「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 92 93 94 95 96 97 98 99 100 .... 179 180 次へ＞- This fluorescence detector 1 is provided with a microscope 10, an excitation light source 20, a detecting part 30, a processing part 40, and the like.
蛍光検出装置１は、顕微鏡１０、励起光源２０、検出部３０および処理部４０等を備える。 - 特許庁 - NEAR FIELD LIGHT GENERATION EQUIPMENT, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE USING THE SAME, OPTICAL RECORDING AND REPRODUCING DEVICE, AND SENSOR
近接場光発生器およびそれを用いた近接場光学顕微鏡および光記録／再生装置およびセンサ - 特許庁 - A setting region recording section 81 records the display prohibition region of the superimposition image in the microscope observing field.
設定領域記録部８１は、顕微鏡観察視野内における重畳画像の表示禁止領域を記録する。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of improving the visibility of a sample when the position of the sample is visually confirmed.
試料の位置を目視で確認する際の試料の視認性を向上させることのできる顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - Left and right photographing optical systems of this video type stereoscopic microscope comprise object optical systems 210, 220, 230 and relay optical systems 240, 250.
左右の撮影光学系は、対物光学系２１０，２２０，２３０と、リレー光学系２４０，２５０とから、構成されている。 - 特許庁 - To provide a display device which suppresses a flicker of a displayed figure and characters, and a microscope device having the same.
表示された図や文字のちらつきを抑制した表示装置と、これを有する顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To reduce the decrease of a driving amplitude of a piezoelectric element when driving the piezoelectric element provided in a microscope at a high speed.
顕微鏡に設けられたピエゾ素子を高速駆動する場合に、ピエゾ素子の駆動振幅の減少を低減させる。 - 特許庁 - The branched lines created by the dichroic mirror 135 and the prism 202 pass through the inside of a microscope body 101.
ダイクロイックミラー１３５とプリズム２０２によって作り出された分岐光路は顕微鏡本体１０１の内部を通っている。 - 特許庁 - To provide an electronic camera for a microscope which occupies so small a space, is constituted of components at a reasonable cost, and can obtain a digital photograph with ease.
省スペースで安価な構成であり、簡単にデジタル写真の撮れる顕微鏡用電子カメラを提供すること。 - 特許庁 - To provide a method for manufacturing a high performance probe for a near-field microscope easily manufactured and having high shape repeatability.
高性能であり、製作し易く、形状再現性の良い近視野顕微鏡用プローブの製造方法を提供する。 - 特許庁 - The laser light source of the 1st microscope 21A is placed in operation and a reflected light image and an OBIC image are displayed one over the other.
第１マイクロスコープ２１Ａのレーザ光源を作動させ、反射光像とＯＢＩＣ像を重畳して表示する。 - 特許庁 - To provide an operation device achieving higher efficiency in operation for moving a stage or an objective, a microscope and a stage device.
ステージ又は対物レンズを移動させる操作の効率化を図った操作装置、顕微鏡、ステージ装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a focus detector for a microscope constituted so that the efficiency of automatic focusing is enhanced at the time of vertical fluorescence observation.
落射蛍光観察におけるオートフォーカスの効率が向上する顕微鏡用焦点検出装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an infrared microscope which can be used in the most suitable state with a simple optical system in both a transmission mode and a reflection mode.
簡単な光学系で、透過・反射両モードとも最適の状態で使用できる赤外顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The aerial wiring of the metal deposited film, which becomes unnecessary after correction, is removed by ion beam etching or AFM (atomic force microscope) scratch processing.
修正後不要となった金属デポジション膜空中配線をイオンビームエッチングまたはAFMスクラッチ加工で除去する。 - 特許庁 - To provide a super-resolution microscope capable of always stably demonstrating a super-resolution effect with a simple and inexpensive constitution.
簡単かつ安価な構成で、常に安定して超解像効果を発現できる超解像顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning laser microscope capable of measuring height information inexpensively and highly precisely at a high speed.
安価で高精度且つ高速に高さ情報を測定可能な走査型レーザ顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - The microscope 11 further includes a diaphragm 42 for passing excitation light through a conjugate position with the observation camera 29.
また、顕微鏡１１には、観察カメラ２９と共役な位置に励起光を通過させる絞り４２が設けられている。 - 特許庁 - The sample-holding part 3 has a region 1 to be observed having a sample for observing an electron microscope mounted on the top part thereof.
試料保持部３は、頂部に電子顕微鏡観察用の試料を搭載する観察対象領域１を有する。 - 特許庁 - To provide an autofocus device for a microscope capable of bringing an object into focus even when a tilted object is moved at high speed.
傾いた物体を高速で移動させても合焦させることが可能な顕微鏡のオートフォーカス装置を提供する。 - 特許庁 - The resin molding surface 3 has <0.2 [nm] surface roughness Ra measured by an atomic force microscope (AFM).
樹脂成形面３の表面粗さＲａは、原子間顕微鏡（ＡＦＭ）で測定した場合に、０．２［ｎｍ］未満となっている。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of easily shifting a focal point without changing a distance between an objective lens and a sample.
対物レンズと試料の距離を変えることなく焦点移動を簡単に行なうことができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope device capable of being smoothly switched from a visible light optical system to an ultraviolet ray optical system.
可視光光学系と紫外光光学系の切換えを円滑に行なうことができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of suppressing the occurrence of defocusing due to influences of a change in ambient temperature and vibration, etc.
