「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 93 94 95 96 97 98 99 100 101 .... 179 180 次へ＞- To provide a photomicrographic apparatus with which the state recovery of a microscope and a photographic means can easily be performed.
顕微鏡および撮影手段の状態復帰を簡単に行うことができる顕微鏡撮影装置を提供する。 - 特許庁 - An imaging part 102 picks up an observation image of a specimen obtained by a microscope 101 to acquire a specimen image.
撮像部１０２は、顕微鏡１０１により得られる標本の観察像を撮像して標本画像を取得する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope for actualizing the downsizing of a device by dispensing with alignment adjustment on a detection system.
検出系のアライメント調整を無くして装置の小型化を実現可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - PEDESTAL BASE PLATE, MEASURING HOLDER FOR ELECTRON MICROSCOPE, MEASURING SAMPLE ASSEMBLY, METHOD FOR PRODUCING MEASURING SAMPLE AND MEASURING METHOD
ペデスタル基板、電子顕微鏡用測定治具、測定試料組み立て体、測定試料の作製方法及び測定方法 - 特許庁 - To provide a scanning charged particle microscope equipped with an aberration correction device easily adjustable, having deep focal depth.
容易に調整可能で焦点深度の深い、収差補正手段を備えた走査形荷電粒子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope and an observation method by which the inside of a hole having a small inside diameter is observed.
内径が小さい孔の内部を観察することができる光学顕微鏡及び観察方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an inspection microscope system capable of efficiently and also accurately inspecting a part to be inspected.
本発明は、効率よく、しかも正確に被検査箇所の検査を行なうことができる検査顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - The microscope measuring apparatus carries out a spectroscopic measuring of reflected light from a minute spot imaged on the test object B.
被検体Ｂ上に結像した微小スポットからの反射光の分光測定を行う顕微鏡測定装置である。 - 特許庁 - During or after the culture, the liquid permeable film having a grown mold is observed by a microscope.
培養過程または培養終了後に、生育したカビを有する液体透過性フィルムを顕微鏡観察に供する。 - 特許庁 - OPERATING INFORMATION COLLECTING DEVICE OF MICROSCOPE, OPERATING INFORMATION COLLECTING METHOD AND PROGRAM TO EXECUTE THE METHOD IN COMPUTER
顕微鏡の操作情報収集装置、操作情報収集方法、その方法をコンピュータに実行させるためのプログラム - 特許庁 - To provide a laser scanning type microscope capable of surely detecting angular deviation and parallel shifting of the optical axis of a light beam.
光ビームの光軸の角度ずれと平行ずれを確実に検出できるレーザ走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing a probe for a magnetic force microscope capable of heightening sharpness of a magnetic probe tip.
磁気探針先端の先鋭化を高めることができる磁気力顕微鏡用探針の製造方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a photoemission electron microscope improved so as to be able to be focused surely and highly accurately in a short time.
短時間で確実に高精度の焦点合わせができるように改良した光電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD FOR MEASURING DISTANCE BETWEEN OPTICAL OBSERVATION DEVICE AND EXAMINED SAMPLE WITH EXTENT, AND MICROSCOPE IMPLEMENTING THE SAME METHOD
光学的観察装置と広がりのある被検試料との間の距離測定方法及び該方法を実行する顕微鏡 - 特許庁 - To provide a scanning type laser microscope device with which a fluorescence image having a good contrast can be obtained with simple constitution.
簡易な構成でコンントラストの良い蛍光画像が取得できる走査型レーザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of preventing the positional deviation of a slide glass when a stage is operated.
ステージを操作した際のスライドガラスの位置ずれを防止することができる顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a culture container suitable for observing by a microscope with high contrast in culturing work of biological cells or others.
生体細胞などの培養作業において、高コントラストの顕微鏡観察に好適な培養容器を提供する。 - 特許庁 - To provide a compact illuminator that has a low-cost, satisfactory illuminating performance, and to provide a microscope.
低コストで良好な照明性能を備えたコンパクトな照明装置及び顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - Therefore, for example, the application to a microscope performing illumination for both bright-field illumination and dark-field illumination can be performed.
本発明は、例えば、明視野照明及び暗視野照明の併用照明を行う顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - By this constitution, the optical axis of the microscope is allowed to coincide with that of the transmission illumination part and the focuses of them are allowed to coincide with each other.
これにより、顕微鏡と透過照明部の光軸を一致させ、しかもそれらの焦点を一致させる。 - 特許庁 - To provide a high frequency magnetic field generation device for a scanning probe microscope, capable of efficiently operating with a simple configuration.
簡単な構成で、効率的に稼動する走査型プローブ顕微鏡用高周波磁場発生装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a super-resolution microscope that facilitates induction of super-resolution effects, without requiring complex adjustment operation.
煩雑な調整作業を要することなく、超解像効果を容易に誘導できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope which can easily switch an objective lens, without minding a retreating work of the objective lens.
対物レンズの退避作業を意識することなく、対物レンズの切り換えが容易に行える顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus configured to photograph fluorescence generated by a sample of a pathology tissue or the like with exciting light.
励起光による病理組織等標本等の発する蛍光の撮影を行う顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser confocal microscope capable of precisely detecting a sample surface, and a surface detection method.
