「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 132 133 134 135 136 137 138 139 140 .... 179 180 次へ＞- To provide a confocal microscope which enables obtaining of a bright non-confocal image and performs difference image computation for changing the depth of focus, without increasing the load of a CPU.
明るい非共焦点画像が得られるとともに、ＣＰＵの負荷を増大させること無く焦点深度を変更させる差画像演算を行う共焦点顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To provide a magnetic resonance force microscope capable of providing sample information on the surface of a sample or a micro area on the surface of the sample while permitting wide area scanning.
試料表面もしくは試料表面微小領域の試料情報を得ることができるとともに、より広域走査を可能にする磁気共鳴力顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a microscope control device and an area determination method which suppress an estimated error of a defocus amount and can suppress a load necessary for defocus amount arithmetic processing.
デフォーカス量の推定誤差を抑制するとともに、デフォーカス量演算処理に要する負荷を抑制することが可能な顕微鏡制御装置及び領域判定方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope device capable of appropriately determining adjusting degree of sensitivity even when the inspected object has an unclear outline due to irregularity on the surface.
表面の凹凸による輪郭が明瞭でない検査対象物であっても、感度の調整具合を適切に判断することができる走査型プローブ顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁 - A scanning probe microscope 1 has a constitution equipped with the material supply probe device 1a, a sample capturing probe 15, and a moving part 16 for moving relatively the sample capturing probe 15.
走査型プローブ顕微鏡１を、物質供給プローブ装置１ａと、試料捕捉プローブ１５と、試料捕捉プローブ１５を相対移動させる移動部１６とを備えて構成した。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope capable of observing, evaluating and processing a nano structure by making full use of respective features of a SEM function and a SPM function.
ＳＥＭ機能とＳＰＭ機能のそれぞれの特徴を十分に生かしきったナノ構造体の観察、評価、加工を行うことができる走査型プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To prevent reduction of a resolution capacity of an image by limiting dispersed electrons in a small scanning electron microscope using a condensing lens which excludes an adjusting function such as axis aligning and intensity.
本発明は、軸合せや強度の調整機能を省いたコンデンサレンズを使用した小型の走査電子顕微鏡において、散乱電子を制限して画像の分解能の低下を防止する。 - 特許庁 - To align the optical axis of an objective with the optical axis of a microscope main body with a simple structure and to increase the number of fitted objectives in a small structure.
対物レンズの光軸と顕微鏡本体の光軸とを一致させる心調整を簡単な構造で行うと共に、小さな構造として対物レンズの取り付け本数を増大させる。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope having a plurality of electrically independent probes, capable of operating a micro-material having the size below 100 nm, and electric measurement thereof.
電気的に独立した複数のプローブを有し、１００ｎｍ以下程度の微小な物質の操作を可能とし、かつ電気測定を可能とする走査型プローブ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - The arithmetic operation part 201 of a controller 102 obtains a representative image representing the image of the sample 106 from one of the plurality of images acquired by the microscope body 101.
コントローラ１０２の演算部２０１は、顕微鏡本体１０１により取得された該複数の画像のひとつから、試料１０６についての画像を代表する代表画像を得る。 - 特許庁 - To prevent the action of excessive force to a sample and to enhance measuring accuracy in the observation of a surface shape and the measurement of adsorbing power by a scanning probe microscope.
走査型プローブ顕微鏡による表面形状観察及び吸着力測定において、試料に対する過剰な力の作用を防止すると共に測定精度を高める。 - 特許庁 - This invention relates to the double confocal scanning type microscope having an irradiation beam passage 2 of at least one light source 3 and a detection beam passage 4 of at least one detector 5.
本発明は、少なくとも１つの光源（３）の照射ビーム経路（２）と、少なくとも１つの検出器（５）の検出ビーム経路（４）と、を有する二重共焦点走査型顕微鏡に関する。 - 特許庁 - To provide a microfabrication method that achieves high-accuracy processing even while giving lateral oscillation to a cantilever having a probe in a microfabrication device using an atomic force microscope.
原子間力顕微鏡を用いた微細加工装置において、探針を有するカンチレバーに横振動を与えつつも、高精度な加工を可能とする微細加工方法の提供を目的とする。 - 特許庁 - To provide a scanning optical microscope having an optical system for detection which can exactly guide the light from a specimen to a confocal diaphragm and is low in cost and small in size.
