「microscope」を含む例文一覧(8962)
＜前へ 1 2 .... 134 135 136 137 138 139 140 141 142 .... 179 180 次へ＞- To provide a laser scanning type microscope which enables selective observation in a wide wavelength range and observation without deteriorating a wavelength selectivity with a simple mechanical structure.
簡単な機械的構造で、広い波長範囲に対して選択的に観測でき、かつ波長選択性を落とすことなく観測できるレーザ走査型顕微鏡を提供することである。 - 特許庁 - A microscope image photographed by a camera head 103 and an endoscope image or navigation image selected by a video selector 57 are individually recorded by a video deck 105 and a video deck 101.
カメラヘッド１０３で撮影された顕微鏡画像と映像セレクタ５７で選択された内視鏡画像或いはナビゲーション画像を、ビデオデッキ１０５とビデオデッキ１０１にそれぞれ個別に記録する。 - 特許庁 - To provide a sample device which can certainly realize the adsorption of gas under the ultrahigh vacuum of 10^-5Pa or below in the photoelectron microscope and can stably keep this ultrahigh vacuum.
光電子顕微鏡内の１０^-5Ｐａ以下という超高真空下において確実にガス吸着を実現でき、かつ、この超高真空を安定して維持できる試料装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a TEM (transmitance electron microscope) sample preparation method capable of preparing a sample changing the TEM observation direction, and improving the workability of the sample preparation.
この発明は、ＴＥＭ観察方向を変えた試料作製を可能にし、かつ試料作製における作業性を向上させたＴＥＭ試料作製方法を提供することを課題とする。 - 特許庁 - That is, the inverted microscope includes an ocular optical system which introduces the light propagating through the optical paths P13 to P17 of the image forming optical system 202 to an observer.
即ち、図示はしないが、この倒立顕微鏡には、結像光学系２０２の光路P１３乃至光路P１７を伝搬した光を観察者に導く接眼光学系が存在する。 - 特許庁 - A control circuit 15 of a microscope photographing apparatus comprises a CPU 16, an LED driving pulse generator 17 connected to the CPU 16, a memory device 18, and an AD converter 19.
顕微鏡撮影装置の制御回路１５はＣＰＵ１６とＣＰＵ１６に接続されたＬＥＤ駆動パルス発生器１７、メモリ装置１８及びＡＤコンバータ１９から構成される。 - 特許庁 - To provide an attachment 10 for use with a data visual presenter, which can quickly obtain correspondence between an optical axis of an imaging lens of a data visual presenter 100 and an optical axis of an eyepiece lens of a microscope 20.
迅速に資料提示装置１００レンズの光軸と顕微鏡２０眼レンズの光軸を一致させることができる資料提示装置用アタッチメント１０を供すること。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope, capable of capturing the inner peripheral surface of a notched part, such as a notch formed in the peripheral edge of a semiconductor wafer and of a groove, etc., as a high-resolution image.
半導体ウェハの周縁に形成されたノッチのような切欠き部や溝等の内周面を高解像度画像として撮像できる共焦点型顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a confocal microscope that can excite a sample labeled with fluorescent protein to thereby generate fluorescent polarization and perform various functional analysis of the sample by using the generated fluorescent polarization.
蛍光タンパクにより標識した標本を励起することができ、これにより得られる蛍光偏光により標本の多様な機能解析を可能にした共焦点顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - To provide a near-field optical probe with a low elasticity constant and a high resonance frequency and its manufacturing method, and a microscope, a recording/reproducing device, and a fine-machining device using them.
弾性定数が低く、共振周波数の高い近接場光プローブとその作製方法、及びこれらを用いた顕微鏡、記録再生装置、微細加工装置を提供する。 - 特許庁 - After the illuminating device is combined with the microscope, that is after it is sold, the XY adjustment of the optical fiber 1 is performed and the interval in the optical axis direction of the optical fiber 1 and an image forming lens 11 is adjusted.
その後、顕微鏡と組み合わせてから、つまり、販売後、光ファイバー１のＸＹ調整、及び、光ファイバー１と結像レンズ１１との光軸方向の間隔調整を行う。 - 特許庁 - To provide a scanning-type laser microscope, allowing a galvanoscanner to fast scan over a wide range and capable of observing a wide range, by efficiently radiating the heat generated in the galvano-scanner.
ガルバノスキャナで発生する熱を効率よく放熱することにより、ガルバノスキャナを高速かつ広範囲を走査可能にし、広い範囲を観察できる走査型レーザ顕微鏡を提供すること。 - 特許庁 - To avoid the substantial occupancy area of a fluorescence microscope from being extended by a light shielding member when the light shielding member to shield the vicinity of a stage from light is opened to make the vicinity of the stage open.
