「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 89 90 91 92 93 94 95 96 97 .... 179 180 次へ＞- An illumination part 20 in the video microscope 100 is provided with a substrate 2202, a reflection case 30 and a lens case 32.
ビデオマイクロスコープ１００の照明部２０は、基板２２０２と、反射ケース３０と、レンズケース３２とを備えている。 - 特許庁 - DETECTING DEVICE, DETECTING METHOD, VEIN SENSING DEVICE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, DISTORTION DETECTING DEVICE, AND METAL DETECTOR
検出装置、検出方法、静脈センシング装置、走査プローブ顕微鏡、歪み検知装置および金属探知機 - 特許庁 - ELECTRON MICROSCOPY, AND ELECTRON MICROSCOPE, BIOLOGICAL SAMPLE INSPECTING METHOD AND BIOLOGICAL INSPECTING DEVICE USING THE SAME
電子顕微方法及びそれを用いた電子顕微鏡並び生体試料検査方法及び生体検査装置 - 特許庁 - To provide a slit scanning confocal microscope in which the resolution in the longitudinal direction of a slit is enhanced.
スリットの長さ方向の分解能を高めることができるスリット走査共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample processing device capable of making a suitable sample for observation by a transmission electron microscope.
透過電子顕微鏡の観察に適した試料を作製することができる試料加工装置を提供する。 - 特許庁 - Alternatively or in addition, the microscope settings can be corrected according to picture modes of an existent camera (1).
あるいはまたはさらに、既存のカメラ（１）の画像モードに応じて顕微鏡設定を修正することができる。 - 特許庁 - To provide a sample stand fixed stably and firmly to a scanning probe microscope by adsorption inclusions.
吸着介在物によって走査型プローブ顕微鏡に安定にして強固に固定される試料台を提供する。 - 特許庁 - To quickly and accurately set control contents of control items for a microscope apparatus.
顕微鏡装置に対する各制御項目毎の制御内容を迅速かつ正確に設定することができること。 - 特許庁 - By this constitution, the specific region of the sample observed by the optical microscope can be rapidly observed.
これにより、光学顕微鏡により観察した試料の特定部位を迅速に観察することが可能となる。 - 特許庁 - To provide an optical microscope and a spectrum measurement method for measuring a spectrum in a short time.
短時間にスペクトル測定を行うことができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope which can always keep vibration amplitude of a cantilever being fixed.
カンチレバの振動振幅を常に一定に保持することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The image of a sample S observed with a fluorescent microscope 1 is formed on the basis of plural components.
蛍光顕微鏡１において観測されるサンプルＳの画像は複数の成分に基づき形成されている。 - 特許庁 - To provide a zoom microscope which is capable of changing a zoom magnification manually or electrically and excellent in working operability.
手動および電動でズーム倍率を変更可能で、作業操作性がよいズーム顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning transmission electron microscope comprising an energy analyzer, which is provided with an annular detector.
エネルギーアナライザを備える走査透過型の電子顕微鏡であって、アニュラ検出器を備えるものを提供する。 - 特許庁 - To provide a high-speed scanning probe microscope capable of efficiently selecting an optimum control parameter value.
最適な制御パラメーター値を効率的に選び出すことが可能な高速の走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - This charge density wave quantum phase microscope is constructed by using a probe 12 made of a charge density wave crystal.
電荷密度波結晶からなる探針１２を用いて電荷密度波量子位相顕微鏡を構成する。 - 特許庁 - In other words, the observation visual field can be moved without changing the positional relationship between the objective lens of the microscope and the specimen.
即ち、顕微鏡の対物レンズと標本との位置関係を変化させることなく、観察視野を移動できる。 - 特許庁 - METHOD AND DEVICE FOR ADJUSTING MAGNIFICATION OF SCANNING OPTICAL MICROSCOPE, AND COMPUTER-READABLE RECORDING MEDIUM
走査型光学顕微鏡の倍率調整方法及びその装置、並びにコンピュータにより読み取り可能な記録媒体 - 特許庁 - To provide an electron microscope and its operation method capable of providing additional information on an inspected object.
