「microscope」を含む例文一覧(8962)

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  • ENDOSCOPE EYEPIECE SECTION WITH MICROSCOPE CLAMPING MECHANISM AND ENDOSCOPE HOLDER AS WELL AS METHOD FOR FIXING ENDOSCOPE
    顕微鏡把持機構付内視鏡接眼部及び内視鏡ホルダ及び内視鏡固定方法 - 特許庁
  • MICROSCOPE EQUIPPED WITH OPTICAL ELEMENT PROVIDED WITH ANTIREFLECTION FILM AND IMAGING APPARATUS USED THEREFOR
    反射防止膜を設けた光学素子を備えた顕微鏡及びこれに用いられる撮像装置 - 特許庁
  • SYSTEM FOR DETECTION BY WAVELENGTHS TO BE USED FOR LASER SCANNING MICROSCOPE, AND IMAGE RECORDING METHOD
    レ—ザ走査顕微鏡に使用される波長別検出のためのシステムおよび画像記録方法 - 特許庁
  • To provide a scanning probe microscope for which the operation work is simple and moreover ion detection efficiency is satisfactory.
    操作作業が簡単で、しかもイオン検出効率の良い走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a laser microscope capable of acquiring spectral data of which the spectral component information is stable.
    スペクトル成分情報の安定した分光データを取得できるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To easily search the optimum image observing condition in the operation of an electron microscope.
    電子顕微鏡の操作において最適な像観察条件を容易に探し出せるようにする。 - 特許庁
  • MICROPROCESSING METHOD AND APPARATUS OF CARBONACEOUS MATERIAL USING LOW VACUUM SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    低真空走査型電子顕微鏡を用いた炭素系材料の微細加工方法とその装置 - 特許庁
  • SCANNING TRANSMITTED IMAGE AND MAGNIFICATION OF TRANSMITTED IMAGE/ROTATION CORRECTION METHOD AND SCANNING TRANSMISSION TYPE ELECTRON MICROSCOPE
    走査透過像と透過像の倍率・回転補正方法及び走査透過型電子顕微鏡 - 特許庁
  • SCANNING PROBE MICROSCOPE, CANTILEVER CASSETTE, METHOD OF SUPPLYING CANTILEVER, AND METHOD OF MANAGING STATE OF CANTILEVER
    走査型プローブ顕微鏡、カンチレバーカセット、カンチレバーの供給方法および状態管理方法 - 特許庁
  • To provide a confocal microscope in which sectioning resolution is improved by a simple configuration.
    本発明は、簡単な構成でセクショニング分解能を高めた共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To make the substantial space occupied by a fluorescent microscope incorporating a plurality of filter cassettes small.
    複数のフィルタカセットを内蔵した蛍光顕微鏡の実質的な占有空間を小さくする。 - 特許庁
  • DEVICE AND METHOD FOR EXAMINATION OF SAMPLE IN NON-VACUUM ENVIRONMENT USING SCANNING ELECTRON MICROSCOPE
    走査型電子顕微鏡を用いた非真空環境内のサンプルの検査のための装置および方法 - 特許庁
  • To provide a device and method for performing contour scanning by use of a scanning probe microscope.
    走査型プローブ顕微鏡を用いて輪郭走査を実行する装置および方法を提供する。 - 特許庁
  • Multiple lens assemblies can be packaged together with a microscope drape to form a kit.
    複数のレンズ組立体が、キットを形成するよう顕微鏡ドレープと一体に包装され得る。 - 特許庁
  • To perform minute operation for a biological sample in vacuum and under electron beams of an electronic microscope.
    電子顕微鏡の真空中、電子線下で生物試料に微細操作を行えるようにする。 - 特許庁
  • The line sensor camera is used for a preliminary positioning operation before an inspection is performed by the microscope 21.
    このラインセンサカメラは、顕微鏡２１で検査する前の予備的な位置決め用として用いる。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope capable of preventing contact between an objective lens and a sample.
    対物レンズと試料の接触を防止できる走査電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁
  • NONLINEAR RAMAN SCATTERING LIGHT MEASUREMENT DEVICE, ENDOSCOPIC DEVICE USING IT, AND MICROSCOPE DEVICE
    非線形ラマン散乱光測定装置およびそれを用いた内視鏡装置ならびに顕微鏡装置 - 特許庁
  • ILLUMINANT, AND ELECTRON BEAM DETECTOR, SCANNING ELECTRON MICROSCOPE AND MASS SPECTROMETER USING THE SAME
    発光体と、これを用いた電子線検出器、走査型電子顕微鏡及び質量分析装置 - 特許庁
  • The inverted microscope body 1 is provided with an optical path switching prism 13 below the revolver stand 6.
    倒立顕微鏡本体１はレボルバー保持台６の下方に光路切換プリズム１３を備えている。 - 特許庁
  • To facilitate a work of achieving an optical image and an electron microscope image at the same display size.
    同一の表示サイズでの光学画像と電子顕微鏡画像の取得作業を容易にする。 - 特許庁
  • This scanning probe microscope 100 has a scanning mechanism 120 for scanning a cantilever 110.
    走査型プローブ顕微鏡１００はカンチレバー１１０を走査する走査機構１２０を有している。 - 特許庁
  • To provide a scanning stage for a scanning probe microscope well following high speed scanning.
    高速走査にも良好に追従する走査型プローブ顕微鏡用走査ステージを提供する。 - 特許庁
  • RESIN EMBEDDING AUXILIARY TOOL IN PREPARING MICROSCOPE SAMPLE, AND RESIN EMBEDDING METHOD USING IT
    顕微鏡試料作成における樹脂包埋補助ツール及びこれを使用した樹脂包埋方法 - 特許庁
  • To provide a scanning transmission electron microscope operated with a sample in a high pressure environment.
