「microscope」を含む例文一覧(8962)

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  • To provide a time-resolved fluorescence microscope having a high spatial resolution and high temporal resolution.
    高い空間分解能と高い時間分解能を有する時間分解蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To provide a laser microscope capable of obtaining a high S/N thereby performing a highly precose spectral detection.
    高いＳ／Ｎを得られ、精度の高い分光検出を行なうことができるレーザ顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To constitute an electron microscope that has a high resolution at a low acceleration voltage, without impressing large retarding or boosting voltage.
    リターディングやブースティングを大きくかけずに低加速でも分解能の高い電子顕微鏡を構成する。 - 特許庁
  • To estimate diameters of wet holes without observing the wet holes by a scanning type electron microscope.
    走査型電子顕微鏡でウェットホールを観察することなく、ウェットホール径を見積ることができるようにする。 - 特許庁
  • TUNING FORK AND METHOD FOR MANUFACTURING THE SAME, AND FOCUSING DEVICE, DISPLACEMENT SENSOR, AND CONFOCAL MICROSCOPE USING THE TUNING FORK
    音叉及びその製造方法、並びに音叉を用いた合焦装置、変位センサ、共焦点顕微鏡 - 特許庁
  • ARRANGEMENT FOR COMBINING RADIATION TO SCANNING HEAD IN MICROSCOPE WITH SCANNING UNIT, AND METHOD OF OPERATING THE SAME
    走査ユニット付き顕微鏡における放射を走査ヘッドに結合するための配置およびその操作方法 - 特許庁
  • To provide a microscope which is universally adjustable in length in a region between an objective lens and eyepiece lens.
    対物レンズと接眼レンズの間の領域で普遍的に長さ調節できる顕微鏡の提供。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope capable of increasing detection efficiency of secondary electrons in a simple constitution.
    簡単な構成で２次電子の検出効率を高めることができる走査電子顕微鏡を実現する。 - 特許庁
  • METHOD FOR PHOTOMASK DEFECT CORRECTION USING COMPOSITE APPARATUS OF CONVERGENCE ELECTRON BEAM DEVICE AND ATOMIC FORCE MICROSCOPE
    集束電子ビーム装置と原子間力顕微鏡との複合装置を用いたフォトマスク欠陥修正方法 - 特許庁
  • To provide a fluorescence microscope capable of acquiring sufficient light quantity, while eliminating the influence due to own fluorescence.
    自家蛍光の影響を排除しつつ十分な光量を取得し得る蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • The microscope includes at least one focusing means for focusing an object plane.
    顕微鏡は対象平面に焦点調節するための少なくとも１つの焦点調節手段を有する。 - 特許庁
  • TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE OBSERVATION SAMPLE PREPARING METHOD FOR SOLID PHASE REACTIVE SAMPLE AND CHARGED PARTICLE BEAM DEVICE
    固相反応試料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法および荷電粒子ビーム装置 - 特許庁
  • To easily and appropriately set a photographing condition at an observation point in a microscope device.
    顕微鏡装置において、観察ポイントにおける撮影条件を簡便かつ適切に設定可能とすること。 - 特許庁
  • To provide a scanning X-ray microscope of high resolution having reduced damage imparted to samples.
    試料に与えるダメージが小さく、高い分解能を有する走査型Ｘ線顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • To obtain high-accuracy analysis results when analyzing and processing a polymer using an atomic force microscope.
    原子間力顕微鏡を用いたポリマーの解析処理を行うとき、精度の高い解析結果を得る。 - 特許庁
  • To provide an electron microscope suitable for eliminating the breakage of samples caused by processing errors.
    本発明によれば、加工ミスによる試料の破損をなくするのに適した電子顕微鏡が提供される。 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE, CONTROL METHOD OF THE SAME, AND ELECTRON BEAM AXIS CONTROL METHOD
    走査電子顕微鏡及び走査電子顕微鏡の制御方法並びに電子ビームの軸調整方法 - 特許庁
  • SCANNING ELECTRON MICROSCOPE SYSTEM FOR DIMENSION MEASUREMENT, AND EVALUATION SYSTEM OF CIRCUIT PATTERN FEATURE AND METHOD THEREFOR
    寸法計測走査型電子顕微鏡システム並びに回路パターン形状の評価システム及びその方法 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope which can achieve the entire process from fine adjustment to review through complete automation.