ステージ回りの遮光する部材を開いてステージ回りを開放したときに、遮光部材によって蛍光顕微鏡の実質的な占有面積を拡大してしまうのを回避する。 - 特許庁 - To provide a scanning probe microscope in which the information of chemical composition and chemical bonding state on the surface of a sample can be attained in addition to the information of irregular shape on the surface of the sample.
試料表面の凹凸形状に加えて、試料表面の化学組成および化学結合状態についての情報を得ることができる走査プローブ顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - Measurement information, measured by the inter-atom force microscope 23, is outputted to a judgment device 140 and the judgment device 140 judges the quality of the wafer 28, based on measurement information.
原子間力顕微鏡２３で測定された測定情報は、判定装置１４０に出力され、判定装置１４０は、測定情報に基づいてウェーハ２８の良否を判断する。 - 特許庁 - To provide a measuring method for an object by switching for shifting a changeable mirror, largely reducing a measuring time with an easy structure, and a non-scanning confocal microscope using the same.
構成が簡単で計測時間を大幅に短縮する可変鏡形状切替による物体計測方法及びそれを用いた非走査型共焦点顕微鏡を実現する。 - 特許庁 - To provide a microscope device in which a function assigned to an operation switch can be easily viewed without greatly displacing an eye from a sample observation state and looking at the operation switch.
操作スイッチに割り当てられている機能を標本観察状態から眼を大きくずらして操作スイッチを眼視することなく容易に視認可能な顕微鏡装置を提供すること。 - 特許庁 - To provide an organic sample observation device which is equipped with both of the function of a vertical fluorescence image pickup device and the function of a stereoscopic microscope and which can be used by switching both functions by simple operation.
落射蛍光撮像装置の機能と実体顕微鏡の機能とを併せ持ち、且つ簡単な操作で両機能を切り替えて使用できる生体試料観察装置を提供する。 - 特許庁 - When air containing the dust particles is sucked by a fan, a guide is installed so as to suck the dust particles at a high speed, the air is bumped to a flat plate, and the dust particles which adhere to the surface of the flat plate are measured under a microscope.
粉塵を含む空気をファンで吸込む際にガイドを設け高速化し、その空気を平板にぶつけ、平板表面に付着した粉塵を顕微鏡で計測する。 - 特許庁 - To provide a microscope measuring apparatus capable of accurately setting a spectroscopic measuring area of a test object such as a color filter or the like, and accurately grasping spectroscopic information of the test object.
カラーフィルタなどの被検体の分光計測領域を正確に設定することが可能で、被検体の分光情報を正確に把握できる顕微鏡測定装置を提供する。 - 特許庁 - To provide an automatic inspection apparatus for a microscope, in which only one stage is used, in which the movement distance of the stage is reduced and in which a position error in a preliminary positioning operation and in an actual inspection is reduced.
ステージを一つにするとともに移動距離を少なくし、予備位置決めの際と実際の検査の際の位置誤差を小さくした自動顕微鏡検査装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a connection device for an optical instrument and the optical instrument which suppress the expansion and deformation of a microscope body due to thermal conduction from a light source to prevent the focus deviation.
光源からの熱伝導による顕微鏡本体部の膨張および変形を抑制してフォーカスずれを防止する光学機器接続装置および光学機器を提供する。 - 特許庁 - To provide a method with which microscopic observation can be reproduced only by reading a microscope digital still image, and with which a target object can be displayed, and to provide an apparatus, a program and a recording medium thereof.
顕微鏡デジタル静止画像を読み込むだけで顕微鏡観察を再現し、目的の対象物を表示できる方法ならびにその装置、プログラムおよび記録媒体の提供。 - 特許庁 - In the course of the visual servo, the view field position adjusting section 64 adjusts the view field position of the imaging optical system of the optical microscope 10 so that the characteristic parts can remain at the fixed position in the image.
視野位置調整部６４は、ビジュアルサーボの最中、特徴部が画像中の一定位置に位置し続けるように光学顕微鏡１０の結像光学系の視野位置を調整する。 - 特許庁 - Concretely, selecting any 20 particles from the images of electron microscope pictures that are used for measuring the average diameter of particles, the projected area of each particle was measured by an image analyzer.
具体的には、平均粒子径の測定に用いた電子顕微鏡写真の像から任意の20個の粒子を選び、それぞれの粒子について投影断面積を画像解析装置で測定した。 - 特許庁 - To provide a probe tip evaluation method for scan type probe microscope capable of evaluating the degradation of sharpness of the probe tip with a simple procedure, when the tip of the probe under use is worn.
