「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 99 100 101 102 103 104 105 106 107 .... 179 180 次へ＞- To provide a microscope device for securing a wide work space without moving an objective lens along the optical axis.
対物レンズを光軸方向に移動させずに、広い作業スペースを確保することができる顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - A microscope including an optical element switching device contains a groove 24 having an asymmetric shape on a guide surface of a movable member 14.
光学素子切換装置を含む顕微鏡は、可動部材１４のガイド面に、非対称な形状を呈する溝２４を含んでいる。 - 特許庁 - To manufacture a standard sample used in the calibration or inspection of a scanning probe microscope in a short time by a simple process.
走査型プローブ顕微鏡の校正または点検に用いる標準試料を簡単な工程により短時間で製作する。 - 特許庁 - To properly perform the change of setting of a camera which is needed to be carried out in synchronization with the change of the state of a microscope.
顕微鏡の状態の変更に同期させて行う必要のあるカメラの設定の変更を適切に行えるようにする。 - 特許庁 - To provide microscope controller and program for easily achieving FRAP experiment that has living cells as the object and quantitative analysis of its experimental results.
生細胞を対象とするＦＲＡＰ実験とその実験結果の定量的解析とを容易に行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a probe apparatus for a magnetic force microscope having resolution suitable for measuring a high-recording-density magnetic recording medium.
高記録密度の磁気記録媒体の測定に適した分解能を有する磁気力顕微鏡用プローブ装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope capable of forming an excellent image even under a new scanning condition added after delivery.
納品後に追加された新たな走査条件の下でも良好な画像を生成できるレーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The image microscope is focused on CCD 16 converting the observation object from the zoom optical system 2 into an electric signal through a focusing lens 14.
ズーム光学系２からの観察像を結像レンズ１４を通して電気信号に変換するＣＣＤ１６に結像する。 - 特許庁 - To provide a scanning type electron microscope capable of observing an observation target as it is without processing it.
観察対象物に加工を施すことなく現状状態そのままでの観察を可能とする走査型電子顕微鏡の提供。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of making a scanning range large and capable of observing a sample with high precision.
走査範囲を大きくでき、しかも高精度に試料の観察を行うことができる走査型プロ−ブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scattering near-field optical microscope capable of intensifying the near-field in an ultraviolet/deep-ultraviolet region.
紫外・深紫外領域で近接場増強を得ることができる散乱型近接場光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an infrared microscope capable of reliably measuring a specific part of a sample.
本発明の目的は、試料の特定部位の測定を、より確実に行うことのできる赤外顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a magneto-optical microscope magnetometer capable of measuring a hysteresis loop of a hyperfine local area (on the order of 0.3×0.3 μm).
超微細局所面積（約０．３×．０．３μｍ）のヒステリシスループを測定できる光磁気顕微鏡磁力計の提供。 - 特許庁 - Information, such as the direction (way) of the inclination, is delivered from the electron microscope body control system 7 to a display control circuit 5.
この傾斜の方向（向き）等の情報は、電子顕微鏡本体制御系７から表示制御回路５に供給される。 - 特許庁 - To allow intermediate or high speed positional change of a microscope lens while maintaining the low speed or static positional control thereof.
顕微鏡レンズの低速または静的な位置制御を維持しつつ、中速または高速の位置変更の適用を可能にする。 - 特許庁 - The microscope includes: a first objective lens; a second objective lens; a reflection mirror; an angle adjusting mechanism; and a shifting mechanism.
本発明の顕微鏡は、第１対物レンズ、第２対物レンズ、反射用ミラー、角度調整機構、およびシフト機構を備える。 - 特許庁 - To provide an immersion microscope objective lens with high optical performance to observe brightly from a surface of a specimen to a deep part.
標本の表面から深部まで明るく観察する、光学性能が良好な液浸顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope observation sample preparing method for a solid phase reactive sample and a charged particle beam device.