本発明は、標本からの光を正確に共焦点絞りに導くことができ、しかも価格的に安価で小型な検出光学系を有する走査型光学顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - A controller 43 drives a stepping motor 102 for rough movement of each axis, when a microscope magnification by recognition of a magnification recognition device 100 is discriminated to be less than X times.
コントローラ４３は、倍率認識装置１００の認識による顕微鏡倍率がＸ倍未満であると判別したときには、各軸の粗動用ステッピングモータ１０２を駆動する。 - 特許庁 - To provide a differential pumping scanning electron microscope capable of easily carrying out maintenance and inspection of various parts of an electron-optical system and a differential pumping orifice easily making spin finishing of a pipe.
電子光学系の各部品及び差動排気用オリフィスの保守点検が容易に行え、またパイプの芯出しの容易な差動排気走査形電子顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a particle-optical microscope capable of suppressing signal loss between a scintillator and a photomultiplier tube and an excessive electrical current resulting from largeness of the photomultiplier tube.
粒子光学顕微鏡において、光電子増倍管が大きい結果生じるシンチレータと光電子増倍管との間での信号損失、及び、過剰に流れる電流を抑制する。 - 特許庁 - When the zoom knob 61 is operated by a viewer, the second and third lens frames 22, 23 are moved and the magnification of the microscope is varied, and the diameter of the opening of the aperture diaphragm 31 is varied.
観察者がズームノブ６１を操作したとき、第２レンズ枠２２と第３レンズ枠２３とが動き、顕微鏡の倍率が変わるとともに、開口絞り３１の開口径が変わる。 - 特許庁 - The camera control unit 13 then records the observation image as adding information on items of comment and setting information indicating settings of a microscope system, both specified by a user.
そして、カメラコントロールユニット１３は、ユーザにより指定されたコメントの各項目の情報と、顕微鏡システムの設定を示す設定情報とを観察画像に付加して記録させる。 - 特許庁 - Temperature rise of the sample 6 surface by irradiation of the focused charged particle beams 3 is measured by the scanning thermal microscope, and when it exceeds the prescribed temperature, processing is interrupted and is not performed until temperature drops.
走査熱顕微鏡で集束荷電粒子ビーム3照射によるサンプル6表面の温度上昇測定し、所定温度を超える場合には加工を中断し、温度が下がるまで待つ。 - 特許庁 - Further, the microscope has an ocular lens barrel 13 detachably fitted to the lens barrel moving mechanism 10, and the ocular lens barrel 13 has an imaging lens 12 and an ocular 14.
顕微鏡は更に、鏡筒移動機構１０に着脱自在に取り付けられた接眼鏡筒１３を有し、接眼鏡筒１３は結像レンズ１２と接眼レンズ１４を有している。 - 特許庁 - The light source is a laser light source for generating action beam, illumination beam and/or aiming beam which is provided within the slit lamp head, the slit lamp base, or the slit lamp microscope.
光源は、スリットランプヘッド、スリットランプベースまたはスリットランプ顕微鏡の内部に配置された、作用光線、照明光線および／または照準光線生成のためのレーザ光源である。 - 特許庁 - A discharge sharp rod of an external power supply device is disposed close to the probe tip part of the scanning type probe microscope or the handling device, whereby the carbon nanotube is cut by discharge action.
走査型プローブ顕微鏡もしくはハンドリング機器のプローブ先端部に近接して外部電源装置の放電先鋭ロッドを配置し、放電作用によりカーボンナノチューブを切断する。 - 特許庁 - To provide an illuminator for a microscope capable of efficiently illuminating a sample even by using a laser beam which is not linearly polarized light, and illuminating the sample simultaneously with a plurality of laser beams having different wavelength.
直線偏光でないレーザを用いても効率よく照明でき、しかも波長の異なる複数のレーザ光を同時に標本に照明できる顕微鏡照明装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a magnetic field measuring technology for accurately measuring a magnetic field waveform when a magnetic head writes a high-frequency signal by using a low-resonance-frequency probe in a magnetic force microscope.
磁気力顕微鏡において、高周波信号を低共振周波数のプローブを用いて磁気ヘッドの書き込み時の磁界波形の計測を精度良く行う磁界計測技術を提供する。 - 特許庁 - In the electron microscope device, at first a Fourier transformation image of a known period is obtained, and the relationship between the distance on the image and a pixel number is obtained, and this is made as the standard scale.
