「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 139 140 141 142 143 144 145 146 147 .... 179 180 次へ＞- In a method for operating a charged-particle microscope, a first image of a first region of an object is recorded by a first setting, and a second image of a second region is recorded by a second setting.
荷電粒子顕微鏡を操作する方法であって、第１設定で対象物の第１領域の第１画像を記録し、第２設定で対象物の第２領域の第２画像を記録する。 - 特許庁 - To provide a scanning optical microscope using a wavefront conversion element which is less deteriorated in abaxial performance, is simple in a method of controlling the wavefront conversion element and is simple in the constitution of a pupil relay optical system or does not require the same.
軸外での性能劣化が少なく、波面変換素子の制御方法が簡単で、瞳リレー光学系の構成が簡単か不要な波面変換素子を用いた走査型光学顕微鏡 - 特許庁 - To provide a sample preparation device for a microscope capable of preventing a sample observation surface from being deformed or damaged, and preventing a load of an exhaust system for exhausting the vacuum chamber inside from being increased.
試料の観察表面が変形したり、ダメージを受けたりせず、真空チャンバ内を排気する排気装置の負荷が増大しない顕微鏡用試料作成装置を提供することを課題とする。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope capable of imaging a clear two-dimensional image and a three-dimensional image as the whole image, even when a high-brightness or low-brightness portion exists locally in an imaging domain.
撮像領域内に局所的に高輝度又は低輝度の部位が存在しても、画像全体として鮮明な２次元画像及び３次元画像を撮像できる共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus designed so that one part of a light shield body can be opened/closed by a simple operation, and a specimen can be easily replaced while the one part of the light shield is kept open, and the specimen can be easily viewed from above.
簡易な操作で遮光体の一部を開閉することができ、遮光体の一部を開放した状態で標本の交換と上方からの視認とを容易に行うことができること。 - 特許庁 - In this case, claim 1 claims a superoxide anion decomposing agent composed of platinum fine powder having a particle size of 6 nm or less as observed under a microscope which is prepared under a metal salt reduction method.
この事例では、請求項1は、金属塩還元反応法により調製され、顕微鏡下で観察した場合に、粒径が6nm以下の白金の微粉末からなるスーパーオキサイドアニオン分解剤を請求している。 - 特許庁 - To provide a microscope objective causing no collision between the objective lens and a specimen even if the specimen is not flat when the specimen is moved and a revolver is turned.
本発明では、試料に凹凸がある場合でも、試料の移動とレボルバの回転を行う際に対物レンズと試料の衝突が起きない顕微鏡対物レンズを提供することを課題とする。 - 特許庁 - The prism-shaped oscillator measurement 13 is brought close to an optional sample surface as a probe and suitable to a probe for a scanning microscope observing the surface condition.
振動子マス１３は四面体形状であり、その振動子マス１３を任意の試料表面にプローブとして近接させ、表面状態を観察する走査型力顕微鏡のプローブに適している。 - 特許庁 - To provide an automatic focusing microscope capable of detecting a focus at the time of differential interference observation and realizing accurate detection by eliminating influence by the reflection of an internal optical system to the utmost.
微分干渉観察時に焦点検出が可能であり、かつ内部光学系の反射による影響を極力無くし、高精度な検出が可能な自動焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - Therefore, when the microscope part 11 is turned over about a focusing part 17, the slide-type shutter 63 is closed to surely prevent dust and raindrops from sticking on the objective lens group (3).
したがって、顕微鏡部１１を焦準部１７に対して上下反転させた際には、スライド式シャッタ６３を閉鎖することで、対物レンズ群３への塵埃や雨滴の付着が確実に防止される。 - 特許庁 - To provide a confocal scanning transmission type electron microscope device and a three-dimensional tomographic observation method such that atom arrays of a thin-layer sample at different depths are observed through one image.
共焦点走査透過型電子顕微鏡装置及び３次元断層像観察方法に関し、薄層状試料における異なった深さにおける原子配列を一画像で観察可能にする。 - 特許庁 - It is preferable to apply the external force to the capsule 11 for submerged observation in the scanning electron microscope and the external force is preferably applied to the capsule 11 for submerged observation while vibrating the capsule.
前記走査型電子顕微鏡内で前記液中観察用カプセルに外力を加えることが好ましく、前記液中観察用カプセルを振動させて外力を加えることが好ましい。 - 特許庁 - The particle suitably has an average primary particle diameter of from 20 nm to 1 μm measured by a transmission electron microscope method, and average particle diameter of from 20 nm to 3 μm measured by a dynamic light scattering method.
