「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 83 84 85 86 87 88 89 90 91 .... 179 180 次へ＞- To provide a microscope having a zooming mechanism and moving an aperture diaphragm in the direction of an optical axis when zooming.
ズーム機構を有し、ズーム時に開口絞りが光軸方向へ移動可能な顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Thus, it becomes unnecessary for the operator to raise the hand(s) for operation, and the operability of the microscope is improved.
これにより、検査者が手を上げて作業する必要がなくなり、顕微鏡の操作性が向上する。 - 特許庁 - A heat generating picture microscope uses a probe 1 having an optical fiber 16 which takes in infrared rays generated by heat generation at its center.
発熱による赤外線を取り込む光ファイバー１６を中心に有する探針１を用いる。 - 特許庁 - To provide a microscope device with an illumination means, with which an image is clearly observed whatever magnification it is.
どんな拡大倍率にあっても映像がよくみえる照明手段付き顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - The display portion 5 of the operation display unit 6 displays an observed image acquired by a microscope body 1.
操作表示部６の表示部位５は、顕微鏡本体１により取得される観察画像を表示する。 - 特許庁 - To provide a fluorescent microscope and a computer program which enables a light source to be successfully controlled.
良好な光源制御を行なうことができる蛍光顕微鏡およびコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁 - In this microscope, the following conditional equation is satisfied: A≤D/2, where A is the diameter of the field stop, and D is a beam diameter of light incident on the field stop.
A≦D／２ ただし、Aは前記視野絞りの径、Dは前記視野絞りに入射するビームのビーム径とする。 - 特許庁 - To provide a confocal optical microscope controlling caged-state release of a caged compound.
Ｃａｇｅｄ化合物のＣａｇｅｄ解除を制御可能な共焦点光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - In the defect repairing device using an ion beam, a blank defect hard to repair is observed with AFM(atomic force microscope) or the like.
イオンビームを用いた欠陥修正装置では修正し難い白欠陥に対してAFM等で観察する。 - 特許庁 - The mask mark microscope 24 is provided on a work stage 13 and set movable together with the work stage 13.
マスクマーク用顕微鏡２４をワークステージ１３に設けワークステージ１３と一体に移動可能に構成する。 - 特許庁 - To provide a dark field detection system of a scanning electron microscope (SEM) having a polar angle identification function of scattered electrons.
散乱電子の極角識別機能を有するＳＥＭ暗視野検出システムを提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope device that easily makes a scan with illumination rays and is suitable for observation of a deep part of a living organism.
照明光を容易に走査でき、生体深部の観察に適した顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - In addition, a device for preparing the sample for an electron microscope applying the freeze-drying device is provided.
さらに、当該凍結乾燥装置を応用する電子顕微鏡用試料作製装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device which is made suitable for a long duration observation and does not generate fluctuation of a focusing surface.
長時間観察に適し、且つ焦点面の変動が生じない顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope device capable of detecting light generation out of an excitation area.
励起エリア外の発光を検出することができる近接場光学顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of efficiently correcting image distortion caused by a scanning error or the like.
スキャン誤差等に起因した像歪みの補正を効率的に行うことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - In lithographic mode, an atomic force microscope is adapted to write information to a sample surface.
リソグラフィ・モードでは、原子間力顕微鏡が、試料の表面に情報を書き込むように適合される。 - 特許庁 - To provide a polarization retention photonic crystal fiber that can easily discriminate a polarization surface by observation using a microscope.
顕微鏡観察により偏波面が容易に判別できる偏波保持フォトニッククリスタルファイバを提供する。 - 特許庁 - The gadget operates as if a splitter is a sequential innovation or an extension of microscope.
装置は、スプリッターがあたかも逐次的な技術革新または顕微鏡の延長であるかように動作する。 - 特許庁 - NEAR-FIELD OPTICAL PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING/REPRODUCING DEVICE
近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁 - To provide a probe for near field optical microscope having a reduced background.
本発明の目的はバックグラウンドを低減した近接場光学顕微鏡用プローブを提供することにある。 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING IT AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT
近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録再生装置 - 特許庁 - SCANNING TYPE SHAPE MEASURING INSTRUMENT, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND SURFACE SHAPE MEASURING METHOD USING THE SAME
走査型形状測定装置、原子間力顕微鏡及びそれを用いた表面形状測定方法 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of discriminating each reflected light from a plurality of cantilevers.
複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope that can obtain a high- resolution near-field optical image.
高分解能の近接場光学像を得ることができる近接場光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - MEMBER OF MICROSCOPE UTILIZING X RAYS, MEMBER FOR RETAINING OBJECT TO BE MEASURED, AND METHOD FOR MANUFACTURING RETAINING MEMBER
Ｘ線を利用した顕微鏡の部材、被測定物の保持部材及び保持部材の製造方法 - 特許庁 - light microscope that uses scattered light to show particles too small to see with ordinary microscopes
普通の顕微鏡で見るには小さすぎるものを見せるために散乱光を使用する光学顕微鏡 - 日本語WordNet - This electronic image microscope apparatus is provided with the imaging mechanism 30, a display mechanism and a thin display 70.
