「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 135 136 137 138 139 140 141 142 143 .... 179 180 次へ＞- To provide a confocal microscope system, an image processing method, and an image processing program, capable of detecting the profile curve of the surface of an observation object accurately and speedily.
観察対象物の表面の断面曲線を正確でかつ高速に検出することが可能な共焦点顕微鏡システム、画像処理方法および画像処理プログラムを提供する。 - 特許庁 - To provide a chamber structure for an organism culture which enables an organism culture observation for a long period of time and is useful for observing an organism by an erecting microscope.
長期間の生体培養観察が可能な生体培養チャンバ構造体であり、正立型顕微鏡にて生体を観察する際に使用される生体培養チャンバ構造体を提供する。 - 特許庁 - To provide a recipe preparation apparatus and method for preparing a recipe for highly accurately measuring the dimension of an oblique or elongate pattern without using a scanning electron microscope.
本発明は、斜めや細長いパターンを高精度に寸法測定するレシピを、走査型電子顕微鏡を使用しないで作成するレシピ作成装置及び方法を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a wave front evaluation method applicable to various optical systems easily with a simple system, to evaluate quantitatively the flatness of a wave front, and to correct aberration in a microscope easily and surely.
簡単なシステムで、容易に様々な光学系に適用することができ、波面の平坦度を定量的に評価して、容易かつ確実に顕微鏡における収差の補正を行う。 - 特許庁 - This scanning probe system 100 is provided with a connection member 1 attachable to the revolver of the exiting optical microscope, and the scanning probe unit attached detachably to the connection member 1.
走査型プローブ装置１００は、既存の光学顕微鏡の対物レボルバに装着可能な接続部材１と、接続部材１に着脱される走査型プローブユニット２０とを備えている。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of easily grasping parameters such as energy widths or resolution without measuring these parameters each time beam conditions change.
本発明は、ビーム条件が変化するごとにエネルギー幅や分解能等を測定することなく、これらのパラメータを容易に把握することが可能な電子顕微鏡の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a scanning type laser microscope device that can easily and accurately control the light intensity of laser light having a plurality of wavelengths or whose abnormal place can easily be specified.
複数波長のレーザ光の光強度を簡易に正確に制御し、あるいは簡易に装置の異常箇所が特定できる走査型レ−ザ顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To highly accurately measure a pattern dimension of a photomask upon measuring a dimension with the use of a microscope even when the objective pattern for measurement or adjacent patterns cause insufficient resolution.
顕微鏡を用いた寸法測定において、測定対象パターンや隣接するパターンにて解像度不足が生じる場合にあっても、フォトマスクのパターン寸法を精度良く測定する。 - 特許庁 - To provide a scanning electron microscope capable of varying the magnitude of probe current in one using a condenser lens formed by a permanent magnet.
本発明は、永久磁石により構成されるコンデンサレンズを使用した走査電子顕微鏡において、プローブ電流の大きさを可変できる走査電子顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To obtain an interference microscope image of a multi-stage electron beam biprism by an electromagnetic lens system with the same number as the one-stage electron beam biprism without drop of operation flexibility of the multi-stage electron beam biprism.
多段電子線バイプリズムの操作自由度を落とすことなく、１段電子線バイプリズムと同数の電磁レンズ系によって、多段電子線バイプリズムの干渉顕微鏡像を得る。 - 特許庁 - An optical microscope 10 includes: a specimen stage 12; an imaging optical system including an objective lens 14 and an imaging lens 18; and an objective stage 16 supporting the objective lens 14.
光学顕微鏡１０は、標本ステージ１２と、対物レンズ１４と結像レンズ１８を含む結像光学系と、対物レンズ１４を支持している対物ステージ１６を有している。 - 特許庁 - To provide an easy-to-operate differential interference microscope, capable of moving a Nomarski prism to a desired position on an optical axis interlocked with the switching of an objective at observation of differential interference.
微分干渉観察時に対物レンズの切換えに連動させてノマルスキープリズムを光軸上の所望位置に移動させることができる操作の容易な微分干渉顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope prevented from unnecessarily restricting the flexibility in a set magnification of an image focused by an electron beam spectrally diffracted by an electron spectrometer.
電子分光器により分光された電子ビームにより結像される像の設定倍率の自由度に不必要な制限が加わらない透過型電子顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The sulfurized metal particle has a particle diameter of 100 nm-1 μm and a coefficient of variation showing the particle diameter distribution of ≤10%, which are measured by a scanning electron microscope.
