「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 82 83 84 85 86 87 88 89 90 .... 179 180 次へ＞- To provide a microscope capable of easily attaining a lighting condition optimum to a selected observation method.
選択された観察方法に最適な照明条件を容易に実現できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an atomic force microscope which can measure a shape of a measuring object having no rigidity, with high accuracy.
剛性のない被測定物の形状を高精度に測定できる原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical microscope configured to perform observation by making an objective lens come very close to an observation object disposed in the interior of a container.
容器内部に配置された観察対象物に対物レンズを近接させて観察を行う。 - 特許庁 - To provide a method for the automatic analysis of microscope images of biological objects such as, for example, fluorescence images of cells.
細胞の蛍光画像等の生物被写体の顕微鏡画像の自動解析法を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope that easily focuses on a specimen in a simple configuration.
簡易な構成で標本に対して容易にピントを合わせることができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a technique for a microscope system or the like capable of automatically correcting spherical aberration.
自動的に球面収差を補正することができる顕微鏡システム等の技術を提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope which permits easy and reliable exchanging of optical components arranged in a holding apparatus.
担持装置に配された光学要素を簡単かつ確実に交換することができる顕微鏡の提供。 - 特許庁 - The wire with an improved contrast is included in the filter, so that visibility under a fluorescence microscope is provided.
造影性を向上させたワイヤをフィルタに含めて蛍光顕微鏡下での視認性を提供する。 - 特許庁 - To surely sample a fluorescent signal including a peak in a laser microscope using pulse laser oscillation.
パルスレーザ励起を用いたレーザ顕微鏡において、蛍光信号をピークを含めて確実にサンプリングする。 - 特許庁 - NEAR-FIELD LIGHT PROBE AND ITS MANUFACTURING METHOD AND OPTICAL RECORDING REPRODUCING UNIT AND NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE
近接場光プローブとその製造方法と光記録再生装置及び近接場光顕微鏡 - 特許庁 - SCANNING PROBE MICROSCOPE, AND COMPACT DISK/CROSS-SECTIONAL PROFILE MEASURING METHOD AS WELL AS SEMICONDUCTOR DEVICE MANUFACTURING METHOD
走査プローブ顕微鏡及びＣＤ・断面プロファイル計測方法並びに半導体デバイス製造方法 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of discriminating reflected lights from each of a plurality of cantilevers.
複数のカンチレバーのそれぞれからの反射光を識別可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an optical element replacement device for a microscope, which prevents erroneous recognition when an optical element is replaced.
光学素子交換時の誤認識を防止可能な顕微鏡の光学素子交換装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a simple and low-cost adapter for imaging which is used for a microscope or the like, without using a field lens.
フィールドレンズを用いることなく、簡便で安価な顕微鏡用などの撮像用アダプタを提供する。 - 特許庁 - To provide a biosensor capable of observing an object to perform sensing with a microscope or the like while performing sensing simultaneously.
センシングと同時に、センシングする対象を顕微鏡等で観察可能なバイオセンサを提供すること。 - 特許庁 - To provide an electron microscope which realizes the automation with a tomography while using an omega type energy filter.
オメガ型エネルギーフィルタを用いながらもトモグラフで自動化を実現する電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - PROXIMITY FIELD OPTICAL PROBE, PROXIMITY FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME AND OPTICAL RECORDING / REPRODUCING APPARATUS
近接場光プローブおよびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置 - 特許庁 - To provide a length measuring method using a scanning electron microscope capable of highly accurate measurement.
精度の高い測定を行うことができる走査型電子顕微鏡を用いた測長方法を提供する。 - 特許庁 - Additionally, the microscope system 100 includes a well-known active-type auto-focus unit 118 for microscopes.
また、顕微鏡システム１００は、公知の顕微鏡用アクティブ型のオートフォーカスユニット１１８を備えている。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope capable of performing further accurate measurement.
本発明の目的は、測定をより正確に行なえる近接場光学顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To realize a sample moving system of electron microscope hardly affected by acoustic vibration and vibration of floor.
音響振動やフロア振動の影響を受けにくい電子顕微鏡用試料移動装置を実現する。 - 特許庁 - This allows the observation in a wide visual field to the bottom of the surgical part by using the microscope or the endoscope.
従って、顕微鏡や内視鏡により術部の底部まで広い視野で観察することができる。 - 特許庁 - To realize highly accurate alignment between mask and wafer using a microscope imaging apparatus.
１つの顕微鏡撮像装置によってマスクとウエハとの高精度の位置合わせを実現できるようにする。 - 特許庁 - To provide an optical microscope capable of shortening a measurement time, and to provide a spectrum measuring method.
測定時間を短縮することができる光学顕微鏡、及びスペクトル測定方法を提供する。 - 特許庁 - APPARATUS FOR MEASURING SURFACE CROSS-SECTIONAL SHAPE OR THREE-DIMENSIONAL SURFACE SHAPE AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
表面の断面形状若しくは三次元表面形状測定装置及び走査型電子顕微鏡 - 特許庁 - The transmission electronic microscope specimen includes; a specimen body 4a; a thin film part 11; and a protection film 8.
透過型電子顕微鏡用試料は、試料本体４ａと薄膜部１１と保護膜８とを具備する。 - 特許庁 - To provide an imaging device having excellent imaging performance, and to provide a microscope provided with the image forming device.
優れた結像性能を有する結像装置、この結像装置を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The optical system (4, 5, 6, 7, 8) of the confocal scanning microscope is arranged at the side of the first face.