その中空粒子としては透過型電子顕微鏡法による平均一次粒子径が２０ｎｍ〜１μｍ、動的光散乱法による平均粒子径が２０ｎｍ〜３μｍが好適である。 - 特許庁 - The microscope includes an optical system for changing a beam diameter and a field stop disposed at a position conjugate with a sample surface, in this order beginning from the side of the laser light source.
上記課題は、レーザー光源から順に、ビーム径を変更する光学系と、標本面と共役な位置に配置された視野絞りとを備え、以下の関係式を満たすことによって解決される。 - 特許庁 - In this configuration, the vibration of this frequency, which is transmitted from a floor face A through the second vibration resistant mount 3 to the intermediate frame 1, is absorbed by the dynamic vibration absorber, and not transmitted to the electron microscope E.
この構成では、床面Ａから第２除振マウント３を通って中間フレーム１に伝わってきた当該周波数の振動は動吸振器によって吸収され、電子顕微鏡Ｅには伝わらない。 - 特許庁 - To realize, in a detecting device and a confocal microscope having the detecting device, high resolution and high detection efficiency regardless of detected light rays of different wavelengths by using a simple structure means.
検出装置と該検出装置を備えた共焦点顕微鏡において、波長が異なる検出光でも高解像度と高検出効率とを構造的に簡単な手段により実現する。 - 特許庁 - To provide a stereomicroscope, specially a microscope for surgical operation by which the other picture is displayed within a microscopic observation visual field at a required time and by a required display method without losing the brightness of a microscopic image.
顕微鏡像の明るさを失わず必要なとき必要な表示方法で他画像を顕微鏡観察視野内に表示することの出来る実体顕微鏡特に手術用顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a data measuring method and a device of a tomograph, reducing an electron beam irradiation quantity to a sample, in the data measuring method and the device of the tomograph in a transmission type electron microscope.
本発明は透過型電子顕微鏡におけるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関し、試料への電子線照射量を減らすことができるトモグラフのデータ測定方法及び装置に関する。 - 特許庁 - To solve the problem that it is difficult to show the analyzing position of a photoelectron analyzer on the image obtained by an optical microscope with a position reading function.
本発明が解決しようとする問題点は、光電子分析装置で分析した位置が、位置読み取り機能付き光学顕微鏡で得た像のどこに位置するかを示すことが困難であったという点である。 - 特許庁 - To provide a maceration medium supply apparatus, a fluorescent analytic inspecting device, and an incubation microscope which can stably perform temperature control over a sample and have simple constitution, and are reduced in cost.
標本の温度制御を安定して行うことができる、構成が簡単で、価格的にも安価な液浸媒質供給装置、蛍光分光検査装置及び培養顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The near-field optical microscope can obtain the high-resolution near-field optical image in a perfect near- field area by excluding optical signals from samples in a far-field area.
このような近接場光学顕微鏡では、Far Field領域における試料からの光信号は除外されて、完全な近接場領域での高分解能の近接場光学像を得ることができる。 - 特許庁 - In an operating room, operating tools, tool stands carrying the tools, and peripheral devices such as a drip, an electrocardiograph and a microscope for operation are existent in addition to the magnetic imaging apparatus for testing and a bed.
手術室には、検査用の磁気共鳴イメージング装置と寝台の他に手術器具類やそれを搭載する器具台、点滴、心電計、手術用顕微鏡などの周辺機器などが存在する。 - 特許庁 - To provide the inspecting method of semiconductor device which can measure in direct carrier distribution at the cross-section of a semiconductor testing sample using a scanning probe microscope without cutting out a thin semicoductor test sample.
半導体試料を薄く切り出さずに、該半導体試料の断面におけるキャリア分布を走査型プローブ顕微鏡により直接測定することが可能な半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁 - Light emitted by the optical transducer 8 into a microscope 16 is thus concentric light with the red light in the center, the green light on the periphery and the blue light further on the periphery.
したがって、光変換器８から顕微鏡１６の内部に出射される光は、中心部が赤色光、その外周部が緑色光、さらにその外周部が青色光の同心円状の光になる。 - 特許庁 - To obtain a scanning microscope capable of simultaneously observing morphological information, etc., on the same observed area as fluorescent observation with the fluorescent observation and capable of obtaining both observed images in a short time.
