「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 141 142 143 144 145 146 147 148 149 .... 179 180 次へ＞- This photoemission electron microscope is equipped with an ion source or an electron beam source for marking by irradiating a focused ion beam or an electron beam to a part close to an observation portion on the sample surface.
収束イオンビームまたは電子ビームを試料表面の観察部位の直近に照射してマーキングするためのイオン源または電子線源を備えたことを特徴とする光電子顕微鏡。 - 特許庁 - To provide a method for simply and correctly quantifying and evaluating the excystation capability of an oocyst as a method for evaluating the growth activity of a protozoan oocyst without relying on microscope observation.
原虫オーシストの生育活性を評価する方法として、オーシストの脱嚢性を、顕微鏡観察によることなく簡便かつ正確に定量・評価するための方法を提供するものである。 - 特許庁 - The structure of a gate type supporting member having an integral rigid body is formed of a front-side support leg 22, a rear-side support leg 24 and a horizontal member 25, and the gate-type structure is fixed on an inverted microscope body 1.
前側支持脚２２、後側支持脚２４及び水平部材２５により一体的な剛体を持つ門型支持部材の構造を成し、この門型構造を倒立顕微鏡本体１上に固定する。 - 特許庁 - The method for measuring with a scanning electrostatic capacity microscope comprises the steps of exposing the sections of a silicon substrate 101, a wall region 102 and a diffused region 103, forming an insulating film 105 on the exposed surface, and forming the sample 10 formed with a contact electrode 104 on a rear surface of the substrate.
シリコン基板101 、ウエル領域102 および拡散領域103 の断面を露呈させ、その露呈表面に絶縁膜105 を形成し、基板裏面にコンタクト電極104 を形成した試料10を作成する。 - 特許庁 - To provide an objective lens, whose service life is prolonged by suppressing photochemical reaction which is caused when microscope inspection and observation are performed by having deep ultraviolet-rays as a light source and preventing the deterioration in the optical performance.
深紫外光を光源として顕微鏡検査・観察を行うときに起きる光化学反応を抑制して光学性能の低下を防止し、製品寿命の長い対物レンズを提供する。 - 特許庁 - To provide a method for controlling the quality of surface recesses and projections that are not affected by factors other than projections by a scanning probe microscope for a sample where the projections with a specific size are formed on the surface.
特定サイズの突起が表面に形成された試料について、走査型プローブ顕微鏡により、突起以外の因子によって影響されない表面凹凸の品質管理方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide an optical element switching device for a microscope capable of satisfactorily performing various types of observation including dark field observation, and also, which is obtained at low cost by eliminating the duplication of optical elements.
暗視野観察を含めた各種観察を良好に行なうことができ、しかも、光学素子の重複を無くして価格的にも安価にできる顕微鏡の光学素子切換装置を提供する。 - 特許庁 - This microscope system 100 is constituted to sense the individual photons of a detected light beam 17 each as one event 50, and to provide an output signal in the form of a characteristic function 52.
顕微鏡システム（１００）は、検出された光ビーム（１７）の個々のフォトンを各々一つの事象（５０）として知覚し、それから特性関数（５２）の形式に出力信号を提供するように、構成される。 - 特許庁 - To provide a process of reviewing failure using electronic microscope and to provide a failure reviewing device which can reduce a man-hour of user required for setting automatic focus by electron beam and to facilitate the observation of a sample.
電子顕微鏡を用いた欠陥のレビュー方法、および欠陥のレビュー装置において、電子ビームの自動焦点合わせの設定に要するユーザの工数を低減し、試料の観察を容易化する。 - 特許庁 - To accurately observe a surface of a signal recording tape by a microscope, in the state that cupping of the signal recording tape in a breadthwise direction is suppressed without requiring the cut-off of the signal recording tape.
信号記録用テープを切断する必要なく信号記録用テープの幅方向のカッピングを抑制した状態で顕微鏡によって信号記録用テープ表面を高精度に観察する。 - 特許庁 - Accordingly, in the case of for example, the TIS measurement of the alignment microscope, it is not necessary to conduct a complicated work of removing the substrate rotating the substrate and then to re-mount the substrate on the holder.
従って、例えば、アライメント顕微鏡のＴＩＳ計測に際して、基板を取り外し、基板を回転させた後基板ホルダ上へ再度載置するという面倒な作業を行う必要がなくなる。 - 特許庁 - To provide a method and a device for controlling and monitoring a position of a holding element which is provided to hold a sample to be examined, in particular by a beam device such as an electron microscope.
とくには電子顕微鏡などのビーム装置によって検査される試料を保持するために設けられた保持部材の位置を制御および監視するための方法および装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an intermediate lens barrel, in/from which an optical element having prescribed spectral transmittance can be attached/detached as an intermediate lens barrel connecting an electronic imaging unit and an optical device, such as a microscope.