試料表面を正確に検出することができるレーザ共焦点顕微鏡及び表面検出方法を提供する。 - 特許庁 - THREE-DIMENSIONAL INFORMATION GAINING METHOD, COFOCAL SCANNING MICROSCOPE AND STORAGE MEDIUM READABLE BY COMPUTER
三次元情報取得方法及び共焦点走査型顕微鏡並びにコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁 - To provide an image processor capable of easily performing color adjustment of an image according to a user, and a microscope.
画像の色調整を使用者に合わせて簡便に行うことが可能な画像処理装置、顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a device for measuring microscope field light quantity distribution capable of measuring a focus deviation due to shading and color aberration.
シェーディングと色収差による焦点ズレを測定できる顕微鏡視野光量分布測定装置を実現する。 - 特許庁 - A body case 11 has a dovetail part 11a connected to the microscope, and a projection optical system 12 is fixed inside the case 11.
本体ケース１１は、顕微鏡に接続するアリ部１１ａを有し、内部に投影光学系１２を固定している。 - 特許庁 - To provide a microscope for medical operation capable of efficiently operating a treating tool to be used for medical operation.
手術に使用する処置具を効率よく操作することができる手術用顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an electron microscope which can contribute greatly to making efficient cause investigation of a discovered pattern irregularity.
発見したパタン異常の原因究明の効率化に大きく寄与することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To remove a black defect with less over etching by detecting a finish point by an AFM (Atomic Force Microscope) photomask defect correcting apparatus.
ＡＦＭフォトマスク欠陥修正装置で終点検出によりオーバーエッチングの少ない黒欠陥除去を行う。 - 特許庁 - METHOD FOR TRANSFERRING SAMPLE IN CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE, CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE AND SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
荷電粒子ビーム装置における試料移設方法及び荷電粒子ビーム装置並びに透過電子顕微鏡用試料 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope, capable of always correctly acquiring the state of inclination and rotation of a sample.
常に試料の傾斜や回転の状態を正確に把握することができる透過型電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - Light 14 is emitted in a periphery of an objective lens 16, and the clear image 13A is captured by a zoom type microscope 18.
対物レンズ１６の回りから光１４を照射し、鮮明な画像１３・Ａをズーム式顕微鏡１８で捕らえる。 - 特許庁 - The focal position deciding value is used as the optimum focal position deciding index of an optical microscope for measurement mark.
この焦点位置決定値を測定マークに対する光学顕微鏡の最適な焦点位置決定指標として用いる。 - 特許庁 - To provide a scanning confocal microscope having spectrum detection function having high light utilization efficiency in a wide wavelength region.
広い波長域で高い光の利用効率を有する、分光検出機能を備えた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To selectively detect only a microorganism without requiring an expensive microscope or much labor.
高価な顕微鏡または多大な労力を必要とせずに微生物のみを選択的に検出することを目的とする。 - 特許庁 - The period of the ruggedness of the surface is determined by a power spectral function of a rugged image which is obtained by an atomic force microscope.
表面の凹凸の周期は、原子間力顕微鏡で得られた凹凸像のパワースペクトル関数を求め、決定する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope with a simple structure capable of obtaining high brightness hard to receive the influence of an external disturbance.
走査型電子顕微鏡において、簡易な構成で、高い輝度が得られ、外乱の影響を受けにくくすること。 - 特許庁 - To easily inspect local variance in a pattern of an exposure mask only by measuring diffracted light without using a microscope.
露光用マスクのパターンのローカルばらつきを、顕微鏡を用いることなく回折光の測定だけで簡易に検査する。 - 特許庁 - By the invention, the high-luminance and high-resolution electron microscope and the electron beam drawing device can be obtained.
また、各電子線放出素子を用いて電子銃，電子顕微鏡及び電子線描画装置とすることを特徴とする。 - 特許庁 - SIGNAL DETECTION APPARATUS, SCANNING ATOMIC FORCE MICROSCOPE CONSTRUCTED OF IT, AND SIGNAL DETECTION METHOD
信号検出装置、該信号検出装置によって構成した走査型原子間力顕微鏡、および信号検出方法 - 特許庁 - A camera head 3 photographs the magnified image of a sample 7 obtained by a microscope body 2, to obtain a sample image.
カメラヘッド３は、顕微鏡本体２により得られる標本７の拡大像を撮影して標本像を取得する。 - 特許庁 - To provide a polarizing microscope by which high quenching ratio can be obtained even when an objective lens of high magnifying factor is used.
高倍率な対物レンズを用いた場合であっても、高い消光比の得られる偏光顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope with a vertical movement mechanism adaptable to a sample with thickness and a sample without thickness.
厚みのある試料にも厚みのない試料にも対応可能な上下動機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a preparation for favorably adjusting the positional relationship between two-dimensional images acquired by a microscope device.
顕微鏡装置によって取得された二次元画像同士の位置関係を良好に調整できるプレパラートを提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of performing the positioning of a probe due to coarse movement accurately and easily for a short time.
粗動による探針の位置決めを、短時間で正確かつ容易に行える走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - STRIP FOR CONTROLLING ULTRATHIN LIQUID FOR ELECTRON MICROSCOPE, AND COMBINATION OF SAME AND BOX
電子顕微鏡用の超薄液体制御板及び電子顕微鏡用の超薄液体制御板とボックスとの組合せ - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of exciting a cantilever in its resonance frequency to observe a sample.
カンチレバをその共振周波数で加振して試料観察を行うことができる走査形プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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