蛍光観察と同一の注目領域における形態情報等を蛍光観察と併せて同時観察でき、かつ、短時間で両者の観察画像を得ることができる走査型顕微鏡。 - 特許庁 - To provide a fluorescent cube which prevents excitation light from being made incident to an observation light path and can separate the excitation light from fluorescent light more precisely, and to provide a fluorescent microscope provided with the fluorescent cube.
励起光の観察光路への入射を妨げ、励起光と蛍光をより正確に分離できる蛍光キューブおよびその蛍光キューブを備えた蛍光顕微鏡を提供する事を目的とする。 - 特許庁 - To provide an anisotropic friction data acquisition method of a scanning probe microscope capable of acquiring anisotropic friction data in a minute region on the sample surface, when measuring various characteristics on the surface of a wafer or the like.
ウェハ等の表面上の各種特性を測定するとき試料表面の微小領域で異方摩擦データを取得できる走査型プローブ顕微鏡の異方摩擦データ取得方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a machine tool with an observation point focusing support function which is able to easily focus on an object to be observed, despite of the use of a telecentric optical system microscope system.
テレセントリック光学系顕微鏡システムを用いながらも、観察対象物に対する焦点合わせを容易に実施できるような観察点焦点合わせ支援機能付きの工作機械を提供すること。 - 特許庁 - To provide an illumination optical system for microscope which allows the state of illumination to continuously change between Koehler illumination and critical illumination, and can always obtain illumination and brightness suitable for observation.
照明状態をケーラ照明とクリティカル照明の間で連続的に変化させることができ、常に観察に適した照野と明るさを得ることの出来る顕微鏡用照明光学系を提供すること。 - 特許庁 - To provide a low-cost microscope device which can always hold the pupil of an objective and an aperture stop at optically conjugate positions and realize the best lighting effect.
対物レンズの瞳位置と開口絞りの関係を常に光学的共役位置に保つことができ、最適な照明効果を期待できるとともに、コスト的にも安価にできる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a fluorescent microscope which is made compact so as to facilitate transportation and management, can be disposed in a narrow place such as the inside of an incubator or a clean bench, and can achieve a samples observation through a remote control.
運搬と管理が容易なように蛍光顕微鏡のコンパクト化を図り、インキュベーターやクリーンベンチ内部など狭い場所にも配置可能で、遠隔制御を通じた試料観察が可能であること。 - 特許庁 - To provide an objective lens has the same outer diameter as an objective lens for bright-field observation, and enables dark-field observation by using an optical system for bright-field observation, and to provide a microscope that has the objective lens.
対物レンズの外径が明視野観察用対物レンズと同等で、明視野照明光学系を用いて暗視野観察が可能な対物レンズ及び該対物レンズを有する顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an imaging apparatus that is easily manufactured, has a simple configuration, and is easily operated, in order to observe images of a plurality of specimen cross-sections of different focusing positions in the direction of an optical axis, and to provide a microscope device.
光軸方向に合焦位置の異なる複数の標本断面の画像を観察するため、装置の製造や構成が簡単で操作の容易な結像装置及び顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - A microscope 1 includes an illumination unit 10 for illuminating a specimen 30, an imaging optical system 40 for forming the image of the specimen 30, an imaging unit 50 for imaging the image of the specimen 30.
顕微鏡１は、被検物３０を照明する照明ユニット１０と被検物３０の像を結像する結像光学系４０と被検物３０の像を撮像する撮像ユニット５０とを備える。 - 特許庁 - A mirror body 51 of a microscope part 11 has on its reverse surface an opening part (61) for an objective lens group (3) and is fitted with a slide-type shutter 63 which closes the opening part (61).
顕微鏡部１１の鏡体５１には、下面に対物レンズ群３用の開口部６１が形成されると共に、この開口部６１を閉鎖するスライド式シャッタ６３が取り付けられている。 - 特許庁 - The supported section G is an area which is not covered with the transparent substrate 20, and provided at a position at which it backs away from an observation plane 21 of the transparent substrate 20 facing the microscope so as to form a step.
この支持部Ｇは、透明基板２０に覆われない領域であって、透明基板２０の顕微鏡に対向する観察面２１より後退して段差を形成する位置に設けられる。 - 特許庁 - To provide a neutron microscope, along with a neutron transmission magnified image forming method, capable of magnifying a state in a substance or structure in a non-destructive manner using a neutron by a transmission image to observe the same.
中性子を用い、非破壊で物質や構造内部の状況を透過画像により拡大し観察できる中性子顕微鏡及び中性子透過拡大画像形成方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a mold for optical imprint which can be observed with an SEM (Scanning Electron Microscope), can be inspected with high throughput, and can form high-definition pattern, and to provide an optical imprint method using the same.
