「evaluating」を含む例文一覧(11294)

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  • WAFER FOR EVALUATING PACKAGE OF SEMICONDUCTOR CIRCUIT
    半導体回路のパッケージ評価用ウェハ - 特許庁
  • SYSTEM FOR EVALUATING RELEVANCY BETWEEN PERSONS
    人物間の関連性を評価するシステム - 特許庁
  • MASK PATTERN EVALUATING SYSTEM AND METHOD FOR THE SAME
    マスクパターン評価システム及びその方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING REDUCIBILITY OF SINTERED ORE
    焼結鉱の被還元性評価方法 - 特許庁
  • MAXIMUM LIKELIHOOD DECODING APPARATUS, AND SIGNAL EVALUATING METHOD
    最尤復号装置、信号評価方法 - 特許庁
  • FAT EVALUATING METHOD AND ITS SYSTEM
    油脂評価方法及び油脂評価システム - 特許庁
  • STRENGTH EVALUATING METHOD OF TUBULAR FRAGILE MEMBER
    管状脆性部材の強度評価法 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING FUNCTIONALITY OF PRESSURE SENSOR
    圧力センサの機能性を求める方法 - 特許庁
  • CHARACTERISTIC EVALUATING DEVICE FOR FUEL INJECTION NOZZLE
    燃料噴射ノズルの特性評価装置 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING SILICON WAFER SURFACE-QUALITY
    シリコンウェーハ表面品質の評価方法 - 特許庁
  • To provide a method for evaluating appearance color texture capable of objectively evaluating texture, a device for evaluating appearance color texture and a system for evaluating appearance color texture.
    客観的に質感の評価を行うことができる外観色質感評価方法、外観色質感評価装置及び外観色質感評価システムを提供する。 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING QUALITY OF SEMICONDUCTOR WAFER
    半導体ウェ−ハの品質評価方法 - 特許庁
  • PILLING IMAGE PICKUP DEVICE AND EVALUATING METHOD THEREFOR
    ピリング撮像装置および評価方法 - 特許庁
  • While governments around the world are evaluating
    世界中の政府は どう対応すべきか - 映画・海外ドラマ英語字幕翻訳辞書
  • To provide an anti-fogging property evaluating apparatus capable of objectively evaluating anti-fogging properties, and an anti-fogging property evaluating method.
    防曇性を客観的に評価することが可能な防曇性評価装置および防曇性評価方法を提供する。 - 特許庁
  • QUALITY EVALUATING METHOD FOR SURFACE MODIFIED LAYER
    表面改質層の品質評価方法 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING SOLDER JUNCTION STATE, AND CHIP COMPONENT FOR EVALUATING SOLDER JUNCTION STATE
    はんだ接合状態の評価方法、及び、はんだ接合状態評価用チップ部品 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING MINUTE DEFECT IN SILICON WAFER
    シリコンウエハの微小欠陥の評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING NITRIDE ON SURFACE OF SILICON WAFER
    シリコンウエハ表面の窒化物評価方法 - 特許庁
  • DEVICE FOR EVALUATING IMPACT RESILIENCE CHARACTERISTIC OF GOLF CLUB HEAD
    ゴルフクラブヘッドの反発特性評価装置 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING VERIFICATION COVERAGE OF LOGIC CIRCUIT
    論理回路の検証カバレッジ評価方法 - 特許庁
  • STORAGE CASE FOR GRAIN QUALITY EVALUATING DEVICE
    穀粒品質判定装置用収納ケース - 特許庁
  • WAFER FOR EVALUATING HEAT TREATMENT, METHOD OF EVALUATING HEAT TREATMENT, AND METHOD OF MANUFACTURING SEMICONDUCTOR WAFER
    熱処理評価用ウェーハ、熱処理評価方法、および半導体ウェーハの製造方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING IMPURITY IN SEMICONDUCTOR
    半導体中の不純物の評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING Cu CONCENTRATION OF SILICON WAFER