硫化金属粒子において、走査電子顕微鏡による実測で粒径が１００ｎｍ以上１μm以下であり、粒径分布の度合いを示す変動係数が１０％以下である。 - 特許庁 - By irradiating the defect appearing in the synthesized image M3 with a laser beam, even a minute defect D undetectable through the optical microscope can be corrected with accuracy.
合成画像Ｍ３中に現れた欠陥ＤにレーザビームＬを照射すれば、光学顕微鏡では捉えることができない微細な欠陥Ｄも、高精度に修正することができる。 - 特許庁 - To automatically execute adjustment of an electron beam entering into a monochromator and adjustment of an operating condition of the monochromator, in a scanning electron microscope equipped with the monochromator.
モノクロメータを備えた走査電子顕微鏡において、モノクロメータに入射する電子ビームの調整及びモノクロメータの動作条件の調整を自動的に行うことを可能にする。 - 特許庁 - One part of the data is transferred to a stage shift control part 9 in a scanning electron microscope unit 1 through the network line 24, and the other is output as data for a display 31.
一方のデータは、ネットワーク回線２４を経由して、走査電子顕微鏡ユニット１内のステージ移動制御部９に転送し、もう一方をディスプレイ３１のデータとして出力する。 - 特許庁 - To provide a sample support for a high accumulation biochip capable of arranging biomolecules, DNA or the like in a high accumulation degree to observe and analyze the same using a transmission electron microscope.
生体分子、ＤＮＡ等を高集積度で配列し、透過電子顕微鏡を用いて観察、解析できる高集積度バイオチップ用試料支持体およびその製造方法を提供する。 - 特許庁 - PHOTOSENSITIZING TYPE COMPOSITE MATERIAL AND THREE-DIMENSIONAL MEMORY MATERIAL AND RECORDING MEDIUM, OPTICAL CONTROL MATERIAL AND ELEMENT, PHOTOCURING MATERIAL AND OPTICAL MODELING SYSTEM, FLUORESCENCE MATERIAL FOR MULTIPHOTON FLUORESCENCE MICROSCOPE, AND DEVICE
光増感型複合材料及び三次元メモリ材料と記録媒体、光制限材料と素子、光硬化材料と光造形システム、多光子蛍光顕微鏡用蛍光材料と装置 - 特許庁 - To provide a manufacturing method of a resin composition comprising a polymer having alicyclic ring conformation in which a molded article having few foreign substances observed by a fluorescence microscope can be obtained.
蛍光顕微鏡で観察される異物量が少ない成形体が得られる、脂環構造含有重合体を含有する樹脂組成物の製造方法を提供すること。 - 特許庁 - The exposed surfaces are irradiated with an electron beam by a TEM (Transmission Electron Microscope) to acquire a TEM image and an electron-beam diffraction image of the ferroelectric film, and element composition analysis etc., is carried out (step S2).
その露出させた面に対し、ＴＥＭにより電子線を照射して、その強誘電体膜のＴＥＭ像や電子線回折像の取得、元素組成分析等を行う（ステップＳ２）。 - 特許庁 - To provide a microscope apparatus capable of observing a micro-domain and also capturing a physical property phenomenon occurring in a very short time domain (e.g. femtosecond to several tens picoseconds).
非常に微小な領域の観測と同時に、非常に短い時間領域（例えば、フェムト秒〜数十ピコ秒）で起こる物性現象を捉えることが可能な装置を提供する。 - 特許庁 - To obtain a zoom microscope enabling a user to easily confirm a zoom magnification consecutively changed based on zoom variable power operation in real time and served for observation at the same magnification as the previous one.
ズーム変倍操作に基づき連続的に変化するズーム倍率をリアルタイムで簡便に確認でき、前回と同じ倍率での観察等に供することができるようにする。 - 特許庁 - To provide a microscope in which an illumination head can be fixed at a predetermined position, when transmission illumination observation is performed and the illumination head can be freely turned when biased emission illumination observation is performed.
本発明では、透過照明観察時には照明ヘッドを所定位置で固定し、偏射照明観察時には照明ヘッドを自由に回動することができる顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To obtain a precise result in observation and analysis of a sample, even when not having expert knowledge and ability, in an electron microscope provided with an X-ray analyzer.
