表面プラズモン共鳴センサは、微細光学素子から出射されるレーザ光を回折格子を介して透明基板内に入射させると共に金属薄膜の試料搭載領域に照射し、回折格子に隣接する他の回折格子を介して透明基板から出射される反射光の強度を微細光学素子で検出することにより、透明基板とシリコン基板とを相対移動させながら、複数の試料における生化学反応の発生の有無を順次分析できる。 - 特許庁 - The niobium monoxide has a porous structure composed of particles whose half value width of a diffraction peak derived from (111) plane or (200) plane measured by X-ray diffraction is 0.21-1.0°, and has a large specific surface area and large porosity, and thus is suitably used especially for a capacitor.
本発明は、粒子から構成された多孔質構造の一酸化ニオブであって、Ｘ線回折による回折ピークのうち、（１１１）面に相当するピークまたは（２００）面に相当するピークの半値幅が、０．２１°〜１．０°であることを特徴とする一酸化ニオブに関し、比表面積及び空隙率が大きく、特にコンデンサ用途として好適なものである。 - 特許庁 - The electrostatic charge image developing toner used in an image forming method in which an electrostatic charge image formed on a photoreceptor containing oxy-titanium phthalocyanine having the maximum diffraction peak at 27.3° Bragg angle (2θ±0.2°) in its X-ray diffraction spectrum with CuKα rays is developed with toner, contains a calix arene compound of formula (1).
ＣｕＫα線によるＸ線回折スペクトルにおいてブラッグ角（２θ±０．２°）２７．３°に最大回折ピークを有するオキシチタニウムフタロシアニンを含有する感光体上に形成された静電荷像をトナーにより現像する画像形成方法に用いられるトナーであって、該トナーが下記構造式（１）で表されるカリックスアレン化合物を含有する静電荷像現像用トナー。 - 特許庁 - The first diffractive element is movable so that each of its diffraction pattern portions can be selectively positioned in the incident beam's path and the diffraction pattern portions of the first diffractive element are designed to cause the incident beam to have different spatial illumination profiles at a pupil plane of the incident beam while reducing effects caused by the incident beam's coherence.
第１回折要素は、その回折パターン部分のそれぞれが入射ビームパス内で選択的に配置されえるよう移動可能であり、第１回折要素の回折パターン部分は、入射ビームが異なる空間照明プロファイルを入射ビームの瞳平面において有するように設計され、一方で入射ビームのコヒーレンスによって生じる効果を減らす。 - 特許庁 - In a diffraction element 30 having a rectangular grating 302 which is formed on a surface of a transparent substrate 301 whose cross-section is a recessed and protruding shape and in which each of the projections is symmetrical, a period of the grating is equal to or smaller than a wavelength of incident light and the diffraction element 30 is adopted so that the light is incident obliquely to its surface where the grating is formed.
透明基板３０１の表面に形成された、断面が凹凸状でかつ凸部が対称な矩形格子３０２を有する回折素子３０において、格子の１周期が入射する光の波長と等しいか小さく、かつ回折素子３０の格子形成面に光が斜めに入射して用いられる回折素子とする。 - 特許庁 - The reflected lights from the respective Bragg diffraction gratings FBG1 to FBG4 are made incident on a diffraction grating type demultiplexer (HOE) 21 which can have its center wavelength separated into small-interval wavelengths and the wavelengths of the reflected lights are measured according to the logarithm of the ratios of photocurrents of couples of photodetecting elements PD provided at output channels of the demultiplexer.
各ブラッグ回折格子ＦＢＧ１〜ＦＢＧ４からの反射光を、中心波長が微小な間隔の複数波長に分離可能な回折格子型分波器（ＨＯＥ）２１に入射させ、その複数の出力チャンネルにそれぞれ設けられた一対の受光素子ＰＤによる光電流の比の対数に基づいて前記反射光の波長を測定する。 - 特許庁 - The scanning route T_1-T_8 determined to be orthogonal to a ring belt (vertex) of each grating by using a phase function which is design shape information of the diffraction grating is stored in a control device 30, and a measurement error or deterioration of measurement accuracy is prevented by controlling the XY-stage so that the probe 11 scans the vertexes of the diffraction grating in the shortest way.
制御装置３０には、回折格子の設計形状情報である位相関数を用いて各格子の輪帯（頂点）に直交するように求めた走査経路Ｔ_1 〜Ｔ_8 が記憶され、プローブ１１が回折格子の頂点を最短で走査するようにＸＹステージを制御することで、測定エラーや測定精度の劣化を防ぐ。 - 特許庁 - When the light of specific wavelength is used, 0-order light of the first diffraction optical element 22 is received by the first main light receiving part 241a, +1 order light diffracted by the first diffraction optical element 22 is received by the second main light receiving part 242a, and an output signal from the second main light receiving part 242a is used to generate a tracking error signal.
前記特定の波長の光が使用される場合には、第１の回折光学素子２２の０次光が第１のメイン受光部２４１ａで受光され、第１の回折光学素子２２で回折された＋１次光が第２のメイン受光部２４２ａで受光され、第２のメイン受光部２４２ａからの出力信号を用いてトラッキングエラー信号が生成される。 - 特許庁 - To obtain an objective lens capable of more raising the detection accuracy of detection system of an optical pickup device adopting the objective lens which is constituted of; a 1st region where diffraction structure is formed including an optical axis; a 2nd region where a refraction surface of the outer side of the 1st region is formed; and a 3rd region where diffraction structure of the outer side of the 2nd region is formed.