    シリコンウェーハ中のＣｕ濃度評価方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING IC RELIABILITY
    ＩＣ信頼性評価方法および装置 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING CLEANING AND DISINFECTING FOR ENDOSCOPE AND DEVICE FOR EVALUATING CLEANING AND DISINFECTING FOR ENDOSCOPE
    内視鏡洗浄消毒評価方法及び内視鏡洗浄消毒評価装置 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING DISLOCATION OF CRYSTAL, METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL GROWTH METHOD, AND CRYSTAL GROWTH METHOD
    結晶の転位評価方法、結晶成長法評価方法および結晶成長法 - 特許庁
  • INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND ITS EVALUATING METHOD
    集積回路装置及びその評価方法 - 特許庁
  • METHOD OF EVALUATING MATERIAL FOR SEMICONDUCTOR JIG
    半導体治具用材料の評価方法 - 特許庁
  • PROCESSOR EVALUATING METHOD AND CLOCK CONTROLLER
    プロセッサ評価方法及びクロック制御装置 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING DEGREE OF POLLUTION IN SURFACE OF FLOOR MATERIAL
    床材表面の汚染度評価方法 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING PAIN
    痛み評価方法及び痛み評価装置 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING PERFORMANCE OF ANION EXCHANGE RESIN
    アニオン交換樹脂の性能評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING ETCHING AMOUNT OF SOI WAFER
    ＳＯＩウエハのエッチング量の評価方法 - 特許庁
  • BODY MOVEMENT EVALUATING METHOD, SWING MOTION EVALUATING METHOD, AND BODY MOVEMENT MEASURING SYSTEM
    身体運動の評価方法、スイング動作評価方法および身体運動の計測システム - 特許庁
  • DEVICE FOR EVALUATING CUSHION MAT FOR BEDSORE PREVENTION
    褥瘡予防用クッション・マット評価装置 - 特許庁
  • FRAGILITY EVALUATING PROGRAM, METHOD AND SYSTEM
    脆弱性評価プログラム、方法及びシステム - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEMORY DEVICE AND ITS EVALUATING METHOD
    半導体記憶装置とその評価方法 - 特許庁
  • APPARATUS AND METHOD FOR EVALUATING MICROORGANISM
    微生物の評価装置及び評価方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR DEVICE CONTAINING EVALUATING ELEMENT AND FAILURE ANALYZING METHOD USING THE EVALUATING ELEMENT
    評価用素子を含む半導体装置及び該評価用素子を用いた故障解析方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING LATERAL ACCELERATION OF VEHICLE
    車両の横加速度を評価する方法 - 特許庁
  • EVALUATION DEVICE FOR DRIVING SKILL AND METHOD FOR EVALUATING DRIVING SKILL AND PROGRAM FOR EVALUATING DRIVING SKILL
    運転技量評価装置、運転技量評価方法及び運転技量評価プログラム - 特許庁
  • DEVICE FOR EVALUATING FUEL CONSUMPTION RATE OF VEHICLE
    車両の燃料消費率評価装置 - 特許庁
  • DEVICE FOR EVALUATING IMPACT RESPONSE OF FORCE SENSOR
    力センサーの衝撃応答の評価装置 - 特許庁
  • APPARATUS FOR EVALUATING TRAVELING SAFETY OF VEHICLE, AND METHOD FOR EVALUATING TRAVELING SAFETY OF VEHICLE
    車両走行安全性評価装置および車両走行安全性評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING CENTRAL FATIGUE DEGREE AND METHOD FOR EVALUATING ANTI-FATIGUE ACTION OF SUBSTANCE TO BE INSPECTED
    中枢性疲労度の評価方法および被検物質の抗疲労作用評価方法 - 特許庁
  • STATE EVALUATING METHOD FOR ONE-CHIP MICROCOMPUTER
    ワンチップマイクロコンピュ—タの状態評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON WAFER
    シリコンウェーハの結晶欠陥評価方法 - 特許庁
  • METHOD FOR EVALUATING CRYSTAL DEFECT OF SILICON WAFER
    シリコンウエーハの結晶欠陥評価方法 - 特許庁
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