    微調整からレビューまでを完全に自動化で行なえる走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • INFORMATION PROCESSOR, INFORMATION PROCESSING METHOD, PROGRAM, IMAGING DEVICE AND IMAGING DEVICE HAVING LIGHT MICROSCOPE
    情報処理装置、情報処理方法、プログラム、撮像装置、及び光学顕微鏡を搭載した撮像装置 - 特許庁
  • METHOD OF MANUFACTURING MEMBRANE SAMPLE FOR SCANNING TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE AND OBSERVATION METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE METHOD FOR MEMBRANE SAMPLE
    走査透過電子顕微鏡用薄膜状試料の作製方法および薄膜試料の観察方法 - 特許庁
  • SEMICONDUCTOR MEASURING INSTRUMENT AND SEMICONDUCTOR MEASURING METHOD, SAMPLE FABRICATING METHOD, AND SCANNING CAPACITANCE MICROSCOPE
    半導体測定装置及び半導体測定方法、サンプル作製方法、並びに走査型容量顕微鏡 - 特許庁
  • When the device is used as a photo-electron microscope, a positive acceleration voltage is applied to the lens barrel 2.
    光電子顕微鏡として用いられる場合、レンズ鏡筒２には正の加速電圧が印加される。 - 特許庁
  • Mass of a sensing pin at a distal end of the cantilever as the probe of the scanning probe microscope is increased.
    走査型プローブ顕微鏡のプローブである片持ちはり（カンチレバー）の先端触針の質量を大きくする。 - 特許庁
  • To provide a scanning electron microscope conducting highly precise three-dimensional analysis using low acceleration voltage.
    低加速電圧を用いた高精度な三次元解析を行える走査型電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • LASER SCANNING MICROSCOPE SYSTEM, SYSTEM CONTROL METHOD, AND CONTROL PROGRAM FOR MAKING COMPUTER EXECUTE SYSTEM CONTROL
    レーザ走査型顕微鏡システム、システム制御方法およびシステム制御をコンピュータに実行させる制御プログラム - 特許庁
  • PROBE OF SCANNING PROBE MICROSCOPE HAVING CHANNEL STRUCTURE OF FIELD EFFECT TRANSISTOR AND ITS MANUFACTURING METHOD
    電界効果トランジスタのチャンネル構造が形成されたスキャニングプローブマイクロスコープの探針及びその製作方法 - 特許庁
  • The sample hybridized with the probe on a chip is traced by the probe of an atomic force microscope to be detected.
    チップ上のプローブにハイブリダイズした試料を原子間力顕微鏡のプローブでトレースして検出する。 - 特許庁
  • A substrate including a plurality of defects is inspected by using an electron microscope device in the substrate inspection method.
    電子顕微鏡装置を用い複数の欠陥を含む基板を検査する基板検査方法である。 - 特許庁
  • METHOD FOR PROCESSING PROBE FOR USE IN SCANNING PROBE MICROSCOPE AND PROBE PROCESSED BY THE METHOD
    走査型プローブ顕微鏡に用いられるプローブの処理方法およびこの処理方法で処理されたプローブ - 特許庁
  • TIP-COATED NANOTUBE, TIP-COATED PROBE FOR SCANNING MICROSCOPE, PROCESSING EQUIPMENT AND METHOD USING THE SAME
    先端被覆ナノチューブ、走査型顕微鏡用先端被覆プローブ、これを用いた加工装置及び加工方法 - 特許庁
  • PHASE SHIFT METHOD AND DEVICE FOR REALIZING PHASE DIFFERENCE OBSERVATION OR MODULATION CONTRAST OBSERVATION IN MICROSCOPE
    顕微鏡で位相差観察または変調コントラスト観察を実現するための位相シフト方法および装置 - 特許庁
  • METHOD AND APPARATUS FOR ACQUIRING AND RECONSTRUCTING MAGNIFIED SPECIMEN IMAGES FROM COMPUTER-CONTROLLED MICROSCOPE
    コンピュータ制御の顕微鏡から試料の拡大イメージを取得し再構成するための方法および装置 - 特許庁
  • To accurately measure a high-aspect structure in a digital probing system AFM (atomic force microscope).
