「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 78 79 80 81 82 83 84 85 86 .... 179 180 次へ＞- SURFACE PLASMON FLUORESCENCE MICROSCOPE AND METHOD OF MEASURING FLUORESCENCE EXCITED BY SURFACE PLASMON
表面プラズモン蛍光顕微鏡、および表面プラズモンにより励起された蛍光を測定する方法 - 特許庁 - ELECTRON-EMITTING ELEMENT, ELECTRON GUN, ELECTRON MICROSCOPE DEVICE USING IT, AND ELECTRON BEAM LITHOGRPHY DEVICE
電子放出素子，電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置 - 特許庁 - COHERENT LIGHT SOURCE, SEMICONDUCTOR EXPOSURE DEVICE, LASER THERAPY EQUIPMENT, LASER INTERFEROMETER AND LASER MICROSCOPE
コヒーレント光光源、半導体露光装置、レーザ治療装置、レーザ干渉計装置、レーザ顕微鏡装置 - 特許庁 - The particle diameter of the conductive tin oxide sol by observation with transmission electron microscope is 2 to 25 nm.
前記導電性酸化スズゾルの透過電子顕微鏡観察による粒子径が２〜２５ｎｍである。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of reducing the vibration noise occurring at intermittent raster scans.
間欠ラスター走査に生じる振動ノイズが低減された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an inexpensive measurement microscope device facilitating alignment work on a point of measurement.
測定点のアライメント作業を容易に行える安価な測定顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope which suppresses generation of a noise due to vibration of a scanning means.
走査手段の振動に起因する騒音の発生を抑えた走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a pump probe measuring instrument, and a scanning probe microscope using it.
ポンププローブ測定装置とこの測定装置を利用した走査プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus capable of obtaining a highly reliable detection result without blur.
ボケの無い信頼性の高い検出結果を得ることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To enable using of a plurality of scanners having different characteristics in one laser scanning microscope.
１台の走査型顕微鏡において、特性の異なった複数のスキャナを使用可能とする。 - 特許庁 - To provide a culture microscope apparatus which causes less temperature changes in an installation environment and is easily cleaned.
設置環境の温度変化が少なく、洗浄が容易な培養顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To reduce the size and weight of a microscope body while guiding the image of a specimen to a position easy to view.
顕微鏡本体の小型軽量化を図りつつ、覗きやすい位置に標本の像を導く。 - 特許庁 - To provide an optical microscope, which makes autofocusing possible by a light source for observation of an object.
対象物の観察用光源によりオートフォーカスできる光学式顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide an apparatus and a method, which evaluate a test piece exactly and quantitatively with an electron beam microscope.
電子顕微鏡により試料を正確に定量評価する装置および方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a vertical illumination microscope in which occurrence of noise caused by a fluorescence filter set is properly suppressed.
蛍光フィルターセットによるノイズの発生が良好に抑えられた落射顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of emitting light having stable intensity with simple configuration.
簡易な構成により安定的な強度の光を照射できる顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - Thereby, even when the microscope 9 is used, the pinhole image can always be tracked automatically.
これにより、顕微鏡８を用いる場合においても常にピンホール像の自動追尾が可能となる。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope for easily observing the surface of a disk-shaped sample.
ディスク形状サンプルの表面観察を容易とする走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a probe with a comparatively simple structure and a near-field microscope.
比較的簡単な構成を有するプローブ及び近接場顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of providing information of a portion which is effective for observation or of damage.
観察に有効な部位やダメージの情報を提供し得る顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope that photographs a camera image of a sample by an easier operation.
より簡単な操作で標本のカメラ画像を撮影することができる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - METHOD FOR DECIDING MEASURING PARAMETER FOR SCANNING MICROSCOPE AND COMPUTER-READABLE STORING MEDIUM
走査型顕微鏡の測定パラメータ決定方法及びコンピュータにより読み取り可能な記憶媒体 - 特許庁 - To provide a confocal microscope apparatus which facilitates an adjustment job when obtaining a confocal image, and is reduced in size.
共焦点画像を得る際の調整作業を容易にし、かつ装置を小型化すること - 特許庁 - a small and very thin piece of glass used to cover the specimen on a microscope slide
顕微鏡スライドの上で見本をカバーするのに用いられるガラスの小さくて非常に細い部分 - 日本語WordNet - To provide a compound microscope capable of performing highly accurate SPM measurement in a short time.
短時間に、精度の高いＳＰＭ測定を行うことができる複合型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a method for readily acquiring the resonance characteristics of a cantilever of an atomic force microscope.
原子間力顕微鏡のカンチレバーの共振特性を容易に得るための方法を提案する。 - 特許庁 - To provide a mask pattern correction method with high dimensional accuracy using a scanning probe microscope.
走査型プローブ顕微鏡を用いた、寸法精度の高いマスクパターン修正方法を提供すること。 - 特許庁 - PARTICLE REMOVAL METHOD, MINUTE TWEEZER APPARATUS, ATOMIC FORCE MICROSCOPE, AND CHARGED PARTICLE BEAM APPARATUS
パーティクル除去方法、微小ピンセット装置、原子間力顕微鏡および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁 - To provide an automatic microscope capable of drastically shortening a time required for automatic focusing.