固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a light ray coupling device which is simply and versatilly applicable to a projection lighting optical path of a microscope.
顕微鏡の投射照明光路に対して、簡単に、そして多面的に適用できる光線連結装置の提供である。 - 特許庁 - To shorten the time required for a process for measuring sample height performed by using a confocal scanning optical microscope.
共焦点走査型光学顕微鏡を用いて行う試料の高さ測定のための工程に要する時間を短縮する。 - 特許庁 - IMAGE OPTIC SYSTEM USING SOLID IMMERSION LENS AS WELL AS OPTICAL DISK RECORDING AND REPRODUCING DEVICE AND MICROSCOPE USING THE IMAGE OPTIC SYSTEM
固体浸レンズを用いた結像光学系並びにこの結像光学系を用いた光ディスク記録再生装置および顕微鏡 - 特許庁 - To provide a scanning type probe microscope and an adjusting tool allowing easier positioning work in a short time.
より簡単にかつ短時間に位置決め作業を行うことができる走査型プローブ顕微鏡及び調整治具を提供する。 - 特許庁 - The operation microscope 100 has an observation light path for main observation and an observation light path for simultaneous observation.
本発明手術用顕微鏡１００は、主観察のための観察光路と同時観察のための観察光路とを備える。 - 特許庁 - To provide an ocular lens cap, a telescope and a microscope for which the loss of a dustproof cap and an eyepad cap can be prevented.
防塵キャップや目当てキャップの紛失を防止することができる接眼レンズキャップ、望遠鏡及び顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - An operator performs alignment between the optical elements, while detecting the position of the mark 11a-2 with an optical microscope.
作業者は、そのマーク１１ａ−２の位置を光学顕微鏡によって検出しながら、光学素子間の位置合わせを行う。 - 特許庁 - To provide a phase-contrast microscope in which contrast is easily and smoothly set and also properly adjusted.
コントラストを容易且つスムーズに設定できて、しかも適宜調整することができるようにした位相差顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - An electron beam irradiation surface 13a is used for detecting a focusing state of an electron beam B of a scanning electron microscope 1.
走査電子顕微鏡１の電子ビームＢの集束状態を検出するために電子ビーム照射面１３ａを使用する。 - 特許庁 - To provide a laser microscope which can suppress the occurrence of misalignment and can stably detect an anti-stokes beam.
ミスアライメントの発生を抑えることができ、反ストークスビームを安定して検出することができるレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To realize a scanning electron microscope which is capable of selectively detecting electrons having specified energy in secondary electrons from a sample.
試料からの電子の内特定のエネルギーの電子を選択的に検出することができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - SELECTIVE DETECTION IN COHERENT RAMAN MICROSCOPE METHOD BY SPECTRAL TEMPORAL EXCITATION SHAPING, AND SYSTEM AND METHOD FOR IMAGING
スペクトル・時間励起成形によるコヒーレント・ラマン顕微鏡法における選択的検出およびイメージングのためのシステムおよび方法 - 特許庁 - MICROPLATE WITH PERIODIC STRUCTURE AND SURFACE PLASMON EXCITING INTENSIFIED FLUORESCENT MICROSCOPE USING THE SAME OR FLUORESCENT MICROPLATE READER
周期構造を有するマイクロプレートおよびそれを用いた表面プラズモン励起増強蛍光顕微鏡または蛍光マイクロプレートリーダー - 特許庁 - The present invention relates to the surgical microscope drape with the removable lens assembly for use with surgical microscopes.
本発明は、外科用顕微鏡との使用のための取り外し可能なレンズ組立体を備える外科用顕微鏡ドレープに関する。 - 特許庁 - To provide a small-sized and portable microscope for ultramicroanalysis with excellent space resolution and stationary analysis capabil ity.
小型で可搬性があり、かつ、空間分解能や定置分析能力に優れた超微量分析のための顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope capable of accurately focusing even a crystalline sample by an electron ray tilting method.
