「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 77 78 79 80 81 82 83 84 85 .... 179 180 次へ＞- To provide an illumination device for microscope, which can easily adapt to different working distances.
種々異なる作動距離に簡単に適合できる顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁 - ELECTRON SOURCE HAVING CARBON NANOTUBE, ELECTRON MICROSCOPE USING IT, AND ELECTRON BEAM DRAWING DEVICE
カーボンナノチューブを有する電子源とそれを用いた電子顕微鏡および電子線描画装置 - 特許庁 - ARRANGEMENT FOR ADJUSTING LASER OUTPUT AND/OR PULSE WIDTH OF SHORT-PULSE LASER IN MICROSCOPE
顕微鏡における短パルスレーザーのレーザー出力および／またはパルス幅調整のための配置 - 特許庁 - To provide a safe microscope having high convenience with a simple constitution.
安全であり、かつ簡素な構成で利便性の高い顕微鏡を提供することができるようにする。 - 特許庁 - To provide an emission microscope which allows an observation of a sample in a good condition.
良好な状態で試料の観察を行なうことができるエミッション顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope which retains focal point, even if aberration correction is carried out within an object lens.
対物レンズ内の収差補正を行っても焦点が保たれる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope or the like in which a maintenance work and a readjustment work are carried out with ease.
メンテナンス作業および再調整の作業を容易にした電子顕微鏡等を提供する。 - 特許庁 - A scanning microscope 10 has: a light source 20; an object lens 36; and a scanning unit 33.
走査型顕微鏡１０は、光源２０と、対物レンズ３６と、走査ユニット３３と、を有する。 - 特許庁 - To provide a confocal scanning microscope system having high spatial resolution of 50nm level.
５０ｎｍレベルの高い空間分解能を備える共焦点走査型顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - DETECTION METHOD FOR INTERNAL DEFECT AND ULTRASONIC MICROSCOPE FOR DETECTION OF INTERNAL DEFECT BY USING IT
内部欠陥検出方法、およびそれを用いて内部欠陥を検出する超音波顕微鏡 - 特許庁 - To provide object vertical illumination and object transmission illumination possible with a confocal microscope.
共焦点顕微鏡において、対象物落射照明も対象物透過照明も可能にする。 - 特許庁 - The present invention is applicable to a confocal microscope to acquire three-dimensional data of a sample S.
本発明は、例えば、試料Ｓの３次元データを取得するコンフォーカル顕微鏡に適用できる。 - 特許庁 - As the probe 12 of the scanning probe microscope, a pressure inducing superconductive substance is used.
走査プローブ顕微鏡の探針１２として圧力誘起超伝導物質からなるものを用いる。 - 特許庁 - METHOD FOR DETECTING AND QUANTITATIVELY DETERMINING SAMPLE NUCLEIC ACID FRAGMENT BY SCANNING ELECTROCHEMICAL MICROSCOPE
走査型電気化学顕微鏡による試料核酸断片の検出方法および定量方法 - 特許庁 - ATOMIC FORCE MICROSCOPE AND METHOD FOR FORMING ENERGY DISSIPATION IMAGE USING THE SAME
原子間力顕微鏡及び原子間力顕微鏡を用いたエネルギー散逸像の形成方法 - 特許庁 - To realize a high-sensitivity optical microscope capable of observing a dark sample image with the naked eye.
暗い標本像を肉眼で観察することが可能な高感度光学顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - The ultrasonic microscope 1a is equipped with pulsed light irradiation means 8 for emitting pulsed light.
その超音波顕微鏡１ａに、パルス光を照射するパルス光照射手段８を設ける。 - 特許庁 - Next, a tilt angle of a measuring surface of the measuring sample is detected by the scanning tunnel microscope.
次に、走査型トンネル顕微鏡により測定試料の測定面の傾斜角度を検出する。 - 特許庁 - To provide a microscope device which reduces the burden of a user by improving operability in observation.
観察時の操作性の向上を図り、ユーザの負担を軽減させる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To improve versatility of a microscope having a body which can be attached and removed to and from a support stage.
本体部が支持台に対して着脱可能な顕微鏡の汎用性を向上させる。 - 特許庁 - To prevent a misstep caused as the result of a judgment by a naked eye and a microscope magnification.
肉眼や顕微鏡拡大による判断で発生し得る間違いをあらかじめ防止する。 - 特許庁 - NEAR FIELD OPTICAL PROBE, MANUFACTURING METHOD FOR THE SAME, AND NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME
近接場光プローブ及びその製造方法、並びにそれを用いた近接場光顕微鏡 - 特許庁 - Therefore, work efficiency of slide glass replacement in a microscope system 1 can be improved.
これにより顕微鏡システム１は、スライドガラスの交換に伴う作業効率を高めることができる。 - 特許庁 - This substrate inspecting method uses a scanning electron microscope.
本発明に係る基板検査方法は、走査型電子顕微鏡装置を用いた基板検査方法である。 - 特許庁 - The shield cover 51 is arranged so as to cover a sample 53 placed on a stage 12 of the microscope.
遮蔽カバー５１は、顕微鏡のステージ１２上の標本５３を覆うように設置される。 - 特許庁 - To provide an optical microscope whose initial state can easily and precisely be set.