    ディジタルプロービング方式のＡＦＭ（原子間力顕微鏡）において、高アスペクト構造を高精度で測定する。 - 特許庁
  • To more simply and easily perform photographing by improving operability, in photographing a microscope image.
    顕微鏡画像撮影において、操作性を向上させて撮影をより簡便に行えるようにする。 - 特許庁
  • AUTOMATIC CCD CAMERA CHANGEOVER SYSTEM IN SCANNING ELECTRON MICROSCOPE WITH LASER DEFECT DETECTING FUNCTION
    レーザ欠陥検出機能を備えた走査型電子顕微鏡におけるＣＣＤカメラ自動切替方式 - 特許庁
  • Laboratory technicians must have the ability to use a microscope and enter data into a personal computer.
    実験技師は，顕微鏡使用ならびにパソコンへのデータ入力の能力を備えていなければならない。 - 英語論文検索例文集
  • a benign (not cancer) condition in which cells look abnormal under a microscope and are increased in number.
    顕微鏡で見ると細胞の外観が異常で、数が増殖している良性の（がんでない）病態。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • tissue removed from the body and examined under a microscope to determine whether disease is present.
    体から採取する組織で、疾患が存在するかどうかを調べるために顕微鏡下で検査する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • the lymph nodes are then examined under a microscope to see if cancer cells have spread to them.
    切除したリンパ節を顕微鏡で検査し、がん細胞がリンパ節に拡がっているかどうかを確認する。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • in stage ia, a very small amount of cancer that can only be seen with a microscope is found in the tissues of the cervix.
    ia期では、顕微鏡でしか見ることのできない微小ながんが子宮頸部の組織内に認められる。 - PDQ®がん用語辞書 英語版
  • TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL, AND SCANNING PROBE MICROSCOPE CONSTITUTED OF TRANSMITTER FOR DETECTED SIGNAL
    検出信号の伝送装置、該検出信号の伝送装置によって構成された走査型プローブ顕微鏡 - 特許庁
  • A superimposing device 34 superimposes the image of a nerve monitor 42 on a microscope observing field.
    重畳装置３４は、顕微鏡観察視野に神経モニタ４２の画像を重畳するための装置である。 - 特許庁
  • To provide a microscope in which stable focusing judgement can be performed regardless of surface condition of a test object.
    被検体の表面状態によらず安定した合焦判定を行える顕微鏡を提供する。 - 特許庁
  • The assembly 8 is provided with an interface 9 for connecting to an illumination/detection optical path 4 of the microscope.
    アッセンブリ（８）は顕微鏡の照明・検出光路（４）への接続のためのインターフェース（９）を有している。 - 特許庁
  • The specimen holder was vibrated by the mechanical instability of this microscope during the acquisition of TEM images.
    試料ホルダは、TEM像の取得中に、この顕微鏡の機械的不安定性によって振動させられた。 - 科学技術論文動詞集
  • The idea of holography was first introduced by Gabor to improve the resolution of the electron microscope.
    ホログラフィーの考えは、最初はGaborによって、電子顕微鏡の分解能を改善するために導入された。 - 科学技術論文動詞集
  • The disc is jet polished while it is held in the specimen holder of the microscope with a conducting paste.
    そのディスクは、導電性ペーストにより顕微鏡の試料ホルダの中に保持されながらジェット研磨される。 - 科学技術論文動詞集
  • Annular dark-field detectors are fitted in the microscope column above and below the omega filter.
    環状暗視野検出器が、その顕微鏡の鏡筒内に(且つオメガフィルタの上下に)はめ込まれている。 - 科学技術論文動詞集
  • The electron microscope transmission technique lends itself to studies of the effect of microstructure on magnetic properties.
    電子顕微鏡の透過技法は、磁性に対する微小構造の影響の研究に適している(役に立つ)。 - 科学技術論文動詞集
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