Ｘ線分析装置を備える電子顕微鏡において専門的な知識や能力がなくても試料の観察および分析において精度の高い結果を得ることができるようにする。 - 特許庁 - To provide an abnormality detection method in a physicochemical apparatus, such as a scanning electron microscope capable of detecting the abnormality of a device and of immediately taking appropriate measures according to the abnormality.
装置の異常を検知し、その異常に応じて適切な対応を速やかに取ることを可能とする走査電子顕微鏡等の理化学機器における異常検知方式を実現する。 - 特許庁 - To provide a mechanism allowing observation while maintaining eccentricity even for a sample with a dimension larger than a standard sample thickness (height) in a sample stage for a scanning electron microscope car the like.
走査電子顕微鏡等用の試料ステージにおいて、標準の試料厚さ（高さ）よりも大きな寸法の試料でも、ユーセントリシティを保ちながら観察できる機構を提供すること。 - 特許庁 - To automatically adjust brightness of an image against the change of brightness of the image, which is caused by switching of the objective lens and the observation optical system, in a scanning optical microscope.
走査型光学顕微鏡において、対物レンズおよび観察光学系の切り替えに伴って生じる画像の明るさの変化に対して、画像の明るさ調整を自動的に行う。 - 特許庁 - To provide a transmission electron microscope observation sample forming method for a magnetic material which minimizes magnetic field turbulence, accompanying the sample shape and allowing observation and analysis with high precision.
試料形状に伴う磁場の乱れを最小限にし、より高い精度で観察や分析が可能な、磁性材料の透過電子顕微鏡観察用試料作製方法の提供。 - 特許庁 - A cantilever for the scanning probe microscope or a sensor is manufactured by a method for molding integrally a beam, a chip and a pedestal from an arsenic-based, antimony-based or nitrogen-based 3-5 group compound semiconductor.
砒素系、アンチモン系、窒素系３−５族化合物半導体でビーム+チップ+台座を一体成型する方法で走査プローブ顕微鏡用、又はセンサー用カンチレバーを製造する。 - 特許庁 - To provide a microscope system for performing black balance correction in accordance with a differential between luminance values at a high-luminance displacement point and a low-luminance displacement point in luminance distribution of an observation image.
本発明では、観察画像の輝度分布における高輝度変位点と低輝度変位点との輝度値の差分に応じて、ブラックバランス補正を行う顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of securing high holding accuracy and provided with a holding mechanism in which a probe is removable with good reproducibility without using optical system alignment.
高精度の保持精度が確保でき、光学系でのアライメントを必要とすることなく再現性良くプローブを着脱できる保持機構を備えた走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide an infrared microscope capable of performing both of observation by means of visible light and measurement by means of infrared light without using a movable mirror.
本発明は、可動ミラーを使用せず、かつ、可視光による観察と赤外光による測定を同時に実行することが可能な赤外顕微鏡を提供することを目的とする。 - 特許庁 - To provide a microscope imaging apparatus which repeatedly obtains images at a desired photographing interval, which is capable of saving power as the whole system including a computer.
所望の撮影間隔で繰り返し画像を取得する顕微鏡撮像装置であって、計算機を含むシステム全体で省電力化できる顕微鏡撮像装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a device enabling operation and observation of a gas under a vacuum or low pressure environment forming an environment for observing the gas, without changing the original design of an electron microscope.
電子顕微鏡の本来の設計を変えずに、気体観察の環境を形成する真空または低圧環境下で気体の操作及び観察を可能にする装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron microscope capable of carrying out observation with respect to an arbitrary sample (including a raw biological sample such as a living cell) in an atmospheric-pressure condition without needing pretreatment at all.
任意の試料（生細胞など生の生物試料を含む）に対して、前処理を全く必要とせず、大気圧の状態で観察を行うことができる電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A strain layer 100 formed of microcracks of a thickness of 0.2 μm or less observed by a transmission electron microscope is formed in the rear W2 of the semiconductor device W with a memory function.
メモリー機能を有する半導体デバイスＷの裏面Ｗ２に、透過型電子顕微鏡による観察で０．２μｍ以下の厚さのマイクロクラックからなる歪み層１００を形成する。 - 特許庁 - To operate a scanning electron microscope with high precision and high speed by curtailing a process for inspection position setting or an input operation or the like.