検査された物体上の付加情報を得ることが可能な、電子顕微鏡及びその操作方法を提供する。 - 特許庁 - A virtual microscope 101 generates a Z stack image comprising a plurality of taken images for one sample.
バーチャル顕微鏡１０１は、１つの検体に対して複数の撮像画像からなるＺスタック画像を生成する。 - 特許庁 - To improve the S/N ratio of an image when observing a fluorescent or luminescent biological sample with a fluorescence microscope.
蛍光性又は発光性の生物学的試料を蛍光顕微鏡で観察するときの像のS/Nの改善。 - 特許庁 - ANALYZER USED WITH ELECTRON MICROSCOPE APPARATUS, AND SECOND ANALYZER USED WITH FIRST ONE
電子顕微鏡装置と共に用いる分析装置、及び、第１の分析装置と共に用いる第２の分析装置 - 特許庁 - The particle beam microscope is provided with a lighting system which generates particle beams having a ring-like cone shape.
粒子ビーム顕微鏡は、リング状の円錐形状を有する粒子ビームを生成する照明系を備える。 - 特許庁 - To provide a scanning type particle reflection microscope which can reduce damage to a sample and can obtain a clear image.
試料へのダメージを低減し、鮮明な像を得ることができる走査型粒子反射顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To avoid the situation where a plurality of probes of a multiple-scanning-probe microscope (MPSPM) collide with one another.
走査型マルチプローブ顕微鏡（ＭＰＳＰＭ）の複数の探針が互いに衝突する事態を回避すること。 - 特許庁 - To provide an objective lens for microscope which exhibits an excellent imaging performance and has satisfactory operability of a correction ring.
良好な結像性能を発揮し、且つ補正環の操作性の良い顕微鏡用対物レンズを提供する。 - 特許庁 - LIQUID/GAS ENVIRONMENT PROVIDING DEVICE WHICH CAN BE COMBINED WITH SAMPLE CHAMBER OF ELECTRON MICROSCOPE AND CAN BE APPLIED FOR OBSERVATION
電子顕微鏡の試料室と結合しかつ観察に適用可能である液体・気体環境提供装置 - 特許庁 - To provide a means for detecting a position of focus accurately in an scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡において、焦点位置を的確に検出することができる手段を提供することにある。 - 特許庁 - To provide a laser microscope which permits selective use of both functions of a scanning type and a total reflection type.
走査型と全反射型との両方の機能を選択的に使用できるレーザー顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - OPTICAL ASSEMBLY MD DEVICE FOR COUPLING LIGHT OF AT LEAST ONE WAVELENGTH TO CONFOCAL SCANNING MICROSCOPE
光学組立物および共焦点走査型顕微鏡に少なくとも１つの波長の光を結合するための装置 - 特許庁 - COMPOSITE CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS, SAMPLE PROCESSING METHOD USING IT AND SAMPLE MANUFACTURING METHOD FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
複合荷電粒子ビーム装置、それを用いた試料加工方法及び透過電子顕微鏡用試料作製方法 - 特許庁 - To provide a scanning transmission type electron microscope capable of stably observing a clear image which is reproducible at high magnification.
高い倍率で安定して再現性の良い鮮明な走査透過型電子顕微鏡像の観察を可能にする。 - 特許庁 - INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPY AND INTERATOMIC TRANSITION ENERGY ANALYSIS SCANNING PROBE MICROSCOPE
原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡法および原子間遷移エネルギー分析走査プローブ顕微鏡 - 特許庁 - To provide a method and system for producing virtual microscope slides having optimum image quality characteristics.