前記第１の面側に共焦点走査顕微鏡光学系（４，５，６，７，８）が配置されている。 - 特許庁 - To enhance a processing quality and a processing accuracy of a fine processing device utilizing an atomic force microscope.
原子間力顕微鏡を応用した微細加工装置の加工品質や加工精度を向上させる。 - 特許庁 - MEASURING METHOD FOR OBJECT BY SHAPE-SWITCHING FOR CHANGEABLE MIRROR AND NON-SCANNING CONFOCAL MICROSCOPE USING THE SAME
可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡 - 特許庁 - The sample is moved along a substantially straight passage in the Z-axis (optical axis of the transmission electron microscope).
標本は、Ｚ軸（透過型電子顕微鏡の光軸）における実質的な直線通路を移動する。 - 特許庁 - ELEMENT CONCENTRATION MEASURING METHOD BY ELECTRON MICROSCOPE WITH ELECTRON BEAM ENERGY SPECTROSCOPE AND DEVICE PROVIDED THEREWITH
電子線エネルギー分光器付き電子顕微鏡による元素濃度測定方法及びこれを備えた装置 - 特許庁 - SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, DISCHARGE ELECTRON DETECTED VALUE ESTIMATION METHOD, SEM IMAGE SIMULATION METHOD, AND ITS PROGRAM
走査電子顕微鏡、放出電子検出値推定方法、ＳＥＭ像シミュレーション方法、及びそのプログラム - 特許庁 - This microscope is provided with objective lenses 2 and 3 and automatic focusing parts 15 to 23 detecting the out-of-focus of the lenses 2 and 3.
対物レンズ２，３と、対物レンズ２，３のピントズレを検出する自動合焦部１５〜２３とを有する。 - 特許庁 - DEFECT ANALYSIS METHOD USING EMISSION MICROSCOPE AND ITS SYSTEM, AND MANUFACTURING METHOD OF SEMICONDUCTOR DEVICE
エミッション顕微鏡を用いた不良解析方法およびそのシステム並びに半導体装置の製造方法 - 特許庁 - QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD OF CATALYST CONTAINED IN FUEL CELL CATALYST LAYER BY TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
透過型電子顕微鏡による燃料電池触媒層に含まれる触媒の定量的解析方法 - 特許庁 - LIGHT SOURCE UNIT, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER MEDICAL TREATMENT DEVICE, LASER INTERFEROMETER DEVICE, AND LASER MICROSCOPE DEVICE
光源装置、半導体露光装置、レーザー治療装置、レーザー干渉計装置およびレーザー顕微鏡装置 - 特許庁 - GAS FIELD IONIZATION ION SOURCE, SCANNING CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, OPTICAL AXIS ADJUSTMENT METHOD, AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
ガス電界電離イオン源，走査荷電粒子顕微鏡，光軸調整方法、及び試料観察方法 - 特許庁 - X-RAY DIFFRACTION MICROSCOPE APPARATUS AND X-RAY DIFFRACTION MEASURING METHOD BY THE SAME
Ｘ線回折顕微鏡装置およびＸ線回折顕微鏡装置によるＸ線回折測定方法 - 特許庁 - DEVICE FOR CONVERGING WAVELENGTH OR WAVELENGTH REGION ON OPTICAL IRRADIATION PATH OF MICROSCOPE UNDER CONTROL
顕微鏡の照射光路における波長または波長領域を調整下で集束化するための装置 - 特許庁 - To provide a microscope capable of increasing the number of objective lenses to be attached to a revolver.
本発明は、レボルバに取付けられる対物レンズ数を増やすことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - In the case of B-level abnormality the abnormality information is delivered only to the operator of the scanning electron microscope.
レベルＢの異常の場合には、異常情報は走査電子顕微鏡のオペレータのみに転送される。 - 特許庁 - INFRARED MICROSCOPE, LASER DEFECT CORRECTING DEVICE WITH LASER USING THE SAME, AND METHOD OF OBSERVING LIQUID CRYSTAL PANEL
赤外線顕微鏡およびこれを用いたレーザー欠陥修正装置および液晶パネルの観察方法 - 特許庁 - In a scanning probe microscope, a heterodyne laser Doppler meter is used for detecting and controlling the vibration of the cantilever.
走査型プローブ顕微鏡であって、ヘテロダインレーザドップラー計をカンチレバーの振動検出と制御に用いる。 - 特許庁 - To provide an electron microscope, where an electron beam will not irradiate photographing visual field at focus-adjustment.
焦点合わせの際に電子線が撮影視野を照射することない電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The pre-cryogenic electron microscope specimen holder includes a specimen holding means and a cryogenic energy storing means.
電子顕微鏡の予冷型試料台は試料載置手段と、冷却エネルギー蓄積手段とを備えている。 - 特許庁 - To provide a total reflection fluorescent microscope capable of irradiating a sample always with parallel beams.
常に平行光で標本を照射することができる全反射蛍光顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - MAGNETIC-RESONANCE-TYPE EXCHANGE INTERACTION FORCE MICROSCOPE AND MEASURING METHOD OF EXCHANGE INTERACTION FORCE USING IT
磁気共鳴型交換相互作用力顕微鏡及びそれを用いた交換相互作用力の測定方法 - 特許庁 - To provide a movement control method for an automatically surface engageable scanning force microscope.
自動表面係合の走査型力顕微鏡のプローブ・ティップの動きを制御する方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a laser scanning microscope using a PMT by which detection sensitivity does not deteriorate even if it is repeatedly used.
使用を重ねても検出感度が低下しないＰＭＴを用いたレーザ走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁
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