「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 87 88 89 90 91 92 93 94 95 .... 179 180 次へ＞- COORDINATE CONVERSION METHOD FROM SCANNER IMAGE COORDINATES OF RARE CELL INTO MICROSCOPE COORDINATES USING RETICLE MARK ON SAMPLE MEDIUM
サンプル媒体上のレチクルマークを用いて、希少細胞のスキャナ画像座標を顕微鏡座標に変換する方法 - 特許庁 - To provide an ultra-broadband ultraviolet (UV) catadioptric imaging microscope system with wide-range zoom capability.
広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外（ＵＶ）カタディオプトリック映像顕微鏡システムが開示される。 - 特許庁 - PROBE, SCANNING PROBE MICROSCOPE, BIOMOLECULE CHIP, BIOMOLECULE OBSERVATION METHOD, AND METHOD FOR IMMOBILIZING BIOMOLECULE
プローブ、走査型プローブ顕微鏡及び生体分子チップ並びに生体分子観察方法及び生体分子固定方法 - 特許庁 - To provide an optical scanning type confocal microscope capable of spectrally detecting fluorescence with sufficient light intensity.
蛍光の分光検出を十分な光強度で行なえる光走査型共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a small-sized and compact microscope in which the selective optical deflection and/or division of an optical path are available.
小型でコンパクトな、光線路の選択的な光学的偏向及び／又は分割が可能な顕微鏡の提供。 - 特許庁 - A slit lamp microscope includes a photographing part, a control part 101, an extraction part 111 and a composition part 112.
細隙灯顕微鏡は、撮影部と、制御部１０１と、抽出部１１１と、合成部１１２とを有する。 - 特許庁 - To provide an imaging device for a microscope and an objective micrometer capable of reducing troublesomeness of calibration operation.
キャリブレーション操作の煩わしさを軽減可能な、顕微鏡用撮像装置と対物ミクロメータを提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope which can prevent frost from adhering to the surface of a sample.
試料表面上への霜の付着を防止することができる走査形プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope capable of deflecting a beam at a high speed without using an acoustooptical element.
音響光学素子を用いることなく、高速でビーム偏向することができる走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To easily attach a mouse input device incorporating a CCD imaging apparatus to the eye piece of the microscope.
ＣＣＤ撮像装置を組み込んだマウス入力装置を顕微鏡の接眼部に簡単に取り付け可能とする。 - 特許庁 - To provide a scanning laser microscope having a high S/N ratio and high resolution.
高Ｓ／Ｎ比と高解像力とのどちらの要求にも応えることのできる走査型レーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an ultraviolet microscope preventing the degradation of an image to be observed even when being subjected to autofocusing during observation.
観察中にオートフォーカスをかけた場合でも、観察される像が劣化しない紫外線顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of preventing a blot or the like due to immersion liquid from occurring on a sample.
被検体上に浸液による染み等が発生するのを防止することができる顕微鏡システムの提供。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope which is prevented from radiating unwanted light to a sample when focusing before acquiring data.
データ取得前の合焦時等に、無駄な光を試料に照射することがない走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE DEVICE, AND METHOD OF PROCESSING IMAGE ACQUIRED BY THE SAME
走査型荷電粒子顕微鏡装置及び走査型荷電粒子顕微鏡装置で取得した画像の処理方法 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD, AND MICROSCOPE, RECORDING/REPRODUCING DEVICE, AND FINE- MACHINING DEVICE USING THEM
近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置 - 特許庁 - A vibration probe 18 of a scanning force microscope is engaged with a sample surface 24 in an initial approach process.
走査型力顕微鏡の振動プローブ１８を、初期接近プロセスで試料表面２４に係合させる。 - 特許庁 - To provide a microscope with a function of correcting defects by which observation can be excellently executed.
本発明の目的は、良好に観察を行える欠陥修正機能付き顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - To provide a method and a device for generating a three dimensional tomographic image in a scanning electron microscope system.
走査型電子顕微鏡システムにおける３次元トモグラフィ・イメージ生成のための方法と装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a specimen container by which observation conditions of a phase contrast microscope can be more easily adjusted.
位相差顕微鏡の観察条件の調整をより容易に行うことのできる被検体容器を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope which is miniaturized and maintains good image quality, and a semiconductor light source is used.
半導体光源を用い、装置の小型化、画質の維持を図るレーザ走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - When the cross section is exposed, a scanning electron microscope is used for measuring dimensions of the feature.
各断面が暴露される際、フィーチャの該当寸法を測定するために、走査電子顕微鏡が使用される。 - 特許庁 - To provide a sample holder for an electron microscope, which can reduce a drift due to the heat of a sample.
試料の熱によるドリフトを軽減させることができる電子顕微鏡用試料ホルダを提供すること。 - 特許庁 - To provide a total reflection illuminator of a microscope with which always good fluorescent observation images can be obtained.
常に良好な蛍光観察像を確保することができる顕微鏡の全反射照明装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope that achieves lightening of mass of a portion to be driven without causing complication of a structure.
構造の複雑化を招くことなく被駆動部分の質量を軽量化できる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a measuring microscope configured to be connected to a plurality of operation terminals, as necessary.