電子撮像装置と顕微鏡等の光学装置とを接続する中間鏡筒であって、所定の分光透過率を有する光学素子を挿脱可能とした中間鏡筒を提供すること。 - 特許庁 - When the optical fiber 11 is positioned with respect to the light receiving part 7, the tip end surface of the optical fiber 11 is adjusted to fall within a range S in a contour 23 of the positioning pattern 21 under a microscope.
光ファイバ１１を受光部７に位置合わせする場合は、顕微鏡下において、光ファイバ１１の先端面を位置決めパターン２１の輪郭２３内の範囲Ｓに合わせて設置する。 - 特許庁 - A hook 135 and the turning pin 133 which are provided at the upper part of the inside of the microscope part 102 are connected through a spring member 136 having elasticity in order to butt the turning pin 133 against the regulation pin 134.
回動ピン１３３を規制ピン１３４に当て付けるため、顕微鏡部１０２の内側上部に設けたフック１３５と回動ピン１３３が弾性を有するバネ部材１３６で接続されている。 - 特許庁 - To solve the problem in the appearance inspection of a ferrule with the combination of a subject microscope with an epi-illumination light source, that an appearance failure can be detected only when they are set to a specified angle and specified rotating angle range.
フェルールの外観検査を行うに当り、実体顕微鏡と落射光源の組合せで行なうと特定の角度、特定の回転角範囲に合わせないと外観不良が検出できない。 - 特許庁 - To provide a near-field light sensing optical system, whose noise level is low and by which a clear optical contrast can be obtained and to improve the reproducing resolution of an optical recording and reproducing apparatus and a near-field optical microscope.
ノイズレベルが低く鮮明な光学コントラストが得られる近接場光検出光学系を提供し、光記録再生装置および近接場光学顕微鏡の再生分解能を向上する。 - 特許庁 - The observing means is constituted of a microscope for operation and a second observing means, and the control means moves the inclining center point of the observing means supporting arm mechanism according to the detected result of the detecting means.
観察手段は、手術用顕微鏡及び第２の観察手段で構成され、制御手段は、検出手段の検出結果に応じて、観察手段支持アーム機構の傾斜中心点を移動する。 - 特許庁 - While a microscope is moved from a search start position to a search end position, an image of an area nearby an outline candidate point is extracted at sampling intervals and the contract value of the image is calculated.
顕微鏡をサーチ開始位置からサーチ終了位置まで移動させながら、サンプリング間隔毎に輪郭候補点の近傍領域の画像を抽出し、この画像のコントラスト値を算出する。 - 特許庁 - The magnetic domain observation microscope 1 includes an XY stage 3 and a rotary stage 4 for placing an observation target W having a magnetic domain and an optical system 10 is arranged at an upper portion of the observation target W.
磁区観察顕微鏡１は、磁区を有する観察対象物Ｗを載置するＸＹステージ３及び回転ステージ４を有し、観察対象物Ｗの上方に光学系１０が配置されている。 - 特許庁 - To provide a method which enables the detection of the concentration of a fluorescent reagent or the like in a biosample of an experimental small animal or the like by an imaging technique using an optical microscope or the like.
実験用小動物等の生物試料の内部に於ける蛍光試薬等の濃度を光学顕微鏡等を用いたイメージング技術を用いて検出することのできる方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a near-field optical probe manufacturing method capable of analyzing fine optical properties of samples with a near-field optical microscope and recording high-density light with an optical information storage device.
近接場光顕微鏡で試料の微細光特性を分析することができ、光情報記憶装置で高密度の光を記録することが可能な近接場光プローブの製作方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope for surgery adequate for an operator to carry out surgery by disposing a preposing lens in the anterior portion of the eye to be operated and holding surgical appliances on both hands while illumination the interior of the eye by microscopic illumination.
被手術眼の前部に前置レンズを配設して眼内を顕微鏡照明により照明しつつ両手に手術器具を持って手術を行うのに好適な手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a detection method in which a contrast difference due to an internal defect is extracted by canceling the contrast difference of an image due to the scattering of ultrasonic waves overlapped with the image of an ultrasonic microscope and due to the flow of a medium.
超音波顕微鏡画像に重なった超音波の散乱や、媒質の流れによる画像のコントラスト差をキャンセルし、内部欠陥によるコントラスト差を抽出することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a sample stage reduced in the number of part items and allowing compacification in a height direction, and to provide a scanning probe microscope high in a characteristic frequency and allowing an observation of high resolution as a result thereof.