使用中の探針の先端が摩耗したとき探針先端の太さの劣化を簡易な手順で評価できる走査型プローブ顕微鏡の探針先端評価方法を提供する。 - 特許庁 - To provide a marking apparatus in a simple structure, capable of accurately marking on a target position without contacting with B subject to be marked at the time of microscope inspection, or the like.
顕微鏡検査時等において被マーキング物に接触することなく目的位置に正確なマーキングを容易に行うことができ、しかも、構造が簡単なマーキング装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a weight balancing switch structure of a stand apparatus for an operation microscope capable of independently executing a weight balancing operation relating to a sub parallel link mechanism during an operation.
手術中にサブ平行リンク機構に関する重量均衡動作だけを独立して行える手術顕微鏡用スタンド装置の重量均衡スイッチ構造を提供する。 - 特許庁 - This scanning electron microscope is so structured that an insulation member 5d is arranged between an inner magnetic pole 5a and an outer magnetic pole 5b; and the inner magnetic pole 5a and the outer magnetic pole 5b are electrically insulated from each other.
内側磁極５ａと外側磁極５ｂの間に絶縁部材５ｄが配置され、内側磁極５ａと外側磁極５ｂが電気的に絶縁される構造となっている。 - 特許庁 - A pair of optical microscopes are arranged on the upside and on the downside of the optical element 10, and the recessed parts 11a, 12a are detected by each microscope, and the eccentricity amount of the recessed parts 11a, 12a is calculated.
一対の光学顕微鏡を光学素子１０の上方及び下方に配置し、各顕微鏡にて凹部１１ａ，１２ａを検出し、凹部１１ａ，１２ａの偏心量を算出する。 - 特許庁 - To provide a stage position measuring device for an electronic microscope using a laser interference measuring machine for measuring the position of a stage, if inclinable, with high accuracy.
傾斜可能なステージであっても、レーザ干渉測長器を用いて高精度のステージの位置測定を行うことができる走査電子顕微鏡等のステージ位置測定装置を実現する。 - 特許庁 - To solve the problem that labor for shifting an operating tool from one hand to the other is cosiderably required because the operating tool is shifted from one hand to the other with both eyes fixed to the eyepieces of a microscope in microscopic operation in neurosurgery.
脳神経外科における顕微鏡手術では両眼を顕微鏡の接眼レンズに固定したまま手術道具を持ち替えるため、持ち替える手間がかなりかかる。 - 特許庁 - To provide an illuminator for a microscope, capable of irradiating the same position as that of stimulus light with guide light for grasping the radiation position of the stimulus light, with excellent accuracy by a simple configuration.
刺激光の照射位置を把握するためのガイド光を刺激光と同じ位置に比較的簡単な構成によって精度良く照射できる顕微鏡の照明装置を提供する。 - 特許庁 - To provide a surgical microscope suitable for use in surgical eye procedures and providing an especially contrast-rich and detail-accurate viewing image of the surgical area for a viewer.
眼の手術での使用に適していて、しかも観察者のために、手術領域の、特にコントラストに富み、かつディテールの正確な観察画像を可能にする手術顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - By receiving a power supply ON signal, the controller 40 of the microscope 100 picks up the image of the sample on a sample stage 30 by using an imaging apparatus 80 and sets a plurality of target frames.
顕微鏡１００の制御装置４０は、電源ＯＮ信号を受けて、撮像装置８０を用いて試料ステージ３０の試料を撮像し、複数のターゲット枠を設定する。 - 特許庁 - To provide a focal point detection device and a fluorescent microscope in which a focal point is detected by fluorescence emitted from an object to be observed at the same time as the observation of the object by the fluorescence.
観察対象物からの蛍光による焦点検出を観察対象物の蛍光観察と同時に行える焦点検出装置および蛍光顕微鏡を提供する。 - 特許庁 - The device for the microscope specimen chamber comprises a case 11 having a flat portion 12 on one side, and since the case 11 has at least one isolation plate 14 inside, the inner part is divided to form a gas chamber 16.
一側に扁平部１２を有するケ−ス１１を含み、ケ−ス１１は内部に少なくとも一枚の隔離板１４を有することで、内部を分割して気体室１６を形成する。 - 特許庁 - To speed up a probe microscope for detecting changes of resonance frequencies caused by a force generated when a vibrating probe is brought close to the surface of a sample and stabilize it by reducing noise.
