「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 95 96 97 98 99 100 101 102 103 .... 179 180 次へ＞- a lamp that emits a narrow but intense beam of light that enables an ophthalmologist, using a microscope, to view the retina and optic nerve
眼科医が、顕微鏡を使用し、網膜と視神経を見ることができる、細いが、強い光線を放つ照明器具 - 日本語WordNet - The sample holder for a transmission electron microscope capable of magnetic field analysis can apply a thermal slope in-situ.
磁場解析が可能な透過型電子顕微鏡用の試料ホルダであって、in-situで熱傾斜をかけることができる試料ホルダ。 - 特許庁 - MICROSCOPE IMAGE OBSERVATION SYSTEM, ITS CONTROL METHOD AND RECORDING MEDIUM READABLE BY COMPUTER RECORDING CONTROL PROGRAM
顕微鏡画像観察システム、その制御方法および制御プログラムを記録したコンピュータに読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide a method for creating a sample for electron microscope observation for making precise observation by TEM.
ＴＥＭによる観察を正確に行うことが可能な電子顕微鏡観察用試料の作製方法を提供する。 - 特許庁 - To shorten time required to inspection when a wafer is inspected with an SEM(scanning electron microscope).
ＳＥＭ（走査型電子顕微鏡）を使用して被検査ウエハの検査を行う際の検査に要する時間を短縮すること。 - 特許庁 - To provide a scanning type proximity field microscope measuring a specimen at a high S/N ratio and a high resolution.
高いＳ／Ｎ比で試料を高分解能に測定することが可能な走査型近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To achieve the reduction of cost and the miniaturization of a color scanning microscope equipped with a confocal optical system and a white light optical system.
共焦点光学系と白色光光学系とを備えて、カラーの走査顕微鏡のコストダウンと小型化を図る。 - 特許庁 - To provide a sample observation method using an electron microscope capable of obtaining the sharper observation image of a sample.
より鮮明な試料の観察像を得ることができる電子顕微鏡を用いた試料の観察方法を提供すること。 - 特許庁 - To achieve centering of illumination following a change in a focal distance of the main objective lens of a microscope by simply technique.
顕微鏡の主対物レンズの焦点距離変化に伴う照明のセンタリングを簡単な技術で達成すること。 - 特許庁 - To provide an automatic focusing device capable of setting a wide focus offset range, and to provide a microscope provided with the automatic focusing device.
フォーカスオフセット範囲を広く設定できる自動焦点合わせ装置、およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF EVALUATING CELL FUNCTION, EVALUATION SYSTEM OF CELL FUNCTION, FLUORESCENCE MICROSCOPE SYSTEM, OPTICAL TREATMENT METHOD AND OPTICAL TREATMENT SYSTEM
細胞機能の評価方法、細胞機能の評価システム、蛍光顕微鏡システム、光治療方法、及び光治療システム - 特許庁 - To provide a confocal scanning type microscope constituted so that a part becoming erroneous image data can be precisely detected.
誤った画像データとなる部分を正確に検出することのできる共焦点走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The illuminating device 50 is arranged so that the emitting end of a rod integrator 3 may agree with the field stop position of the microscope.
照明装置５０はロッドインテグレ—タ３の射出端が顕微鏡の視野絞り位置に合致する様に配置される。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope such that a probe and a sample can be safely and firmly fixed on the mounting side.
探針や試料を安全にしっかりと装着側に固定できる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable of facilitating analyses from various points of view, and to provide an observation method.
様々な観点からの解析、分析を容易にすることができる光学顕微鏡、及び観察方法を提供すること。 - 特許庁 - OBJECTIVE LENS CHANGE-OVER DEVICE AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE OBJECTIVE LENS CHANGE-OVER DEVICE AND OBJECTIVE LENS FOCUSING DEVICE
対物レンズ切り換え装置及びこの対物レンズ切り換え装置及び対物レンズ焦準装置を具備する顕微鏡 - 特許庁 - To provide a laser microscope capable of obtaining an image not affected by the fluctuation of laser light intensity, even in the case the laser light intensity fluctuates.