結晶性の試料に対しても、電子線傾斜法による焦点合わせを正確に行える透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To automatically execute focal point correction of an electron microscope; to display an astigmatic difference value; and to quantitatively execute astigmatism correction.
電子顕微鏡の焦点補正を自動的に行い、非点隔差量を表示させ、非点収差補正を定量的に実行する。 - 特許庁 - DEVICE FOR MEASURING SPECTRUM CHARACTERISTIC OF FLUORESCENCE CUBE, FLUORESCENCE MICROSCOPE WITH THE SAME, AND PHOTOMETRIC UNIT AND FLUORESCENCE CUBE
蛍光キューブのスペクトル特性の測定装置及びこの測定装置を備えた蛍光顕微鏡並びに測光ユニット及び蛍光キューブ - 特許庁 - Consequently, the optical axis of the eyepiece lens of the microscope 20 corresponds with the optical axis of the imaging lens of the data visual presenter 100.
これにより、顕微鏡２０の接眼レンズの光軸と資料提示装置１００の撮像レンズの光軸が一致する - 特許庁 - To analyze a metallic element contained in a solution by irradiating laser beams to the solution using a microscope.
顕微鏡を使用して、溶液にレーザー光線を照射させることにより、溶液に含まれる金属元素を分析するものである。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of performing a focus movement and an appropriate aberration correction for a plurality of objective lenses different in magnification.
倍率が異なる複数の対物レンズに対して焦点移動と適正な収差補正が可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To improve a problem on a soaking condition decision reached by observation with a microscope and ultrasonic test, etc., which are made in a conventional way.
従来の顕微鏡による観察や超音波探傷試験等によるソーキング条件決定上の問題点を改善する - 特許庁 - To provide an aperture diaphragm device used in a microscope equipped with at least one adjustable observation parameter.
少なくとも１つの調節可能な観察パラメータを備える顕微鏡内で使用される開口絞り装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a revolver device having high durability by suppressing click grooves or the like from being worn away, and to provide a microscope equipped with the revolver device.
クリック溝等の摩耗を抑制して耐久性の高いレボルバ装置及びレボルバ装置を備える顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope lens barrel capable of suppressing an eye point low and performing an observation horizontally or at a depression angle that is almost horizontal.
アイポイントを低く抑えることができるとともに、水平もしくは水平に近い俯視角で観察を行うことができること。 - 特許庁 - To provide a vertical illuminating fluorescent illumination device where irregular illumination is hardly caused, and a microscope equipped therewith.
本発明の目的は、照明ムラが生じにくい落射蛍光照明装置、及びこれを備えた顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of measuring a local electric characteristic highly accurately even in the case of a sample having irregularities.
凹凸のある試料であっても局所的電気特性を高い精度で測定できる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe microscope for being made compact by using a simple structure, and observing an object to be measured W appropriately.
簡素な構成で小型化することができ、被測定物Ｗを適切に観察することができるプローブ顕微鏡の提供。 - 特許庁 - To dispense with an inserting/retreating mechanism used for inserting or retreating a mask mark microscope making an exposure system simple in structure.
マスクマーク用顕微鏡の挿入退避を行なうための挿入退避機構を不要として、装置構成を簡単化すること。 - 特許庁 - In addition, a location confirming means 72 detects whether the microscope 50 is properly retained at the position of the locating hole 68.
また、位置決め確認手段７２は、顕微鏡５０が適切な位置決め穴６８の位置に保持されているか否かを検知する。 - 特許庁 - To provide an image evaluating method to objectively evaluate image resolution of a microscope image.
本発明の目的は、顕微鏡像の像分解能を客観的判断のもとに評価できる像評価方法の提供にある。 - 特許庁 - To provide a scanning charged-particle beam microscope capable of aiming at gaining both of improvements in resolution and that in depth of focus.
分解能の向上と焦点深度の向上の両立を可能とする走査形荷電粒子顕微鏡の提供する。 - 特許庁
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