オートフォーカスに要する時間を大幅に短縮することができる自動顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - RADIATION ELECTRON MICROSCOPE FOR INSULATOR SAMPLE OBSERVATION USING DIAGONALLY IRRADIATING METHOD OF CHARGED NEUTRALIZATION ELECTRON
帯電中和電子の斜め照射法を用いた絶縁物試料観察用放射電子顕微鏡 - 特許庁 - To provide a focusing arrangement enabling preferable focusing, and a microscope apparatus having it.
好適な焦点調節が可能な焦点調節装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - An opening mechanism is provided in a vacuum discharge chamber of the electron microscope for opening the fixing mechanism.
また、電子顕微鏡の真空排気室に上記固定機構を開放する開放機構を設けた。 - 特許庁 - To provide an optical system, in particular a microscope comprising an optical unit (17) and a collimator (1).
光学ユニット（１７）およびコリメータ（１）を備える光学システム、特に、顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - LIGHTING SYSTEM, SLIT LAMP USING LIGHTING SYSTEM AND MICROSCOPE USING LIGHTING SYSTEM
照明装置、この照明装置を用いたスリットランプ、およびこの照明装置を用いた顕微鏡 - 特許庁 - To enable quantitative measurement of a friction force by a cantilever in a friction force microscope.
摩擦力顕微鏡においてカンチレバーによる定量的な摩擦力の測定を可能とすること。 - 特許庁 - To comparatively easily form, for example, a sample for a transmission electron microscope.
例えば透過型電子顕微鏡用の試料を比較的容易に形成することができるようにする。 - 特許庁 - A microscope digital camera 3 is configured to include a camera head unit 3 and an operation display unit 6.
顕微鏡用デジタルカメラ３は、カメラヘッド部２と操作表示部６とを備えて構成される。 - 特許庁 - COMPOUND SCANNING PROBE MICROSCOPE AND METHOD FOR DISPLAYING CANTILEVER POSITION OF THE SAME
複合型走査プローブ顕微鏡及び複合型走査プローブ顕微鏡のカンチレバー位置表示方法 - 特許庁 - To provide a zoom microscope which has no eclipse and is capable of fluorescence episcopic illumination in all magnification regions.
全倍率域においてケラレの無い蛍光落射照明が可能な、ズーム顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To improve throughput without deterioration of evaluation performance of a scanning charged-particle microscope.
走査荷電粒子顕微鏡の評価性能を低下させることなく、スループットの向上化を図る。 - 特許庁 - FOCUS DETECTOR AS WELL AS OBJECTIVE LENS, OPTICAL MICROSCOPE OR OPTICAL TEST APPARATUS HAVING THE SAME
焦点検出装置、及びそれを備えた対物レンズ、光学顕微鏡又は光学検査装置 - 特許庁 - To provide a microscope capable of observing highly accurately a sample including molecules capable of chemiluminescence.
化学発光可能な分子を含む試料を高精度で観察できる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - STANDARD MEMBER FOR CALIBRATION, MANUFACTURING METHOD THEREOF, AND SCANNING ELECTRON MICROSCOPE USING THE SAME
校正用標準部材およびその作製方法並びにそれを用いた走査電子顕微鏡 - 特許庁 - SEMICONDUCTOR LASER, BIO-IMAGING SYSTEM, MICROSCOPE, OPTICAL DISK DEVICE, OPTICAL PICKUP, PROCESSING MACHINE, AND ENDOSCOPE
半導体レーザ、バイオイメージングシステム、顕微鏡、光ディスク装置、光ピックアップ、加工装置および内視鏡 - 特許庁 - SURFACE PLASMON MICROSCOPE AND DARK RING IMAGE DATA ACQUISITION METHOD UNDER THE SAME
表面プラズモン顕微鏡及び表面プラズモン顕微鏡における暗環像情報取得方法 - 特許庁 - To provide a scanning mechanism for a scanning probe microscope that can acquire high-quality AFM images.
高品質なＡＦＭ像を取得できる走査型プローブ顕微鏡用走査機構を提供する。 - 特許庁 - SIGNAL DETECTION DEVICE, AND NONCONTACT TYPE ATOMIC FORCE MICROSCOPE USING SIGNAL DETECTION DEVICE
信号検出装置、及び信号検出装置を用いた非接触型原子間力顕微鏡 - 特許庁 - CONDUCTIVE NANOTUBE PROBE, ELECTRICAL CHARACTERISTICS EVALUATION APPARATUS USING THE SAME, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE
導電性ナノチューブ探針、それを用いた電気特性評価装置及び走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁 - OPTICAL GRID AND ITS MANUFACTURING METHOD, LINEAR ENCODER EQUIPPED WITH OPTICAL GRID, AND OPTICAL MICROSCOPE
光学格子及びその製造方法、光学格子を備えたリニアエンコーダ及び光学顕微鏡 - 特許庁 - The microscope is equipped with a stand (3) having a stand base (3a) demarcating an outside contour (3b).
顕微鏡は、外側輪郭（３ｂ）を画定するスタンド基部（３ａ）を有するスタンド（３）を備えている。 - 特許庁