レーザ光強度が変動してもその影響を受けない画像を得ることのできるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a magnetic field objective lens for an electron microscope capable of observing a magnetic material sample in high resolution.
磁性体試料を高分解能で観察することができる電子顕微鏡用磁界型対物レンズを提供する。 - 特許庁 - To provide a liquid immersion microscope device capable of performing nondestructive liquid immersion observation of the substrate without damaging the quality of the substrate.
基板の品質を損なわずに非破壊で基板の液浸観察を行える液浸顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a method of enabling simple and reliable focusing like a wobblier device in a transmission electron microscope method.
透過形電子顕微鏡法におけるワブラー装置のように簡単、確実に焦点合わせできる方法を提供する。 - 特許庁 - In this sample preparation method for the double resonance absorption microscope, a sample is dyed by a quantum dot.
二重共鳴吸収顕微鏡における試料を調整する方法であって、試料を量子ドットにより染色する。 - 特許庁 - To provide a technology for appropriately adjusting an image without excessively imposing an operation burden on a microscope user.
顕微鏡利用者に対して過度に作業負担を掛けることなく、適切に画像を調整する技術を提供する。 - 特許庁 - To acquire an X-ray image of an inside of a sample, and to realize a function of an electron microscope.
本発明は、試料の内部Ｘ線画像を取得するとともに、電子顕微鏡の機能も実現できるようにする。 - 特許庁 - To provide an XY stage for an electron microscope with little disturbance of electron beams by magnetic force lines, though of high speed.
高速でありながら、磁力線による電子ビームの擾乱が少ない電子顕微鏡用ＸＹステージを実現する。 - 特許庁 - CONTROL MODULE AND CONTROL SYSTEM ACTING ON TEST ATMOSPHERE PARAMETER, METHOD FOR CONTROLLING MICROSCOPE APPARATUS AND COMPUTER PROGRAM
試験環境パラメータに作用する制御モジュールおよび制御システム、顕微鏡装置を制御する方法、および、コンピュータ・プログラム - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of easily adjusting the incident position of light upon a photodiode.
フォトダイオードへの光の入射位置の調整を容易に行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - After drawing the optical fiber, the optical fiber is cut, and the hole diameters d and the intervals A between holes are measured with an electron microscope.
光ファイバ線引き後、その光ファイバを切断し、電子顕微鏡で孔径ｄ及び孔間隔Ａを測定した。 - 特許庁 - To provide a microscope for an operation and an observation prism with which observation with good visibility and little glare can be performed.
グレアーが少なく視認性の良い観察を行うことが可能な手術用顕微鏡及び観察プリズムを提供する。 - 特許庁 - ELECTRON SPIN DETECTOR, SPIN POLARIZATION SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME, AND SPIN DECOMPOSED-LIGHT ELECTRON SPECTROSCOPE
電子スピン検出器並びにそれを用いたスピン偏極走査電子顕微鏡及びスピン分解光電子分光装置 - 特許庁 - In the scanning electron microscope, exciting current is supplied from a control system to an objective lens in an observation mode.
本発明の走査電子顕微鏡によると、観察モードでは、制御系から対物レンズに励磁電流が供給される。 - 特許庁 - FORMATION DEVICE OF IMAGING RECIPE FOR SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, ITS METHOD, AND SHAPE EVALUATION DEVICE OF SEMICONDUCTOR PATTERN
走査型電子顕微鏡用撮像レシピ作成装置及びその方法並びに半導体パターンの形状評価装置 - 特許庁 - To provide a photoelectron emission microscope good in both of time and space resolving powers and generating no discharge.
時間および空間分解能のいずれも良好で放電の発生しない光電子放出顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a revolver apparatus capable of attaining the miniaturization of a centering mechanism, and to provide a microscope equipped with the revolver apparatus.
心だし機構の小型化を図ることができるレボルバ装置及びレボルバ装置を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To easily acquire an image having necessary image quality by saving trouble of image adjustment work of an electron microscope.