部品点数が少なく、高さ方向の小型化が可能な試料ステージ、および固有振動数が高く、その結果、分解能の高い観察が可能な走査型プローブ顕微鏡を提供する - 特許庁 - To provide a confocal microscope which is capable of obtaining an extended image by easily determining the take-in range of an observed image, without being conscious of the shape of a sample as an object to be observed.
観察対象となる試料の形状を意識することなしに容易に観察画像の取込み範囲を決定してエクステンド画像を取得することが可能な共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - An optical microscope image of a two-dimensional measurement object region on a sample is displayed, and an analyst visually determines a difference or the like of tissues and designates a plurality of small regions (A, B, and C) regarded as the same tissue.
試料上の２次元測定対象領域の光学顕微画像を表示し、分析者は目視で組織の相違等を判断し、同一組織とみなせる小領域を複数（Ａ、Ｂ、Ｃ）指定する。 - 特許庁 - Two STM (scanning tunneling microscope) probes 8 are used, brought close to each other, and adjusted to locations at the same height for the tip parts of the probes and at the shortest distance 15 from each other through which a tunneling current does not pass.
２本のＳＴＭ探針８を使い、探針同士を近づけ、探針の先端部分は同じ高さでなおかつトンネル電流が流れないぎりぎりの距離１５に位置を調整をする。 - 特許庁 - As a result, the scanning electron microscope image of a sample 4 is displayed on the screen of a cathode-ray tube 17, and the X-axis bright line and the Y-axis bright line showing the moving direction of the sample 4 are displayed.
この結果、陰極線管１７の画面上には、試料４の走査電子顕微鏡像が表示されると共に、試料４の移動方向を示すＸ軸輝線、Ｙ軸輝線が表示される。 - 特許庁 - To provide a microscope capable of imaging an object to be imaged which is too large to be held in field, with high resolution at a high speed in order to form a virtual slide image, and to provide an image acquiring system.
バーチャルスライド画像を作成するために、視野内に収まらない大きな撮像対象を高解像度で高速に撮像することが可能な顕微鏡、及び画像取得システムを提供する。 - 特許庁 - This confocal optical microscope 100 has an excitation optical system for irradiating a sample with excitation light, and the system is constituted of an excitation light source 101, a dichroic mirror 106 and an objective lens 107.
共焦点光学顕微鏡１００は励起光を試料に照射する励起光学系を有し、それは励起用光源１０１とダイクロイックミラー１０６と対物レンズ１０７とから構成される。 - 特許庁 - MANUFACTURING METHOD AND DEVICE FOR NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICALPROBE, NEAR FIELD OPTICAL MICROSCOPE, NEAR FIELD LIGHT FINE PROCESSING DEVICE AND NEAR FIELD OPTICAL RECORD PLAYBACK DEVICE
近接場光プローブの作製方法と近接場光プローブの作製装置、及び近接場光プローブ、近接場光学顕微鏡、近接場光微細加工装置、近接場光記録再生装置 - 特許庁 - To solve the point at issue that the feedback of a scanning probe microscope responds to the resonance frequency of a tube scanner to exert an effect on a measuring image as noise.
本発明が解決しようとする問題点は、チューブスキャナの共振周波数に走査形プローブ顕微鏡のフィードバックが応答し、測定画像にノイズとして影響してしまうという点である。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope technique for highly accurately measuring a distance between a desired position in an image and a reference position, assuming that at least one point outside the visual field of the measurement image is the reference position.
測定画像の視野外の少なくとも１点を基準位置としてその画像内の所望とする位置との距離を高精度に測定することができる走査型プローブ顕微鏡技術を提供する。 - 特許庁 - A depth judging unit of the needle trace located in a control unit 20 corrects the amount of overdrive when the depth of a needle trace, which is measured by the scanning probe microscope 19, is out of a specification range.
制御部２０内の針跡深さ判定部は、走査型プローブ顕微鏡１９によって測定された針跡深さが規格範囲から外れている場合に、オーバードライブ量の補正を行う。 - 特許庁 - A laser emitting image including at least linear optical image is obtained by the light L1 passing though a hologram element 9, a collimator lens 4, a condenser 5, a half mirror 6 and a microscope lens 7 one after another.
ホログラム素子９、コリメートレンズ４、集光レンズ５、ハーフミラー６および顕微鏡レンズ７を順次経由した光Ｌ１によって、少なくとも線状光像を含むレーザ発光画像を取得する。 - 特許庁 - To provide a method of detecting a sample to be examined which is capable of improving the effective resolution of an imaging system beyond the threshold of the resolution regulated by the characteristics of the imaging system and to provide the microscope.