光軸を含み回折構造が形成された第１の領域と、第１の領域の外側の屈折面が形成された第２の領域と、第２の領域の外側の回折構造が形成された第３の領域と、で構成された対物レンズを用いた光ピックアップ装置の、検出系の検出精度をより向上させた対物レンズを得る。 - 特許庁 - This invention is an optical diffraction structure transferring sheet 1 on which a transfer layer 12 on which an optical structure 12a having a first pattern is formed is laminated on a substrate sheet 10, and pattern areas 12b in each of which a second pattern different from the first pattern is formed are incorporated in the optical diffraction structure 12a in such a size that can not be viewed and recognized with the naked eye.
基材シート１０上に第１のパターンを有する光回折構造１２ａが形成された転写層１２が積層された光回折構造転写シート１であって、光回折構造１２ａには、前記第１のパターンと異なる第２のパターンが形成されたパターン領域１２ｂが肉眼では視認できない大きさで組込まれている。 - 特許庁 - In the returning path, the light beam reflected by the right-angled reflection mirror 16 is wavelength-branched by the diffraction grating element 11, converged by the lens 13, reflected by the reflection mirrors 15_1-15_5, made into a parallel light beam by the lens 13, multiplexed by the diffraction grating element 11, converged by the lens 12, and inputted in the end face of the optical fiber 90.
復路では、直角反射鏡１６により反射された光は、回折格子素子１１により波長分岐され、レンズ１３により集光され、反射鏡１５_１〜１５_５により反射され、レンズ１３により平行光とされ、回折格子素子１１により合波されて、レンズ１２により集光されて、光ファイバ９０の端面に入力する。 - 特許庁 - To increase the minimum light intensity out of light intensities to a maximum out of five light spots when a laser beam from a semiconductor laser is diffracted by a diffraction grating face on a diffraction grating plate so as to generate zero-order diffracted light to second-order diffracted light in such a way that the five light spots are generated from the diffracted lights so as to be shone at different places on an optical disk.
半導体レーザ12からのレーザ光を回折格子板18の回折格子面20により回折して、０〜２次の回折光を生成し、これらより５個の光スポットM，E，F，G，Hを生成して、光ディスク34の異なるトラック部位へ照射する光ピックアップ装置10において、光スポットM，E，F，G，Hの内で光強度の最小のものの光強度を最大現、引き上げる。 - 特許庁 - The auxiliary light projecting device has a diffraction board for forming the pattern for focus detection, a laser beam source for illuminating the diffraction board, and a lens information obtaining means for obtaining the focal distance information of the photographic lens 1 attached to a camera, and the pattern for focus detection projected to the subject is switched based on the focal distance information.
焦点検出用パターンを形成する回折板と、前記回折板を照明するレーザ光源と、カメラに装着された撮影レンズの焦点距離情報を入手するレンズ情報入手手段とを有し、前記焦点距離情報に基づき、被写体に投影する前記焦点検出用パターンを切替可能である補助光投影装置。 - 特許庁 - The spectroscope further comprises an incident opening 302 for limiting the light, emitted by the incident light-introducing means 301 to the concave diffraction grating 303; and an emission opening 304 for limiting the emission angle of the emission light dispersed by the concave diffraction grating 303 by each wavelength, to the emission light-receiving means 305.
分光器は、入射光導入手段３０１によって発せられた光の凹面回折格子３０３への入射角度を制限する入射開口３０２と、凹面回折格子３０３によって波長ごとに分光された出射光の出射光受光手段３０５への出射角度を制限する出射開口３０４とをさらに有する。 - 特許庁 - In an organic layer 16, even the light emitted from the peripheral region of the pixel is reflected by a light reflecting part 14 and can receive interference effect of a diffraction grating, thereby, the light emitted from the peripheral region can receive interference effect by the diffraction grating 13a similar to that of the light emitted from the central region of the pixel.
有機層１６において画素周辺領域から発光される光であっても光反射部１４に反射されることにより回折格子の干渉効果を受けることができるので、画素周辺領域から発光される光であっても、画素中心領域から発光される光と同様の干渉効果を回折格子１３ａから受けることができる。 - 特許庁 - A light emitting element 12, a convex lens 14 and a diffraction grating 15 are arranged on a straight line in the horizontal direction relative to an optical recording medium 18, and an imaging device 19 is arranged in the vertical direction relative to the optical recording medium 18 and moreover in the direction orthogonal to the arrangement direction of the light emitting element 12, the convex lens 14 and the diffraction grating 15.
発光素子１２、凸レンズ１４及び回折格子１５は、光記録媒体１８に対して水平方向の一直線上に配置されており、撮像素子１９は光記録媒体１８に対して垂直方向でかつ、発光素子１２、凸レンズ１４及び回折格子１５の配置方向とは直角方向に配置されている。 - 特許庁 - The first cover substrate 2 is provided with an incident light transmitting part 203 for transmitting incident light and a scanning light transmitting part 204 for transmitting scanning light including reflected light, which is 0-order diffraction light, and a light receiving element 6 receiving diffraction light of specific order except 0-order is provided on the movable part forming substrate 1 side.
第１のカバー基板２は、入射光を透過させる入射光透過部２０３、および、０次の回折光である反射光からなる走査光を透過させる走査光透過部２０４が形成されるとともに、０次以外の規定次数の回折光を受光する受光素子６が可動部形成基板１側に設けられている。 - 特許庁 - A diffraction optical element 22 included in the reference standard plate 20 with the diffraction grating is configured to convert measurement light from a reference standard plane 21 into off-axis measurement light incident on the lens to be checked 70 from the all directions around an optical axis C_70 of the lens to be checked 70 at a predetermined inclination angle with respect to the optical axis C_70.
回折格子付参照基準板２０が有する回折光学素子２２は、参照基準面２１からの測定光を、被検レンズ７０の光軸Ｃ_７０の回り全方位から光軸Ｃ_７０に対し所定の傾斜角度をなして被検レンズ７０に入射する軸外測定光に変換するように構成されている。 - 特許庁
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