初期状態の設定を簡単に、精度よく行なうことができる光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope capable of acquiring a confocal image and an evanescence illumination image information.
共焦点像とエバネッセンス照明像情報を取得できる走査顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an objective lens for microscope whose numerical aperture is large and where the flatness of an image surface is excellently corrected.
大きな開口数を有し、かつ、像面の平坦性が良く補正された顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁 - To provide a container for holding plural microscope slide glasses including a base part and a tray.
本発明は、基部と、トレイとを含む、複数の顕微鏡スライドガラス保持用容器を提供する。 - 特許庁 - APPROACH METHOD AND CANTILEVER FOR SCANNING PROBE MICROSCOPE DEVICE USING HEAT EXCHANGE EFFECT
熱交換効果を利用した走査型プローブ顕微鏡装置におけるアプローチ方法及びカンチレバー - 特許庁 - The beam system includes an ion beam device and a scanning electron microscope with a magnetic objective lens.
二重ビーム装置はイオン・ビーム装置および磁気対物レンズを備える走査電子顕微鏡を含む。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of reducing the vibration noise occurring at intermittent raster scans.
間欠ラスター走査に生じる振動ノイズが低減された走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a phase difference electron microscope capable of alleviating the dimensional requirement of a phase shift element.
位相シフト素子の寸法上の要件を軽減する位相差電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - An observer photographs an object with an image input means 111 of a camera or microscope.
観察者は被写体をカメラまたは顕微鏡等の画像入力手段１１１により撮影する。 - 特許庁 - STRUCTURE FOR FIXING PETRI DISH INCLUDING OBJECT TO BE OBSERVED ON STAGE OF INVERTED TYPE MICROSCOPE
観察対象を含むシャーレを倒立型顕微鏡のステージ上に固定するための構造体 - 特許庁 - SYSTEM AND METHOD FOR COMBINING IMAGE BLOCK TO CREATE SEAMLESS MAGNIFIED IMAGE OF MICROSCOPE SLIDE
イメージ・ブロックを合成し顕微鏡スライドのシームレスな拡大イメージを作成するシステム及び方法 - 特許庁 - The scanning probe microscope has a tilted stage 400 on which a sample 340 is mounted.
本走査型プローブ顕微鏡は、試料３４０が上に載置される傾斜ステージ４００を有する。 - 特許庁 - To provide a microscope digital camera combining features of a standalone digital camera with features of a PC connection exclusive digital camera.
スタンドアローンデジタルカメラとPC接続専用デジタルカメラの両者が持つ特徴を兼ね備える。 - 特許庁 - To facilitate control of collapse when thinning for a transmission electron microscope specimen.
透過型電子顕微鏡用試料において薄片化を行う場合、崩れの制御を容易とする。 - 特許庁 - To provide a true, sterile surgical microscope drape with a removable lens assembly.
取り外し可能なレンズ組立体を備える真正で無菌の外科用顕微鏡ドレープを提供する。 - 特許庁 - A probe and a voltage source to be applied to a semiconductor element are used additionally in a microscope using an electron beam.
電子線を用いた顕微鏡にプローブと半導体素子に印加する電圧源を追加する。 - 特許庁 - To provide a method for rapidly performing the scanning of a living sample by a laser scanning microscope in almost real time.
レーザ走査顕微鏡による生体試料の走査を迅速で準リアルタイム的に行なう。 - 特許庁 - FLUORESCENCE MICROSCOPE, MEASURING METHOD OF FLUORESCENT LIFETIME, AND MEASURING PROGRAM OF FLUORESCENT LIFETIME
蛍光顕微鏡及び蛍光寿命の測定方法、並びに蛍光寿命の測定用プログラム - 特許庁 - To make compensation possible for chromatic aberration without complicating the structure of a scanning laser microscope.
走査型レーザ顕微鏡の構成を複雑にすることなく色収差の補正を行えるようにする。 - 特許庁 - To provide a microscope system which raises operability of a stage upon observation-position alignment.
観察位置合わせ時のステージの操作性を高めることができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide an atomic force microscope for exciting a cantilever without vibrating a cantilever holder.
カンチレバーホルダーを振動させることなくカンチレバーを励振する原子間力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To reduce time required up to focusing in a focusing apparatus for focusing a microscope.
顕微鏡の焦点を合わせる合焦点装置で、合焦点までに要する時間を短縮する。 - 特許庁 - INTEGRATOR, LIGHTING SYSTEM HAVING THE SAME, AND MICROSCOPE APPARATUS HAVING THE LIGHTING SYSTEM
インテグレータ、このインテグレータを有する照明装置、及び、この照明装置を有する顕微鏡装置 - 特許庁 - FOCUSED ION BEAM PROCESSING METHOD, AND PREPARATION METHOD OF TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE SAMPLE USING IT
集束イオンビーム加工方法およびそれを用いた透過型電子顕微鏡試料の作製方法 - 特許庁 - The invention describes the method for electron diffraction tomography in a transmission electron microscope.
当該発明は、透過電子顕微鏡における電子回折断層撮影のための方法を記載する。 - 特許庁
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