「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 85 86 87 88 89 90 91 92 93 .... 179 180 次へ＞- The optical diffractometer, much like the electron microscope, needs to be carefully aligned and calibrated.
光学回折計は電子顕微鏡とほぼ同じように、注意深く調節および較正される必要がある。 - 科学技術論文動詞集 - Electron-microscope specimens thinner than 10 nm and of low atomic number behave as weak-phase objects.
10nmより薄く低い原子番号から成る電子顕微鏡の試料は、弱位相物体として振る舞う。 - 科学技術論文動詞集 - The crossover acts as an effective electron source for the electron optical system of the electron microscope.
クロスオーバは、電子顕微鏡の電子光学系に対して事実上の電子光源として働く(作用する)。 - 科学技術論文動詞集 - The microscope apparatus 1 in a typical embodiment form is equipped with a microscope system 2 having a constituent element 5 to indicate at least one address, a control system 6 having two or more control modules 7, 8, 9 acting on two or more test atmosphere parameters in a test chamber 4 of the microscope system 2.
典型的な実施形態による顕微鏡装置１は、少なくとも一つのアドレス指定可能な構成要素５を有する顕微鏡システム２と、顕微鏡システム２の試験室４における複数の試験環境パラメータに作用する複数の制御モジュール７、８、９を有する制御システム６とを備える。 - 特許庁 - To provide a fluorescence microscope equipped with a light shielding member covering the whole or a part of the fluorescence microscope so that external light can not be made incident on a sample, and improved to save time and labor in operation required when the microscope is switched from bright field observation by a light source for bright field transmissive illumination to fluorescence observation by a light source for fluorescence vertical illumination.
試料に外光が入射しないように蛍光顕微鏡の全体又は一部を覆う遮光部材を備えた蛍光顕微鏡において、明視野透過照明用光源による明視野観察から蛍光落射用光源による蛍光観察に切り替える際に必要な操作の手間を省く。 - 特許庁 - The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - The IR imaging microscope of a type used for implementing FT-IR measurement in particular is provided with an assembly (40) movable into a beam propagated to a microscope detector (32) or to the outer side thereof in order to change the magnifying power provided by the optical element of the microscope.
特にＦＴ−ＩＲ計測を実施するために使用されるタイプの赤外線イメージングマイクロスコープは、前記マイクロスコープの光学エレメントによって提供される拡大率を変化させるため、マイクロスコープ検出器（３２）へ伝播するビーム内またはその外側へ移動され得るアセンブリ（４０）が設けられている。 - 特許庁 - This microscopic optical analysis system 1 has: the optical microscope 13 for enlarging and observing a sample; an infrared spectroscopic analysis part 20 for performing infrared spectroscopic analysis on an observation field of the optical microscope 13 as an optical analysis part; and an illumination mechanism 28 for illuminating the observation field in the optical microscope 13.
顕微光学分析システム１は、試料を拡大観察するための光学顕微鏡１３と、光学顕微鏡１３の観察視野上にて赤外分光分析を行う、光学分析部としての赤外分光分析部２０と、光学顕微鏡内にて観察視野を照らし出すための照明機構２８とを有する。 - 特許庁 - To provide a microscopic observing apparatus capable of easily and accurately positioning a probe microscope at a desired observation position when macro observation is switched to micro observation by using the probe microscope which has an optical system of relatively high power and an auxiliary microscope having an optical system of low power.
相対的に高倍率の光学系を有するプローブ型顕微鏡と低倍率の光学系を有する補助顕微鏡とを用いてマクロ観察からミクロ観察に切り替える際に、所望の観察位置にプローブ型顕微鏡を容易かつ正確に位置決めすることができる顕微鏡観察装置の提供を課題とする。 - 特許庁 - An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.
光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁 - As a result, the inspection time (tact time) with the atomic force microscope is greatly shortened by using a small region corresponding to a half or less of a scanning measurement region with a magnetic probe of a cantilever unit of the magnetic force microscope as a scanning measurement region of a recording section surface of the magnetic head using the atomic force microscope.
すなわち、磁気力顕微鏡のカンチレバー手段の磁性探針によるスキャン測定領域の半分以下の小さな領域を原子間力顕微鏡を用いた磁気ヘッドの記録部表面のスキャン測定領域として、原子間力顕微鏡による検査時間（タクトタイム）を大幅に短縮化できるようにした。 - 特許庁 - The electron microscope is equipped with a sample stage capable of slanting a sample, a camera photographing an electron microscope image of the sample, a monitor displaying an electron microscope image of the sample, and an area means calculating a sharp image area depending on the slanting angle of the sample, and the sharp image area is displayed on the monitor.