本発明の電子顕微鏡装置によると、先ず、周期が既知の物質のフーリエ変換像を求め、画像上の距離と画素数の関係を求め、標準スケールとする。 - 特許庁 - To provide a focusing device which enables an operator to focus an objective lens at a position where an image of a high contrast can be well observed and a microscope having this device.
操作者にとってコントラストの高い像を良好に観察できる位置に焦点を合わせることが可能な焦点合わせ装置およびそれを備えた顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a scanning magnetic microscope capable of accurately estimating crystal conditions or the like of a sample by irradiating a sample such as a semiconductor material with an electron beam while being scanned.
電子ビームを走査させながら半導体材料などの試料に照射させ、試料の結晶状況などの評価を精度良く行ない得る走査型磁気顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To easily provide an image which is in focus at any position in the image to be an observation target of a user and is free from occurrence of misalignment in the image in a virtual microscope or the like.
バーチャル顕微鏡等において、画像中の、ユーザの観察対象となる何れの位置においても焦点が合うと共に画像のずれが生じることがない画像を容易に提供する。 - 特許庁 - To provide a microwave near-field optical microscope for improving the sensitivity and resolution, by connecting a probe to a dielectric resonator and minimizing the influence of the temperature and the external environment.
誘電体共振器に探針を結合して温度や外部環境の影響を最小化し、感度と分解能が向上したマイクロ波の近接場顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical microscope to detect the scattering light in an extensive angular range, and a cantilever used therefor by improving the structure of the cantilever.
本発明は、カンチレバーの構造を工夫することにより、より広い角度範囲の散乱光を検出可能にした近接場光学顕微鏡及びそれに用いられるカンチレバーを提供する。 - 特許庁 - A height distribution at the same spot and in the same region as a spot measured by a CCD camera is measured by an interference microscope simultaneously with measurement of an image brightness value by the CCD camera.
ＣＣＤカメラによる画像輝度値の測定と同時に、干渉式顕微鏡１８で、ＣＣＤカメラで測定している箇所と同一箇所、同一範囲の高さの分布を測定する。 - 特許庁 - The reference position marks formed on the optical elements 131a, 131b are imaged with a CCD imaging element, using a microscope 190 and calculates the direction and distance to move from the images of those marks.
移動方向、距離は光学素子１３１ａ，１３１ｂのそれぞれに形成した位置基準マークを顕微鏡１９０を用いてＣＣＤ撮像素子で撮像し、マーク像から算出する。 - 特許庁 - Also, the microscope 11 is provided with an adapter 24 which is attachable and detachable to and from the objective lens 22 and the image guide 25, and to which the objective lens 22 and the image guide 25 are connected.
また、顕微鏡１１には、対物レンズ２２およびイメージガイド２５に着脱可能であり、対物レンズ２２およびイメージガイド２５を接続するためのアダプタ２４が設けられている。 - 特許庁 - When a sample stage is manually moved, a control device 6 stops the action of the point analysis, and starts the function of a scanning electron microscope to obtain a SEM image.
手動により試料ステージの移動を行おうとする場合、制御装置６は点分析の動作を停止し、走査電子顕微鏡の機能を起動してこのときのＳＥＭ像を得る。 - 特許庁 - Preferable matter is that the highest frequency blocked by the blocking member is one at which a microscope having no blocking member is considered to show a CTF of 0.5.
好ましいことは、ブロッキング部材によってブロックされた最も高い周波数が、ブロッキング部材無しの顕微鏡が０．５のＣＴＦを示すと思われるようなものであることである。 - 特許庁 - To provide an information processing apparatus, position control method, and program for controlling the position of an object to be operated, such as a stage in a microscope system, using a pointing device, and to provide a storage medium therefor.
ポインティング・デバイスを用いて、顕微鏡システムにおけるステージなどの操作対象を位置制御する情報処理装置、位置制御方法、プログラムおよび記録媒体を提供すること。 - 特許庁 - The first partial image and the second partial image acquired by moving a stage 4 of the microscope 50 on the basis of the determined overlap rate are composited, and a resulting intermediate image is acquired.
第１の部分画像と、決定した重複率に基づいて顕微鏡５０のステージ４を移動させて取得した第２の部分画像とを合成して得られる中間画像を取得する。 - 特許庁 - To provide a charged particle microscope device capable of detecting a signal at the time when a charged state of an observation sample or an electrostatic state of a defect part becomes optimal, and to provide a control method of a charged particle beam.