周囲温度の変化や振動等の影響による合焦ずれの発生が抑えられた顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - The confocal microscope by a monochromatic light source measures the height shape of the object without scanning in an axial direction.
軸方向の走査なしに物体の高さ形状を計測する単色光源による共焦点顕微鏡を作成した。 - 特許庁 - The operating microscope 100 further includes an OCT system 120 for examining an object's region.
本発明によると、手術用顕微鏡１００は物体領域を検査するためのＯＣＴシステム１２０を含んでいる。 - 特許庁 - To provide a controller and a microscope, excellently observing the image of a sample imaged by a camera.
カメラによって撮像した試料の画像を良好に観察することができる制御装置、顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope, including the mechanism that straightens and efficiently exhausts an inlet gas.
本発明の目的は、導入ガスを整流し効率よく排気する機構を備えた走査電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope apparatus obtaining stable quantity of detected focused light without affecting an observed image adversely.
観察像への悪影響がなく、安定した検焦光量を得ることができる共焦点顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To prevent photographing of a useless observation image when a sample is observed using a microscope.
顕微鏡を利用して標本を観察する場合に、無駄な観察画像が撮影されてしまうことを防止できるようにする。 - 特許庁 - To avoid collision between an objective lens and a stage, in a microscope system having a general object lens and stage.
一般的な対物レンズ及びステージを備えた顕微鏡システムにおいて、対物レンズとステージとの衝突を回避すること。 - 特許庁 - To provide a high resolution microscope using terahertz waves without requiring introduction of a fluorescence marker into a sample.
試料に蛍光マーカを導入する必要がなく、高い分解能を有するテラヘルツ波を用いた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of measuring a three-dimensional shape with no limitation on shape.
形状の制約なしに３次元の立体形状を測定することが可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of improving focusing accuracy and also accelerating processing speed of acquiring an image of an observation body.
合焦精度を向上させ、且つ、観察体の画像の取得処理速度を向上可能な顕微鏡システムの提供。 - 特許庁 - To provide a microscope system capable of surely measuring the movement of a sample in a long-term observation analysis.
長時間観察解析において標本の動きを確実に測定することが可能な顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - A microscope controller 13 has a touch panel 27 and a CPU (Central Processing Unit) 21 including first and second recognition units 21a and 21b.
顕微鏡コントローラ１３は、第１及び第２の認識部２１ａ、２１ｂを含むＣＰＵ２１とタッチパネル２７を有する。 - 特許庁 - To introduce four-probe type probe having a new constitution capable of measuring an electric conductivity into an atomic force microscope.
原子間力顕微鏡に、電気伝導率を計測できる新しい構成の４探針のプローブを導入すること。 - 特許庁 - To provide a compound microscope capable of simultaneously observing the same part of the same sample by different methods.
同一の試料の同一部分を、同時に異なる方法によって観察することが可能な複合顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - This device can be applied to an optical system for detecting the three-dimensional position of the particle under observation by the microscope.
本発明は、顕微鏡観察下における微粒子３次元位置を検出する光学系に適用することができる。 - 特許庁 - To provide an autofocus mechanism which shortens the time required for autofocus operation and a microscope equipped with the mechanism.
オートフォーカス動作に要する時間の短縮化を図ったオートフォーカス機構、および該機構を備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope which is simple and inexpensive in constitution and has a high-velocity focus detecting function.
構成が簡単で且つ安価であり、高速の焦点検出機能を備えた共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - TEM SAMPLE WITH IDENTIFICATION FUNCTION, TEM SAMPLE-PROCESSING FOCUSED ION BEAM DEVICE AND TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE
識別機能を備えたＴＥＭ試料及びＴＥＭ試料加工用集束イオンビーム装置並びに透過型電子顕微鏡 - 特許庁 - Microscope objective lens carries out color compensation at a wavelength of 2λ_1 which is about twice a wavelength λ_1 in a UV region.
紫外域の波長λ_１に対してほぼ２倍の２λ_１の波長に対して色補正された顕微鏡対物レンズ。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus for semiconductor wafer inspection that can precisely inspect edge, rear, and bevel sections.
エッジ部、裏面部、およびベベル部について精巧な検査を実行できる半導体検査用顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope capable of preventing brightness of an image from being changed even when autofocusing is operated.
オートフォーカスを動作させても、画像の明るさが変化することがない透過電子顕微鏡を提供することにある。 - 特許庁 - To provide an optical path splitting element capable of easily changing the positions of separated images and a microscope having the same.
分離した画像の位置を容易に変更可能な光路分割光学素子とこれを備えた顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - Thus, the microscope system 1 can complete the replacement process for the slide glass SG in an extremely short time.
これにより顕微鏡システム１は、スライドガラスＳＧの交換処理を極めて短い時間で完了することができる。 - 特許庁 - To prevent the same nonmetallic inclusion from being doubly measured in different microscope visual fields coust by play of a stage driving system.
ステージ駆動系の遊びにより、同じ非金属介在物が、異なる顕微鏡視野で重複して測定されるのを防ぐ。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope arranging first and second deflection elements nearby and reducing a total size.
第１及び第２の偏向素子を近づけて配置することができ、全体を小型化した走査型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - METHOD AND APPARATUS FOR EVALUATING OPTICAL FIBER PROBE, NEAR-FIELD OPTICAL MICROSCOPE AND NEAR-FIELD OPTICAL PROCESSING APPARATUS
光ファイバープローブ評価方法、光ファイバープローブ評価装置、近接場光学顕微鏡、及び近接場光加工装置 - 特許庁
- 特許庁
- Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved.