本発明によると、電子顕微鏡は、試料を傾斜させる試料ステージと、試料の電子顕微鏡像を撮影するカメラと、試料の電子顕微鏡像を表示するモニタと、試料の傾斜角に基づいてボケがない領域を計算する領域手段と、を有し、上記モニタに上記ボケがない領域を表示する。 - 特許庁 - One end part of a light guide OF is provided with a light shielding member 26, which can be connected to a microscope body for observing an observation object and intercepts an optical path of the light guide OF when the connecting state between the light guide OF for guiding illuminating light of a light source to the microscope body and the microscope body is released.
観察対象物を観察する顕微鏡本体に接続可能であり、光源の照明光を顕微鏡本体に導くライトガイドＯＦと顕微鏡本体との接続状態が解除されたとき、ライトガイドＯＦの光路を遮断する遮光部材２６をライトガイドＯＦの一端部に設けた。 - 特許庁 - The apparatus has a microscope 70, a time-resolving spectroscope unit 80, a first light guide means 91 which guides the light from the time-resolving spectroscope unit 80 into the inside of the microscope 70, and a second light guide means 92 which guides the light from the microscope 70 into the inside of the time-resolving spectroscope unit 80.
顕微鏡７０と、時間分解分光ユニット８０を有し、更に、時間分解分光ユニット８０からの光を顕微鏡７０の内部に導く第１導光手段９１と、顕微鏡７０からの光を時間分解分光ユニット８０の内部に導く第２導光手段９２を有する。 - 特許庁 - To provide immersion oil for a microscope whose fluorescence producing amount by the excitation of ultraviolet rays is small, which exerts an adverse influence on environment and the human body extremely little, which has other excellent characteristics required for the immersion oil for the microscope such as a refractive index, an Abbe number, viscosity and resolving power, and especially which is suitable for a fluorescence microscope.
紫外線励起による蛍光発生量が小さく、また、環境や人体への悪影響が極めて少なく、しかも屈折率、アッベ数、粘度、解像力など顕微鏡用液浸油に要求される他の諸特性も良好であり、特に蛍光顕微鏡用として好適な顕微鏡用液浸油を提供すること。 - 特許庁 - The confocal microscope is constituted of at least a microscope and a Nipkow disk system confocal scanner so as to perform the observation of a sample by a confocal image, and has a laser beam output means connected to the microscope and outputting a laser beam to stimulate the sample.
少なくとも顕微鏡とニポウディスク方式の共焦点スキャナから構成され、共焦点画像により試料の観察を行う共焦点顕微鏡において、 前記顕微鏡に接続され、前記試料に刺激を与えるレーザ光を出力するレーザ光出力手段を有することを特徴とする共焦点顕微鏡。 - 特許庁 - In the confocal microscope constituted by attaching a confocal scanner to an optical microscope so that the image of a sample can be acquired as a confocal image by the confocal scanner, a surface tension control type variable focus lens having no movable part is used as the field lens of the microscope.
光学顕微鏡に共焦点スキャナが取付けられ、この共焦点スキャナにより試料の像を共焦点画像として取得することができるように構成された共焦点顕微鏡において、可動部のない表面張力制御型の可変焦点レンズを顕微鏡のフィールドレンズとして用いる。 - 特許庁 - To provide a surgical microscope supporting device wherein a coarse movement of a surgical microscope to a retracting position or a position where a primary lens can be used can be performed without requiring big driving energy and the surgical microscope can be moved back accurately and quickly to an observation position of a surgery region after the coarse movement.
大きな駆動エネルギーを必要とせずに手術用顕微鏡を退避位置或いは前置レンズが使用できる位置まで粗動できると共に、粗動後に手術用顕微鏡を手術部位の観察位置まで正確且つ迅速に戻すことができる手術用顕微鏡支持装置を提供すること。 - 特許庁 - The microscope 20 is characterized in that a preparation illuminating means 35 for illuminating at least a specimen area 51 of the preparation 50 is disposed on the base 29 of the body part 21 of the microscope 20, and that light from a transmitting illumination light source 26 of the microscope is used as light for illuminating the preparation illuminating means 35.
