METHOD FOR EVALUATING FLATNESS OF SEMICONDUCTOR WAFER 半導体ウェーハの平坦度評価方法 - 特許庁
ION EXCHANGE MEMBRANE EVALUATING METHOD, ORGANIC MATERIAL EVALUATING METHOD, AND X-RAY MEASUREMENT DEVICE イオン交換膜の評価方法、有機物の評価方法及びX線測定装置 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING DIOXIN DEGRADING CAPACITY ダイオキシン類分解能力の評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING EFFICIENCY OF AUTOMATIC MACHINE 自動機械の効率を評価する方法 - 特許庁
DEVICE AND METHOD FOR EVALUATING WEB PAGE ウェブページを評価する装置および方法 - 特許庁
QUALITY EVALUATING METHOD OF COAL AND COKE 石炭及びコークスの品質評価方法 - 特許庁
MASSAGING SKILL EVALUATION SYSTEM, MASSAGING SKILL EVALUATING DEVICE, AND MASSAGING SKILL EVALUATION EVALUATING PROGRAM マッサージ手技評価システム、マッサージ手技評価装置及びマッサージ手技評価プログラム - 特許庁
DEVICE FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT AND METHOD OF EVALUATING THE SEMICONDUCTOR LIGHT EMITTING ELEMENT 半導体発光素子評価装置及び半導体発光素子の評価方法 - 特許庁
LUBRICATION STATE EVALUATING DEVICE, LUBRICATION STATE EVALUATING METHOD, PROGRAM AND RECORDING MEDIUM 潤滑状態評価装置、潤滑状態評価方法、プログラム及び記録媒体 - 特許庁
ONE-DIMENSIONAL PLANT MODEL NON-STATIONARY FLUID EVALUATING METHOD AND EVALUATING SYSTEM, AND STORAGE MEDIUM 一次元プラントモデル非定常流動評価方法、評価システム、及び記憶媒体 - 特許庁
METHOD OF EVALUATING ELECTROMAGNETIC WAVE TRANSMISSION STRUCTURE 電磁波透過構造体の評価方法 - 特許庁
FINE PATTERN EVALUATING METHOD AND STORAGE MEDIUM RECORDED WITH FINE PATTERN EVALUATING PROGRAM 微細パターン評価方法及び微細パターン評価プログラムを記録した記録媒体 - 特許庁
OPTION ATTACHMENT EVALUATING DEVICE OF ELECTRONIC APPARATUS 電子装置のオプション装着評価装置 - 特許庁
SURFACE QUALITY EVALUATING APPARATUS OF FILAMENT BODY 線条体の表面品質評価装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING SOUND, AND STORAGE MEDIUM WITH SOUND EVALUATING PROGRAM STORED THEREIN 音評価方法及び装置並びに音評価用プログラムを記憶した記憶媒体 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING SEMICONDUCTOR DEVICE 半導体デバイス評価方法及び装置 - 特許庁
APPARATUS FOR EVALUATING AIRLESS COATING PROPERTY AND METHOD OF EVALUATING AIRLESS COATING PROPERTY USING THE APPARATUS エアレス塗装性評価装置及び該装置を用いたエアレス塗装性評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING CLEANNESS OF METAL MATERIAL 金属材料の清浄度評価方法 - 特許庁
TREND EVALUATING DEVICE AND METHOD トレンド評価装置及びトレンド評価方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR DEVICE AND METHOD OF EVALUATING THE SAME 半導体装置及びその評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING LIFE TIME OF SEMICONDUCTOR WAFER 半導体ウェーハのライフタイム評価方法 - 特許庁
IMAGING APPARATUS AND EXPRESSION EVALUATING DEVICE 撮像装置および表情評価装置 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR EVALUATING OILS AND FATS 油脂の評価方法および評価システム - 特許庁
CLEANLINESS EVALUATING METHOD FOR METAL MATERIAL 金属材料の清浄度評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING POWDER MOLDING ELECTRODE 粉末成形体電極の評価方法 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR EVALUATING MOTION VECTOR 動きベクトルの評価方法および装置 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING GAS 気体の評価方法および評価装置 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING DEGREE OF FATIGUE AND ITS USE 疲労度評価方法およびその利用 - 特許庁
METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING GATE INSULATING FILM ゲート絶縁膜評価方法及び装置 - 特許庁
METHOD OF EVALUATING FUNCTIONALITY OF VOLATILE SUBSTANCE 揮散性物質の機能性の評価方法 - 特許庁
PRINTER AND PRINT POSITION EVALUATING DEVICE 印刷装置及び印刷位置評価装置 - 特許庁
METHOD OF EVALUATING FUEL GAS ODORANT 燃料ガス用付臭剤の評価方法 - 特許庁
Evaluating graduations are arranged on the evaluating plate for evaluating whether or not the indicating position of the pointer is proper, and the evaluating plate is variably arranged according to the outside air temperature. 評価板には指針の指示位置が適正か否かを評価する評価目盛が設けられ、評価板は外気温度に応じて可変可能に設けられている。 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING SOUNDNESS OF FOUNDATION STRUCTURE 基礎構造物の健全度評価方法 - 特許庁
METHOD OF EVALUATING RULE BASE OPC AND METHOD OF EVALUATING SIMULATION BASE OPC MODEL ルールベースOPCの評価方法およびシミュレーションベースOPCモデルの評価方法 - 特許庁
To provide an authentication algorithm evaluating device and method for efficiently evaluating the performance of the authentication algorithm of biometrics data use. バイオメトリクスデータ利用の認証アルゴリズムの性能を効率的に評価する。 - 特許庁
LIFE EVALUATING METHOD FOR HEAT SHIELD COATING 遮熱コーティングの寿命評価方法 - 特許庁
METHOD FOR DECIPHERING OR EVALUATING CIPHER COMMUNICATION 暗号通信解読又は評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING CHARACTERISTIC IN INTERMEDIATE LAYER CIRCUIT 中間層回路の特性評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING CLEANLINESS OF METAL MATERIAL 金属材料の清浄度評価方法 - 特許庁
To provide a method for evaluating transparency capable of objectively and precisely evaluating the transparency. 透明性を客観的に精度良く評価することができる方法の提供。 - 特許庁
[2]. Methods for evaluating company-level controls
② 全社的な内部統制の評価方法 - 金融庁
B. Method of evaluating operation
ロ.運用状況の評価の実施方法 - 金融庁
P CONTAMINATION EVALUATING METHOD OF SEMICONDUCTOR SUBSTRATE 半導体基板のP汚染評価方法 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING POLLEN ADHESION-PREVENTING PERFORMANCE AND METHOD FOR EVALUATING POLLEN-RELEASING PERFORMANCE 花粉付着防止性能の評価方法および花粉脱落性能の評価方法 - 特許庁
SEMICONDUCTOR WAFER AND CHARACTERISTIC EVALUATING CIRCUIT THEREOF 半導体ウェハ及び特性評価回路 - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING NITROGEN CONCENTRATION OF SILICON WAFER シリコンウェーハの窒素濃度の評価方法 - 特許庁
SOLAR BATTERY STABILIZATION EFFICIENCY EVALUATING SYSTEM 太陽電池安定化効率評価システム - 特許庁
METHOD FOR EVALUATING LATICIFER SPECIFICITY OF PROMOTER プロモーターの乳管特異性評価方法 - 特許庁
WAVEFORM EVALUATING METHOD AND OPTICAL DISK APPARATUS 波形評価方法、及び光ディスク装置。 - 特許庁