最適なイメージ画質特性を有する仮想顕微鏡スライドを作成するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁 - STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, ITS MANUFACTURING METHOD AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION
校正用標準部材およびその作製方法、並びに校正用標準部材を用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - To achieve a high-speed sample replacement with an electron microscope for inspecting and observing silicon wafer for semiconductors.
半導体用のシリコンウェハを検査観察する電子顕微鏡において試料交換の高速化を実現する。 - 特許庁 - To provide a method of manufacturing an acute probe made of iridium, easy to handle, for the observation of a scanning tunneling microscope.
取扱が容易な尖鋭な走査トンネル顕微鏡観察用イリジウム製探針の製作方法を提供する。 - 特許庁 - The three-dimensional cordinates of the plural measurement points P on the measurement points A to H are measured by a laser microscope.
この測定点Ａ〜Ｈ上の複数の測定点Ｐの３次元座標をレーザ顕微鏡により測定する。 - 特許庁 - HOLDING MEMBER FOR POSITIONING OBJECT CARRIER AND DEVICE FOR LASER CUTTING OF SPECIMEN AS WELL AS MICROSCOPE
対象物担持体を位置決めするための保持部材およびプレパラートをレーザー切断するための装置並びに顕微鏡 - 特許庁 - To provide a scanning method for a scanning electron microscope improving degradation of length measuring precision by shrink of a sample.
試料のシュリンクによる測長精度の低下を改善する走査電子顕微鏡の走査法を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND SYSTEM FOR MULTIBAND UV LIGHTING OF WAFER FOR OPTICAL MICROSCOPE WAFER INSPECTION AND MEASUREMENT SYSTEM
光学顕微鏡ウエハインスペクション及び計測システムのためのウエハの多重バンドＵＶ光照明方法及びシステム - 特許庁 - To further improve resolution of a spherical aberration correction electron microscope by building electron beam having a small energy width.
エネルギー幅の小さい電子ビームを造り、球面収差補正電子顕微鏡の分解能を更に向上させる。 - 特許庁 - METHOD OF DESIGNING ARRAY SUBSTRATE WITH A PLURALITY OF LIGHT TRANSMISSION DOTS, ARRAY SUBSTRATE, LASER BEAM SCANNER AND LASER MICROSCOPE
複数の光透過ドットを備えるアレイ基板の設計方法、アレイ基板、レーザ光走査装置、レーザ顕微鏡 - 特許庁 - To make more accurately observable the surface of a sample in a scanning probe microscope to acquire a force curve.
フォースカーブを取得する走査型プローブ顕微鏡において、より正確に試料表面を観察できるようにする。 - 特許庁 - To accurately perform focusing on a desired position within field at high speed in a microscope for a television camera.
テレビカメラ顕微鏡において、視野内の所望の位置の焦点合わせを高精度かつ高速に行うこと。 - 特許庁 - In this state, electron beam is irradiated on the sample on the holder 5 and observation of the scanning electron microscope is made.
この状態でホルダ５上の試料に電子ビームを照射し、走査電子顕微鏡像の観察を行う。 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD OF GROOVE SHAPE BY SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND EVALUATION METHOD OF DISK SUBSTRATE OR LIGHT GUIDE PLATE
走査型プローブ顕微鏡による溝形状の解析方法およびディスク基板または導光板の評価方法 - 特許庁 - To provide a microscope objective lens having a configuration with high assembly efficiency and favorably correcting an aberration.
組み立て効率の良い構成を有し、且つ、収差を良好に補正する顕微鏡対物レンズを提供する。 - 特許庁 - To provide a culture medium observation microscope device for objectively determining a deterioration level of a culture medium.
培地の劣化の程度を客観的に判定することができる培養細胞観察用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - An atmospheric pressure scanning tunnel microscope system is used, and Pt/Ir is used for a probe 2 as one electrode.
大気圧走査トンネル顕微鏡システムを用い、一方の電極としての探針２にはＰｔ／Ｉｒを用いる。 - 特許庁
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