顕微鏡２０の本体部分２１のベース部２９にプレパラート５０の少なくとも標本領域５１を照明するプレパラート照明手段３５を配置し、このプレパラート照明手段３５を照明する光として顕微鏡２０の透過照明用光源２６からの光を使用可能なことを特徴とする顕微鏡２０。 - 特許庁 - The microscope system 10 includes; a microscope body 21; an input and output means 60 which is provided in the microscope body and contactlessly executes the input and output of information to a non-contact storage medium 53 which is installed in a sample holder 50 placed on a stage 25; and display means 31 and 41 which display the information.
顕微鏡本体２１と、前記顕微鏡本体に設けられ、ステージ２５に載置される標本ホルダ５０に設置された非接触記憶媒体５３へ情報の入出力を非接触で行う入出力手段６０と、前記情報を表示する表示手段３１、４１とを具備する顕微鏡システム１０。 - 特許庁 - As another execution example, the Z-axis displacement offset amount may be stored and offset whenever this scanning probe microscope is operated, or a Z-axis displacement offset amount which is inherent in the scanning probe microscope is maintained in advance, and the Z-axis displacement offset amount which is inherent may be offset when the scanning probe microscope is operated.
他の実施例として、走査型プローブ顕微鏡を使用する度毎に、前記のＺ軸変位オフセット量の蓄積と相殺を行うようにしても良いし、予め装置固有のＺ軸変位オフセット量を保持しておき、走査型プローブ顕微鏡を使用する時に該固有のＺ軸変位オフセット量を相殺するようにしても良い。 - 特許庁 - The surgical microscope regulating an observation optical path where a beam splitter is disposed is the microscope of a system where the optical path of a camera is regulated by the beam splitter and the camera is disposed in the optical path of the camera.
ビームスプリッタが配設される観察光路を規定する手術用顕微鏡であって、該ビームスプリッタによってカメラ光路が規定され、かつ該カメラ光路にカメラが配設される形式の手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - At least one partition 32 out of the partitions 31 to 33 is held in the optical path so that it can move between an insertion position where it is arranged in the optical path of the microscope and a retreat position where it is retreated from the optical path of the microscope.
光路隔壁の少なくとも一部（３２）は、顕微鏡の光路中に配置される挿入位置と、顕微鏡光路から退避した退避位置との間で移動可能に光路内に保持されている。 - 特許庁 - Further, a focal depth type microscope 18 is arranged to the hollow part 25 toward the second roller 17 an the image projected on the focal depth type microscope 18 is taken by a camera and outputted to an output device.
また、中空部２５に第２のローラ１７に向けて焦点深度式顕微鏡１８を設置し、焦点深度式顕微鏡１８に映される像をカメラで写し、その像を出力装置により出力できるようにする。 - 特許庁 - To provide a simpler and easy-to-use method for adjustment of an aberration correction apparatus in a scanning transmission electron microscope with built-in aberration correction apparatus, and to provide a scanning transmission electron microscope with such a functionality.
収差補正器を搭載した走査透過電子顕微鏡において、従来よりも簡便で取り扱いやすい収差補正器の調整方法、および当該機能を備えた走査透過電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The water developable photosensitive flexographic printing plate has a phase structure having ≥3 distinguishable phases when a section of the plate is observed with a horizontal force (frictional force) microscope as a kind of scanning type probe microscope.
走査型プローブ顕微鏡の一種である水平力(摩擦力)顕微鏡で断面を観察した場合、識別可能な相が三相以上ある相構造を特徴とする水現像型感光性フレキソ印刷版。 - 特許庁 - To provide a thin layer oblique illumination method capable of detecting substances and molecules with high sensitivity by use of light and observing these with a low background and high sensitivity with an optical microscope by using an optical system equivalent to that of a microscope.
顕微鏡と同等の光学系を用いて光を使って物質や分子の高感度検出と光学顕微鏡における低背景・高感度観察が可能な薄層斜光照明法を提供する。 - 特許庁 - A controller 303 recognizes on which port of the microscope 101 a camera head 200 is mounted, based on the image data photographed by the camera head 200, before and after designating the change of the setting of the microscope 101.
制御装置３０３は、顕微鏡１０１の設定変更を指示する前後にカメラヘッド２００で撮像した画像データに基づいて、カメラヘッド２００が顕微鏡１０１のいずれのポートにマウントされているかを認識する。 - 特許庁 - To provide an objective lens for a microscope, a microscope using the same and its using method by which a sample being a specimen equipped with a protection transparent member having thickness within a specified range can be excellently and easily observed.