振動させたプローブを試料表面に近づけたときに生じる力による振動周波数の変化を検出するプローブ顕微鏡の高速化、ノイズ低減による安定化。 - 特許庁 - Physical property information is acquired by a scanning probe microscope, and a corresponding portion is collected from an area showing a specified physical property by a probe, and analyzed by an analysis method capable of providing desired information.
走査型プローブ顕微鏡で物性情報を取得し、特定物性を示す領域からその部位をプローブで採取し、それを所望の情報が得られる分析方法で分析する。 - 特許庁 - Because the rear face of the cantilever 14 is formed in a mirror surface, most of the illumination light irradiated on the cantilever 14 is reflected regularly toward the optical microscope 7, shown as B in Figure.
カンチレバ１４の背面は鏡面となっているので、カンチレバ１４を照射した照明光のほとんどは、図３中Ｂで示すように光学顕微鏡７の方へ正反射する。 - 特許庁 - To provide a controller for a microscope constituted so that the arrangement of a switch and a handle can be changed suitable for a left-handed user instead of a right-handed user and having high flexibility in terms of operability.
スイッチやハンドルの配置を右利き検者用の配置から左利き検者用の配置に変更可能で操作性の自由度が大きな顕微鏡用制御コントローラ装置を提供する。 - 特許庁 - Alternatively, inclination of the scanning plane and the mask surface is corrected by a biaxial tilt stage provided in an atomic force microscope scanner system to process the mask, while the mask surface is kept parallel to the scanning plane.
もしくはスキャン面とマスク面の傾きを原子間力顕微鏡スキャナー側に設けた2軸チルトステージで補正してスキャン面とマスク面が平行になる状態で加工を行う。 - 特許庁 - In the microscope, the detector device is composed as a detector module 1 capable of setting in the optical path 2 of the detecting line and being replaced as a whole.
上記顕微鏡において、検出器装置が検出線光路２へ設置可能なそして全体として交換可能な検出器モジュール１として構成されることを特徴とする。 - 特許庁 - The movable probe apparatus comprises a probe 1 and a drive mechanism 3 which moves the probe 1 so that its tip contacts a portion of specimen 2 which is in the field of view of a microscope or its periphery or rear surface of them.
プローブ１と、プローブ１を移動させてその先端を試料２の顕微鏡視野内の部位又はその周辺あるいはこれらの裏面に接触させる駆動機構３を備えている。 - 特許庁 - To obtain an illuminating lighting device for a stereoscopic microscope having an ideal inward angle (10° to 20°) and contributing to realization of highly accurate coaxial vertical illumination observation from a low magnification to a high magnification.
この発明は、理想的な内向角（１０°〜１２°）を有する実体顕微鏡に使用でき、低倍から高倍までの高精度な同軸落射観察の実現に寄与し得るようにすることにある。 - 特許庁 - As a result, the positional relationship between the alignment mark on the wafer and the reference microscope can be known via the reference mark.
他方のウェハに対しては、ウェハ上のアライメントマークとホルダ上の基準マークの位置位置関係を測定し、次いで、基準マークを測定用顕微鏡（基準顕微鏡との位置関係は既知）で検出する。 - 特許庁 - This scanning probe microscope is provided with a rough moving stage 400 having a coarse moving mechanism optionally movable on XY-plane and a sample base 430, the rough moving stage 400 is placed on a frame 550.
ＸＹ平面を任意に移行可能な粗動機構４００と試料台４３０を有する粗動ステージ４００を備え、この粗動ステージ４００のがフレーム５５０上に載置されている。 - 特許庁 - The preparation with the sample included is sucked and held by a preparation holding hand 5 with a negative pressure, then, pulled out of a preparation storage magazine 4, then, the preparation is shifted just under the objective lens 2A of the microscope 2.
プレパラート保持ハンド５がプレパラート収納マガジン４から、試料の入ったプレパラートを負圧により吸着保持して取り出し、顕微鏡２の対物レンズ２Ａの直下に移動させる。 - 特許庁 - A thin film phase plate is arranged so that it is placed at the rear focal plane of the lens or behind it, and in order to prevent electrification, it is irradiated with an electron beam in a large quantity prior to the use of the microscope.
薄膜位相板は、レンズ後焦点面またはその後方にくるように配置され、帯電を防止するために顕微鏡使用前に電子線を大量に照射する。 - 特許庁 - The wafer stage 4 is moved in the Z-axial direction towards the probe 2, and a height H between the tip of the probe 2 and the semiconductor wafer 3 are measured while watching a focusing state by the microscope 6a.
ウェハステージ４をプローブ針２に向かうＺ軸方向に動かし、顕微鏡６ａで合焦状態を見ながらプローブ針２の針先と半導体ウェハ３との高さＨを測定する。 - 特許庁