    高圧環境中の試料を使用して動作する走査透過電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁
  • PROBE WITH FIELD-EFFECT TRANSISTOR-CHANNEL STRUCTURE FOR PROBE SCANNING MICROSCOPE AND ITS MANUFACTURING METHOD
    電界効果トランジスタチャンネル構造を持つ探針走査型顕微鏡の探針およびその製造方法 - 特許庁
  • An auto-focus device or a reticle microscope is used as the position measuring means.
    また、前記位置測定手段は、オートフォーカス装置またはレチクル顕微鏡であることを特徴とする。 - 特許庁
  • An optical microscope 10 includes an observing optical system for optically observing a specimen S.
    光学顕微鏡１０は標本Ｓを光学的に観察するための観察光学系を有する。 - 特許庁
  • To provide a method of observing testpiece in liquid using a scanning probe microscope for obtaining stable images.
    走査型プローブ顕微鏡を用いる液中試料観察方法において、安定な画像を得る。 - 特許庁
  • PRISM STRUCTURE FOR SIMULTANEOUSLY PERFORMING ZERO DEGREE ILLUMINATION AND OBLIQUE ILLUMINATION OF STEREOSCOPIC OPERATING MICROSCOPE
    ステレオ手術顕微鏡の０°照明及び斜照明を同時に行うためのプリズム構造体 - 特許庁
  • STAGE MECHANISM, ELECTRON MICROSCOPE EQUIPPED WITH THE SAME, AND POSITIONING CONTROL METHOD FOR STAGE MECHANISM
    ステージ機構、及びそれを備えた電子顕微鏡、並びにステージ機構の位置決め制御方法 - 特許庁
  • SCANNING TYPE CHARGED PARTICLE MICROSCOPE, AND ITS ASTIGMATISM CORRECTING METHOD
    走査形荷電粒子顕微鏡、並びに走査形荷電粒子顕微鏡の非点収差補正方法 - 特許庁
  • CONDENSING METHOD, CONDENSING DEVICE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE APPLYING THEM, AND STORAGE DEVICE
    集光方法、集光装置、これらを適用した近接場光学顕微鏡及びストレージ装置 - 特許庁
  • The infrared microscope 10 implements the mapping measurement based on the focusing distances at the respective measuring points.
    そして、赤外顕微鏡１０は各測定点の合焦距離に基いてマッピング測定を行う。 - 特許庁
  • INFORMATION PROCESSOR, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, AND IMAGING APPARATUS WITH OPTICAL MICROSCOPE MOUNTED THEREON
    情報処理装置、情報処理方法、プログラム、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 - 特許庁
  • One image after another is taken out of the electron microscope images preserved, and is compared with the reference image.
    保存された電子顕微鏡画像から１枚ずつ取り出し、それを参照画像と比較する。 - 特許庁
  • To provide a scanning probe microscope system capable of obtaining sample images with high accuracy.
    試料の画像を高い精度で得ることができる走査型プローブ顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁
  • ELECTROLYTIC GRINDING METHOD IN PREPARATION OF SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND APPARATUS UTILIZING THE SAME
    透過電子顕微鏡試料作製における電解研磨方法およびこれを利用する装置 - 特許庁
  • a microscope (device to magnify small objects) in which objects are lit directly by white light.
    物体が白色光によって直接照らされる顕微鏡（小さな物体を拡大する機器）。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a procedure in which a sample of tissue is taken from the endometrium (inner lining of the uterus) for examination under a microscope.
    顕微鏡検査用に子宮内膜（子宮の内層）から組織標本を採取する方法。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the stage is determined based on how the cells in the samples look under a microscope.
    次に採取した細胞を顕微鏡で観察して、細胞の外観を基に病期を判定する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a rare type of kidney cancer, in which the inside of the cells look clear when viewed under a microscope.
    まれな種類の腎臓の腫瘍で、顕微鏡で観察すると細胞の内部が透明に見える。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a procedure in which a skin abnormality and a thin layer of surrounding skin are removed with a small blade for examination under a microscope.
    皮膚の異常部やその周囲の皮膚を小さな刃で取り、顕微鏡で調べる方法。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • when viewed under a microscope, these cells appear to be covered with tiny hair-like projections.
    顕微鏡で観察すると、これらの細胞は微小な髪の毛のような突出物で覆われている。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a pap test is a procedure in which cells are scraped from the cervix for examination under a microscope.
    パパニコロウ試験とは、子宮頸部から採取した細胞を顕微鏡で調べる検査法である。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • a clear disk that focuses light, as in a camera or microscope.
    光を収束させることのできる透明な円盤のことで、カメラや顕微鏡に使用されている。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • To quickly and highly accurately detect the three-dimensional position of a particle under observation by a microscope.
    顕微鏡観察下における微粒子の３次元位置を、速やかに高精度で検出する。 - 特許庁
  • To provide a high-speed high-resolution micro-area scanning device used in a scanning probe microscope SPM.
    ＳＰＭで用いられる、高速、高分解能の微小領域走査装置を提供すること。 - 特許庁
  • To provide a feedback correction type probe microscope, capable of correcting the image strain caused by a feedback error.
    フィードバックエラーによる画像歪みを補正できるフィードバック補正型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To adapt a cryostage for electron microscope to two types of freezing mediums with one capillary channel.
    １系統のキャピラリで２種類の寒剤に適応する電子顕微鏡用クライオステージを実現する。 - 特許庁
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