ＳＥＭ観察が可能であり高スループットで検査を行うことができ、かつ、高精細なパターン形成が可能な光インプリント用のモールドと、これを用いた光インプリント方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a sample holder capable of continuously observing a sample even if the sample is heated and reducing a temperature difference between the sample and a heater, in a transmission electron microscope, and a sample observation method.
透過型電子顕微鏡において、加熱しても試料を連続観察することができ、かつ試料とヒーターの温度差を減らすことができる試料ホルダーおよび試料観察方法を提供する。 - 特許庁 - The stand 22 has an image processing circuit 122 that processes the digital image signal supplied from the microscope body 21 in real time, and generates digital image data for displaying an image on a monitor 12.
スタンド２２は、顕微鏡本体２１から供給されるデジタル画像信号をリアルタイムに処理し、モニタ１２に画像を表示させるためのデジタル画像データを生成する画像処理回路１２２を備える。 - 特許庁 - To provide an electron microscope, capable of automatically adjusting an optical axis even when the optical axis deviates to the extent that an electron beam position cannot be confirmed on a fluorescent plate after the exchange of a electron source.
電子源の交換後、蛍光板上で電子線の位置を確認することができないような光軸のずれがある状態でも光軸の自動調整が可能な電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The microscope system 100 includes: a stage 101 which is loaded with an observation sample 102; and an objective lens 109 arranged opposed to the observation sample 102 placed on the stage 101.
顕微鏡システム１００は、観察試料１０２を積載するステージ１０１と、ステージ１０１に載置された観察試料１０２と対峙するように配置される対物レンズ１０９とを備えている。 - 特許庁 - By adding a function of an optical mirror to the reflected electron detector, total structure of the device is simplified and can match the beam axis of the electron microscope with the optical axis of the optical imaging device.
反射電子検出器に光学ミラーの機能を付加することで装置の全体の構造を簡略化するとともに、電子顕微鏡のビーム軸と光学画像装置の光軸を一致させる。 - 特許庁 - An observation region 306 and an entirely-white image 160' subsequent thereto are imaged by an image pickup device 200 while a sample is not disposed on the observation region 306 of the optical microscope 300.
光学顕微鏡３００の観察領域３０６に試料が配置されていない状態で、撮像装置２００によりその観察領域３０６が撮像され全白画像１６０’が撮像される。 - 特許庁 - A top magnetic pole of an objective lens is electrically insulated against the part of the lens other than that for the top magnetic lens, and a scanning electron microscope with positive voltage applied accelerating a primary electron beam post-deflection is provided.
対物レンズの上磁極を、対物レンズの上磁極以外の残部に対し電気的に絶縁し、一次電子ビームを後段加速する正の電圧を印加する走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a phase information detection method and a phase information detector, capable of acquiring easily phase information of a phase object in real time, without using an expensive phase-contrast microscope.
高価な位相差顕微鏡を用いることなく、より簡便に、しかもリアルタイムに位相物体の位相情報を取得し得る位相情報検出方法及び位相情報検出装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of executing inspection of a sample with high accuracy while suppressing decomposition of the sample without decreasing the inspection speed of the sample.
本発明は、試料の分解を抑えつつ、試料の検査を高精度で行うことができ、しかも試料の検査速度を低下させることがない走査電子顕微鏡を提供することを課題とする。 - 特許庁 - In particular, the powder grain of the rod-shape silver powder is made of minute rod-shape, and one with its average major axis L of the primary particle as can be judged by a scanning electron microscope image being 10 μm or less is used.
特に、前記ロッド状銀粉の粉粒は微小棒状であり、走査型電子顕微鏡像から判断できる一次粒子の平均長径Ｌが１０μｍ以下であるものを用いる。 - 特許庁 - To provide a measuring device and a confocal microscope for obtaining picture information obtained by an inside synchronous image pickup device in the minimum time, and for quickening the measuring time.
内部同期式撮像装置により得られる画像情報を最小限の時間で取得することができ、測定時間の高速化が図られた測定器および共焦点顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - The alignment mark 304 on the surface is observed through a microscope 210 and is matched to an alignment mark 104 for a back surface provided on a photomask 310, then an alignment mark is provided on the back surface of the magnetic recording medium 404.
表面のアライメントマーク３０４を顕微鏡２１０で観察し、フォトマスク３１０に設けられた裏面用アライメントマーク１０４と合致させて、磁気記録媒体４０４の裏面にアライメントマークを設ける。 - 特許庁