結像システムの特性によって規定される分解能の限界を超えて、結像システムの有効分解能の向上を可能とする被検試料検出方法及びその顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - A workpiece is installed in a cell 3 with liquid pooled, and the scratch working by the scanning probe microscope is implemented in the liquid, thereby making the chips diffuse in the liquid so that it does not remain on the testpiece.
液体を溜めたセル３中に加工対象物を設置し、走査型プローブ顕微鏡によるスクラッチ加工を前記液中で実施し、切り粉が液中に拡散して試料面に残らないようにした。 - 特許庁 - When each inspecting microscope unit 55 carries out an inspection using an incident light illumination, respective objective lenses are arranged such that their optical axes coincide with each other, thereby inspections of the front and the backside of the same portion can be carried out simultaneously.
各検査用顕微鏡ユニット５５が落射照明で検査をするときは、各々の対物レンズを光軸が一致するように配置すれば、同一箇所の表面と裏面の検査を同時に行える。 - 特許庁 - To provide a scanning microscope which allows measurement of movements of the object, in particular both movements, which run essentially perpendicular to the measuring beam and which essentially run parallel to the measuring beam.
物体の運動とくに測定光線に対して実質的に垂直な運動ならびに測定光線と実質的に平行な運動のいずれもが測定される走査型顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The aluminum support shows a surface area ratio ΔS of not less than 5% calculated by formula (I) based on three-dimensional data measured using an interatomic force microscope (AFM) and not higher than 20% steepness a45.
ここで、ΔＳ^5(0.02-0.2)は、原子間力顕微鏡を用いて得られる３次元データから、波長０．０２〜０．２μｍの成分を抽出して求めた値であり、ΔＳ^5は以下の式（Ｉ）より算出した値である。 - 特許庁 - To provide a pattern inspection method, extracting an edge shape of a pattern from an image obtained by a scanning type microscope, and estimating the electric performance of a device from the extracted information to inspect the pattern.
走査型顕微鏡で得られる画像からパターンのエッジ形状を抽出し、その抽出情報からデバイスの電気的性能を予測し、パターンを検査するパターン検査方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a system for measuring a signal-light by a near-field optical microscope that allows a user to find dependency of signal light, emitted from a sample by near-field light, on the distance between a probe and the sample.
近接場光により試料から放射される信号光のプローブ・試料間距離依存性を調べることができる近接場光学顕微鏡の信号光測定システムを提供する。 - 特許庁 - The pattern includes an effective line to space ratio and can be tested, by using a microscope or a stepper system, or can be measured directly using a detector for the zeroth-order diffraction measurement.
このパターンは、効果的なライン対スペース比を含み、顕微鏡またはステッパ・システムを使用して試験することができ、または０次回折測定用の検出器を使用して直接測定することができる。 - 特許庁 - This microscope includes a stage 17, an objective lens 14, an irradiation optical system for irradiating observation objects 15 and 18 with illumination light through the objective lens 14 and the illumination light antireflection unit 200.
ステージ１７と、対物レンズ１４と、対物レンズ１４を通して照明光を観察対象物１５，１８に照射するための照射光学系と、照明光反射防止ユニット２００とを有する。 - 特許庁 - To provide an illuminator for a laser microscope in which a wavelength width of light selected from light which is spectrum spread can be freely set and loss of amount of light can be suppressed with a simple structure.
スペクトル拡散された光から選択する光の波長幅を自由に設定でき、簡単な構成で光量のロスを抑えることができるレーザ顕微鏡用照明装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope unit applicable to an optional CCD camera, in which a banding noise is eliminated by completely synchronizing the scanning period of a Nipkow disk and the image capture period of the camera.
任意のＣＣＤカメラに適用でき、ニポウディスクの走査周期とカメラの画像取り込み周期を完全に同期させてバンディングノイズを除去することができる共焦点顕微鏡装置を実現する。 - 特許庁 - To provide an ultrahigh vacuum scanning probe microscope capable of performing in situ observation with an atomic-level resolution of a surface structure, while applying a stress to a sample in ultrahigh vacuum.
超高真空中において試料に応力を印加しながらその表面構造の原子レベルの分解能でのその場観察を行うことができる超高真空走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - In the vertical fluorescence microscope, an infinite focusing system objective lens 42 is placed in a space being opposite to an objective lens 22 by interposing the sample 21 and the focus thereof is aligned with that of the lens 22.
落射蛍光顕微鏡において、試料２１を挟んで、対物レンズと反対側の空間に、無限焦点系の対物レンズ４２をおき、その焦点を対物レンズ２２の焦点に一致させる。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of effectively detecting a reflected electron generated from a sample at a low angle while realizing a short focus distance and forming a sample image.
本発明は、短い焦点距離を実現しつつ、試料から低い角度で発生する反射電子を高率良く検出し、試料像を形成する走査形電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁
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