電子画像顕微鏡装置は、撮像機構３０と、表示機構と、薄型ディスプレイ７０とを備えている。 - 特許庁 - ANALYSIS METHOD OF ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE, AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE ENERGY LOSS SPECTROSCOPIC DEVICE
エネルギー損失分光装置の分析方法及びエネルギー損失分光装置を備えた透過電子顕微鏡 - 特許庁 - The sample after the decalcifying treatment is re-embedded, sliced by a microtome, and then served as a microscope sample.
脱灰処理後の標本は再包埋してミクロトームで薄片化して顕微鏡試料に供する。 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE SCANNING PROBE MICROSCOPY, SIGNAL TREATMENT DEVICE AND SIGNAL TREATING METHOD
走査探針顕微鏡および走査探針顕微鏡法および信号処理装置および信号処理方法 - 特許庁 - To provide a digital camera for a microscope capable of easily performing highly accurate parfocal correction in a short time.
短時間で簡単に高精度な同焦補正が行なえる顕微鏡用デジタルカメラを提供すること。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of clearly detecting minute unevenness of a sample.
試料に微小な凹凸があっても明瞭に検出することができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope or the like capable of easily determining the type and the aperture diameter of an objective lens diaphragm.
対物レンズ絞りの種類や絞り径を容易に判別可能な電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron beam irradiation apparatus and a scanning electron microscope apparatus, which have a high resolution and are small.
分解能が良くかつ小型の電子線照射装置と走査型電子顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an inverted microscope capable of stably obtaining a good-quality observed image and excellent in operability.
良質な観察像を安定して得られるとともに、操作性にも優れた倒立顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD OF OBTAINING INTERFACE INFORMATION AND METROLOGICAL INFORMATION OF SAMPLE, USING ATOMIC FORCE MICROSCOPE
原子間力顕微鏡を用いて試料の界面情報及び度量衡学的情報を得る方法 - 特許庁 - To provide a device for controlling an electron microscope that facilitates the moving operation of a microscopic image.
顕微像の移動操作を容易にする電子顕微鏡の制御装置を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide an electronic image microscope apparatus which is easily positioned without moving an eye from an imaging mechanism.
撮像機構から目を放すことなく容易に位置決め可能な電子画像顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser microscope which can simultaneously detect a plurality of light beams obtained from a sample.
標本から得られる複数の光を同時に検出することができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope or the like capable of easily setting image observation conditions for a rough-vacuum observation.
低真空観察のための像観察条件を容易に設定できる電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁 - Of this reflected light, the light transmitted by the half mirror 23 is incident on the lens of an optical microscope 21.
この反射光のうち、ハーフミラー２３を透過した光は光学顕微鏡２１のレンズに入射する。 - 特許庁 - To provide an infrared microscope capable of observing a sample image and an aperture image, simultaneously using a simple structure.
簡単な構成で、試料像とアパーチャ像を同時に観察できる赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To improve a microscope so that its operation is natural in human-engineering, efficient and easy.
顕微鏡において、顕微鏡の操作が人間工学的で、効率的で、簡単であるように改良する。 - 特許庁 - The same geometrical arrangement can be used for scanning in other types of apparatus, for example a confocal microscope.
他のタイプの装置、例えば共焦顕微鏡におけるスキャンのために同じ幾何学的構成を使用できる。 - 特許庁 - NEAR FIELD PROBE, MANUFACTURING METHOD OF NEAR FIELD PROBE AND NEAR FIELD MICROSCOPE USING NEAR FIELD PROBE
近接場プローブ及びその製造方法、並びに、該近接場プロープを用いた近接場顕微鏡 - 特許庁 - To provide a near-field photoexcited SQUID microscope apparatus whose spatial resolution is on a nanometer scale.
ナノメートルスケールの空間分解能を持つ近接場光励起スクイド顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - ULTRASONIC TRANSDUCER, METHOD OF MANUFACTURING ULTRASONIC TRANSDUCER, ULTRASONIC DIAGNOSTIC APPARATUS, AND ULTRASONIC MICROSCOPE
超音波トランスデューサ、超音波トランスデューサの製造方法、超音波診断装置及び超音波顕微鏡 - 特許庁 - FOCUSED ION BEAM DEVICE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE PROCESSING EQUIPPED WITH WRITING FUNCTION BY CODING RELEVANT INFORMATION
関連情報をコード化して書き込む機能を備えたＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置 - 特許庁 - To provide an optical microscope that can accurately measure spectra in a short time, and to provide a method of measuring the spectra.
精度の高いスペクトル測定を短時間で行うことができる光学顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