本発明は、検査位置合わせに関する処理、或いは入力作業等を削減することで、高精度かつ高速に走査電子顕微鏡を稼動せしめることを目的とするものである。 - 特許庁 - A ronchigram signal is obtained from the TV camera in this condition, and the signal is supplied to a computer 44 through a TV power source 40 and an interface 43 of a transmission electron microscope image.
この状態で、ロンチグラム信号がＴＶカメラから得られ、その信号は透過電子顕微鏡像のＴＶ電源４０、インターフェイス４３を介してコンピュータ４４に供給される。 - 特許庁 - To provide an automatic preparation exchanging apparatus capable of automatically and efficiently performing a supply/exchange work of many preparations with pathologic tissue samples or the like to a microscope.
病理組織等の試料の入った多数のプレパラートの顕微鏡への供給・交換作業を自動的に効率良く行うことのできるプレパラート自動交換装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope equipped with an automatic focusing device capable of easily positioning a focal position adjusting lens for adjusting the focal position of illuminating light for autofocus at a desired position on a sample.
オートフォーカス用の照明光の焦点位置を調整する焦点位置調整レンズを標本の所望の位置に容易に合わせることができるオートフォーカス装置を備えた顕微鏡。 - 特許庁 - The micromirror apparatus is relatively inexpensive and makes a relatively large divergence angle obtainable and therefore the laser microscope of the compact structure which is low in the manufacturing cost can be realized.
マイクロミラー装置は、コストが比較的安価であると共に比較的大きな発散角が得られるので、製造コストが安価でコンパクトな構造のレーザ顕微鏡を実現することができる。 - 特許庁 - And a brightness contrast signal from a signal processing circuit 9 and an average brightness signal per frame from an output circuit are input to a microscope control circuit 16.
また、信号処理回路９からの輝度コントラスト信号と出力回路１０からの１フレーム当たりの平均輝度信号がそれぞれ顕微鏡制御回路１６に入力される。 - 特許庁 - To measure a concentration of an optional element in a sample containing a plurality of elements while maintaining high spatial resolution in an electron energy spectroscope (energy-filter)-transmission electron microscope.
電子線エネルギー分光器(Energy−Filter)−透過型電子顕微鏡(Transmission Electron Microscopy)において高い空間分解能を維持しながら複数の元素を含む試料中の任意の元素濃度を測定する。 - 特許庁 - To provide a new probe for a scanning tunneling microscope and a method of fabrication having high conductivity and high optical transmission, and capable of obtaining high plasmon luminous efficiency.
高導電性および高光透過性を有するとともに、高いプラズモン発光効率を得ることのできる、新しい走査型トンネル顕微鏡用探針およびその作製方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscopic system with camera, which acquires polarizing information and optical anisotropic information on an object to be observed by a microscope at the frame rate of an imaging device.
顕微鏡で観察する対象物の偏光情報や光学異方性情報を撮像素子のフレームレートで取得することができるカメラ付き顕微鏡システムを提供する。 - 特許庁 - A surface analysis method of an insulation material with an atomic force microscope includes performing AFM measurement by suppressing charging of the insulation material due to static electricity under high humidity environment.
高湿度環境下で絶縁材料の静電気による帯電を抑制してＡＦＭ測定を行う原子間力顕微鏡による絶縁材料の表面分析方法である。 - 特許庁 - To provide a focus detector by which the good accuracy of focusing can be easily and rapidly obtained even in the focusing operation during differential interference observation and a microscope into which this detector is built.
微分干渉観察時の合焦動作においても簡単且つ迅速に良好な合焦精度を得ることの出来る焦点検出装置とそれを組込んだ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a highly reliable method for manufacturing the silver probe of a scanning tunnel microscope through the use of methyl alcohol as the solvent of an electrolyte, electrolytic grinding, and electrolytic etching.
電解液の溶媒としてメチルアルコールを使用し、電解研磨及び又は電解腐蝕により、信頼性の高い走査トンネル顕微鏡の銀探針製作方法を提供する。 - 特許庁 - To provide an electron-emitting element capable of long-term stabilization of an emission current at a high yield, an electron gun, an electron microscope device and an electron beam patterning device using it.
エミッション電流の長期的な安定化が可能で、高歩留まりな電子放出素子，電子銃、それを用いた電子顕微鏡装置及び電子線描画装置を提供する。 - 特許庁
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