所定範囲の厚さを有する保護用透明部材を備えた標本の試料を良好且つ簡易に観察できる顕微鏡用対物レンズ、それを用いた顕微鏡及びその使用方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope suspending device using a coil spring for use in dental diagnosis and treatment or the like, restraining descending of a microscope within a fixed range not to collide with a patient.
コイルバネを使用した歯科等の診察及び治療に用いられる顕微鏡懸垂装置であって、たとえコイルバネが破断したときでも、顕微鏡の降下を一定の範囲に抑えて、患者に衝突しないものを提供する。 - 特許庁 - The deposit removing device 30, further, supplies the preparation 100 to a microscope 60 via an opening 39B provided in the casing 36 and is connected to a microscope casing 61 without gaps.
さらに付着物除去装置３０は、付着物除去装置筐体３６に設けられ顕微鏡筐体６１と隙間無く連結された開口３９Ｂを介してプレパラート１００を顕微鏡６０へ供給する。 - 特許庁 - To provide an optical system for observation in which a microscope and a telescope are easily switched, and which avoids upsizing while keeping sufficient NA as the microscope and securing an adequate aperture as the telescope.
顕微鏡と望遠鏡を簡単に切り替えられ、かつ顕微鏡としては充分なＮＡを有し、望遠鏡としては充分な口径を確保しつつ大型化を回避できる観察用光学系を提供する。 - 特許庁 - To highly accurately prevent a table of a sample stage used for an optical microscope and an electron microscope from inclining when the table of the sample stage is moved to a predetermined position in micron order.
光学顕微鏡や電子顕微鏡に使用される試料ステージのテーブルを所定位置にミクロン単位で移動させた際、テーブルが傾斜してしまうことを精度高く抑制することができるようにすることにある。 - 特許庁 - To provide a microscope system that saves energy by detecting whether a user is carrying out observation with a microscope or not, controlling the brightness of a monitor according to the detection result, and suppressing power consumption.
使用者が顕微鏡観察を行っているか否かを検知し、検知結果に応じてモニタの明るさを制御して電力の消費を抑制し、省エネルギーに寄与することができる顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - This surgical observation system has a surgical microscope 1 for observing a portion A to be operated on, and an ultrasonic probe 37 differing from the surgical microscope 1 in at least either one of observing direction or method.
手術用観察システムは、手術部位Ａの観察を行う手術用顕微鏡１と、この手術用顕微鏡１と観察方向と観察方法との少なくとも一方が異なる超音波プローブ３７と、を有する。 - 特許庁 - To provide an objective lens by which a microscope main body can be miniaturized and simplified and which has high precision, hardly generates insufficiency of marginal light quantity and can change a focus position and to provide an automatic focusing microscope using the same.
顕微鏡本体を小型化かつ簡易化でき、精度が高く、周辺光量不足をおこしにくくい焦点位置を変化可能な対物レンズ、及びそれを用いた自動合焦顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The scanning probe microscope 100 contains a XY stage 110 on which a sample 108 is mounted, a SPM unit 120 for obtaining the SPM image, and a light microscope unit 130 for obtaining the light microscopic image.
走査型プローブ顕微鏡１００は、試料１０８が載置されるＸＹステージ１１０と、ＳＰＭ像を得るためのＳＰＭユニット１２０と、光学顕微鏡像を得るための光学顕微鏡ユニット１３０とを有している。 - 特許庁 - The scanning electron microscope is provided with a charge collecting unit to arrest a charge generated in the sample by electron beams irradiated by the scanning electron microscope, and a cost for inspecting the sample can be reduced and a high quality image can be provided.
走査電子顕微鏡から照射される電子ビームによって試料に発生する電荷を捕集する電荷捕集部を備えることによって、試料検査へのコストを低減し、かつ、高品質の映像を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning type optical microscope which can have its confocal pinhole position easily aligned with the optical axis of the light from a sample and a confocal pinhole adjusting method for the scanning type optical microscope.
共焦点ピンホール位置を簡単に標本からの光の光軸に一致させることが可能な走査型光学顕微鏡および該走査型光学顕微鏡の共焦点ピンホール調整方法を提供する。 - 特許庁 - It is proposed that at least one optical element in the first microscope (2R) has a different optically effective diameter compared to at least one corresponding optical element in the second microscope (2L).