複数の操作端末と必要なときに接続可能なように構成された測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a vertical illumination type microscope which allows the distinct observation of the appearance of a cylindrical object to be inspected.
円筒状の被検物体の外観を鮮明に観察することのできる落射型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope stand that is compact and easy to operate, and makes less noise during position adjustment.
コンパクトであり容易に操作可能であり且つ位置調節時に騒音が少ない顕微鏡用スタンドを提供する。 - 特許庁 - To restrict the damage of a sample caused by deep ultraviolet light with respect to a microscope using the deep ultraviolet light as a light source.
深紫外を光源とした顕微鏡において、深紫外光による試料の損傷を制限する。 - 特許庁 - This eyecup can be used in other optical devices, such as an astronomical telescope and binoculars, besides a microscope 1 used for an operation.
また、手術顕微鏡１の他に天体望遠鏡や双眼鏡などの他の光学装置にも適用できる。 - 特許庁 - PHOTOEMISSION ELECTRON MICROSCOPE SUPPRESSING CHARGING OR POTENTIAL STRAIN OF INSULATOR SAMPLE, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
絶縁物試料の帯電又は電位歪みを抑制した放射電子顕微鏡装置及び試料観察方法 - 特許庁 - To realize working, without overetching or insufficient shaping in defect correction on a mask using atomic force microscope techniques.
原子間力顕微鏡技術を用いたマスクの欠陥修正でオーバーエッチや削り残しのない加工を実現する。 - 特許庁 - To provide a microscope including an optical element switching device with which an erroneous operation can be suppressed.
誤操作を抑制することができる光学素子切換装置を含む顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a fluorescent microscope whose light source part is in simple structure and can be made small-sized and lightweight and which has good operability.
光源部が、簡単な構造で、小型、軽量化でき、かつ操作性のよい蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a phase-contrast microscope capable of realizing the phase-difference observation of the different spot of a fixed sample.
固定された標本の異なる場所の位相差観察を可能とする位相差顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide an ultra-broadband ultraviolet (UV) catadioptric imaging microscope system with wide-range zoom capability.
広範囲ズーム機能を備えた超広帯域紫外（ＵＶ）カタディオプトリック映像顕微鏡システムが開示される。 - 特許庁 - To provide a method and system for creating a virtual microscope slide having optimum image quality characteristics.
最適なイメージ画質特性を有する仮想顕微鏡スライドを作成するシステム及び方法を提供すること。 - 特許庁 - To execute fast and precise atomic tracking with respect to a scanning probe microscope.
本発明は走査型プローブ顕微鏡に関し、高速で正確な原子追跡を実施することを目的としている。 - 特許庁 - To provide a sample inspection device in which a sample is inspected by using a scanning electron microscope which irradiates electron beams.
電子ビームを照射する走査電子顕微鏡を用いて試料を検査する試料検査装置を提供する。 - 特許庁 - In this measuring microscope apparatus, an XY stage 27 and a column 30 are fitted on the upper surface of a base 26.
この測定顕微鏡装置にあっては、ベース２６上面にＸＹステージ２７及びコラム３０が取付けられる。 - 特許庁 - To provide an objective assembly for a microscope which can have a large aperture and long focus and obtain high resolution.
大口径、長焦点を可能にし、高い解像度が得られる顕微鏡用対物レンズ組立体を提供する。 - 特許庁 - To easily observe a sample at a time of use as a probe for a proximity-field light microscope.
近接場光学顕微鏡用のプローブとして使用するとき容易に試料の観察を行うことを可能とする。 - 特許庁 - In addition, the instruction acquisition unit 3 acquires an input for instructing to perform the operation of a scanning type laser microscope body 1.
また、指示取得部３は、走査型レーザ顕微鏡本体１の操作の実行指示の入力を取得する。 - 特許庁 - To provide a microscope superior in practicality which is improved in S/N and improved in spatial resolution with inexpensive constitution.
安価な構成で、Ｓ／Ｎおよび空間分解能を高くできる実用性に優れた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of measurement in liquid for stably retaining liquid near a cantilever.
カンチレバー付近の液体が安定に保持される液中測定可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope allowing a continuous visual field image avoiding influence of aberration to be photographed.
収差の影響を回避した連続視野像を撮影することができる透過型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an illumination device of a scanning microscope which allows the use of a spectral range where addressing is heretofore infeasible.
従来アドレス化が不可能であったスペクトル範囲を使用できる走査顕微鏡の照明装置を提供する。 - 特許庁 - To improve the operability of an electron microscope by enabling focusing with a desired magnification without any stoppage.
所望倍率におけるフォーカス合わせを支障なく行えるようにして電子顕微鏡の操作性を向上させる。 - 特許庁 - To provide a double beam apparatus for operating an ion beam while feeding a current into a scanning electron microscope (SEM) lens.
ＳＥＭレンズに電流を流しながらイオン・ビームを操作することができる二重ビーム装置を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR MANUFACTURING CEMENTED LENS, CEMENTED LENS MANUFACTURED BY THE METHOD, AND MICROSCOPE PROVIDED WITH THE CEMENTED LENS
接合レンズの製造方法、該製造方法によって製造された接合レンズ、及び該接合レンズを備えた顕微鏡 - 特許庁
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