観察試料又は欠陥部の帯電状態が最適になった時点で信号検出をできる荷電粒子顕微鏡装置及び荷電粒子ビーム制御方法を提供する。 - 特許庁 - An atomic force microscope 100 comprises: a cantilever support 13 for supporting a cantilever 14; and a Z scanner 12 for driving the cantilever support 13 with a height direction as a driving direction.
原子間力顕微鏡１００は、カンチレバー１４を支持するカンチレバー支持具１３と、高さ方向を駆動方向としてカンチレバー支持具１３を駆動するＺスキャナ１２とを備えている。 - 特許庁 - In a scanning confocal microscope 100 including a galvanometer mirror 5 for scanning a sample, light from the sample is spectrally diffracted by utilizing a VPH grating 1, and the spectrally diffracted light is detected a photodetector 13.
標本を走査するガルバノミラー５を備えた共焦点走査型顕微鏡１００は、ＶＰＨグレーティング１を利用して標本からの光を分光し、光検出器１３で検出する。 - 特許庁 - To provide an evaluation method of an optical fiber probe capable of measuring and evaluating the diameter of the leading end of a core by a simple constitution without using a scanning electron microscope.
走査型電子顕微鏡を用いることなく、簡易な構成によりコア先端の直径を測定、評価することのできる、光ファイバプローブの評価方法を提供すること。 - 特許庁 - To provide a microscope in which images in a plurality of positions with different depths of a sample are simultaneously picked up by a plurality of line sensors so as to extremely rapidly obtain the whole image at each of the plurality of depths of the sample.
複数のラインセンサで標本深さがそれぞれ異なる複数の位置を同時に撮像し、複数の標本深さ毎の全体画像を、極めて迅速に得るようにする。 - 特許庁 - To provide an automatic inspection method and an automatic inspection apparatus of a non-metal inclusion for observing the sample surface of a metal material by a metal microscope having a camera and for inspecting the non-metal inclusion.
金属材料の試料面を、カメラを付設した金属顕微鏡で観察し、非金属介在物の検査を行う非金属介在物の自動検査方法および装置に関する。 - 特許庁 - To realize a focus detecting device and an autofocusing microscope by which the position of a sample surface is highly accurately and easily detected even though the sample has unevenness on its surface and which are easily assembled.
表面に凹凸のある試料であっても、試料表面の位置を高精度且つ容易に検出可能で、組立も容易な焦点検出装置及び自動焦点顕微鏡の実現。 - 特許庁 - The polarizing microscope is characteristically provided with the polarizing imaging camera in which the array or the like of polarizers composed of a self-cloning photonic crystal, or a wire grid, is installed in front of the imaging device such as a CCD.
自己クローニング法もしくはワイヤーグリッドなどによる偏光子アレイをＣＣＤなどの撮像素子の前段に設置した偏光イメージングカメラを具備することにより、課題は解決される。 - 特許庁 - To provide a microscope having a scattered light reducing means that has a particularly compact configuration and at the same time a good scattered light reducing effect, and to provide a beam splitter unit.
とりわけ小型の構造形状を有し、同時に非常に良好な散乱光低減作用を有する散乱光低減手段を有する顕微鏡及びビームスプリッタユニットを提供すること。 - 特許庁 - To provide a transmitted illumination device that enables the observation under the transmitted illumination as the cultivation environment is kept constant with a simple structure, a microscope equipped with the same and transmitted illumination method.
簡単な構成で、培養環境を一定に保ちながら、透過照明観察を行うことのできる透過照明装置、それを備えた顕微鏡、及び透過照明方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope realizing the effective utilization of a part with non-linear distortion near both ends of a scanning range by a resonate type scanner and reciprocative scanning.
共振型スキャナの走査範囲のうちの両端部近くの非線形歪を伴う部分を有効活用し、かつ、往復走査を可能にした共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide microscope constitutional units which are improved in system extension, wherein the number of cables is reduced to the utmost, while noise-resistance is high and, less labor and time is required in assemblage.
システム拡張性に優れ、ケーブルの本数を最小限に抑えることができ、かつ耐ノイズ性が高く、組み立ての際の手間が少なくなる顕微鏡構成ユニットを提供する。 - 特許庁
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