電子顕微鏡の画質調整作業の手間を省き、必要な画質を持った画像を容易に取得できるようにする。 - 特許庁 - METHOD FOR FORMING AUTOMATIC SEQUENCE FILE SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, AND METHOD OF AUTOMATIC MEASURING SEQUENCE
走査電子顕微鏡の自動検出シーケンスファイル作成方法及び走査電子顕微鏡の自動測長シーケンス方法 - 特許庁 - To perform high-sensitivity reflection measurement simply at low cost in a transmission/reflection changeover type infrared microscope.
透過／反射切替え式の赤外顕微鏡において低廉なコストで簡便に高感度反射測定を行えるようにする。 - 特許庁 - As a result, the image of the segment of the photodetecting section 1008 corresponding to the inputted address is picked up by the microscope 20.
これにより、入力されたアドレスに対応する受光部１００８の部分が顕微鏡２０によって撮像される。 - 特許庁 - To enhance the sensitivity of a cantilever as a probe for measuring an elastic coefficient in a scanning probe microscope.
走査型プローブ顕微鏡における、弾性係数を測定するためのプローブである片持ちはり（カンチレバー）を高感度にする。 - 特許庁 - To provide an ultraviolet microscope capable of supplying inert gas to a surface of a sample while securing excellent operability.
良好な操作性を確保しつつ、標本表面に不活性ガスを供給できる紫外線顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a standard member performing calibration of magnification used for an electron microscope in an automatic and stable manner with high accuracy.
電子顕微鏡で用いられる倍率校正を自動で安定かつ高精度で行う標準部材を提供する。 - 特許庁 - The structure for fixing the petri dish including the object to be observed on the stage of the inverted type microscope is disclosed.
観察対象を含むシャーレを倒立型顕微鏡のステージ上に固定するための構造体が開示されている。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of restraining a temperature rise in a scanner due to heating of a heating holder.
加熱ホルダの加熱によるスキャナの温度上昇を抑えることができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a low-energy reflection electron microscope, capable of positioning a diffraction image field in a diaphragm position at all times.
常に回折像面を絞り位置に持って来ることができる低エネルギー反射電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The position of the stage at the time and the position of the phase difference ring 27 are recorded in the phase contrast microscope as observation information.
そして、位相差顕微鏡は、そのときのステージの位置と、位相差リング２７の位置とを観察情報として記録する。 - 特許庁 - DISTORTION COMPENSATING METHOD OF ELECTRON-RAY DEFLECTION, ELECTRON-RAY EXPOSURE DEVICE WHICH HAS DEFLECTION DISTORTION COMPENSATING MEANS, AND SCANNING TYPE ELECTRON MICROSCOPE
電子線の偏向歪補正方法、及び歪補正手段を有する電子線露光装置、走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - The electron gun 1 of this mapping type electron microscope emits an electron beam as a primary irradiation beam 4 to irradiate a sample 6 placed on a stage 5.
電子銃１からの電子ビームは、一次照射ビーム４となり、ステージ５の上の試料６を落射照射する。 - 特許庁 - An electron beam transmitting through an object 5 to be analyzed in this scanning transmission electron microscope enters the element mapping device.
走査透過型電子顕微鏡装置で分析対象物（５）を透過した電子線は元素マッピング装置に入射する。 - 特許庁 - To provide a scanning type confocal microscope having a scanning unit constituted so that illumination irregularity associated with scanning can be avoided.
走査に伴う照明むらを避けることができる走査ユニットを備えた走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - When analyzing and processing the polymer, polymer phase-data is obtained by using a non-contact mode of an atomic force microscope.
ポリマーの解析処理を行うとき、原子間力顕微鏡の非接触モードを用いてポリマーの位相データを取得する。 - 特許庁 - To provide a microscopic device capable of surely reproducing contents set in a microscope later.
顕微鏡に設定された内容を、後に確実に再現することのできる顕微鏡装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