第１の顕微鏡（２Ｒ）における少なくとも１つの光学素子は、第２の顕微鏡（２Ｌ）における少なくとも１つの対応する光学素子に比べて、異なる光学的有効径を有することが提案される。 - 特許庁 - It is detected whether or not the microscope head part 21 is attached to the microscope stand part 22 through connectors 32 and 50 and it is detected whether or not the sample 15 is placed on the stage 43 by an optical sensor 44.
また、コネクタ３２および５０を介して、顕微鏡ヘッド部２１が顕微鏡スタンド部２２に装着されているか否かが検出され、光センサ４４により、ステージ４３に試料１５が載置されたか否かが検出される。 - 特許庁 - To provide an electric stage monitoring system for microscope, which detects whether or not an electric stage for microscope is transferred by an action from the outside and when presence/absence of the transfer is detected, informs a host of the effect.
本発明では、外部からの作用により顕微鏡用電動ステージが移動したか否かを検知し、この移動の有無を検知した場合、ホストにその旨を通知する顕微鏡用電動ステージ監視システムを提供する。 - 特許庁 - Provided is the optical microscope where an infrared-visible conversion part is arranged at a conjugate position to a sample surface in a microscope equipped with an objective, an eyepiece and an infrared light source.
本発明の上記課題は対物レンズと接眼レンズと赤外光源を備えた顕微鏡において、標本面と共役位置に赤外可視変換部が配置されることを特徴とする光学顕微鏡によって解決される。 - 特許庁 - At least one of the setting elements (6) of the microscope (2) is effectively connected to the camera (1) and the specified picture mode of the camera (1) can be set in accordance with correction of microscope settings.
顕微鏡（２）の設定素子（６）の少なくとも１つがカメラ（１）に効果的に接続され、カメラ（１）の特定の画像モードが顕微鏡設定の修正に応じて設定可能であるようになっていることが提案される。 - 特許庁 - To separate an exciting light path from a detection light path without causing aberration, and without deteriorating resolution in a point scanning laser scanning microscope, that is the microscope having an element for separating irradiation light from detection light.
スポット走査式レーザ走査型顕微鏡、すなわち照射光と検出光を分離するためのエレメントを持つ同顕微鏡において、解像度を下げることなく、励起光路と検出光路を無収差で分離すること。 - 特許庁 - To facilitate interpretation of electron microscope images obtained through alleviation of works by utilizing calculation on selection of conditions such as defocusing volumes or an objective lens aperture in a transmission electron microscope observation.
透過型電子顕微鏡観察における対物レンズのデフォーカス量及び対物絞りの選定といった条件選定を、計算を利用することで作業を軽減し、得られた電子顕微鏡像の解釈を容易にする。 - 特許庁 - To establish a method for analyzing materials in a microcapsule by a transmission electron microscope by manufacturing a sample for observation capable of observation by a transmission electron microscope from a sample containing the microcapsule.
マイクロカプセルを含む試料から、透過型電子顕微鏡による観察が可能な観察用試料を作製することにより、マイクロカプセル内の材料を透過型電子顕微鏡により解析する方法を確立すること。 - 特許庁 - In the case that the digital camera 31 is used at a C mount section 33 of the microscope 32, the digital camera 31 is mounted to the C mount section 33 of the microscope 32 via a C mount adaptor 21 and an optical adaptor 1.
ディジタルカメラ３１を顕微鏡３２のＣマウント部３３側で使用するような場合には、Ｃマウントアダプタ２１及び光学アダプタ１を介してディジタルカメラ３１を顕微鏡３２のＣマウント部３３に取り付ける。 - 特許庁 - The microscope control head comprises a head main body having a ball storage part and a posture controlling mechanism; a grip handle arranged and projected in the head main body; and a control lever for the posture controlling mechanism; and a direct-view-type microscope mirror body.
顕微操作ヘッドは、ボール収納部及び姿勢制御機構を有するヘッド本体、ヘッド本体に突設されるグリップハンドル、姿勢制御機構の操作レバー及び直視型顕微鏡鏡体を有している。 - 特許庁 - In the case of using the digital camera 31 on the side of the C mount part 33 of the microscope 32, the camera 31 is attached to the C mount part 33 of the microscope 32 through a C mount adapter 21 and an optical adapter 1.
ディジタルカメラ３１を顕微鏡３２のＣマウント部３３側で使用するような場合には、Ｃマウントアダプタ２１及び光学アダプタ１を介してディジタルカメラ３１を顕微鏡３２のＣマウント部３３に取り付ける。 - 特許庁
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